【課題】デカップリング容量及びガードリング等のノイズを低減する構造物を設けるための専用配置領域を必要としない半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】Ｐ⁻型シリコンからなる支持基板２を設け、この支持基板２上にＰ^＋型シリコン層３を設け、その上にＮ^＋型シリコン層４及びＰ^＋型シリコン層１２を相互に同層に設ける。Ｐ^＋型シリコン層３及びＮ^＋型シリコン層４の不純物濃度は支持基板２の不純物濃度よりも高くする。また、Ｎ^＋型シリコン層４及びＰ^＋型シリコン層１２上の全面に、埋込酸化膜５及びＳＯＩ層６を設ける。そして、Ｐ^＋型シリコン層３を接地電位配線ＧＮＤに接続し、Ｎ^＋型シリコン層４を電源電位配線ＶＤＤに接続する。これにより、Ｐ^＋型シリコン層３とＮ^＋型シリコン層４との間に、電源に並列に接続されたデカップリング容量Ｃ１が形成される。 （もっと読む）

【課題】半導体素子の微細化に伴うゲート電極サイズの微細化においても、ゲート電極とチャネル形成領域間のリーク電流が抑制された半導体素子を提供することを課題の一とする。また、小型かつ高性能な半導体装置を提供することを課題の一とする
【解決手段】チャネル形成領域として機能する半導体層上に、ゲート絶縁膜として比誘電率が１０以上の酸化ガリウムを含む絶縁膜を形成し、前記酸化ガリウム上にゲート電極が形成された構造を有する半導体素子を作製することにより、課題の一を解決する。また、前記半導体素子を用いて半導体装置を作製することにより、課題の一を解決する。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の性能を向上させる。
【解決手段】基板１Ｃは、半導体基板２と絶縁層３と半導体層４とが積層されたＳＯＩ領域１Ａと、半導体基板２で構成されたバルク領域１Ｂとを有しており、ＳＯＩ領域１Ａの半導体層４に形成されたＭＩＳＦＥＴは、チャネル領域に不純物が導入されておらず、バルク領域１Ｂの半導体基板２に形成されたＭＩＳＦＥＴは、チャネル領域に不純物が導入されている。ＳＯＩ領域１ＡのＭＩＳＦＥＴを形成する際には、ＭＩＳＦＥＴのチャネル領域に不純物が導入されないようにし、ウエル領域形成用のイオン注入とチャネルドープイオン注入とハローイオン注入とは行なわない。バルク領域１ＢのＭＩＳＦＥＴを形成する際には、ウエル領域形成用のイオン注入とチャネルドープイオン注入とハローイオン注入とを行う。 （もっと読む）

【課題】貫通電流を低減させることができる相補型の論理回路を用いることで、消費電力を抑えることができる半導体装置の提案を目的の一とする。或いは、貫通電流を低減させることができる相補型の論理回路を用いることで、発熱を抑えることができる半導体装置の提案を目的の一とする。
【解決手段】通常のゲート電極の他に、閾値電圧を制御するための第２のゲート電極が備えられたｎチャネル型トランジスタ、或いはｐチャネル型トランジスタを、相補型の論理回路に用いる。そして、オフ電流が極めて小さい絶縁ゲート電界効果型トランジスタをスイッチング素子として用い、上記第２のゲート電極の電位を制御する。上記スイッチング素子として機能するトランジスタは、シリコン半導体よりもバンドギャップが広く、真性キャリア密度がシリコンよりも低い半導体材料を、チャネル形成領域に含む。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の製造工程において、十分にゲッタリング効果を得ることができる半導体基板を提供する。
【解決手段】半導体からなる基板本体８と、前記基板本体８上に形成されたリンを含有したシリコン酸化膜からなる絶縁層６と、該絶縁層６上に設けられた半導体層７と、を備えることを特徴とする半導体基板３を提供する。また、半導体からなる基板本体８と、前記基板本体８上に形成されたリンを含有したシリコン酸化膜からなる絶縁層６と、該絶縁層６上に設けられた半導体層７を備える半導体基板３と、前記半導体層７上に設けられたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極と、前記半導体層７内であって、前記ゲート電極に対して自己整合となる位置に設けられた不純物拡散領域と、を有することを特徴とする半導体装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】トレンチ分離されたＳＯＩ基板にＩＧＢＴとその制御回路等が形成される半導体装置において、ＩＧＢＴの高耐圧化及びターンオフ特性の改善等が必要になる。
【解決手段】ダミー半導体基板１６にＮ型エピタキシャル層８を形成し、Ｎ型エピタキシャル層８にトレンチ３０を形成し、トレンチ３０側壁及びＮ型エピタキシャル層８表面にＮ型バッファ層７、次にＰ型埋め込みコレクタ層６を形成し、トレンチ３０底面及びＰ＋型埋め込みコレクタ層６上を埋め込み絶縁膜５で被覆する。埋め込み絶縁膜５上をポリシリコン膜３で被覆し、該ポリシリコン膜３と絶縁膜２を介してＰ型半導体基板１を貼り合わせた後、ダミー半導体基板１６を除去し、略同一平面状に露出するトレンチ３０底面の埋め込み絶縁膜５、Ｐ＋型埋め込みコレクタ層６、Ｎ型バッファ層７、Ｎ型ドリフト層８ａ等を具備するＳＯＩ基板を形成する。該ＳＯＩ基板にＩＧＢＴ等を形成する。 （もっと読む）

【課題】バーズビーク効果を軽減することのできる、ＳＯＩウェーハ内にトレンチを製造する方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、基板と、基板上の酸化物層と、酸化物層上の半導体層とを備える多層ウェーハ内にトレンチ構造を製造する方法に関し、本方法は、半導体層および酸化物層を貫通して基板中へ延在するトレンチを形成するステップと、トレンチの内部表面において、半導体層のいくらかの材料が、トレンチの内部表面に露出した酸化物層の部分の一部の上に少なくとも流れるように、形成されたトレンチのアニール処理を行うステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】複数枚の絶縁層被覆単結晶半導体基板に対して効率よくイオン注入を行い、大面積の単結晶半導体層を備えた半導体基板の作製方法を提供することを課題の一とする。
【解決手段】半導体基板の作製工程において、表面のファンデルワールス力を調整した保持用トレイに表面に絶縁層が形成された複数枚の単結晶半導体基板を貼り合わせ、複数枚の単結晶半導体基板にイオン照射工程を行うことで複数枚の単結晶半導体基板の所定の深さに脆化層を形成し、複数枚の単結晶半導体基板にファンデルワールス力を調整したベース基板を貼り合わせることでファンデルワールス力の差を利用して保持用トレイを選択的に分離し、剥離加熱処理を行い劈開面を形成して単結晶半導体基板をベース基板から分離することにより、絶縁層を介して単結晶半導体基板をベース基板に転載する。 （もっと読む）

【課題】一層の半導体層から膜厚の異なる半導体層を有する半導体薄膜基板を提供することを目的の一とする。または、半導体薄膜基板を適用した半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】基板上に半導体層を形成し、半導体層を加工して第１の島状半導体層および第２の島状半導体層を形成し、第１の島状半導体層にレーザー照射を行うことにより第１の島状半導体層を溶融させ、第１の島状半導体層から第２の島状半導体層より膜厚が厚い第３の島状半導体層を形成する、半導体薄膜基板の作製方法である。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の作製工程数を減少させること、半導体装置の歩留まりを向上させること、半導体装置の作製コストを低減することを課題とする。
【解決手段】基板上に、単結晶半導体層をチャネル形成領域に有する第１のトランジスタと、当該第１のトランジスタと絶縁層を介して分離され、酸化物半導体層をチャネル形成領域に有する第２のトランジスタと、当該単結晶半導体層及び酸化物半導体層を有するダイオードを有する半導体装置、及び、その作製方法に関する。 （もっと読む）

【課題】ＳＯＩ基板上に形成されたＭＯＳＦＥＴを有する半導体装置の信頼性を向上させる。また、半導体装置の製造工程を簡略化する。
【解決手段】ＳＯＩ基板ＳＢ上に形成された複数のｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴＱｎを有する半導体装置において、ＢＯＸ膜の下部の支持基板の上面に拡散層であるｎ^＋型半導体領域を形成し、ｎ^＋型半導体領域と電気的に接続され、素子分離領域１を貫くコンタクトプラグＣＴ２を形成することで、支持基板の電位を制御する。ＳＯＩ基板ＳＢの平面において、各ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴＱｎは第１方向に延在しており、第１方向に複数形成されて隣り合うコンタクトプラグＣＴ２同士の間に配置された構造とする。 （もっと読む）

【課題】耐圧を向上させることができ、かつ半導体基板が反るのを防ぐことができる誘電体分離型半導体装置の製造方法を得る。
【解決手段】ｐ型シリコン基板１０の主面の領域４２に複数のトレンチ溝４４を形成する。ｐ型シリコン基板１０の表面を酸化して、ｐ型シリコン基板１０の主面に誘電体層１２を形成し、領域４２に厚膜誘電体層３８を形成する。ｐ型シリコン基板１０に誘電体層１２を介してｎ⁻型半導体層１４を貼り合せる。厚膜誘電体層３８の上方においてｎ⁻型半導体層１４の一部にｎ^＋型半導体領域１８を形成する。ｎ^＋型半導体領域１８から離間してｎ^＋型半導体領域１８を取り囲むようにｎ⁻型半導体層１４の一部にｐ^＋型半導体領域２０を形成する。ｎ^＋型半導体領域１８に接続された主電極２６を形成する。ｐ^＋型半導体領域２０に接続された主電極２８を形成する。ｐ型シリコン基板１０の裏面に裏面電極３２を形成する。 （もっと読む）

【課題】半導体層が効率良く平坦化されたＳＯＩ基板を提供することを課題の一とする。また、当該ＳＯＩ基板を用いた半導体装置を提供することを課題の一とする。
【解決手段】ボンド基板に加速されたイオンを照射して該ボンド基板に脆化領域を形成し、ボンド基板またはベース基板の表面に絶縁層を形成し、絶縁層を介してボンド基板とベース基板を貼り合わせ、熱処理により、脆化領域においてボンド基板を分離して、ベース基板上に半導体層を形成し、半導体層の表面と、該半導体層と同じ半導体材料でなる半導体ターゲットとが対向するように配置し、半導体層の表面と半導体ターゲットとに、交互に希ガスイオンを照射することで、半導体層の表面の平坦化を図るＳＯＩ基板の作製方法である。 （もっと読む）

【課題】平坦性の高い表面を有する単結晶半導体層を備えた半導体基板の作製方法を提供することを目的の一とする。平坦性の高い単結晶半導体層を備えた半導体基板を用いて信頼性の高い半導体装置を作製することを目的の一とする。
【解決手段】半導体基板の作製工程において、単結晶半導体基板に希ガスイオン照射工程、レーザー照射工程および水素イオン照射工程を行うことで、単結晶半導体基板の所定の深さに大きな結晶欠陥を含有した薄い脆化領域を形成し、剥離加熱工程を行うことで脆化領域より表面側の単結晶半導体層をベース基板に転載する。 （もっと読む）

【課題】単結晶半導体基板に付着する異物の影響を低減し、歩留まりよく半導体基板を作製することを目的の一とする。安定な特性を有する半導体装置を歩留まりよく作製することを目的の一とする。
【解決手段】半導体基板の作製工程において、単結晶半導体基板に脆化領域を形成する際、単結晶半導体基板表面に対して複数の（少なくとも二つ以上の）異なる角度で斜め方向から水素イオンを照射することによって、単結晶半導体基板に付着する異物の影響を低減し、均一な単結晶半導体層を有する半導体基板を歩留まりよく作製することができる。 （もっと読む）

【課題】動作性能および信頼性の高い半導体装置の提供を課題とする。
【解決手段】シリコン基板上に設けられた酸化シリコン膜と、単結晶シリコン基板の一部
よりなりＴＦＴの活性層となる単結晶の島状シリコン層となる前の単結晶シリコン基板を
熱酸化して得られ、酸化シリコン膜に貼り合わせ界面にて貼り合わせて設けられた膜厚が
０．０５μｍ〜０．５μｍの酸化シリコン膜と、活性層を熱酸化して設けられた他の面の
酸化シリコン膜と、により取り囲まれた活性層と、活性層上に設けられたゲート電極と、
を有し、単結晶の島状シリコン層は、膜厚が０．０５μｍ〜０．５μｍの酸化シリコン膜
を介して水素が導入された単結晶シリコン基板を水素が導入された部分で分断して得られ
たものである半導体装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 本発明の半導体装置は、良好なカットオフ特性と高速動作とを両立して改善できる。
【解決手段】 本発明の半導体装置は、基板と、基板上に形成され、バンドギャップが生成されたグラフェンを有するチャネル領域と、チャネル領域の両側に形成され、チャネル領域のグラフェンに比して小さいバンドギャップが生成されたグラフェンを有するソース／ドレイン領域と、ソース／ドレイン領域のチャネルに接する部分の上に、夫々形成された第１および第２のゲート電極と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ＴＦＴに適したＳＯＩ基板およびその作製方法を提供する。またＳＯＩ基板を用
いて信頼性の高い半導体装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】ＳＩＭＯＸ、ＥＬＴＲＡＮ、Ｓｍａｒｔ−Ｃｕｔに代表される技術を用いて
ＳＯＩ基板を作製するにあたって、主表面（結晶面）が｛１１０｝面である単結晶半導体
基板を用いる。その様なＳＯＩ基板は下地となる埋め込み絶縁層と単結晶シリコン層との
密着性が高く、信頼性の高い半導体装置を実現することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】第１のトランジスタ上に設けられた第２のトランジスタと容量素子とを有し、容量素子は、第２のトランジスタのソース電極またはドレイン電極と、ゲート絶縁層と、第２のトランジスタを覆う絶縁層上に設けられた容量素子用電極を含み、第２のトランジスタのゲート電極と、容量素子用電極とは、絶縁層を介して少なくとも一部が重畳して設けられる半導体装置を提供する。第２のトランジスタのゲート電極と、容量素子用電極とを、異なる層で形成することで、半導体装置の集積度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】再現性良く、高収率でフレキシブルデバイスとしての電界効果型トランジスタを作製することができ、下地層そのものに堅牢性を与えることによって後工程による破壊や傷による表面形状の異常が生じない電界効果型トランジスタ及びその製造方法、並びに画像表示装置を提供する。
【解決手段】第１の基板１０と、下地第一層２１及び下地第二層２２と、ゲート電極３０と、ゲート絶縁層４０と、ソース電極５０、ドレイン電極６０、及び半導体層７０とがこの順で形成された電界効果型トランジスタ１であり、下地第二層２２は、下地第一層２１に接する面と反対側の面２２ａの表面粗さＲｍｓ_２が０．３ｎｍ以下である。 （もっと読む）