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Fターム[5F152FF03]の内容

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Fターム[5F152FF03]に分類される特許

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【課題】製造工程を簡略化するとともに、電気的特性のばらつきを少なくした半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜12の表面に結晶化を促進する金属粒子13を密度が均一になるように散布する。微細孔16の底部に露出した金属粒子13は、その周囲の非結晶シリコン膜20と反応し、微細孔16の内部に多結晶シリコン21を固相成長させる。次に、絶縁膜14上の非晶質シリコン膜20にレーザ光を照射することによって溶融させ、溶融したシリコンを、微細孔16の開口部に表われた多結晶シリコン21の結晶粒を種結晶として液相成長させることにより、微細孔16を基点とする擬似単結晶シリコン膜23を形成する。この擬似単結晶シリコン膜23を活性層28とするTFT10を製造する。 (もっと読む)


【課題】複数の波長のレーザ光をそれぞれにパルス幅を延ばした上で出射させることができるようにする。
【解決手段】基本波と共に第2高調波,第3高調波を含むレーザ光を、ダイクロイックミラー31,32によって波長毎のレーザ光L1〜L3に分離する。それぞれを、偏光ビームスプリッタ51(L1)〜51(L3)によってP偏光成分L1P〜L3PとS偏光成分L1S〜L3Sとに分離する。S偏光成分L1S〜L3Sを、一対の全反射ミラー42(L1)〜42(L3),43(L1)〜43(L3)によって、P偏光成分L1P〜L3Pに直交する方向に屈折させる。そして、P偏光成分L1P〜L3PとS偏光成分L1S〜L3Sとを、偏光ビームスプリッタ52(L1)〜52(L3)で波長毎に同一光軸上に合成する。更に、偏光成分を合成した波長毎のレーザ光L1〜L3を、ダイクロイックミラー33,34によって同一光軸上に合成して出力する。 (もっと読む)


【課題】低温での固相エピタキシャル成長法を用いて、結晶性の高いシリコン層を厚く形成した半導体基板を提供することを課題の一とする。その際、従来の気相エピタキシャル成長法と比べ、結晶成長速度を大きくすることを課題の一とする。
【解決手段】絶縁層を介してベース基板に設けられた単結晶シリコン層上に、堆積初期の一部で、単結晶シリコン層と結晶面の配列の揃った針状シリコン層が気相エピタキシャル成長するようにシリコン層を形成し、針状シリコン層を種結晶として、シリコン層の他部を固相エピタキシャル成長させて、単結晶及び前記結晶シリコン層の厚さが厚い半導体基板を作製する。 (もっと読む)


【課題】一層の半導体層から膜厚の異なる半導体層を有する半導体薄膜基板を提供することを目的の一とする。または、半導体薄膜基板を適用した半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】基板上に半導体層を形成し、半導体層を加工して第1の島状半導体層および第2の島状半導体層を形成し、第1の島状半導体層にレーザー照射を行うことにより第1の島状半導体層を溶融させ、第1の島状半導体層から第2の島状半導体層より膜厚が厚い第3の島状半導体層を形成する、半導体薄膜基板の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】アモルファス薄膜の溶融結晶化時に生じる凹凸の影響を受けないようなトップゲート型TFT素子などの作製が可能な結晶化半導体薄膜の製造方法および該凹凸が表面にない結晶化半導体薄膜を提供する。
【解決手段】本発明の結晶化半導体薄膜の製造方法は、第1基板1上層に剥離層2を介して剥離可能に形成したアモルファス半導体薄膜4aを溶融結晶化させ、その後、結晶化した結晶化半導体薄膜4pの表面側を接合面にして接着剤6を介して第2基板5上層に前記結晶化半導体薄膜4pを接合するとともに該結晶化半導体薄膜4pを第1基板側1から剥離する。本発明の結晶化半導体薄膜は、基板上層に設けられた結晶化半導体薄膜であって、該結晶化半導体薄膜は、前記基板上層に接合層を介して接合されており、かつ該接合層に対する接合面側に溶融結晶化に伴う凹凸形状を有する。 (もっと読む)


【課題】パルスレーザの照射によってシリコン薄膜を結晶化させる際に、均一な結晶化を達成する。
【解決手段】パルスレーザを出力するレーザ発振器と、前記パルスレーザを非晶質半導体に導く光学系と、前記パルスレーザを前記非晶質半導体に対し走査して照射するべく前記非晶質半導体を相対的に移動させる移動装置とを備え、前記レーザ発振器は、出力されるパルスレーザが時間的強度変化において1パルスに複数のピーク群を有し、該ピーク群のうち、最大高さを有する第1のピーク群と、その後に現れる第2のピーク群とが、ピーク強度値で(第2のピーク群)/(第1のピーク群)≦0.35の関係を満たす製造装置とし、前記パルスレーザを非晶質半導体に照射して均一な特性を有する結晶質半導体を得る。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の再生に適した方法、半導体基板の再生に適した方法を用いた再生半導体基板の作製方法、及び当該再生半導体基板を用いたSOI基板の作製方法の提供を目的とする。
【解決手段】損傷した半導体領域と絶縁層とを含む凸部が周縁部に存在する半導体基板に対し、絶縁層が除去されるエッチング処理と、半導体基板を構成する半導体材料を酸化する物質、酸化された半導体材料を溶解する物質、及び、半導体材料の酸化の速度及び酸化された半導体材料の溶解の速度を制御する物質、を含む混合液を用いて、未損傷の半導体領域に対して損傷半導体領域が優先的に除去されるエッチング処理と、レーザ光照射工程と、を行うことで半導体基板を再生する。 (もっと読む)


【課題】レーザアニールに際し、レーザ出力の変動に拘わらず結晶化の均一性を確保する。
【解決手段】パルスレーザ光を非単結晶半導体膜であるシリコン膜に照射して前記非単結晶半導体膜を結晶化する半導体膜のレーザアニール装置において、第1ピークに最大ピーク高さを有するパルスレーザ光を出力するレーザ発振器1と、パルスレーザ光を非単結晶半導体膜に導く光学系4と、非単結晶半導体膜に照射されるパルスレーザ光のパルス波形における最大ピーク高さを測定する最大ピーク高さ測定部と、最大ピーク高さ測定部の測定結果を受けて、レーザ発振器1の発振条件の変化により変化するパルス波形において最大ピーク高さが所定の高さとなるように、レーザ発振器1から出力されるパルスレーザ光のレーザパルスエネルギーまたは可変減衰器2の減衰率を制御する制御部8を備える。 (もっと読む)


【課題】不完全結晶成長領域を含まない多結晶シリコンでゲート電極または遮光部材のような金属パターン上に位置する半導体層を形成することにより、駆動特性及び信頼性を向上させる薄膜トランジスタ、その製造方法、及びこれを含む表示装置を提供する。
【解決手段】多結晶シリコンで形成された半導体層142を含む薄膜トランジスタにおいて、前記半導体層と基板110との間に前記半導体層と絶縁するように位置する金属パターンをさらに含み、前記半導体層の多結晶シリコンは、結晶成長方向と平行な結晶粒界を含み、表面における波状線の最大ピークと最小ピークとの間の距離として定義される表面粗度が15nm以下である。 (もっと読む)


【課題】レーザー光を半導体膜に照射する半導体膜の作製方法を提供する。
【解決手段】発振器からレーザー光を発振させ、シリンドリカル凹レンズ及び第一のシリ
ンドリカル凸レンズを通過させることにより、レーザー光の断面の第一の方向に伸長させ
、第一のレンズアレイを通過させることにより、第一の方向におけるエネルギー密度の分
布を均一にし、第二のレンズアレイを通過させることにより、第一の方向と直交する第二
の方向におけるエネルギー密度の分布を均一にし、且つ第二の方向に伸長させ、第二のシ
リンドリカル凸レンズを通過させることにより、第一の方向に収束させ、第二のシリンド
リカル凸レンズを通過したレーザー光を、半導体膜に照射する。 (もっと読む)


【課題】結晶粒界の方向とチャネル領域の方向とが直交しているトランジスタの性能を向上させるとともに、各トランジスタの特性のバラツキを少なくする。
【解決手段】本発明の結晶性半導体膜の形成方法は、基板11上にアモルファスシリコン膜(非晶質半導体膜)12を形成する工程と、第1のレーザ光20aおよび基板11のうちの少なくとも一方を移動させながら、アモルファスシリコン膜12に対して第1のレーザ光20aを照射し、その移動方向に沿って半導体膜の結晶を成長させてアモルファスシリコン膜12から多結晶シリコン膜(結晶性半導体膜)13を得る工程と、多結晶シリコン膜13に対して、第1のレーザ光20aよりもエネルギー量の小さい第2のレーザ光30aを照射して、半導体膜の厚さ方向に対して結晶を成長させて、再結晶化後の多結晶シリコン膜(結晶性半導体膜)14を得る工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】量産性に優れた薄膜トランジスタを提供する。また半導体装置の作製において有
用な半導体薄膜を提供する。
【解決手段】プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1
×1021/cmで含む半導体膜を形成し、前記半導体膜の一部を除去して、活性層を
形成し、トップゲート型薄膜トランジスタまたはボトムゲート型薄膜トランジスタを作製
する。また、プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1
×1021/cmで含む半導体膜を剥離層として用いた半導体装置を作製する。また、
プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1×1021
cmで含む半導体膜をゲッタリングサイトとして用いた半導体装置を作製する。 (もっと読む)


【課題】レーザ光を用いた被処理体のアニール処理においてレーザエネルギーの利用効率を改善する。
【解決手段】被処理体表面にレーザ光を照射して該被処理体のアニール処理を行うレーザアニール装置において、レーザ光を前記被処理体に導いて照射する第1の光学系と、前記被処理体に照射されて反射したレーザ光を前記被処理体に導いて再照射する第2の光学系とを有するレーザアニール装置を用いて、レーザ光を前記被処理体に導いて照射するとともに、該被処理体に照射されて反射したレーザ光を前記被処理体に再照射してレーザアニールすることで、被処理体表面から反射されるレーザ光を利用してレーザエネルギー利用率を上げることができ、また、前記再照射を前提にしてラインビームの長軸の長さを長くしたり、最大エネルギー密度を上げたりすることができる。 (もっと読む)


【課題】結晶性の高い酸化物半導体膜の作製方法を提供することを課題の一とする。また、高い電界効果移動度を有するトランジスタの作製方法を提供することを課題の一とする。
【解決手段】基板上に酸素を意図的に含ませない雰囲気で酸化物半導体膜を形成し、酸素を含む雰囲気で熱処理をして、酸化物半導体膜を結晶化させる酸化物半導体膜の作製方法である。また、基板上に、ゲート電極を形成し、ゲート電極上にゲート絶縁膜を形成し、ゲート絶縁膜上に酸素を意図的に含ませない雰囲気で酸化物半導体膜を形成し、酸素を含む雰囲気での第1の熱処理をして、酸化物半導体を結晶化させ、結晶化した酸化物半導体膜上にソース電極およびドレイン電極を形成し、結晶化した酸化物半導体膜、ソース電極およびドレイン電極上に酸素原子を含む絶縁膜を形成し、結晶化した酸化物半導体膜を第2の熱処理により酸化させるトランジスタの作製方法である。 (もっと読む)


【課題】被照射物内に厚さのばらつきが存在する場合であっても、被照射物に対してレーザ光の照射を均一に行うレーザ光の照射方法を提供する。
【解決手段】厚さのばらつきが存在する被照射物にレーザ光を照射する際に、オートフォーカス機構を用いることによって、被照射物の表面にレーザ光を集光するレンズと被照射物間との距離を一定に保ちながらレーザ光の照射を行う。特に、レーザ光に対して被照射物を被照射物の表面に形成されたビームスポットの第1の方向および第2の方向に相対的に移動させて、被照射物にレーザ光の照射を行う場合に、第1の方向および第2の方向のいずれかの方向に移動させる前にオートフォーカス機構によってレンズと被照射物間との距離を制御する。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコン薄膜の表面の状態を光学的に観察して、多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査することを可能にする。
【解決手段】本発明では、表面に多結晶シリコン薄膜が形成された基板に光を照射し、光が照射された多結晶シリコン薄膜の表面から発生する1次回折光の像を撮像し、撮像して得た1次回折光の像の画像を処理して多結晶シリコン薄膜の結晶の状態を検査し、画像を処理して検査した1次回折光の像を検査した結果の情報と共に画面上に表示するようにした。 (もっと読む)


【課題】高価な機材である真空チャンバーを用いることなくキャリア移動度の高いポリシリコン膜を製造する。
【解決手段】ポリシリコン膜の製造方法において、少なくともシリコン粒子を分散させた液体を基板に塗付する工程と、塗布した液体を乾燥させてシリコン膜を形成する工程と、シリコン膜をポリシリコン膜にするための熱アニール処理工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 非晶質シリコンTFTの特性を大幅に向上させつつ、その製造プロセスにおける膜飛びを抑制する。
【解決手段】まず、基板10上にゲート電極11を形成する。次に、基板10上に、ゲート電極11を平面視で覆うゲート絶縁膜12を形成し、その上に、チャネル領域13cとソース領域13sとドレイン領域13dとを有する非晶質の半導体膜13を形成し、その上に、チャネル領域13cを平面視で覆うチャネル保護層14を形成する。次に、半導体膜13とチャネル保護層14とにレーザーを照射することにより、チャネル領域13cを微結晶化する。次に、半導体膜13上に、チャネル保護層14を平面視で覆い、ソース領域13sとドレイン領域13dとに平面視で重なる導電膜を形成する。次に、導電膜をエッチングしてソース電極16sとドレイン電極16dとを形成する。 (もっと読む)


【課題】現状では、製造プロセスにスピンコート法を用いる成膜方法が多く用いられている。今後、さらに基板が大型化すると、スピンコート法を用いる成膜方法では、大型の基板を回転させる機構が大規模となる点、材料液のロスおよび廃液量が多い点で大量生産
上、不利と考えられる。
【解決手段】本発明は、半導体装置の製造プロセスにおいて、液滴吐出法で感光性の導電膜材料液を選択的に吐出し、レーザー光などで選択的に露光した後、現像することによって微細な配線パターンを実現する。本発明は、導体パターンを形成するプロセスにおいて、パターニング工程が短縮でき、材料の使用量の削減も図れるため大幅なコストダウン
が実現でき、大面積基板にも対応できる。 (もっと読む)


【課題】レーザー光の強度分布を均一にする光学装置(ホモジナイザー)において、光の損失を低減する構造を提供する。
【解決手段】レーザー発振器からレーザー光を発振し、発振されたレーザー光を、第1のマルチシリンドリカルレンズに入射させ、第1のマルチシリンドリカルレンズを通過したレーザー光を、第2のマルチシリンドリカルレンズに入射させ、第2のマルチシリンドリカルレンズを通過したレーザー光を、収束レンズに入射させ、収束レンズを通過したレーザー光を、被照射物に照射し、第1のマルチシリンドリカルレンズと第2のマルチシリンドリカルレンズは、それぞれ凸シリンドリカルレンズと凹シリンドリカルレンズとが交互に配置され、凸シリンドリカルレンズと凹シリンドリカルレンズとの境界は、滑らかに連続し、第1のマルチシリンドリカルレンズと第2のマルチシリンドリカルレンズは、互いに直交しているレーザー照射方法。 (もっと読む)


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