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Fターム[5F157CF24]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | シール (102)

Fターム[5F157CF24]に分類される特許

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【課題】基板上でのパターン倒れを防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、洗浄処理部5a〜5dを有する。洗浄処理部5a〜5dは、スピンベース22、チャック回転駆動機構24、チャンバ31、真空ポンプ33、蒸気供給管34および液体供給ノズル46を備える。チャンバ31がスピンベース22から離間した位置に設定されかつスピンベース22が回転されている状態で、スピンベース22上の基板Wに液体供給ノズル46から薬液およびリンス液が供給される。スピンベース22が停止されかつチャンバ31がスピンベース22に密着した位置に設定されている状態で、真空ポンプ33によりチャンバ31内が排気されるとともに蒸気供給管34からチャンバ31内にIPAの蒸気が供給される。 (もっと読む)


【課題】 基板洗浄をさらに効率的に実行できる二流体ノズル、およびこの二流体ノズルによって洗浄処理を実行可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】 流路形成部材31および蓋部材39は、主として圧縮空気供給源側から供給される気体の導入路を形成する部材である。流路形成部材41および蓋部材49は、主として圧縮空気供給源側から供給される気体の導入路を形成する部材である。また、各流路形成部材31、41の背面同士が合わせられると、洗浄液供給源71から供給される液体の導入路が形成されるとともに、Y軸方向を長手方向とし、X軸方向を幅方向とする略長方形状の液体吐出口が形成される。導出部材51は、流路形成部材31側から供給される気体の吐出口と、流路形成部材41側から供給される気体の吐出口と、を形成する部材である。 (もっと読む)


【課題】基板の汚染を抑制または防止することができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、スピンベース6から離隔させた状態でウエハWを水平に保持する複数個の挟持部材7を有するスピンチャック2を備えている。ウエハWとスピンベース6との間には区画板32が配置されている。ウエハWとスピンベース6との間の空間は、区画板32によって基板側の空間S1aとベース部材側の空間S1bとに区画されている。下側処理液吐出口37から処理液が吐出されることにより、基板側の空間S1aに処理液が供給され、ウエハWの下面が処理される。また、洗浄液吐出口30から洗浄液が吐出されることにより、ベース部材側の空間S1bに洗浄液が供給され、スピンベース6の上面6aおよび区画板32の下面32bが洗浄される。 (もっと読む)


【課題】基板の主面上でのエッチング液の滞留を防止または抑制して、基板の主面に対して良好なエッチング処理を施すことができる基板処理装置を提供する。基板の主面上でのエッチング液の滞留を防止または抑制することができる基板支持部材を提供する。
【解決手段】基板処理装置1は、基板支持部材3と、ウエハWおよび基板支持部材3を回転させるスピンチャック4とを備える。基板支持部材3の上面には、円筒状の収容凹所13および平坦な第1円環状面12が形成されている。第1円環状面12は、収容凹所13内に保持されたウエハWの上面に、第1円環状面12上のフッ硝酸とウエハWの上面上のフッ硝酸とが連続した液膜を形成するように接近して配置されている。第1円環状面12には、サンドブラスト加工(親液化処理)が施されている。 (もっと読む)


【課題】被処理物の種々のサイズに対応可能なプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置Mは、長手方向に連なる複数の電極ユニット10,10を備えている。各電極ユニット10は、互いに対応する長さの第1、第2電極部材11,12と、第1誘電部材13と、一対のサイドフレーム16を有している。複数の電極ユニット10,10における第1電極部材11,11どうし、第1誘電部材13,13どうし、及び幅方向の同側のサイドフレーム16,16どうしが、それぞれ互いに同一規格に形成されるとともに長手方向に連ねられている。 (もっと読む)


【課題】簡易な構造で、ブラシから異物を確実に除去できる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1は、ブラシ18およびブラシ洗浄液供給機構53を備えている。ブラシ18は、基板に接触する接触面45,46を外表面に有し、内方から接触面45,46に向けてブラシ洗浄液を供給するためのブラシ洗浄液導入孔47が形成されている。ブラシ18は、所定の基板処理位置で接触面45,46を基板に接触させて当該基板を洗浄する。ブラシ18が前記基板処理位置から退避して待機するときの待機位置には、当該ブラシ18を収容するための待機ポッド21が設けられている。また、ブラシ洗浄液供給機構53は、待機ポッド21の底部51に設けられており、ブラシ洗浄液導入孔47にブラシ洗浄液を供給する。 (もっと読む)


【課題】密封部材の異常消耗を防止することができる洗浄方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置10において、最初のプラズマエッチングの際、チャンバ11の構成部品等に付着したCF系のデポ量が規定量より少ないときには、続く1ロット分のプラズマエッチングにおいて反応室17内における構成部品等を加熱して該構成部品等に付着したCF系のデポ量を減少させ、ドライクリーニングにおいて反応室17内に酸素ラジカルを弗素ラジカルに比して過剰に存在させ、構成部品等に付着したCF系のデポ量が規定量より多いときには、続く1ロット分のプラズマエッチングにおいて反応室17内における構成部品等を冷却して該構成部品等に付着したCF系のデポ量を増加させ、続くドライクリーニングにおいて反応室17内に弗素ラジカルを酸素ラジカルに比して過剰に存在させる。 (もっと読む)


【課題】単純な構造でブラシを回転させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】ブラシ20は、ブラシホルダ47およびホルダ取付部48を介して、回転シャフト45に一体回転可能に連結されている。また、ホルダ取付部48の外周には、複数の羽根104からなる羽根車105が連結されている。ブラシ20および羽根車105は一体回転可能に連結されている。ブラシ20および羽根車105は、第1および第2ノズル115,116から吐出されたブラシ洗浄液が羽根104に当たることにより、一体的に回転させられる。 (もっと読む)


【課題】
半導体装置の裏面を洗浄する洗浄液が半導体装置の表面に吸い込まれるのを防止する。
【解決手段】
本発明の吸着搬送装置は、複数の半導体装置20を一括吸着して搬送する吸着搬送装置であって、空気を吸引する真空室8と、真空室8につながった吸引通路19を備え、吸引通路19の空気が真空室8に吸引されることにより、半導体装置20の第1の主面を吸着する吸着パッドリング1と、半導体装置20の第1の主面とは反対側の第2の主面に向けて洗浄液を噴射する洗浄手段25と、空気を放出する空気室12と、空気室12から放出された空気を半導体装置20の第1の主面から第2の主面に向かう方向に放出するため、吸着パッドリング1の周囲に設けられ空気室12につながった空気通路14とを有する。 (もっと読む)


ウエハのような半導体基材の表面を洗浄、調整する装置である。回転可能なチャックやチャンバー、1つ以上のドレン排出口を有して洗浄液を集める回転可能なトレイ、多数の洗浄液を集める多数の受容器、チャックを駆動する第1のモータ、トレイを駆動する第2のモータを含む。トレイのドレン排出口は、その下方に配置された所定の受容器の直上に位置させることができる。トレイに集められた洗浄液は、所定の受容器に導くことができる。最小限の相互汚染での確実で正確に制御された洗浄溶液の再利用がこの装置の1つの特徴である。
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【課題】薬液のガスの排気量を少なくすることができるとともにこの薬液のガスの排気のコントロールを容易に行うことができ、また、処理空間形成部や処理液供給部以外の周辺ユニットについて耐薬品性を考慮する必要がなくなり、さらに処理液供給部のメンテナンス性を向上させることができる基板洗浄装置および基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】被処理基板Wの周縁部の洗浄を行う基板洗浄装置は、被処理基板Wを支持するとともに回転させる回転支持部22と、回転支持部22により支持される被処理基板Wの周縁部を覆うような処理空間36を形成する処理空間形成部30と、を備えている。また、処理空間36内にある被処理基板Wの周縁部に処理液を供給する処理液供給部40が設けられている。処理液供給部40は、処理空間形成部30により形成される処理空間36に外部から挿入可能となっている。 (もっと読む)


【課題】処理槽の上方に乾燥処理部を備えた処理装置において、乾燥処理部に薬液雰囲気が流入することを防止でき、さらに、乾燥処理部から処理ガスを確実に排気できる基板処理装置、基板処理方法、記録媒体およびソフトウエアを提供する。
【解決手段】基板処理装置1は基板Wを処理液によって処理する処理槽3と、処理槽3の上方に配置された乾燥処理部6と、処理槽3と乾燥処理部6との間で基板Wを移動させる移動機構8とを備えている。乾燥処理部6は、移動機構8によって基板Wが処理槽3内に移送されたとき、外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とをとることができる。乾燥処理部6は制御部65によって外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とに切り換えられる。 (もっと読む)


【課題】 放電方向に均一な放電を発生させ、放電効率を高める構造を提供すること。
【解決手段】 放電用電極体9,10は電極2,3と電極2,3を覆う固体誘電体とを備えたものであって、固体誘電体の放電側表面が希土類元素を含む酸化物からなる。また、放電用電極アセンブリ100は、放電用電極体を2つ備えてなり、これら放電用電極体を対向させてなる。放電処理装置は、放電用電極アセンブリを用いてプラズマを発生させるようになしたものである。これらにより、放電効率が向上するとともに、放電用電極体の放電側表面のプラズマに対する耐食性が向上する。 (もっと読む)


【課題】 チャンバー外部に処理液の流出を抑制することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】 基板処理装置は、基板の処理空間を提供するチャンバー、チャンバーの内部に配置され、第1方向に延長されチャンバーの外部から両端部に提供された処理液が流れる第1供給ライン、第1供給ラインと連通され基板に向かうように延長され、処理液を基板に向かって噴射する噴射部、及び噴射部を第1方向と垂直な第2方向にスウィングさせるために、第1供給ラインと非接触方式で第1供給ラインを回転させる駆動ユニットを含む。従って、基板処理装置は、基板全体に均一に処理液を供給する。 (もっと読む)


【課題】ブラシの交換時期を適切に判断することができる、基板処理装置を提供する。
【解決手段】ウエハWの裏面の周縁領域14および周端面15に対する裏面洗浄処理時には、ブラシ16は、裏面処理時位置に配置され、スピンチャック3に保持されたウエハWの周縁部に対して押し込まれる。そして、その状態が所定時間にわたって維持された後、ブラシ16は、ウエハWから離間される。一方、ブラシに加わる荷重が圧力センサにより検出され、その検出される荷重に基づいて、制御部により、ブラシ16が裏面側処理時位置に配置されたか否かが判断される。そして、ブラシ16が裏面側処理時位置に配置されたと判断された時点からブラシ16がウエハWからの離間のために移動し始めるまでの時間が計測され、その時間がメモリに累積して記憶される。 (もっと読む)


【課題】複数の処理チャンバ全体を積層方向に関して小型化できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】ハウジング2の内部の収容空間に、第1処理チャンバ10、第2処理チャンバ20および第3処理チャンバ30が、下方から順に積層されている。第1処理チャンバ10の上方には、第1蓋11を介して、第2処理チャンバ20が積層されている。第1蓋11および第2処理チャンバ20が、一体的に、第1処理チャンバ10に対して相対的に昇降する。第2処理チャンバ20の上方には、第2蓋21を介して、第3処理チャンバ30が積層されている。第2蓋21および第3処理チャンバ30が、一体的に、第2処理チャンバ20に対して相対的に昇降する。 (もっと読む)


【課題】 高圧水噴射洗浄装置において、製造ラインで要求されるクリーン度への対応が容易であること、均一な洗浄を可能にすること、構造を簡単にし、コストダウンを図れること、ならびに洗浄時の装置の振動を低減することである。
【解決手段】 洗浄対象物を洗浄装置本体に対し一定速度で移動させながら、高圧水噴射ノズルから一斉に高圧水を前記洗浄対象物に噴射させて洗浄する装置で、洗浄対象物を横切る長さ以上の長さを有する支持フレーム6の一面に、複数の高圧水噴射ノズル7aを洗浄対象物に向けかつ間隔をあけて配列し、支持フレーム6の両端延長部11をその延長面に直交する駆動軸15を介して偏心回転可能に支持するとともに、駆動軸15を駆動装置17にて回転させることにより支持フレーム6が偏心回転するように構成し、回転円運動する各高圧水噴射ノズル7aから高圧水を一斉に噴射させるようにしている。 (もっと読む)


【課題】 微細な接続孔内等に発生した酸化膜をドライエッチングにより効率良く除去できる表面処理方法及びその装置を提供する。
【解決手段】 表面に酸化膜が発生している被処理体Wは、処理容器10内に搬入され、該処理容器内は真空に維持され、N2 とH2 との混合ガスがプラズマ発生部30に導入され、プラズマ化され、それぞれの活性ガス種が形成される。活性化ガス種は被処理体に向けてフローされ、これにNF3 ガスが添加され、活性化されたガスが形成される。被処理体は所定温度以下に冷却手段22により冷却され、活性化されたNF3 ガスに曝され、該ガスと反応し、酸化膜は変質して反応膜が被処理体Wの表面に形成される。N2 、H2 及びNF3 ガスの供給が停止され、加熱手段19で被処理体は所定の温度に加熱され、反応膜が昇華して除去される。 (もっと読む)


【課題】別の処理ユニットからのケミカル雰囲気の進入を抑制できる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板を保持する基板保持部42、及び基板に処理液を供給する供給ノズル61と、この供給ノズル61を待機位置から基板保持部42の上方に旋回させるシャフト63とを有する処理液供給部41を備えた複数の基板処理部22と、基板処理部22の各々を互いに独立して収容する複数のチャンバ43と、待機位置の各々に設けられ、供給ノズル61から吐出される処理液を受ける排液ポート82と、排液ポート82の各々が接続され、複数の基板処理部22で共有される主排液配管81と、排液ポート82と主排液配管81との間の各々に設けられ、主排液配管81からの気体の進入を防ぐ進入防止弁85と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】複数枚の基板を精度よく処理することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数枚の基板を洗浄する基板処理装置は、固定アーム19によって水平姿勢で保持された基板Wの下面を覆う下部板21と、この下部板21に対向配置されて基板Wの上面を覆う上部板31とを備えて構成される処理部33を、上下方向に複数積層し、さらに、固定アーム19等を縦軸芯P周りに回転させる電動モータ11と、下部板21に対して上部板31を上下方向に接離させて、下部板21と上部板31との間隔であるギャップGを可変する昇降機構23と、を備えている。この基板処理装置によれば、下部板21に対して上部板31を上昇または下降させることで、下部板21と上部板31との間隔であるギャップGを可変する。これにより、固定アーム19に基板Wを保持させる動作や、
基板の処理をそれぞれ適切に行うことができる。 (もっと読む)


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