【課題】イオン化室の通過窓に気化したガス等が吸着するのを防止して光源からの光量ロスを低下させ、効率良くイオン化することができる質量分析計を提供することである。
【解決手段】紫外光Ｌを射出する紫外光源２と、前記紫外光源２からの紫外光Ｌが通過する通過窓３１及び測定対象粒子をイオン化するイオン化領域３２を有するイオン化室３と、前記イオン化室３に前記測定対象粒子を含む試料を導入する試料導入部４と、前記通過窓３１に設けられ、前記紫外光源２からの紫外光Ｌを前記イオン化領域３２に集光する集光レンズ６と、前記イオン化領域３２においてイオン化された試料の質量を分析する質量分析部７と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】 測定試料中の所定の元素の濃度を誤って算出するのを防止することができる質量分析方法を提供する。
【解決手段】 この質量分析方法では、ステップＳ１１０において、ｍ／ｚ値ごとに（すなわち、質量数の異なる元素ごとに）単位時間当たりのカウント数（すなわち、検出強度）を測定すると共に、ステップＳ１１２において、ｍ／ｚ値ごとにカウント数が飽和しているか否かを判断する。従って、ステップＳ１１４において、或るｍ／ｚ値について（すなわち、或る元素について）カウント数が飽和している状態で測定試料中の所定の元素の濃度を算出するのを回避することができ、その結果、測定試料中の所定の元素の濃度を誤って算出するのを防止することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 検出セル内部の汚染等による経時変化を適切に補正し、常に正しい測定結果を出力できるようにする。
【解決手段】
検出セル１２を洗浄した直後の状態で、所定の設定電流に対応するパルス周波数の値ｆ00をメモリ２１に記憶させておく。試料を分析する際は、各試料を検出セル１２に導入する前に、まず、同じ設定電流に対応する周波数（測定前周波数）ｆ0を同様にメモリ２１に記憶させておく。試料を検出セル１２に導入した後に測定される同周波数ｆの値からクロマトグラムを作成し又は試料の濃度を算出する際、周波数記憶手段に記憶された上記２種の周波数の値を用いる。 （もっと読む）

ＩＭＳ装置は、ＩＭＳ検出器（１）に供給される全てのガスが予濃縮器（２０）内を流れるように、ＩＭＳ検出器（１）の流入口（２）に接続した予濃縮器（２０）を有する。予濃縮器は、その内面（２５）にシリコーンゴム層（２４）が露出している金属管（２１）を有する。電気抵抗加熱素子（２２）はシリコーンゴム層（２４）の下側に延在し、電源（２３）に接続する。これにより、シリコーンゴム層は、周期的に加熱され、層が吸着した物質を脱着し、それらをより高濃度でＩＭＳ検出器（１）に流れるよう放出することができる。シリコーンゴム（２４）は、空気の存在下における脱着段階において、劣化することなく作動することが可能である。
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【課題】非定形試料のための前処理の不要な大気圧イオン化方法および試料保持装置を提供する。
【解決手段】励起ガスが透過する薄膜、または試料を含浸させ得る繊維体や多孔質体に試料を包むか染み込ませるかして試料に励起ガスを当て、試料を励起ガスと反応させてイオン化させるようにした。また、上下左右方向に移動可能かつ前面側と後面側を連通する連通部を備えた保持具を用い、試料を励起ガスが透過する薄膜、または試料を含浸させ得る繊維体や多孔質体に包むか染み込ませるかして該連通部に保持し、試料の前方から試料に励起ガスを当て、これにより試料をイオン化して試料の後方に置かれた質量分析計のイオン導入口に導入させるようにした。 （もっと読む）

【課題】微量シロキサン成分の測定を可能とし、また、選択性を持たせることにより、定性作業の効率化を図る。
【解決手段】直流グロー放電により得た準安定状態のヘリウムを利用して、放電部から離隔した空間にドーパントガス、ペニングガスを電離させ、そのプラズマを利用して、測定成分のイオン化効率を向上させることにより、大きなイオン電流を得る。また、ドーパントガス、ペニングガスを選択することにより、選択性を持たせて、微量シロキサン成分の測定を可能とする。 （もっと読む）

デバイスは、誘電体を、第１の導電層または基板の上に積層することによって作製される。第２の導電層または構造は、該誘電体層上に重ね合わされる。いくつかのデバイスにおいては、第２の導電層または構造及び該誘電体層を貫通するマイクロキャビティが形成される。他のデバイスにおいて、該マイクロキャビティは、該第１の導電層を貫通する。該第２の導電層または構造および該マイクロキャビティの内面は、第２の誘電体層で被覆される。そして、該マイクロキャビティには、放電ガスが充填される。適切な大きさの時間依存性電位が該導体間に印加され、マイクロプラズマ放電が該マイクロキャビティ内で生成される。これらのデバイスは、該導体が封止されて、該導体を、プラズマへの曝露による劣化から保護するため、寿命の延長を呈することができる。該デバイスのいくつかはフレキシブルであり、該誘電体は、ミラーとして機能するように選択することができる。 （もっと読む）

イオン移動度スペクトロメータ又は他のイオン装置は、イオンの流れ経路の横方向に延在した２つ又は３つのグリッド電極５１及び５２；１５１から１５３；１０６及び１０７；１０６’及び１０７’を有する。ｄｃ補償電圧と共に非対称な波形を電極間に印加して、場依存移動度に従ってイオンに異なる影響を及ぼすイオンの流れ経路に平行な場を形成する。これは、イオン検出器１１，１１１，１１１’へのイオンの移動において、異なるイオンを選択的にふるいにかけたり、遅らせたりして、さもなければ類似の出力を発するイオン間の識別を容易にする。
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差動マイクロ放電検出器システム。当該システムは２つのマイクロ放電検出器（ＭＤＤ）を含む。ＭＤＤのうちの一方は、測定されるサンプル分析物を受け入れるように接続され、他方のＭＤＤは、干渉するガスを含むと共に、測定されるサンプル分析物を全く含まないか、又ははるかに低い濃度で含む基準サンプルを取り込むように接続される。２つのＭＤＤの出力は、２つのＭＤＤの測定値間の差又は比のいずれかを生成する回路に供給される。さらに、２つのＭＤＤの電極間の電流、インピーダンス又は電圧を測定及び処理して、差又は比のいずれかの信号を生成し、それにより、サンプルガス分析物についての付加情報を得ることができる。
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本発明は、試料中の少なくとも１種の元素の異なる同位体の少なくとも１つの比を決定するための方法に関する。該方法は、試料をイオン化して、少なくとも１種の元素の異なる同位体のイオンであって：多価原子正イオン、水素についての一価正イオンおよび重水素についての一価正イオンからなる群から選択されるものを生成すること、少なくとも１種の元素の異なる同位体の荷電正イオンを、これらの質量対電荷の比に従って分離すること、および前工程で分離された前記少なくとも１種の元素の異なる同位体の少なくとも１つの比を決定することを含む。本発明はまた、上記方法を実施するための装置に関する。
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