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国際特許分類[G01N23/223]の内容

国際特許分類[G01N23/223]に分類される特許

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【課題】海洋コンクリートから製造される細骨材について、迅速に精度よく、JIS A 5002に規定の試験方法に基づいて得られる可溶性塩化物含有率を推定する。
【解決手段】海洋コンクリート製の細骨材Sについて、X線装置1により1次X線R1を照射した際に細骨材Sから放射される蛍光X線R2のX線強度と、JCI規準集に規定の全塩化物定量方法に基づいて得た細骨材Sの全塩化物含有率との関係を予め把握し、全塩化物含有率と、JIS A 5002に規定の試験方法に基づいて得た細骨材Sの可溶性塩化物含有率との関係を予め把握し、海洋コンクリート製の新たな細骨材SのX線強度を測定し、この測定値と、予め把握したX線強度と全塩化物含有率との関係と、予め把握した全塩化物含有率と可溶性塩化物含有率との関係とに基づいて、この細骨材Sについて、JIS A 5002に規定の試験方法に基づいて得られる可溶性塩化物含有率を推定する。 (もっと読む)


【課題】 外場遮断後も試料状態が変化するため、外場遮断後に試料中のイオンの分布状態が短時間で変化する試料に適用することは困難であった。
【解決手段】 イオン化する物質を有する高分子材料の被測定部に厚みが10nm以下の金属膜を形成することで、前記イオンの運動を抑制した状態で、表面分析装置を用いて前記被測定部を測定する。 (もっと読む)


【課題】 試料の任意の微小領域にX線を照射することがでる、小型で簡易な構成のX線光学システムを提供する。
【解決手段】 X線導波路と、前記X線導波路から出射されるX線を照射する試料を支持するための試料ホルダーとを有し、X線導波路が物質の屈折率実部が1以下となる波長帯域のX線を導波させるためのコアとクラッドからなり、コアが屈折率実部が異なる複数の物質が周期的に配列された周期構造からなり、周期構造が導波路のX線の導波方向に垂直な面内において1次元または2次元の屈折率実部の周期性を有し、周期構造におけるX線に対する周期性に起因するブラッグ角が、コアとクラッドの界面における全反射臨界角よりも小さく、周期構造をなす複数の物質に存在する界面での全反射臨界角よりも大きい構成からなるX線光学システム。 (もっと読む)


【課題】濃度の希薄な各種の材料物質の構造や電子状態が化学反応によって変化する様子を、10ミリ秒以下の時間分解能でその場観察する技術の提供。
【解決手段】X線応答時間が10マイクロ秒以下の入射X線検出器、X線応答時間が10マイクロ秒以下の透過X線検出器、及びX線応答時間が10マイクロ秒以下の蛍光X線検出器、を具備するXAFS計測装置。 (もっと読む)


【課題】X線に基づいた分析の際に対象物にビームをマッチングさせる際の問題点を解決する。
【解決手段】検査方法は、サンプルの表面上においてスポットを画定するべく合焦されるX線ビームを使用してサンプルを照射する段階を含んでいる。表面上の特徴部を横断するスキャン経路に沿ってスポットをスキャンするべく、サンプル及びX線ビームの中の少なくとも1つをシフトさせる。スポットが異なる個々の程度の特徴部とのオーバーラップを具備しているスキャン経路に沿った複数の場所において、X線ビームに応答してサンプルから放射される蛍光X線の個々の強度を計測する。スキャン経路における放射蛍光X線の調節値を演算するべく、複数の場所において計測された強度を処理する。調節済みの値に基づいて、特徴部の厚さを推定する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、試料の中央が凸状になる場合や、凹状になる場合であっても、試料を短時間で簡単に精度よく測定することができる蛍光X線分析装置を提供する。
【解決手段】蛍光X線分析装置は、試料SにX線源1から1次X線2を照射して発生する2次X線4の強度をX線検出器7で測定し、1次X線2および2次X線4の光路上の光学素子について、第1の光学素子31または第2の光学素子32を選択する光学素子選択手段3と、第1の光学素子での2次X線の強度対第2の光学素子での2次X線の強度の強度比と試料高さとの、あらかじめ求められた相関を記憶する強度比/試料高さ記憶手段8と、未知試料Sについて、第1の光学素子での2次X線の強度対第2の光学素子での2次X線の強度の強度比を記憶手段8が記憶した相関に適用して、試料高さを算出して第1の光学素子31での2次X線の強度を補正する強度補正手段9とを備える。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い放射線検出装置を提供する。
【解決手段】放射線検出装置100は、半導体検出素子10と、冷却素子20と、第1温度監視部30と、第2温度監視部40と、制御部50と、を含み、制御部50は、設定温度を第1温度に設定し、検出素子温度情報I10に基づいて半導体検出素子10が第1温度に維持されるように冷却素子20を制御する第1温度維持処理と、冷却素子温度情報I20に基づいて、冷却素子20の温度が第1閾値よりも高いか否かを判定する第1閾値判定処理と、第1温度維持処理の実行中に、第1閾値判定処理において冷却素子20の温度を第1閾値よりも高いと判定した場合、設定温度を第1温度から第1温度よりも高い第2温度に変更し、検出素子温度情報I10に基づいて半導体検出素子10が第2温度に維持されるように冷却素子20を制御する第2温度維持処理と、を行う。 (もっと読む)


【課題】X線回折分析と蛍光X線分析の両方の分析により単結晶構造解析を行うX線分析装置の提供。
【解決手段】X線源2と、X線源が放射するX線を単結晶試料へ入射させる光学系3と、単結晶試料を支持する試料台4と、回折X線検出器5と、回折検出器5を角度移動させる回転駆動系6と、回折X線測定データ保存部と、回折X線の測定データに基づいて結晶構造のデータ解析を行う構造解析データ解析部と、エネルギー分散型蛍光X線検出器7と、蛍光X線測定データ保存部と、蛍光X線の測定データに基づいて蛍光X線分析を行う蛍光X線解析部と、蛍光X線分析データ保存部と、蛍光X線分析データを取得するとともに構造解析データ解析部へ出力する、蛍光X線分析データ取得手段と、を備える複合X線分析装置1であって、構造解析データ解析部は、蛍光X線分析データ取得手段が出力する蛍光X線分析データに基づいて、結晶構造のデータ解析を行う。 (もっと読む)


【課題】無機酸化物系材料中に微量に存在する鉛含有量の簡易かつ迅速な鉛含有量の定量方法を提供する。
【解決手段】無機酸化物系材料中の鉛含有量を、無機酸化物系材料からのPb−Lβ線のX線強度を蛍光X線分析法により測定し、あらかじめ求めた鉛含有量が既知である標準試料からのPb−Lβ線のX線強度と鉛含有量との関係を用いて定量することを特徴とする無機酸化物系材料中鉛含有量測定方法。 (もっと読む)


【課題】極めて容易に短時間で軟質合金の分析用試料を作製することを可能とする。
【解決手段】成型容器1に入れられた軟質合金2を表面3Aが鏡面仕上げされた成型部材3の表面3Aに接した状態で加圧成型することにより、軟質合金2の分析用試料2を作製する。成型部材1は、表面の凹凸が1μm以下に鏡面仕上げされている。軟質合金2を加圧成型する際の加圧力が、60kg重/cm2以上である。軟質合金2は、展性を有する金属材料である。 (もっと読む)


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