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国際特許分類[H01J49/06]の内容

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国際特許分類[H01J49/06]に分類される特許

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【課題】荷電粒子とガスとの衝突がある場合でも、荷電粒子の透過効率をある程度維持する方法を提供する。
【解決手段】ある平面内で屈曲した屈曲部を有する光軸に沿い且つ光軸を90°間隔で取り囲むように光軸から等間隔の位置に配置され、お互いの平行関係を維持しながら、両端部の位置を揃えられた4本の電極棒と、該4本の電極棒を間に挟み光軸と直交するように配置され、光軸と交わる部分に第1の開口、光軸の屈曲部を屈曲させずに直進させた軌道の延長線と交わる位置に第2の開口を有する入口電極または出口電極とを備えた荷電粒子と中性粒子の合流または分離機構であって、該電極棒は、屈曲した光軸を含む前記平面に対して光軸より斜め45°の角度の位置に配置され、荷電粒子および/または中性粒子は、前記入口電極の開口より入射するとともに、前記出口電極の開口より出射するように構成されている。 (もっと読む)


イオンフラグメンテーションのための衝突セルを使用するタンデム質量分析計において、システム構成要素の放電上限に到達することなく、またはそれを超えることなく、衝突誘起解離(CID)のために必要とされる衝突エネルギーの上限が拡大され得る。本教示は、イオンの電位エネルギーをCIDフラグメンテーションのために十分な所定のレベルまで引き上げる一方、無放電条件を満たす方法について説明する。また、本教示は、生成イオンが質量分析のための十分なエネルギーを有するように、CIDフラグメンテーション後、フラグメントイオンの電位エネルギーを引き上げる方法について説明する。
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【課題】
【解決手段】イオントラップ(1)からイオン移動度分光計(2)中へのイオンの移送を最適化してイオンのフラグメンテーションを防ぐために、イオン移動度分光計(2)の上流に構成されたイオントラップ(1)の出口領域とイオン移動度分光計(2)の入口領域との間の電位差を時間と共に時間的に変化させるイオン移動度分光計(2)が開示される。 (もっと読む)


新規な構成要素は、質量分析システムにおいて準安定性エンティティのボンバードにより生成された二次イオンによって生じるバックグラウンドノイズを低減する。出口電極および偏向板の層状構造は、局所の低いエネルギー井戸に二次イオンを閉じ込め、二次イオンが検出器に入るのを阻止する。 (もっと読む)


イオントラップの過剰充填により引き起こされる電荷空間効果に効果的に対処するためのイオントラップ装置および方法であって、質量分析計の線形イオントラップにおいて有用である装置および方法。一実施形態では、まず、LITを充填すると、LIT内に小トラップ電位が産生され、次いで、過剰イオンは、LITを退出することが可能になり、次いで、質量スペクトルの収集のためのLITからのイオンのさらなる操作および/または走査の前に、通常のトラップ条件を再確立する。
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【課題】質量分析の定性および定量能力を大幅に向上させる。
【解決手段】イオンを生成するイオン源と、イオンを蓄積、解離するリニアトラップ部310と、飛行時間によりイオンの質量分析を行う飛行時間型質量分析部とを具備し、リニアトラップ部310から排出されたイオンの運動エネルギーを低減し、連続化するためのバッファガスが導入され、内部に多重極電場を生成する複数の電極が配置される衝突ダンピング領域を、リニアトラップ部310と飛行時間型質量分析部との間に有し、リニアトラップ部310から衝突ダンピング領域へイオン入射可能、または入射不可能とするイオン透過調整機構をリニアトラップ部310と衝突ダンピング領域との間に有する。 (もっと読む)


【課題】1回の測定で広い質量数範囲を測定でき、MS(n≧3)分析が可能な質量分
析計を提供する。
【解決手段】質量分析計は、イオンを生成するイオン源1、イオンを蓄積するイオントラ
ップ部と、飛行時間によりイオンの質量分析を行なう飛行時間型質量分析部と、イオント
ラップ部と飛行時間型質量分析部との間に配置される衝突ダンピング部とを有する。衝突
ダンピング部には、イオントラップ部から排出されたイオンの運動エネルギーを低減する
ためのガスが導入される。衝突ダンピング部の内部に多重極電場を生成する複数の電極2
0が配置されている。イオントラップから衝突ダンピング部へイオン入射可能、または入
射不可能とするイオン透過調整機構14をイオントラップ部と衝突ダンピング部との間に
設ける。 (もっと読む)


【課題】電荷蓄積用の装置における空間電荷の望ましくない影響を低減するためのより効果的な装置および方法を提供する。
【解決手段】電荷蓄積装置への電荷フラックスを制御する方法は、電荷蓄積装置に電荷が蓄積される電荷蓄積時間を決定し、イオン源から生成された第1イオンビームの電荷フラックスを測定し、この測定した電荷フラックスに基づいて、電荷蓄積時間の間に電荷蓄積装置に蓄積される目標電荷数を決定し、この決定した目標電荷数に基づいて、イオン源から生成された第2イオンビームを変調することにより、当該第2イオンビームからの目標電荷数が電荷蓄積時間の間に電荷蓄積装置に蓄積されるようにすることを含む。イオン処理装置は、この電荷フラックスを制御するように構成されている。また、イオンビーム変調器は、このイオンビームを変調する。 (もっと読む)


電荷監視質量分析のための新規なシステムおよび方法が提供される。当該質量分析計は、約数ダルトンから約1015ダルトン超過までの範囲内の質量を有する、1種以上の検体の質量を測定するために用いることができる。本発明は、迅速な質量分布測定のために用いることができる。例えば、当該システムおよび方法は、癌細胞および通常細胞の質量分布が異なる場合、癌細胞を通常細胞と区別するために用いることができる。例えば、本発明により、質量分析を行うように構成される装置であって、a)検体用の気化器と、b)電荷増強器と、c)少なくとも1つの質量分析器と、d)少なくとも1つの電荷検出器と、を含む装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】CI専用イオン化室よりも密閉度の低いEI/CI兼用イオン化室を用いた場合でも試料分子のイオン化に際する開裂を少なくして分子量関連イオンの信号強度を高くする。
【解決手段】CIの試薬ガスとしてメタンを用いる場合には、各種の試薬ガスイオンの中でもm/z41に着目し、該イオンの信号強度が最大になるようなリペラー電圧を探索し(S5)、リペラー電圧をその値に固定した状態で、分析担当者により指定されたm/zの信号強度が最大となるようにレンズ電圧等の他のパラメータを決定する(S6)。m/z41のイオンは信号強度のリペラー電圧依存性が高いため、適切なリペラー電圧を容易に且つ確実に見い出すことができる。 (もっと読む)


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