説明

国際特許分類[G01R35/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | このサブクラスの他のグループに包含される装置の試験または較正 (282)

国際特許分類[G01R35/00]の下位に属する分類

国際特許分類[G01R35/00]に分類される特許

131 - 140 / 261


【課題】磁気検出センサの感度がピークとなる位置を正確に検知することができる磁気検出装置及び磁気検出方法を提供する。
【解決手段】磁気検出装置10は、磁気を検出するテスラメータセンサ14Aと、テスラメータセンサ14Aに対して磁気を発し、その先端がテスラメータセンサ14Aの感度方向からみたテスラメータセンサ14Aの外形形状よりも細い磁石部を有するセンサ位置検出用マグネット30と、テスラメータセンサ14Aとセンサ位置検出用マグネット30とを相対移動させる水平スライダ22A及び垂直スライダ22Bと、水平スライダ22A及び垂直スライダ22Bによってテスラメータセンサ14Aとセンサ位置検出用マグネット30とを近接させた状態で相対移動させた際の、テスラメータセンサ14Aから出力される出力値に基づいて、テスラメータセンサ14Aの感度がピークとなる位置を算出するコンピュータ18等とを備える。 (もっと読む)


【課題】ヘルムホルツコイルによって生じる磁界の温度補償をより精度良く行うことが可能な磁界発生装置を得る。
【解決手段】磁界発生装置は、ヘルムホルツコイル1の抵抗値を検出する抵抗値検出部10と、当該抵抗値検出部10によって検出された抵抗値に基づいて電流を変化させる温度補償部11とを備える。 (もっと読む)


【課題】ピンエレクトロニクスカードを交換する度にタイミングを再調整しなければならず、またピンエレクトロニクスカードの端子とファンクションリレー間のタイミング補正を別に実行しなければならなかった。
【解決手段】基準ドライバ42、基準比較器43、タイミングを測定するタイミング発生・測定部12を具備し、基準ドライバ42の出力端とピンエレクトロニクスカード30の端子間、および基準比較器43の入力端とピンエレクトロニクスカード30の端子間の線路長を等しくしたスキュー調整ボード40をピンエレクトロニクスカード30の端子に接続して補正値を算出し、この補正値をピンエレクトロニクスカード30毎に保存するようにしたので、ピンエレクトロニクスカード30を交換しても再度タイミング調整を行う必要がなく、かつピンエレクトロニクスカード30の端子とファンクションリレー16間のタイミング補正を行う必要がない。 (もっと読む)


【課題】操作性を低下させることなく2つのクリップ型プローブの各先端部同士を電気的に確実に接続し得るクリップ型プローブを提供する。
【解決手段】互いに対向する部位に歯部41が形成された一対の挟持部31a,31bを備えて歯部41の形成部位で挟み込み対象体を挟み込むことによって挟み込み対象体に電気的に接続可能に構成され、両挟持部31a,31bにおける歯部41の形成部位の裏側に位置する部位には、そのプローブ1aと同型の他のプローブ1bの歯部41に噛合可能な突起部42が形成されている。 (もっと読む)


【課題】電力量計の各外部端子の位置がメーカーや機種毎に異なっても、電力量計の各外部端子と試験装置の電源側とを容易に結線できる電力量計用結線器を提供する。
【解決手段】電力量計用結線器10は、下面に設けられた下方外部端子2と側面に設けられた側方外部端子3とを有する電力量計1と、試験装置の電源側とを結線するものである。電力量計用結線器10は、固定フレーム11と、電源側に接続され下方外部端子2内に挿入自在の複数の割端子21a−21eが取付けられた移動フレーム40とを備えている。このうち各割端子21a−21eは、移動フレーム40内で左右方向に移動可能となっている。また固定フレーム11に、各割端子21a−21eの位置決めおよび突出高さを変化させる着脱可能な位置決めブロック31が設けられ、各割端子21a−21eは、内部に挿入された押出ピン22により開閉自在となっている。 (もっと読む)


【課題】テスト対象物に備わる磁気反応ユニットの高精度なテスト結果を得ることができるテスト方法、テスタおよびテストシステムを提供する。
【解決手段】ホルダに備わる温度調整回路を起動することによって、前記ホルダに保持されているテスト対象物をテスト仕様温度まで昇温または降温し、前記テスト対象物が前記テスト仕様温度になると前記温度調整回路を停止し、前記温度調整回路の停止期間中に、テスト仕様磁場が印加されている前記テスト対象物に備わる磁気反応ユニットをテストする、シーケンシャル制御を前記ホルダに接続されたテスタによって実施する。 (もっと読む)


【課題】信号が伝送される伝送経路での温度変化を正確に検出して校正を行うことが可能な半導体試験装置を提供する。
【解決手段】半導体試験装置100では、信号発生部110により発生させ、伝送経路120を通じて伝送された信号の電圧値を第1および第2の測定回路130、140により伝送経路120を通じて伝送された信号の電圧値を測定する処理を行い、校正内容判定回路150によりこれらの各信号の電圧値のデータを比較し所定の閾値以上に乖離しているか否かを判定する処理を行う。そして、所定の閾値以上に乖離していると判定した場合には、演算処理を行い各信号の電圧値の平均値を算出してこの平均値に信号の電圧値を補正して伝送経路120を介してDUTに出力する。 (もっと読む)


【課題】微小電気機械システム(MEMS)センサの第1の要素(40a)と第2の要素(40b)の間のトンネル電流(42)を制御する。
【解決手段】システムは、各要素間にトンネル電流を供給するトンネル電流励起源(50)、および少なくとも1つの要素の動きに応答したトンネル電流の変化を監視するトンネル電流モニタ(52)を備える。システムはまた、各要素のうちの少なくとも1つを位置決めする位置決め装置(86)と、位置決め装置を制御して、システムを参照モードで構成するために、各要素のうちの少なくとも1つを、各要素間の第1の間隔で配置し、ならびにシステムを検知モードで構成するために、各要素を第2の間隔で配置し、それにより、システムは参照モードに対して較正される、トンネル電流モニタと連通した制御装置(88)とを備える。 (もっと読む)


【課題】配電系統の電圧・電流計測値から配電系統の潮流状態及び各計測装置の誤差を併せて推定する手段を提供すること
【解決手段】潮流計算データベース(21)から、線路定数、負荷・発電量の初期値及び系統構成データを読み込み、潮流計算により負荷・発電量、ノード電圧及び線路潮流を含む配電系統状態を計算する潮流計算部と、計測データベース(22)に格納された配電系統状態の計測値と潮流計算により計算された配電系統状態との偏差を計算し、この計算した偏差を用いて定式化された目的関数を、最適化計算により解くことで、各計測装置(170)における真値と計測値との関係を表すセンサ誤差データの推定値及び潮流計算により計算された配電系統状態の修正量を計算し、この修正量を用いて、潮流計算により計算された配電系統状態を修正する配電系統状態推定部とを備える状態推定装置(10)。 (もっと読む)


【課題】磁電変換素子の特性劣化などを検出できるようにする。
【解決手段】バスパー4にテスト電流I1が流されることによって検出部3bがホール素子2に生じる電圧を検出し、変動電圧ΔVが所定の判定しきい値よりも大きいことを条件として「異常」と判定し、出力部3cが出力電圧を一定電圧とするため、異常が生じたときでも出力部3cがテスト結果を外部に出力することができ、たとえホール素子2の特性劣化等の問題が生じたとしても外部回路5に情報伝達することができる。 (もっと読む)


131 - 140 / 261