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国際特許分類[G01N27/82]の内容

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【課題】超電導量子干渉素子を用いて非導電性材料からなる検査対象における欠陥部の形状や種類を特定可能な非破壊検査方法および非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】相対的に磁束密度が高い領域(S極)と相対的に磁束密度が低い領域(N極)とが、検査対象3に存在する欠陥部(クラック20)に対応する長さだけ連続して生じていることがわかる。このように、所定の長さにわたって連続する極値領域が現れた場合には、この極値領域の中間位置に線状の欠陥部が存在していると判断できる。 (もっと読む)


【課題】被測定物の内部の複数の測定位置について短時間で測定を行う。
【解決手段】測定システム1は、被測定物IPに磁場を印加することにより被測定物IP内部の測定を行って、測定信号Smdを出力することができるセンサ部42,44,46であって、被測定物IPの互いに異なる測定位置WP2,WP4,WP6について測定を行うための複数のセンサ部42,44,46と、複数のセンサ部42,44,46からの測定信号Smdに基づいて被測定物IPの内部構造に関する情報処理を行う情報処理部10と、情報処理の結果を出力する出力部30と、を備える。 (もっと読む)


【課題】第一発振回路(第一検出コイル)及び第二発振回路(第二検出コイル)を用いて金属の状態を高精度に検出するにあたり、相互干渉による検出精度の低下を回避する。
【解決手段】第一検出コイルL1のインダクタンス変化に応じて発振波に位相ズレを生じさせる第一発振回路2と、第二検出コイルL2のインダクタンス変化に応じて発振波に位相ズレを生じさせる第二発振回路3と、両発振回路2、3から出力される発振波の位相ズレに基づいて、金属の状態を検出する検出回路4とを備え、第一発振回路2と第二発振回路3の同時発振を回避するにあたり、各発振回路2、3が有するゲートG(ANDゲート、シュミットNANDゲートなど)に対する信号入力に応じて、各発振回路2、3を発振状態と非発振状態とに切換える。 (もっと読む)


【課題】部品の溶接部の検査を簡単に行うことができる溶接部検査装置と方法を提供する。
【解決手段】溶接部の溶接不良を検査する装置(1)は、溶接部を含む部品を載置する試料台(25)と、部品に電圧を印加する電源(30)と、磁場を測定するためのプローブ(35)と、プローブ(35)を移動するための駆動装置(40)と、プローブに接続された磁気測定器(70)と、磁気測定器による磁場測定を制御し、磁気測定器により測定した磁場のデータを処理する制御演算装置(50)と、を備える。駆動装置によりプローブを移動して、部品上の各位置の磁場を測定する。制御演算装置は、部品上の磁場測定データを処理し、出力装置(62)に出力する。 (もっと読む)


ベルト・モニタ・システムは、導電性補強材から形成される補強部材を少なくとも1つ有するベルトを使用する。ベルトモニタは、ベルトとともに配置される。ベルトモニタは、印加信号によって励磁される磁場インダクタを備える。導電性補強部材の電気的な特性における変化によって影響される少なくとも磁場インダクタの一部の電気的な特性が、導電性補強部材の物理的な状態を特定し、それによりベルトの物理的な特性をモニタするためにモニタされる。このモニタリングは、磁場インダクタに隣接してあるいは磁場インダクタとともに配置される検知インダクタによって実行されてもよい。
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【課題】鋼板等の磁性体の溶接状態や内部欠陥等の内部構造を,非破壊で,かつ,表面状態の影響をなるべく受けずに内部構造を測定できる装置および方法を提供すること。
【解決手段】測定対象の磁性体である薄鋼板90,91のスポット溶接箇所92に,変動する外部磁界を印加する。ただし,薄鋼板90,91の磁化が安定するには至らない程度とする。これにより,磁化の進行度に測定対象の内部構造が敏感に反映される。これを,電流遮断後の磁化の戻り量を測定することにより検出する。さらにこれを,磁化を進展させる能力に差がある2種類の励磁パターンにて行いその差を取る。これにより,表面状態にあまり影響されずに磁性体の内部構造を適切に測定することができる。 (もっと読む)


【課題】第一発振回路(第一検出コイル)及び第二発振回路(第二検出コイル)を用いて金属の状態を高精度に検出するにあたり、相互干渉による検出精度の低下を回避すると共に、応答周期を短縮する。
【解決手段】第一検出コイルL1のインダクタンス変化に応じて発振波に位相ズレを生じさせる第一発振回路2と、第二検出コイルL2のインダクタンス変化に応じて発振波に位相ズレを生じさせる第二発振回路3とを備え、両発振回路2、3から出力される発振波の位相ズレに基づいて、金属の状態を検出するにあたり、相互干渉を避けるために、第一発振回路2と第二発振回路3を交互に駆動させる。また、第一発振回路2の駆動終了時及び第二発振回路3の駆動終了時に、それぞれ、第一発振回路2に係る最新の測定時間(位相ズレ)と第二発振回路3に係る最新の測定時間(位相ズレ)との差分を求めて出力する。 (もっと読む)


【課題】半導体チップの故障を解析する際に、外部との端子接続を不要とし、サブミクロンの空間分解能で電流経路と欠陥の可視化を可能にすること。
【解決手段】LSIチップ1を光電流発生用レーザビーム2で固定照射する工程と、LSIチップ1の被観測領域を加熱用レーザビーム3で走査して照射する工程と、光電流発生用レーザビーム2及び加熱用レーザビーム3の照射によりLSIチップ1で発生した電流変化をSQUID磁束計4で検出する工程と、SQUID磁束計4で検出された電流変化に基づいてLSIチップ1の故障を解析する工程と、を含む。光電流発生用レーザビーム2及び加熱用レーザビーム3の照射は、LSIチップ1の裏面側から行い、SQUID磁束計4による検出は、LSIチップ1の表面側で行う。LSIチップ1の故障の解析では、SQUID磁束計4から出力された信号を走査点に対応させる画像処理を行う。 (もっと読む)


【課題】安定かつ正確な温度や磁界等の測定が可能なセンサ付き軸受及びその製造方法を提供する。
【解決手段】このセンサ付き軸受20は薄膜センサ10が軸受部品22に直接形成されている。 (もっと読む)


【課題】本発明は、表面及び表層に発生する欠陥、内部に発生する欠陥、及び穴欠陥の種類を識別することが可能な鋼板欠陥検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】薄鋼板1の表面側から異なる距離で離間させて幅方向に備えられるアレイ型磁気センサ2aとアレイ型磁気センサ2bとから成る表面磁気センサ2と、表面磁気センサ2から所定の距離で離間させ、薄鋼板の裏面側から異なる距離で離間させて幅方向に備えられるアレイ型磁気センサ3aとアレイ型磁気センサ3bとから成る薄鋼板の裏面磁気センサ3と、アレイ型磁気センサ2a乃至3bからの出力信号を予め設定される判定レベルと比較して、欠陥の有無を判定する欠陥判定部4と、判定された欠陥信号の検出パターンを、欠陥種類判定アルゴリズムで判定する欠陥種類判定部5とを備える。 (もっと読む)


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