国際特許分類[H01J49/06]の内容

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国際特許分類[H01J49/06]に分類される特許

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【課題】イオン化ビームの試料への照射の時間的ばらつきによる質量分析結果への影響を低減し、信頼性の高い質量分布を測定することのできる質量分布分析方法を提供する。
【解決手段】本発明の質量分布分析方法は、一次イオンビームを試料に照射し、発生した二次イオンを検出する質量分析方法であって、この一次イオンビームは進行方向に対して垂直な方向への広がりを有し、かつ軌道を偏向することにより、一次イオンビームに含まれる各々の一次イオンの一次イオン源から試料表面までの行路長を調整したうえで、試料表面に対して斜めに入射される。 (もっと読む)


【課題】 顕微質量分析装置は試料を観察し、測定部位を特定し、その部位にレーザー光を微小に絞り照射して顕微レーザー質量分析を行なうもので、レーザー光を分析対象である測定部位周囲にレーザー光が広がって照射しないようにして、測定部位の情報だけを的確に得る顕微レーザー質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料観察手段とレーザー光照射手段を同じ顕微鏡対物レンズを用い観察した部位にレーザー光を照射して測定するために、焦点距離の短い対物レンズにより、レーザー光を微小にしぼり、その対物レンズのセンター部に孔を開け、金属細管からなる微細イオン輸送管を挿入したイオン輸送管内蔵対物レンズを用いて微小部の顕微MALDIの測定を可能とする。また、イオン輸送管は高分子イオンの通過率を向上させるために加熱機能を備えている。 (もっと読む)


【課題】従来の質量分析装置では、測定対象物表面に垂直に一次ビームを入射させることができないため、その表面に凹凸がある場合は、一次ビームに対して影になる部分を生じた。その結果、試料から発生するイオンの分布と測定対象表面の物質分布に乖離が生じる問題があった。
【解決手段】一次イオン生成部、一次イオンを測定対象物に照射するための一次イオン光学系、二次イオンを検出するための検出器、および測定対象物から検出器までイオンを導く二次イオン光学系を有する質量分析装置において、
当該一次イオン生成部は当該二次イオン光学系のイオン光軸の外に設置し、偏向部を当該測定対象物と当該検出器との間に有することを特徴とする飛行時間型質量分析装置 (もっと読む)


【課題】 イオントラップToF装置の、特にMS2及びMS3分析モードにおいて、イオンスループット速度及びスペクトル取得速度を改良する。
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置(1)が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス(10)と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス(10)の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。 (もっと読む)


【課題】解決しようとする問題点は、LC/MSなどに用いられる大気圧イオン化(API)質量分析装置において、インターフェース部のクリーニング作業が複雑でユーザーの負担になる点である。
【解決手段】本発明は、電極表面が拭き取り材により自動的にクリーニングされるため、ユーザーの負担を低減させた(使い易い)質量分析装置の提供を最も主要な特徴とする。 (もっと読む)


【課題】従来の遅延引出し法ではイオンを加速する際にm/zの相違が考慮されないため、適切なエネルギ収束が達成されるm/z範囲が狭く、分解能が改善されるm/z範囲も狭い。
【解決手段】試料Sにレーザ光を照射してイオンを発生させる時点で、試料プレート1から引出し電極3に向けて緩やかに下がる電位勾配をもつ引出し電場を形成しておく(U)。この電場の作用により、イオンは引出し領域中でm/zに応じて略分離され、m/zが大きなイオンは試料S近くに残る。遅延時間t経過後に試料プレート1及び補助電極2への印加電圧を上げて折れ線様の電位勾配Rを有する加速電場を形成する。この電場は理想的な電位勾配曲線Qに近いため、m/z毎に適切なポテンシャルエネルギ変化をイオンに与えることができ、幅広いm/zに亘ってエネルギ収束を適切に行い分解能を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】試料に予備処理を施すことなく、チャージアップを防止することができる、原子プローブを用いた二次イオンによる分析装置および分析方法を提供する。
【解決手段】分析装置は、試料41に中性粒子ビームNを入射するための中性粒子ビーム源と、試料から放出された二次イオンを加速するイオン加速手段と、中性粒子ビームが入射されて試料から放出された二次イオンのエネルギーまたは質量を測定する測定装置とを備える。 (もっと読む)


【課題】質量分析用途に用いる成形用セラミックスを提供する。
【解決手段】RF部材のオーバーモールドに適した、アルカリ土類金属酸化物、例えばSrOを含むガラスセラミックは、良好なRF応答および良好な機械的強度を提供する。具体的には、SrOは、RFおよび機械的性能を維持しながら、セラミックの流動温度を低下させる。得られるガラス配合物は、10〜50モル%のSrO、5〜30モル%のAlおよび20〜60モル%のBを含有する。 (もっと読む)


【課題】S/N比と迅速性の向上を図った質量分析装置を提供する。
【解決手段】パルス幅がピコ秒またはフェムト秒の紫外線領域の超短パルスレーザ光を出力する超短パルスレーザ装置8と、真空排気された真空容器2と、この真空容器内に配設されて、前記超短パルスレーザ光を複数回往復可能に反射させるように複数の凹面鏡をそれぞれ設けた一対の多面鏡を対向配置し、これら多面鏡の焦点に、前記超短パルスレーザ光を複数回通す多面鏡システム4と、多面鏡システムの焦点に向けてサンプルを含有した高温のサンプルガスを間欠的に噴射する高温パルスバルブ3と、多面鏡システムによりイオン化されたサンプルの質量を測定する飛行時間型質量分析器7と、真空容器内でイオン化されたイオンを質量分析器に導入させる電場を形成する電極5a,5bと、を具備している。 (もっと読む)


【課題】試料イオン化装置(イオン源)からの試料導入の際、イオン化が不充分であった試料が導入部細孔以外の部位に滞留し、熱などのエネルギーにより、酸化物ないし炭化物などの生成物として堆積する。その堆積する生成物は質量分析装置の性能劣化の原因となる。
【解決手段】本発明は、試料供給源と、試料供給源から供給される試料をイオン化する試料イオン化部と、イオン化された試料イオンが導入される試料導入抑制室と、試料導入抑制室の下流になる差動排気室と、差動排気室の下流側になる分析部を有する質量分析装置において、試料導入抑制室、前記差動排気室の少なくとも一方の内部で放電を生成する放電生成手段を有する。そして、放電生成手段は、試料導入抑制室で対向するように設けた対向する試料導入部電極と第一細孔部用部材(電極)、ないし前記差動排気室で対向するように設けた第一細孔部用部材(電極)と第二細孔部用部材(電極)を有することを特徴とする。 (もっと読む)


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