イオン移動度スペクトロメータ又は他のイオン装置は、イオンの流れ経路の横方向に延在した２つ又は３つのグリッド電極５１及び５２；１５１から１５３；１０６及び１０７；１０６’及び１０７’を有する。ｄｃ補償電圧と共に非対称な波形を電極間に印加して、場依存移動度に従ってイオンに異なる影響を及ぼすイオンの流れ経路に平行な場を形成する。これは、イオン検出器１１，１１１，１１１’へのイオンの移動において、異なるイオンを選択的にふるいにかけたり、遅らせたりして、さもなければ類似の出力を発するイオン間の識別を容易にする。
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イオンガイドは複数の段を含む。各段の中の電界は、ガイド軸に沿ってイオンを導く。各段の中で、電界の振幅および周波数および分解電位は、独立に変動してもよい。ロッドの幾何構成によって、段から段へと類似の形状の電界が維持され、これによって、軸に沿ったイオンの効率的な誘導が可能になる。特に、i番目の段の各ロッドセグメントは、断面半径r_iおよび、ガイド軸から距離R_i+r_iに位置する中心軸を有する。比r_i/R_iはガイド軸に沿って実質的に一定であり、それによって電界の形状が維持される。

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レーザ脱離イオン源は、１つ又は複数のイオンガイドを使用することによりイオンサンプリング効率性及び測定感度を高め、イオン標的から放出されるプルーム中のイオンを効率的に捕獲し、該イオンを開口部経由で下流の真空チャンバ内に誘導する。２つのＲＦ多極イオンガイドを使用する一構成では、イオン標的に隣接して配置されている第１のＲＦ多極イオンガイドは、プルームの大部分を捕獲するのに十分な大きさであるように選択され、一方、第１の多極イオンガイドと開口部との間に配置されている第２のＲＦ多極イオンガイドは、イオンを開口部内に集束するのに役立つようにより小さい寸法を有する。第１のＲＦ多極イオンは、プルーム中のイオンを第２のＲＦ多極イオンガイド内へ誘導し、次いで、第２のＲＦ多極イオンガイドはイオンが開口部を通過して下流の真空チャンバ内に入るようにイオンを集束する。
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【課題】改良された質量分析計および質量分析の方法を提供すること。
【解決手段】期間ΔＴ₁におけるゼロ透過率動作モードと期間ΔＴ₂における非ゼロ透過率動作モードとを繰り返し切り換えてイオンビームを減衰させるイオンビーム減衰器を含む質量分析計が開示されている。イオンビームの減衰の程度は、マークスペース比ΔＴ₂／ΔＴ₁を変化させることによって変化させることができる。イオンビーム減衰器は、イオンをパケットまたはパルスで放出し得るが、イオンのパケットまたはパルスは、イオンビーム減衰器の下流に配置された比較的高圧のイオンガイドまたはガス衝突セルによって、連続したイオンビームに変換され得る。 （もっと読む）

質量分析計は、パルス状イオン源と、パルス状イオン源によって生成されたイオンを閉じ込める第１のイオントラップであって、第１のイオントラップから続いて放出される閉じ込められたイオンの位置を特定するための第１のイオントラップ（１０）とを有する。冷却ガスのパルスは、第１のイオントラップ（１０）がイオンを閉じ込めることを可能にするのに適しているピーク圧において、第１のイオントラップ（１０）に導かれる。ターボ分子ポンプ（１７）は、閉じ込められたイオンが、第１のイオントラップ（１０）から分析のための第２のイオントラップ（２０）の方へ放出される前に、冷却ガスの圧力を減らす。パルス状イオン源は、第１のイオントラップ（１０）の端壁を形成する試料プレート（１４）を有する。
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【課題】本発明は、試料を構成する原子および分子の空間的な位置情報と質量情報との両方を同時に高分解能で，しかも高速に測定できるイメージング飛行時間型質量分析装置を提供する
【解決手段】本発明にかかるイメージング質量分析装置１は、レンズ系６０を備えるイオン源１０と、分析部２０と、検出部３０とを備えている。イオン源１０では、試料の広い範囲を同時にイオン化し、上記レンズ系６０を用いて、上記試料のイオン像をそのまま引き出す。その後、分析部２０では、上記試料の上記試料のイオン像をそのまま維持し、上記試料のイオンの質量分離を行う。次に、検出部３０では、試料イオンの到達位置と飛行時間とを同時に検出する。 （もっと読む）

【課題】リアルタイムのイオン分析が可能であって高効率かつ安価なイオン分析装置を提供する。
【解決手段】イオン分析装置１は、イオン発生源９から発生したイオンの比電荷および運動エネルギを分析するトムソンパラボラ型のものであって、真空容器１０の内部に配置されており、コリメータ１１、電磁場発生部１２、金属箔１３ａ，１３ｂ、プラスチックシンチレータ１４、光フィルタ１５、光検出部１６、分析部１７、制御部１８および表示部１９を備える。プラスチックシンチレータ１４は、電磁場発生部１２により形成された電磁場により偏向され金属箔１３ａ，１３ｂを通過して到達したイオンを主面に入射して、そのイオン入射位置から光を発生する。 （もっと読む）

イオンが使用時に移送される開口を有する複数の電極を含む閉ループイオンガイド（１）が開示される。イオンは、閉ループイオンガイド（１）中へ注入され、イオンガイド（１）から排出される前に閉ループイオンガイド（１）を数回周回し得る。一動作モードにおいて、イオンガイド（１）は、イオンをそのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように構成され得る。
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イオントラップと下流の質量分析計とを有する質量分析計システムが提供される。複数のイオン群がイオントラップに提供され、第一の質量対電荷比が選択される。該下流の質量分析計は、（ｉ）該第一の質量対電荷比とは異なる第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンと、（ｉｉ）該第一の質量対電荷比とは異なる該第一の選択されない質量対電荷比を有するイオンに対する質量シグナルとのうちの１つを除去するように設定される。第一の質量対電荷比の第一のイオン群は、第一のイオントラップから下流の質量分析計まで排出される。
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電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスが高フラグメンテーションまたは反応モードと低フラグメンテーションまたは反応モードとの間で繰り返し切り換えられる質量分析の方法が開示される。第１の試料からの親イオンがデバイスを通され、親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、第２の試料からの親イオンがデバイスを通され、第２セットの親イオン質量スペクトルおよびフラグメンテーションイオン質量スペクトルが得られる。次いで、質量スペクトルは、比較され、２つの試料における所定の親イオンまたは所定のフラグメンテーションイオンのいずれか一方が異なって発現される場合、さらなる分析が行われて、２つの異なる試料において異なって発現されるイオンを同定しようとする。 （もっと読む）