説明

国際特許分類[H01J49/06]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 電子管または放電ランプ (32,215) | 粒子分光器または粒子分離管 (1,755) | 細部 (827) | 電子光学的またはイオン光学的装置 (279)

国際特許分類[H01J49/06]に分類される特許

211 - 220 / 279


【課題】
【解決手段】親イオンが混合物から溶離するのと実質的に同時に生成されたと分かった娘イオンを照合することによって親イオンを同定する方法を開示する。イオン源(1)から出射されたイオンは、電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスを含むフラグメンテーションデバイス(4)へ移送される。フラグメンテーションデバイス(4)は、イオンが実質的にフラグメンテーションされ、娘イオンを生成する第1のモードとイオンが実質的にフラグメンテーションされない第2のモードとの間を交番しておよび繰り返し切り換えられる。質量スペクトルは、両方のモードにおいてとられる。1回の実験稼動の終了時に、親および娘イオンが2つの異なるモードにおいて得られた質量スペクトルを比較することによって認識される。娘イオンは、それらの溶離時間の一致度にしたがって特定の親イオンと照合され、次いでこれによって親イオンを同定することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】電子衝突解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションモードと低フラグメンテーションモードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第1の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第2の試料からの親イオンがデバイスを通され、第2セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、2つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって表現される場合、さらなる分析が行われて、2つの異なる試料において異なって表現されるイオンを同定しようとする。 (もっと読む)


本発明は、低真空雰囲気の下でも、高質量電荷比を持つイオンを高いイオン通過効率で以て輸送することができるイオンレンズを有する質量分析装置を提供する。従来の大気圧イオン化質量分析装置又は同様の質量分析装置では、イオンレンズに高すぎる電圧を印加すると不所望の放電が起こる。したがって、高質量電荷比のイオンの通過効率をあまり上げることができず、検出感度が犠牲となっている。この問題を解決するために、本発明に係る質量分析装置は、イオンレンズ(5)の各レンズ電極に印加される高周波電圧の振幅と周波数の両方が分析対象のイオンの質量電荷比に応じて変化されるように可変高周波(RF)電圧発生部(24)を制御する電圧制御部(21)を備える。この制御により、たとえ高質量電荷比のイオンを分析する場合であっても、イオンレンズ(5)はイオンを収束させて高い通過効率で以て後段に輸送することができる。それによって、検出感度が改善される。上述した制御は、電圧制御データ記憶部(22)に記憶されている制御データに基づいて行われる。それらデータは、質量電荷比が既知である物質を含む試料を、分析条件を変化させながらイオン検出器の信号強度が保たれるように予め測定することにより得られたものである。
(もっと読む)


【課題】イオンを収束させつつ後段に輸送するイオン光学系のコストを引き下げる。
【解決手段】従来のロッド状電極に代えて肉薄の金属板部材である電極を用いて多重極電場を形成する。即ち、金属板部材である電極41a〜41dはそれぞれの縁端面をイオン光軸Cに向け且つ該イオン光軸Cの方向に延展して、イオン光軸Cの周りに互いに90°ずつの角度を保って放射状に配置される。 (もっと読む)


第1のイオントラップまたはイオンガイド(2)、単一のイオン移動度分光計またはセパレータステージ(3)、およびイオン移動度分光計またはセパレータ(3)の下流に配置される第2のイオントラップまたはイオンガイド(4)を含む質量分析計が開示される。一動作モードにおいて、第2のイオントラップまたはイオンガイド(4)からのイオンは、第2のイオントラップまたはイオンガイドから逆戻りに上流へイオン移動度分光計またはセパレータ(3)へ渡される。 (もっと読む)


開口を有する複数の電極を含む質量分析器(2)が提供される。使用時にイオンはその開口を通って移送される。複数の擬ポテンシャル波形が質量分析器(2)の軸に沿って生成される。擬ポテンシャル波形の振幅または深さは、イオンの質量電荷比に反比例する。イオンを質量分析器(2)の長さに沿って駆動するために1つ以上の過渡DC電圧が質量分析器(2)の電極に印加される。電極に印加される過渡DC電圧の振幅は、時間とともに増加され、イオンは、質量電荷比の逆順に質量分析器(2)から出射される。
(もっと読む)


【課題】生体分子の断片粒子は、ペプチド、たんぱく質等の質量だけでなく、アミノ酸配列決定といった構造解析に有効である。しかし、前駆イオン、断片イオンの全てが飛行時間の違いでピーク分離されるため、ピークの同定が困難な場合が多い。また、断片化した粒子の中でイオンしか分析できない。
【解決手段】本願発明においては、検出器が飛行時間と、粒子の運動エネルギーの両方を測定する。飛行時間で前駆イオンを分離し、断片粒子は運動エネルギーで分離する。 (もっと読む)


開示された装置は、一対のグリッド無しイオンミラー(12)、ドリフト空間(13)、直交イオン加速器(14)、オプションの偏向器(15)、イオン検出器(16)、一組の周期的レンズ(17)、及びエッジ偏向器(18)を備えた多重反射型飛行時間質量分析計(MR‐TOF MS)(11)を有する。MR‐TOF MSにおける長い飛行によって決定される低い繰り返し速度でのイオン注入のデューティーサイクルを改善するために、多様な対策がとることができる。入射イオンビームと加速器をMR‐TOF内のイオン経路に対して実質的に直交する方向に向けることができ、イオンビームの初期速度は、加速器を傾けビームを同じ角度だけ旋回させることで補償される。任意の多重反射、又はマルチターン質量分析計のデューティーサイクルを更に改善するために、イオンガイドを用いて軸方向イオン速度を変調することによってビームを時間圧縮することができる。加速器内におけるイオンの滞留時間は、ビームを静電トラップ内に閉じ込めることによって改善できる。加速器内における滞留時間を長くした装置は、感度と分解能の両方を改善できる。 (もっと読む)


【課題】 イオン発生源のメンテナンス時等におけるチャンバ内の真空度の低下を防止しながらもイオンガイドによるイオン輸送効率の高いイオンガイドを提供する。
【解決手段】 互いに平行に配置された複数組の対向する電極ロッド15〜18を具備するイオンガイド12であって、イオンガイドに入射されたイオンが、電極ロッドと平行に延び且つ各組の電極ロッドの中心に位置するイオン輸送軸線14上付近をイオン輸送軸線方向に進むようにこれら電極ロッド間に電圧を印加することによりこれらイオンを案内するイオンガイドにおいて、各電極ロッドは複数の中空ロッドから形成され、これら中空ロッドは当該イオンガイドが伸縮可能であるように入れ子式に連結される。 (もっと読む)


【課題】 異なる電圧印加状態においても荷電粒子の飛行軌跡を所望の状態に維持できるよう電界パターンを調整した荷電粒子検出装置を提供する。
【解決手段】 MCP群2をIN電極1とOUT電極3とで挟み込み、OUT電極3に対向してアノード基板40を配置し、アノード端子41からコンデンサ62を介して出力信号部であるBNC端子6に接続されている。ここで、IN電極1とアノード基板40を後方から覆う後方カバー5との間に配置される各構成部材は、径方向においてIN電極1の側壁から外側へと突出しないように配置されている。 (もっと読む)


211 - 220 / 279