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Fターム[5F152NQ02]の内容

再結晶化技術 (53,633) | 動作層、活性層、素子構成層の材料 (2,604) | 半導体 (2,300) | 4族 (1,228)

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【課題】ワイドバンドギャップ半導体のバルク結晶を基板の破損を生じることなく可能な限り薄くハンドル基板に転写することができる低コストの貼り合わせウェーハの製造方法を提供する。
【解決手段】バンドギャップ2.8eV以上のワイドバンドギャップ半導体基板1の表面5からイオンを注入してイオン注入層2を形成する工程、前記ハンドル基板3の前記表面、および、前記半導体基板1の前記イオン注入面5の少なくとも一方の面に表面活性化処理を施す工程、前記半導体基板1の前記表面5と前記ハンドル基板3の表面とを貼り合わせて、接合体6を得る工程、前記接合体6に150℃以上400℃以下の熱処理を加える工程、前記接合体6の半導体基板1側から前記半導体基板1のイオン注入層2に向けて可視光を照射して前記イオン注入層2の界面を脆化し、半導体薄膜4をハンドル基板3に転写する。 (もっと読む)


【課題】 エッチング処理を行わなくても、基底面内転位を有する半導体層から結晶成長された半導体層に基底面内転位が伝播することを防止することができる技術を提供する。
【解決手段】 本発明の方法は、半導体層2の表面2aにおける基底面内転位6の位置8を特定する特定工程と、特定工程で特定された位置8において結晶の再配列を行う結晶再配列工程と、結晶再配列工程の後に表面2aから半導体層を結晶成長させる結晶成長工程とを備えている。本発明によると、結晶成長された半導体層に基底面内転位6が伝播しない。基底面内転位6が結晶成長された半導体層に伝播していないために、リーク電流を抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】グラフェン層成膜の大面積化や基板材質の選択自由度の拡大、製造の低コスト化を実現するグラフェン層が成長された基板およびそれを用いた電子・光集積回路装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るグラフェン層が成長された基板は、単層または複数層からなるグラフェン層が成長された基板であって、前記グラフェン層は前記基板の表面に対して略平行に成長しており、前記グラフェン層に対向する前記基板の最表面には金属酸化物の原子層が存在し、前記グラフェン層の前記基板に隣接する層と前記金属酸化物の原子層との層間距離が0.34 nm以下であることを特徴とする。また、前記金属酸化物の原子層の算術平均表面粗さRaが1 nm以下であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】シリコン層又はシリコン基板上に、欠陥密度が低く高品質なエピタキシャル層を、少ない工程で低コストに形成することが可能な半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】シリコンウエーハ11の一面11aに対して、ウエットエッチング法によって異方性エッチングを行う。シリコンウエーハ11の一面11aに対して、異方性エッチングを行うと、シリコンウエーハ11の一面11aに微細な凹凸12が形成される。この微細な凹凸12は、例えば(111)面からなる傾斜面12a,12bで構成された溝14が、周期的に多数形成されたものであればよい。 (もっと読む)


【課題】ベース基板に固定された単結晶半導体層の結晶性が向上、および平坦性の向上したSOI基板および半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に絶縁膜を形成し、絶縁膜を介して前記半導体基板に加速されたイオンを照射することにより、半導体基板に脆化領域を形成する工程と、前記半導体基板の表面とベース基板の表面とを対向させ、絶縁膜の表面と前記ベース基板の表面とを接合させる工程と、絶縁膜の表面と前記ベース基板の表面とを接合させた後に熱処理を行い、脆化領域において分離することにより、ベース基板上に絶縁膜を介して半導体層を形成する工程と、半導体層にエッチング処理を行う工程と、エッチング処理が行われた半導体層にレーザビームを照射する工程と、レーザビームが照射された半導体層にプラズマを照射する。 (もっと読む)


【解決手段】
開示される主題は、半導体トランジスタデバイス及び、従来のシリサイドコンタクトと比較して増大された実効サイズを有するシリサイドコンタクトを形成するために利用することができる関連する製造技術に関する。ここに開示されるプロセスに従って製造される半導体デバイス(200)は、半導体材質(102)の層と、半導体材質(102)の層を覆うゲート構造(112,128)とを含む。チャネル領域(218)が半導体材質(102)の層内に形成され、チャネル領域(218)はゲート構造(112,128)の下層となる。半導体デバイス(200)はまた、半導体材質(102)の層内のソース及びドレイン領域(216)を含み、チャネル領域(218)はソース及びドレイン領域(216)の間に配置される。また、半導体デバイス(200)はソース及びドレイン領域(216)を覆うファセット形状シリサイドコンタクト区域(210,308,406)を含む。 (もっと読む)


【課題】半導体層に形成したリセスにモフォロジの良好な別の半導体層をエピタキシャル成長させる。
【解決手段】Si基板上にゲート絶縁膜、ゲート電極及びサイドウォールスペーサを形成した後(ステップS1,S2)、そのSi基板のソース・ドレイン領域を形成する部分に、ドライエッチングで第1リセスを形成する(ステップS3)。そして、ドライエッチングによってエッチングダメージが生じた第1リセスの表層部をウェットエッチングで除去することによって第2リセスを形成した後(ステップS4)、第2リセスにSiGe層をエピタキシャル成長させる(ステップS5,S6)。これにより、Si基板に形成したリセスに、モフォロジの良好なSiGe層を形成することが可能になる。 (もっと読む)


本発明は、1mmを越える粒度を持つ自立式結晶化シリコン薄膜の製法に係る。本発明は、また自立式シリコンリボンを製造するための該方法の利用およびこのようにして得られたリボンにも係る。 (もっと読む)


【課題】 半導体層の表面に、その半導体層よりも非常にキャリア濃度の大きい半導体層を形成する高キャリア濃度の薄膜半導体層の形成方法を提供する。
【解決手段】 半導体層1表面の自然酸化膜または250℃以下の低温で生成した酸化膜4を還元して形成される活性化した金属元素と結合させることにより、半導体層1よりも高キャリア濃度で、かつ、バンドギャップが前記半導体層より大きい薄膜化合物半導体層2を形成する。この上に、SiN:Hからなる保護層3を設けることが薄膜を保護するために好ましい。 (もっと読む)


【課題】半導体製造工程におけるストレス印加およびアニールによる転位、結晶欠陥を抑え、チャネル領域において良好なストレスを印加するとともに、低抵抗化と浅接合化の両立を図ることが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法において、半導体基板表面に前記半導体基板表面の面積に対する開口率が5〜30%の開口部を形成する工程と、前記開口部内に15〜25%の範囲の濃度で前記半導体基板を構成する原子と異なる格子定数を有する第2の原子を含む混晶からなるエピタキシャル層を形成する工程と、前記エピタキシャル層にイオン注入する工程と、所定の温度Tで活性化アニールを行う工程とを備え、前記所定の温度Tは、1150℃以上かつT≦1E−5exp(21541/T)からなる関係を満たす。 (もっと読む)


【課題】量産に適した半導体基板、及び当該半導体基板を用いた半導体装置を作製することを目的の一とする。
【解決手段】支持基板上に絶縁層、第1の電極、第1の不純物半導体層を少なくとも有する積層体を形成し、第1の不純物半導体層上に一導電型を付与する不純物元素が添加された第1の半導体層を形成し、第1の半導体層上に、一導電型を付与する不純物元素が添加された第2の半導体層を、第1の半導体層とは異なる条件により形成し、固相成長法により、第1の半導体層及び第2の半導体層の結晶性を向上させて、第2の不純物半導体層を形成し、第2の不純物半導体層に、一導電型を付与する不純物元素を添加し、一導電型とは異なる導電型を付与する不純物元素を添加し、ゲート絶縁層を介してゲート電極層を形成し、ソース電極層又はドレイン電極層を形成する。 (もっと読む)


【課題】SiC層とSiO等の埋め込み絶縁層との界面を均一な状態にして結晶性のよいSiC層が得られ、しかも低コストで生産性のよい単結晶SiC基板の製造方法を提供する。
【解決手段】所定厚さの表面Si層3と埋め込み絶縁層4とを有するSi基板1を準備し、上記Si基板1を炭素系ガス雰囲気中で加熱して上記表面Si層3を単結晶SiC層6に変成させる単結晶SiC基板の製造方法であって、上記表面Si層3を単結晶SiC層6に変成させる際に、埋め込み絶縁層4との界面8近傍のSi層を残存Si層5として残す。 (もっと読む)


【課題】薄膜製造方法を提供する。
【解決手段】
本発明が提供する薄膜製造方法は、以下のステップを含む:オリジナル基板を提供する;エッチング停止薄膜層をオリジナル基板上に形成する;犠牲層をエッチング停止薄膜層上に形成する;気体イオンを注入し、イオン分布濃度ピーク層を形成し、有効転移薄膜層及び残留層を定義する;有効転移薄膜層及び残留層を分離する。犠牲層の厚度を制御することにより、有効転移薄膜層の厚度を効率的に制御することができる。また、有効転移薄膜層厚度を均一にし、ナノメートルオーダーの厚度を達成する。 (もっと読む)


【課題】炭化珪素エピタキシャル層中の基底面転位を減らすことができる炭化珪素半導体基板とその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の構成要素が作りこまれるための層であるドリフト層となる第1の半導体層と,炭化珪素単結晶ウエハからなる下地基板の間に,ドリフト層と同一伝導型の2層以上の半導体層によって構成されるバッファ層をエピタキシャル成長によって設ける。ドリフト層とこのバッファ層の界面,バッファ層を構成する半導体層間の界面,前記バッファ層と下地基板の界面においてドナー濃度の段差を設け,ドリフト層側の方が下地基板側よりもドナー濃度が低くなるようにするすることにより,ドリフト層が単層であるよりも,あるいは,1層からなるバッファ層を設けるよりも,多くの基底面転位を貫通刃状転位に変換することができる。 (もっと読む)


【課題】量産に適した方法で半導体基板を提供することを目的の一とする。または、資源を有効に活用しつつ、優れた特性の半導体基板を提供することを目的の一とする。
【解決手段】単結晶半導体基板にイオンを照射して単結晶半導体基板中に損傷領域を形成し、単結晶半導体基板上に絶縁層を形成し、絶縁層と支持基板を密着させて単結晶半導体基板と支持基板を貼り合わせ、損傷領域において単結晶半導体基板を分離させることにより、支持基板上に第1の単結晶半導体層を形成し、第1の単結晶半導体層上に第1の半導体層を形成し、第1の半導体層上に、第1の半導体層とは異なる条件により第2の半導体層を形成し、固相成長法により、第1の半導体層及び第2の半導体層の結晶性を向上させて、第2の単結晶半導体層を形成する。 (もっと読む)


【課題】限りある資源を有効活用しつつ、優れた光電変換特性を有する光電変換装置を安全に提供することを課題の一とする。
【解決手段】単結晶半導体基板中に脆化層を形成し、且つ単結晶半導体基板の一表面上に第1の不純物半導体層、第1の電極、及び絶縁層を形成し、絶縁層と支持基板を密着させて単結晶半導体基板と支持基板を貼り合わせた後、脆化層において単結晶半導体基板を分離させて第1の単結晶半導体層を有する積層体を形成し、第1の単結晶半導体層上に第1の半導体層及び第2の半導体層を形成し、固相成長により、第1の半導体層及び第2の半導体層の結晶性を向上させて、第2の単結晶半導体層を形成し、第2の単結晶半導体層上に、第1の不純物半導体層とは逆の導電型の第2の不純物半導体層を形成し、第2の不純物半導体層上に第2の電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】カーボンの供給を抑えた反応室内条件下でのエピタキシャル成長用基板として好適な炭化珪素基板の製造方法を提供する。
【解決手段】カーボンの供給を抑えた反応室1内条件下、炭化珪素基板4をアルゴン雰囲気下にてエピタキシャル成長温度まで昇温させて基板4の表面をアルゴン処理し、エピタキシャル成長温度に到達した段階で昇温のための加熱およびアルゴンガス供給を停止する炭化珪素エピタキシャル用基板4の製造方法。 (もっと読む)


【課題】良好な結晶性を有し、S値において高性能な半導体素子を提供する。
【解決手段】脆化層を有する単結晶半導体基板と、ベース基板とを絶縁層を介して貼り合わせ、熱処理によって、脆化層を境として単結晶半導体基板を分離して、ベース基板上に単結晶半導体層を固定し、単結晶半導体層にレーザ光を照射し、単結晶半導体層を部分溶融状態として再単結晶化し、結晶欠陥を修復する。次いで、n型トランジスタとなる島状単結晶半導体層にフォトマスクを用いてチャネルドープし、次いで該フォトマスクを用いて島状単結晶半導体層をエッチバックし、p型トランジスタとなる島状単結晶半導体層の膜厚より薄くなるようにする。 (もっと読む)


【課題】良好な結晶性を有し高性能な半導体素子を形成することを可能とする半導体基板を提供する。
【解決手段】脆化層を有する単結晶半導体基板と、ベース基板とを絶縁層を介して貼り合わせ、熱処理によって、脆化層を境として単結晶半導体基板を分離して、ベース基板上に単結晶半導体層を固定し、単結晶半導体層にレーザ光を照射し、単結晶半導体層を部分溶融状態として再結晶化し、結晶欠陥を修復する。再結晶化後の単結晶半導体層は深さ方向の濃度分布において、炭素濃度が極大を有する。 (もっと読む)


【課題】高性能な半導体素子を形成することを可能とする半導体基板および半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】脆化層を有する単結晶半導体基板と、ベース基板とを絶縁層を介して貼り合わせ、熱処理によって、脆化層を境として単結晶半導体基板を分離して、ベース基板上に単結晶半導体層を固定する。次いで、モニタ基板の複数の領域に対して互いに異なるエネルギー密度条件でレーザ光を照射し、レーザ光を照射後の単結晶半導体層のそれぞれの領域の炭素濃度及び水素濃度の深さ方向の濃度分布を測定し、炭素濃度が極大を有し、且つ水素濃度がショルダーピークを有するレーザ光の照射強度を最適なレーザ光の照射強度とする。モニタ基板を用いて検出した最適のエネルギー密度で、単結晶半導体層にレーザ光を照射し、半導体基板を作製する。 (もっと読む)


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