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国際特許分類[G01C3/06]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 距離,水準または方位の測定;測量;航行;ジャイロ計器;写真計量または映像計量 (22,094) | 視準線上の距離測定;光学的距離計 (1,749) | 細部 (1,609) | 最終指示値を得るための電気的手段の使用 (1,608)

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【課題】複数個の撮像素子の配置間隔や光軸方向の製造上のばらつきを低減したカメラモジュールを提供する。
【解決手段】立体配線基板1は上下キャビティー構造で、下側部に電気部品実装用凹部5を設けるとともに、上側部に2個の光学部品取付用凹部6,6を設けてあり、各光学部品取付用凹部6は貫通孔7を介して電気部品実装用凹部5に連通している。電気部品実装用凹部5には、光軸方向を同じ方向として、受光部2aを貫通孔7に臨ませた状態で2個の撮像素子2がフリップチップ実装されている。また各々の光学部品取付用凹部6には、撮像素子2に光を入射させるレンズ3とIRフィルタ4とが設置されている。 (もっと読む)


【課題】レーザ加工装置において、加工用レーザを被加工対象物に結像もしくは集光する対物用光学素子の焦点を常に被加工対象物に合わせる。
【解決手段】加工用レーザの光軸と略同じ光軸に沿うと共に、僅かに斜めなるように測定用レーザを前記被加工対象物5に照射する。この測定用レーザの反射光をPSD測定装置16で受光し、受光位置の変位を計測する。この際に、測定用レーザが対物用光学装置6を通過した後に被加工対象物5に照射され、かつ、被加工対象物5から反射した測定用レーザの反射光が対物用光学装置6を通過した後にPSD測定装置16に入射するようにする。PSD測定装置16により計測された測定用レーザの反射光の受光位置の変位に基づいて対物用光学装置6のZ軸方向の位置を制御する。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、液晶表示装置のシーリング剤ディスペンサ用センサーに係り、シーリング剤の吐き出されるノズルと基板との間の高さを正確に測定できる変位測定センサーに関する。
【解決手段】
本発明による変位測定センサーは、レーザービームを基板に向けて出力する発光部と、前記発光部から出力されたレーザーの受信される受光部とを含むが、前記発光部及び受光部は、互いに離隔されて一体型とからなり、前記発光部と受光部との間には、ディスペンサのシリンジ下部が取り付けられる結合孔が形成されたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】自己結合型のレーザ計測器の利点を活かしつつ、測定対象との距離と測定対象の速度を外乱光の影響を除去して計測する。
【解決手段】距離・速度計は、発振波長が増加する第1の発振期間と発振波長が減少する第2の発振期間が交互に存在し、かつ発振波形の周波数が周期毎に変化するように、半導体レーザ1の発振波長を変調するレーザドライバ4と、半導体レーザ1の出力を電気信号に変換するフォトダイオード2と、フォトダイオード2の出力に含まれる外乱光の成分を除去し、除去後の出力に含まれる干渉の情報を発振波形の周波数が基準周波数のときの値に換算し、半導体レーザ1の出力光と測定対象12からの戻り光との干渉に基づくパルスの数を求める計数手段5〜8と、半導体レーザ1の最小発振波長と最大発振波長と計数結果から測定対象11との距離及び測定対象11の速度を算出する演算手段9とを有する。 (もっと読む)


【課題】背景光の影響を確実に排除する。
【解決手段】本発明の距離計測装置1は、計測対象物3に光を照射する照明手段2と、計測対象物3からの反射光を受光する受光手段4と、照明手段2が計測対象物3に光を照射していない時の受光手段4の受光データを背景光情報として記憶する背景光情報記憶手段7a,7bと、照明手段2が計測対象物3に光を照射している時の受光手段4の受光データを計測光情報とし、該計測光情報から背景光情報記憶手段7a,7bにおいて記憶した背景光情報を減じて差を算出する差分処理手段6と、差分処理手段6により算出した差が閾値以下の場合に計測不能と判定する計測可否判定手段6とを備えていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ビームプロファイリングを用いて、対物用光学素子の焦点合わせを可能とし、かつ、レーザ加工中に対物用光学素子の焦点を維持する。
【解決手段】レーザ加工装置3に設けられたビーム観察装置1には、レーザが照射される測定基準面13を有する観察用基板14が配置されている。CCDカメラ15に撮像されると共に表示された測定基準面13におけるレーザの照射形状に基づき、加工用レーザの焦点を測定基準面13に合わせる。次いで、この際の測定基準面13の加工用レーザの照射方向に沿った位置を、測定用レーザを用いて計測する。すなわち、測定基準面13の位置を測定用レーザの反射光を受光するPSD測定装置の受光面における受光位置として計測し、この受光位置を基準受光位置とする。作業中は、受光位置のずれに対応して対物用光学素子の位置を移動する。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、液晶表示装置のシーリング剤ディスペンサ用センサーに係り、シーリング剤の吐き出されるノズルと基板との間の高さを正確に測定できる変位測定センサーに関する。
【解決手段】
本発明による変位測定センサーは、レーザービームを基板に向けて出力する発光部と、前記発光部から出力されたレーザーの受信される受光部とを含むが、前記発光部及び受光部は、互いに離隔されて一体型とからなり、前記発光部と受光部との間には、ディスペンサのシリンジ下部が取り付けられる結合孔が形成されたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】対象物に光を照射してから反射光を受光するまでの飛行時間を精度よく検出することができる距離画像センサを提供する。
【解決手段】距離画像センサ8は、半導体基板11及び第1半導体領域13の間に印加される第1逆バイアス電圧がHバイアスのとき、隣接する第1半導体領域13のpn接合から拡がる第1空乏層A1,A1は拡がると共に、第2半導体領域14のpn接合から拡がる第2空乏層B1を覆うように互いに繋がる。これにより、半導体基板11において裏面11a近傍で発生したキャリアCを第1空乏層A1にて確実に捕捉する。また、半導体基板11及び第2半導体領域14の間に印加される第2逆バイアス電圧がHバイアスのとき、隣接する第2空乏層は、拡がると共に第1空乏層を覆うように互いに繋がる。これにより、半導体基板において裏面近傍で発生したキャリアを第2空乏層にて確実に捕捉する。 (もっと読む)


【課題】実装面積ならびにコストを増大させず、かつ帯域の低下もなしに制御装置への過出力を防止することができる差動増幅回路を備えた焦点位置検出装置、及びそれを備えた信号処理システムを提供すること。
【解決手段】光電変換素子アレイ101からの出力Va_outを、基準電圧出力部102からの所定電圧を基準として増幅する差動増幅回路103に出力制限電圧VMAXの入力端子を設けておき、この入力端子に出力制限電圧源104から出力制限電圧VMAXを供給する。このような構成により、差動増幅回路103における差動増幅結果が出力制限電圧VMAXを超えた場合に、その出力がVMAXに制限される。 (もっと読む)


【課題】レーザ式変位計測装置およびそれを用いた寸法変化測定方法において、被検物の周囲の環境変動があっても、良好な測定精度を保つことができるようにする。
【解決手段】レーザ式変位計測装置2が、端部に変位測定板6を設けたコンクリート供試体5に対して出射部から出射光9aを出射しその反射光9bを受光部で受光して、変位測定板6までの距離を測定するレーザ式変位センサ8と、レーザ式変位センサ8の出射部および受光部から、変位測定板6の近傍までの空間を覆う管状部10aを有するカバーケース10を備えるようにする。そして、レーザ式変位計測装置2を用いてコンクリート供試体5の寸法変化を測定する。 (もっと読む)


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