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国際特許分類[G01J3/02]の内容

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【課題】屈折レンズのみを用いた光学系により垂直照明を可能とし、かつDUV−UV(190nm〜400nm)領域の広帯域色補正を行うことを可能とする分光光学系および分光測定装置を提供する。
【解決手段】光源100、折り返しミラー110、視野絞り120、及び試料上に集光させる物体側集光レンズ系130と、該物体側集光レンズ系の結像面に配置される像側集光レンズ系140と、前記試料からの正反射光を分光する分光器150とを有し、前記物体側集光レンズ系130と、前記像側集光レンズ系140は、波長190〜400nmのブロードな帯域で色補正され、かつ垂直照明可能な屈折型レンズのみで構成される分光光学系であって、レンズのワーキングディスタンス(WD)が、所定の距離以下で設定され、かつ各接合レンズ間隔Dが、所定の距離以上で設定されている。 (もっと読む)


【課題】従来から用いられる載置台に載置された試料を加熱する方法では、複数の発熱体を使用することで、温度に斑が生じたり、載置台の回転によって生じる風、特に乱流によって試料の温度にばらつきが生じる恐れがあった。
【解決手段】本件発明では、複数個の試料を円形に載置可能で、その円の中心を中心として回転する載置台と、載置台の下に空間を隔てないで前記回転の軌跡に沿った円環状の円環状発熱体と、載置台と円環状発熱体とを収納して内部を一定雰囲気に保つチャンバと、チャンバに設けられる分光測定用ガラス窓と、前記測定のための分光測定部と、を有する分光測定装置を提供する。これにより、載置台に載置された複数の試料を均一に加熱することが可能となり、正確な分光測定を行うことが可能となる。 (もっと読む)


【課題】テラヘルツ光の光路長変化を測定誤差の原因とならないように補正することができるテラへルツ分光測定装置を提供すること
【解決手段】レーザー光を受けてテラヘルツ光を発光する発光素子10と、前記テラヘルツ光を受光して検出信号を検出するための受光素子20と、前記発光素子10と前記受光素子20との間に配置される試料Sと、前記発光素子10から前記試料Sを通じて前記受光素子20までの光路において、光路長を変更するための光学ユニット40と、を備えたことを特徴とするテラへルツ分光測定装置1。 (もっと読む)


【課題】染色標本の染色状態の個体差に起因する分光特性の推定誤差を軽減し、染色標本の分光特性の推定精度を向上させること。
【解決手段】画像処理装置1は、染色標本を撮像した染色標本画像を処理し、染色標本の分光特性を推定するものであり、染色標本画像の色情報を取得する色情報取得部152と、色情報取得部152によって取得された色情報をもとに対象標本の染色状態を評価する染色状態評価部153と、染色状態評価部153による評価結果に応じて染色標本の分光特性を推定する分光透過率推定部158とを備える。 (もっと読む)


【課題】新たな光源に対応する色補正係数の設定のための作業を大幅に低減しつつ正確な測定値としての三刺激値を得ることのできる刺激値直読型計測器を提供する。
【解決手段】三つの受光部12と各実測値を補正して三刺激値を求める補正値演算部(26)とを備える三刺激値直読型計測器10である。色補正係数Kを求める色補正係数算出部(27)と、基準分光放射エネルギー特性S、分光応答度特性R、等色関数Tおよび色補正係数Kを記憶する記憶手段(25)と、を備える。色補正係数算出部(27)は、等色関数Tと基準分光放射エネルギー特性Sとの積を可視領域の波長について積分することにより基準三刺激値を求め、各分光応答度特性Rと基準分光放射エネルギー特性Sとの積を可視領域の波長について積分することにより予測三刺激値を求め、予測三刺激値を基準三刺激値で除算することにより刺激値毎の色補正係数Kを求める。 (もっと読む)


【課題】高次光を除去するための光学フィルタなどの光学素子を光路に着脱可能に挿入するための機構として、専用のアクチュエータやそれを制御する回路やソフトウエア類を設けることをせず、回折格子を回転させるための駆動機構に従動して光学素子を移動させるようにする。
【解決手段】分光器の回折格子10と一体化され、回折格子10とともに回転駆動される駆動アーム20を設ける。光路上に着脱可能に配置される光学素子28を支持する支持体を従動アーム22とし、従動アーム22は回折格子10の波長走査のための回転範囲外の回転角度範囲において駆動アーム20と当接する位置に配置され、駆動アーム20の当接により駆動されて光学素子28を光路上の位置と光路から外れた位置との間で移動させるように変位可能に構成されている。 (もっと読む)


【課題】測定所要時間を延ばすことなく信号のノイズを低減し、吸光度等の計算値の精度を向上させる。
【解決手段】被測定試料の透過光による試料側測定信号及び参照試料の透過光による参照側測定信号については、セクタ鏡の回転に伴う1サイクル中に得られるデータのみを積算し平均値を算出する。一方、光検出器に光を入射しない暗信号については、複数サイクルに跨って得られるデータを積算し平均値を算出する。暗信号は時間経過に伴う変化が緩慢であるため、複数サイクルに亘る積算を実行しても信号の鈍り等の問題が生じない。3サイクルに亘る暗信号データの積算を行うとノイズは従来の1/√3に下がるため、1サイクルの時間、即ち測定所要時間が従来と同じでも暗信号を除去した測定信号のSN比を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】温度変化が起こったとしても分散特性の変化が十分に小さく、温度補償されている分光器とそのような分光器を使用した光学機器を提供する。
【解決手段】光が出射する出射部と、出射部の光出射側に配置された分散素子と、分散素子による分散光が入射する入射部と、出射部と入射部との間に配置され、分散光の入射部への入射角度が使用温度範囲内の温度変化に対してほぼ一定になるような温度補償素子と、を備える。また、光学機器は、このような温度補償されている分光器を有している。 (もっと読む)


【課題】分光データの出力先又は分光データの出力先との通信手段への負荷を減少する分光測定装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置からの分光データの出力にあたっては、繰り返し生成した複数の分光データVを分光測定装置の側で一時的に記憶する。そして、分光データVに特徴的変化が生じたことを検出すると、特徴的変化が生じた分光データV[p]、分光データV[p]の後であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[p+1],…,V[r]、分光データV[p]の前であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[q],…,V[p-1]の全部又は一部を出力する。 (もっと読む)


【課題】所望の温度に冷却した状態の試料を測定する場合でも、結露の発生を防ぐことが可能な分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置は、測定対象の試料Sが内部に配置され、試料Sから発せられる被測定光を観測する積分球20と、試料Sを冷却するための冷媒Rを保持すると共に、少なくとも一部が積分球20内に臨むように位置するデュワ50とを備えている。冷媒Rから発生したガスは、ガス導入路として機能する所定の間隙G1〜G6及び支持台61に形成された複数の連通路64を通って、積分球20内に導入される。積分球20内に導入されたガスは、積分球20内の水分を吸収し、積分球20内の温度を低下させ、デュワ50の第2容器部50bにおける積分球20内に露出している部分に結露が生じるのを防ぐ。 (もっと読む)


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