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Fターム[5F157AB34]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 被洗浄物の支持 (5,429) | 被洗浄物の姿勢 (1,840) | 被洗浄物が垂直 (299)

Fターム[5F157AB34]に分類される特許

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【課題】処理槽の内部に形成される処理液の循環領域を狭小化して処理液の置換効率を向上させるとともに、複数枚の基板の間隙に処理液を良好に流入させる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】下段ノズル14bの吐出孔141の向きを、底板11aの上面の法線Nに対して内側方向に5°以上かつ40°以下の角度θに設定する。これにより、吐出孔141から吐出された処理液の流圧が過度に低減されることはなく、また、内槽11の内部において大きな処理液の循環領域CAが形成されることもない。したがって、基板Wの間隙に処理液を良好に流入させつつ、内槽11の内部の処理液を効率よく置換できる。 (もっと読む)


【課題】基板保持手段の保持部の保持溝にパーティクルが蓄積することを防止することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理液を貯留する処理槽と、鉛直姿勢で水平方向に配列された複数の基板の最下端部および両側の各下端部をそれぞれ保持する第1保持部20および第2、第3保持部を有し複数の基板を処理槽の内部に保持する基板保持具と、処理槽の底部近傍に設けられた吐出口から処理液を吐出する一対の吐出管とを備え、基板保持具の第1保持部20および第2、第3保持部に、保持溝20aの溝底から保持部の側面に貫通する複数の貫通細孔20bを、処理槽内に生じる処理液の流れに沿った方向に穿設する。 (もっと読む)


【課題】処理槽内の洗浄液に浸漬された基板に対し超音波を照射して基板を洗浄する場合に、装置の構造を複雑化させることなく、基板の洗浄面全域に効果的に超音波を照射して洗浄効果の均一性を高めることができる方法を提供する。
【解決手段】吐出管20から供給された洗浄液が処理槽10内の洗浄液中に拡散していくときの流動分布の推移状況と、処理槽10の底部側から照射された超音波が処理槽内の洗浄液中を伝播していくときの合成波面の進行状況とが相互に適合するように、基板Wの配列方向と直交する方向に並設された複数の超音波振動子群22からそれぞれ位相をずらして超音波を照射する。 (もっと読む)


【課題】複数枚の基板を基板保持手段により保持し処理槽内の処理液中に浸漬させて処理する装置において、基板表面からパーティクルや残留薬液を除去して効率良く処理槽外へ排出することができ、処理時間の短縮と処理液の使用量の低減を図ることができる装置を提供する。
【解決手段】処理液を貯留する処理槽10と、鉛直姿勢で水平方向に配列された複数の基板Wの最下端部および両側の各下端部をそれぞれ保持する第1保持部34および第2保持部36a、第3保持部36bを有し処理槽10の内方位置と上方位置との間で上下方向へ移動する基板保持具12と、処理槽10の底部近傍に設けられた吐出口から処理液を吐出する一対の吐出管18と、基板保持具12を処理槽10内において、第2保持部36a、第3保持部36bが吐出管18の吐出口からの処理液に当たる位置と当たらない位置とに移動させる移動制御手段とを備えて装置を構成した。 (もっと読む)


【課題】被洗浄物(ウエハ)を洗浄した際に生じた異物が被洗浄物(ウエハ)の表面に再付着し難い洗浄装置、洗浄方法及び半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】内槽11と外槽4とが上下2層に配置され、内槽11に被洗浄物(ウエハ1)を浸漬させ、内槽11の底面11a側から上方に洗浄液3を噴出させつつ洗浄を行う洗浄装置10であって、内槽11の底面11aを中央が窪んだすり鉢状に形成するとともに、洗浄液を噴出する洗浄液供給口12を内槽11の底面11aの周辺側に設ける。被洗浄物から脱落した沈殿性の異物8は底面11aの中央の窪んだ部分に集まり、洗浄液3を噴出しても巻き上がり難くなり、被洗浄物への異物の再付着を防止できる。 (もっと読む)


【課題】簡易な装置構成にて良好な乾燥性能を得ることができる基板乾燥装置を提供する。
【解決手段】基板乾燥装置1はチャンバ10内に処理槽20を備える。また、基板乾燥装置1は乾燥ガス生成ユニット45を備える。乾燥ガス生成ユニット45は、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−プロパノールを成分とする水切り剤を加熱して蒸発させて蒸気を発生させる。その蒸気を窒素ガスをキャリアガスとしてガス供給ノズル41に送給し、ガス供給ノズル41から1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−プロパノールの蒸気を含む乾燥ガスをチャンバ10内に供給し、乾燥ガスの雰囲気を形成する。処理槽20にて純水による洗浄処理が終了した基板Wは昇降機構30によって純水から乾燥ガスの雰囲気中に引き揚げられる。 (もっと読む)


【課題】CMP法による研磨によりポリシリコン膜等が半導体基板上に表出する場合であっても、信頼性や製造歩留まりの低下を防止し得る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】化学的機械的研磨法により研磨を行う工程であって、半導体基板上にポリシリコン膜が表出した状態になる工程と;半導体基板を洗浄する工程とを有する半導体装置の製造方法であって、半導体基板を洗浄する工程は、酸性の第1の洗浄液を用いて洗浄を行う第1の工程S10と;第1の工程の後に、第2の洗浄液を用いて超音波洗浄を行う第2の工程S12と;第2の工程の後に、アルカリ性の第3の洗浄液を用いて洗浄を行う第3の工程S13とを有している。 (もっと読む)


【課題】超音波洗浄における被洗浄物の洗浄ムラを抑制し、洗浄槽数を削減して装置のコストを低減することができ、パーティクル除去を効果的に行うことができる超音波洗浄装置および超音波洗浄方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、被洗浄物を浸漬して洗浄するための洗浄液を収容する洗浄槽と、該洗浄槽に超音波を伝搬するための伝搬水を収容する超音波伝搬槽と、前記超音波伝搬槽の下部に配置され振動子により超音波を前記伝搬水に重畳する振動板と、洗浄する被洗浄物を前記洗浄槽中に保持する保持治具とを具備し、前記被洗浄物が前記保持治具で保持されて前記洗浄槽内の洗浄液に浸漬され、前記洗浄槽が前記超音波伝搬槽内の伝搬水に浸され、前記振動板により重畳した超音波を伝搬水を介して洗浄槽に伝搬させて前記被洗浄物を超音波洗浄する超音波洗浄装置であって、前記超音波伝搬槽を水平面内で揺動させる伝搬槽揺動機構を具備する超音波洗浄装置。 (もっと読む)


【課題】処理液から引き上げられる複数の基板の全面を短時間で効率的に乾燥させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板移動機構30が基板Wを保持する保持部31を洗浄液が貯留された内槽40内に移動させる。その後、内槽40内の洗浄液をリンス液RLで置換する。続いて、基板移動機構30が基板Wを内槽40の上方へ引き上げる。このとき、ドライエア供給ダクト62から基板WにドライエアDFを供給する。基板Wの引き上げ時において、保持部31に当接する基板Wの部分y1,y2,y3が処理槽4上方の所定の高さに引き上げられることにより、基板移動機構30による基板Wの引き上げ動作を停止する。そして、バルブV1を閉塞状態にし、バルブV2を開放状態にする。これにより、内槽40内の全てのリンス液RLが処理液排出管42から図示しない工場の排出設備に送られる。 (もっと読む)


【課題】基板へのパーティクルの付着量が十分に低減された基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100において、ドライエア発生装置60により発生されたドライエアDFは、配管61を通してドライエア供給ダクト62に送られる。それにより、昇降機構30により内槽40から引き上げられる基板WにドライエアDFが吹き付けられ、基板Wの乾燥処理が行われる。ドライエア発生装置60により発生されたドライエアDFが処理槽4の内槽40から引き上げられる基板Wに供給されるまでに通過する経路(配管61、供給ダクト62および通気ガイド62a)には、塩化ビニルよりもガス放出速度が低くかつ塩化ビニルよりも吸水率が低い材料が用いられる。 (もっと読む)


【課題】無駄な処理液流を抑制して表面処理効率を向上できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数の基板Wは、リフター30の3本の基板保持棒33,34,35によって起立姿勢で保持されて処理槽内の処理液中に浸漬される。積層配列された複数の基板Wの前後には第1ガイドプレート40および第2ガイドプレート50が設けられる。第1ガイドプレート40および第2ガイドプレート50は、処理槽内に処理液を吐出する吐出ノズル20に設けられた複数の吐出孔の配列における両端よりも外側に対向する位置に配置されている。第1ガイドプレート40および第2ガイドプレート50によって基板Wの配列の外側に向けて処理液が流れることが防止され、無駄な処理液流を抑制して表面処理効率を向上できる。 (もっと読む)


【課題】カロー酸を用いたウエハ(基板)洗浄工程において、Hの使用量を低減しつつ、フォトレジスト膜(感光性マスキング層)の除去性を向上できる技術を提供する。
【解決手段】基板1の洗浄(フォトレジスト膜の除去)時以外のSPM液中のHの濃度は、フォトレジスト膜の少なくとも一部を除去できる最低限の第1濃度以上で制御する。そして、基板1をSPM槽51(内槽51A)へ浸漬する直前に、SPM液中のHの濃度がフォトレジスト膜を確実に除去できる第2濃度以上となり、また基板1をSPM槽51(内槽51A)へ浸漬した時にSPM液中のHの濃度がその第2濃度未満とならないように、過酸化水素水供給系54からSPM槽51(内槽51A)へ所定量のHを供給する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の回路基板と半導体素子との隙間の洗浄効果を高める。
【解決手段】回路基板2に半導体素子3を実装する半導体装置1の製造方法において、回路基板2に形成された電極21および半導体素子3に形成された半田バンプ31の少なくとも一方にフラックス7を供給する工程と、フラックス7を供給した後、電極21と半田バンプ31とを接合する工程と、電極21と半田バンプ31とを接合した後、回路基板2と半導体素子3との隙間に蒸気81を供給して、回路基板2と半導体素子3との隙間を洗浄する工程と、を含む。 (もっと読む)


本発明は、スタッキング方向に沿ってスタックの状態で配置される個々のウェーハ又は基板の表面洗浄のための装置及び方法であり、スタッキング方向に垂直な方向にスタックに向けて液体噴射が放出され、かつスタッキング方向におけるウェーハスタック及びノズル間の相対移動が可能である。
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【課題】被処理基板を洗浄する場合に、被処理基板の一方の面と他方の面とで除去する対象物が異なる場合であっても各対象物を確実に除去することができ、また、当該被処理基板を浸食することなく、被処理基板に付着したポリマーを確実に除去すること。
【解決手段】洗浄装置は、被処理基板Wの周縁部を洗浄する。洗浄装置は、被処理基板Wの表面Waの周縁部に当接し、当該被処理基板Wの面内方向で回転駆動される第一洗浄部11と、被処理基板Wの裏面Wbの周縁部に当接し、当該被処理基板Wの面内方向で回転駆動される第二洗浄部12と、を備えている。第二洗浄部12から被処理基板Wの裏面Wbに加わる摩擦力は、第一洗浄部11から被処理基板Wの表面Waに加わる摩擦力よりも大きくなっている。 (もっと読む)


【課題】液晶表示パネルに用いられるガラス基板などの基板を薬液や純水などの処理液を供給して処理する際の各処理液の温度の差が大きいことにより基板が撓んでしまうことが抑制される基板処理方法を提供すること。
【解決手段】一定方向に搬送される基板の処理面に薬液を供給して薬液処理するに際し、隔壁で仕切られる複数の薬液処理室の各薬液処理室にて前記基板に供給される各薬液の温度を前記基板の搬送方向の上流側から下流側に向けて段階的に下げるようにした。 (もっと読む)


【課題】基板処理装置において、基板の汚染や処理の不均一性や処理速度の低下を防止すること。
【解決手段】本発明では、基板処理装置(1)において、貯留した処理液に基板(ウエハ(2))を浸漬させて基板(ウエハ(2))の処理を行う処理槽(21)と、前記基板(ウエハ(2))に向けて処理液を供給して前記処理槽(21)の内部で処理液の上昇流を形成するために前記処理槽(21)に設けた一対の処理液供給部(25,26)と、前記処理液をオーバーフローさせるために前記処理槽(21)の上端部を外側に向けて傾斜状に形成した排出口(34,35)と、前記処理液の上昇流を、前記排出口(34,35)から排出させる流れと、前記処理槽(21)の側壁(23,24)に沿って還流させる流れとに分流するために前記処理槽(21)の上部に前記処理槽(21)の側壁(23,24)よりも内側に向けて突出して形成した突起(36,37)とを設けることにした。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】本発明の実施形態は、微細なフィーチャを備えたパターニング済み基板を洗浄剤で洗浄するための装置を提供する。この洗浄剤を用いる装置は、フィーチャを実質的に損傷することなく微細なフィーチャを備えたパターニング済みウエハを洗浄するのに有効である。洗浄剤は、液相または液/気相の流体であり、デバイスのフィーチャの周りで変形するため、実質的にデバイスのフィーチャを損傷することも損傷をまとめて低減することもない。分子量の大きい高分子化合物のポリマを含む洗浄剤は、基板上の汚染物質を捉える。さらに、洗浄剤は、汚染物質を取り込み、基板表面に汚染物質を戻さない。分子量の大きい1または複数の高分子化合物のポリマは、長いポリマ鎖を形成しており、ポリマ鎖は、さらに、架橋されて網目(すなわちポリマ網目)を形成しうる。長いポリマ鎖および/またはポリマ網目は、従来の洗浄剤と比較して、汚染物質を捉えて取り込む能力が高い。 (もっと読む)


【課題】バンプショートの発生を防止して半導体素子の歩留まりを向上させるフラックスの洗浄方法を提供すること。
【解決手段】フラックス洗浄剤によりウェーハ1を洗浄する洗浄処理工程(A)と、前記洗浄処理後、連続して、液温40℃以上の脱イオン水によりウェーハ1をリンスする第1リンス処理工程(B)と、前記第1リンス処理後、連続して、液温25℃以下の脱イオン水によりウェーハ1をリンスする第2リンス処理工程(C)と、を含む。 (もっと読む)


【課題】処理槽の上方に乾燥処理部を備えた処理装置において、乾燥処理部に薬液雰囲気が流入することを防止でき、さらに、乾燥処理部から処理ガスを確実に排気できる基板処理装置、基板処理方法、記録媒体およびソフトウエアを提供する。
【解決手段】基板処理装置1は基板Wを処理液によって処理する処理槽3と、処理槽3の上方に配置された乾燥処理部6と、処理槽3と乾燥処理部6との間で基板Wを移動させる移動機構8とを備えている。乾燥処理部6は、移動機構8によって基板Wが処理槽3内に移送されたとき、外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とをとることができる。乾燥処理部6は制御部65によって外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とに切り換えられる。 (もっと読む)


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