説明

国際特許分類[G01R35/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | このサブクラスの他のグループに包含される装置の試験または較正 (282)

国際特許分類[G01R35/00]の下位に属する分類

国際特許分類[G01R35/00]に分類される特許

161 - 170 / 261


【課題】受信専用フェーズドアレイアンテナをその動作環境で較正する方法を提供する。
【解決手段】 受信専用フェーズドアレイアンテナをその動作環境において較正する方法。異なっているが未知の偏波の二つの送信信号を、受信専用アンテナアレイを較正するために使用し、受信エレメント位置と偏波を正確に知る。この方法は、マルチパス信号と標準ノイズの存在下でアンテナエレメントの複合重みと較正信号の垂直方向成分と水平方向成分の大きさを決定する。較正するための二つの異なる方法が提供される。第1の方法は、三つのエレメントの組み合わせを使用し、小さな行列を使用し、次にエレメント毎に全ての可能な結果を平均して較正定数を決定する。第2の方法は、単独値分解を使用して一度に全てのエレメントの較正定数を求めるが、大きな疎行列の操作を必要とする。 (もっと読む)


【課題】ノンインサータブル・デバイスを測定するネットワーク・アナライザを、従来に比べて簡単に校正する。
【解決手段】簡易Nポート校正を実施するために必要な、特性が未知のアダプタを用意し、用意したアダプタを用いて、ネットワーク・アナライザに簡易Nポート校正を施す。そして、校正時にアダプタが接続されたテスト・ポートにおいて、アダプタを取り外した状態で、オープン標準、ショート標準およびロード標準を順次測定する。最後に、各標準の測定値から求められるアダプタの特性を用いて、簡易Nポート校正により得られる校正係数を補正する。ただし、Nは2以上の整数である。 (もっと読む)


【課題】従来の高周波磁性材料特性の測定装置は、複素透磁率に特化されたものが多く、緩和係数などの他の高周波パラメータの測定には、別個に新しい測定装置が必要であり、研究者には大きな経済的負担となっていた。また、その測定手順が複雑なだけではなく、その絶対値の精度自体の信頼性に疑問が残る場合が少なくなかった。
【解決手段】この問題を解決するために、本発明は、短絡伝送線路の短絡端に磁性材料を装荷してSパラメータを測定し、その変化から磁性材料の材料特性を測定するシステムを本発明で提供する。概磁性材料の材料特性として、強磁性共鳴緩和係数α、もしくは強磁性共鳴半値幅ΔH、複素透磁率μ=μ’−jμ”の測定手段を具備しているだけでなく、概複素透磁率μ=μ’−jμ”の校正手段として、標準試料の強磁性共鳴緩和係数α、もしくは強磁性共鳴半値幅ΔHと飽和磁化4πMsを用いて概短絡伝送線路の治具定数を校正できることが特徴である。 (もっと読む)


加入者伝送線路の線路挿入損失(IL(f))の推定を提供する。相当数の異なる基準伝送線路に対して、相当数の周波数について実験室の両端線路試験で線路損失が測定され、挿入損失値(L11…L14、…、L51…L54)が得られる。同じ基準伝送線路に対して、片端実験室試験が行われ、遠端TDR反射の振幅を表わす校正量(PV1…PV5)が、伝送線路につき一つ得られる。周波数(f1…f4)につき一つの直線(Lf1…Lf4)で示される関係が、損失値(L11L54)と校正量(PV1…PV5)との間に形成される。未知である加入者伝送線路に対して、現場で片端線路試験が行われ、校正量(PVX)が得られる。挿入損失(IL(f))は、様々な周波数(f1…f4)に対する値(LX1…LX4)として読み取られる。校正量(PV1…PV5;PVX)は、ラインカードを介してまたは伝送線路に接続して測定されてもよい。一つの伝送線路に対して、伝送線路の終端インピーダンスに応じて様々な関係が設定されてもよい。正確な加入者伝送線路挿入損失が生成される。 (もっと読む)


【課題】複数の被試験デバイスに対応するドライバおよびコンパレータにキャリブレーションを行うキャリブレーションボードセットを提供する。
【解決手段】クロック信号に同期した試験信号を生成するドライバDRと、デバイスからの結果信号をストローブ信号に同期して比較するコンパレータCPとを備えたキャリブレーションボードセットであって、該ボードセットは、或る種類の被試験デバイスに対応し第1の方向へ隣接するデバイス領域R1、R2と、他の種類の被試験デバイスに対応し第1の方向に対して直交する第2の方向へ隣接するデバイス領域R3、R4とを含み、領域R1、R2におけるクロック信号またはストローブ信号の一方を基準として他方の位相を調整し、かつ領域R3、R4におけるクロック信号またはストローブ信号の一方を基準として他方の位相を調整する第1のボード50Aと、クロック信号同士の位相差またはストローブ信号同士の位相差を取得する第2のボード50Bとを備える。 (もっと読む)


各ポートグループ内で確定した振幅関係及び位相差を示す等しい周波数且つコヒーレントの進行波(a1,a2)によりマルチポート測定対象(MO)のポートグループを励起する方法において、波は、夫々、測定ポート(405,406)ごとにベクトルネットワークアナライザ(VNA)の1つの信号発生器(401,402)によって生成される。ネットワークアナライザ(VNA)は不平衡対接地測定ポート(405,406)を有する。不平衡対接地双方向進行波のシステムエラー補正は、測定対象(MO)のポートに対して実行され、補正された波が得られる。信号発生器(401,402)で所望の振幅及び位相条件を満足するために必要とされる振幅及び位相変化は、かかる補正された波から計算される。

(もっと読む)


(図1とともに公開する)
本発明は、nポート測定(ここでnは整数≧1)を用いて測定対象の散乱パラメータを決定するための、N個の測定ポート(ここでNは整数≧1)を含む高周波測定デバイス(HF測定デバイス)、特に、ベクトル・ネットワーク・アナライザを較正する方法に関し、測定対象に接続された、または測定対象を含む回路に接続された第1の電気導線に高周波試験信号(HF試験信号)を供給し、各ポートに対して、第1の結合位置で、および第1の結合位置から所定の距離をおいて配設された第2の結合位置で、測定対象に接続された第2の電気導線上を伝わる、特に平面導線上を伝わるHF信号を第2の電気導線からカップリング・アウトし、2つの結合位置でカップリング・アウトされた2つのHF信号から、各ポートにおいて、各測定位置または結合位置に対して、測定対象の方向に向かって第2の電気導線上を伝わるHF信号の、および測定対象から離れる方向に第2の電気導線上を伝わるHF信号の、HF試験信号に対する振幅および/または位相を決定し、それから、測定対象の散乱パラメータを計算する。ここで、HF測定デバイスのポートの少なくとも1つに対して、互いに所定の距離をおいて配設された少なくとも3つの結合位置で、第2の電気導線上を伝わるHF信号をカップリング・アウトし、少なくとも3つの結合位置のそれぞれの対をなす組み合わせに対して、少なくとも1つの較正標準を散乱パラメータが既知である測定対象として使用する所定の較正方法を用いて、HF試験信号の少なくとも1つの周波数に対する少なくとも1つの散乱パラメータを決定し、HF試験信号の1つの周波数におけるすべての対をなす組み合わせに対して決定された少なくとも1つの散乱パラメータの値と、較正標準を測定対象として使用することで得られた、この少なくとも1つの散乱パラメータの既知の値とを比較して、決定された散乱パラメータの値と、較正標準を測定対象として使用することで得られた、散乱パラメータの既知の値との間の差が最小となる結合位置の対をなす組み合わせを、未知の測定対象の測定におけるこの周波数に対する好ましい第1および第2の結合位置として保存する。
(もっと読む)


【課題】ダミーロードに任意のインピーダンスを設定するために、2つのバリコンのバリコンポジションを自動調整するインピーダンス自動調整装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス自動調整装置に、ダミーロードの2つのバリコンポジションを調整する調整手段と、インピーダンス計測装置で計測したインピーダンスから評価値を算出する評価値算出手段とを設け、当該インピーダンス自動調整装置が、一方の調整手段を固定した、評価値が最小となる他方の調整手段による調整と、他方の調整手段を固定した、評価値が最小となる一方の調整手段による調整とを、インピーダンス計測装置で計測したインピーダンスが所定の範囲に収まるまで自動的に交互に繰り返すようにした。 (もっと読む)


【課題】エミュレーションモード時に書き込みモードと誤検出することを未然に防止し、
TCXOの製造歩留まりの改善を図る発振器の検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】シリアルパラレル変換部2は、温度補償データの1ビット目を記憶するD1
フリップフロップ9と、2ビット目を記憶するD2フリップフロップ10と、以降nビッ
ト目を記憶するDnフリップフロップ11と、により構成し、メモリ部3は、同一な回路
構成を有する第一のメモリ回路部12と、第二のメモリ回路部13と、以降第nのメモリ
回路部14と、により構成されている。そこで、エミュレーションモードの制御信号の条
件は、T1信号をHレベルとし、T2信号をLレベルとし、一方、書き込みモードの制御
信号の条件は、T1信号をHレベルとし、T2信号もHレベルとした。 (もっと読む)


【課題】 従来の電力量計の器差測定システムでは、測定精度が高く基準となる出力を行う、高価な標準電力量計5を用いていた。このため、被試験計器1の器差測定を行なう電力量計の器差測定システムの製品コストが高くなる、という問題点があった。
【解決手段】 高価な標準電力量計5に代えて、標準パルスを出力する安価な周波数発振器6と、試験電源部2の瞬時電力を計って出力する安価な電力計7とを用いる。そして、パソコン4で、電力計7が出力する瞬時電力を積算して電力量を求めると共に、算定パルスを算出し、この算定パルスとカウンタユニット3から入力した測定パルスとから被試験計器1の器差を求める。これにより、高価な標準電力量計5を用いない分、低コストな電力量計の器差測定システムが提供される。 (もっと読む)


161 - 170 / 261