【課題】サンプルプレートの個別管理や、サンプルプレートのゆがみ情報に基づく質量較正を容易に行なうことのできるMALDIイオン源を備えた質量分析装置およびMALDIイオン源用サンプルプレートを提供する。
【解決手段】サンプルプレートのＩＤ情報と、サンプルプレート表面の凹凸によるゆがみ情報とをサンプルプレート表面に彫刻し、また電子ファイルとして登録することで、測定時に観察手段で読み取って、サンプルプレートの個別管理や、マススペクトルの質量較正に利用するようにした。 （もっと読む）

【課題】大気圧下で行うことができ、自立した形状を有する試料のイメージング・プロファイルを迅速且つ正確に得ることができる質量分析イメージング法を提供する。
【解決手段】連続的に生じる帯電液滴を、移動経路に沿って質量分析器のレシービングユニットに向けて移動させるステップと、試料に含まれる分析物を脱離させて、複数の飛行経路の各々に沿って飛行させるに十分な照射エネルギーを有するレーザービームで前記試料を走査するステップと、前記複数の飛行経路のそれぞれに沿う前記複数の分析物がそれぞれ前記帯電液滴に閉じ込められ、それによって対応するイオン化分析物が形成されるべく、前記複数の飛行経路と前記移動経路が交差するようにレーザービームを位置決めするステップとを備えて成る質量分析イメージング法。 （もっと読む）

【課題】光学的な顕微観察画像で試料上の各組織が明瞭でなく、組織の有無や組織を構成する分子等についての予見がない場合でも、煩雑な手間を要することなく、組織のマッピング画像を提示する。
【解決手段】試料上の所定の二次元範囲内に設定された多数の微小領域の質量スペクトルデータが得られると（Ｓ１）、このデータを主成分分析することにより二次元範囲に特徴的な質量ピークを抽出する（Ｓ２）。そして、特定の質量ピークが観察される微小領域の二次元的な集中の度合いを例えば座標の分散値などを算出することで調査し（Ｓ３）、集中度が高い場合に、それら微小領域が同一組織を形成しているとみなし、各組織を識別可能なマッピング画像を作成して表示する（Ｓ４、Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】試料の構成成分の平面分布を容易に測定可能な質量分析方法を提供する。
【解決手段】平面配置された複数のエミッタを用いて電界脱離イオン化法により試料のイオン化を行い、生成したイオンを質量分析する質量分析方法であって、平面配置された複数のエミッタに試料の測定面を対応させ、各エミッタ上に当該試料の対応部分が配置されるように試料を設置する工程と、これらのエミッタを独立に駆動し、順次、電界を生じさせ、これに応じて試料の各エミッタに対応する部分をイオン化する工程と、イオン化により生成したイオンを、そのイオンの生成のために駆動したエミッタに対応させて質量分析する工程を有する質量分析方法。 （もっと読む）

【課題】
汎用性の高いLDIプレート等を提供する。
【解決手段】
本発明の第１の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。 （もっと読む）

二次イオン質量分析法のための装置が提供され、該装置は、標的面上の試料を支える、標的面と、一次イオンのビームを試料の方に導き、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出すように構成されるイオン源とを有する。入口を有する第１のチャンバは、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置において高い圧力を維持するために気体を提供し、高い圧力は、約１０^−３〜約１０００トルの範囲内である。二次イオン質量分析法の方法が提供され、該方法は、試料を支える標的面を有し、一次イオンのビームを試料の方に導いて、試料から二次イオンと中性粒子とをたたき出し、二次イオンと中性粒子とを冷却するために試料の位置に高い圧力を提供し、高い圧力は、約１０^−３〜約１０００トルの範囲内である。
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【課題】レーザ脱離装置、マススペクトロメトリー組立、及び大気圧下で液体試料を直接、質量分析することができる質量分析法を提供する。
【解決手段】ノズルを有するエレクトロスプレーユニット、前記ノズルとレシービングユニットとの間に、前記ノズルで形成されるエレクトロスプレー用溶媒の液滴が帯電し、移動経路に沿ってノズルから前記レシービングユニットに強制的に向かうような電位差を生じさせる電圧供給部、試料にレーザーを照射するために設けられたエレクトロスプレー支援レーザー脱離ユニットであって、レーザー照射時に前記試料に含まれる分析物が脱離し、前記移動経路と交差する飛行経路に沿って飛行することにより前記多価帯電液滴に閉じ込められ、前記移動経路に沿って移動し液滴のサイズがだんだん小さくなり、前記液滴の電荷が前記液滴に閉じ込められた分析物の少なくとも一つに移動してイオン化分析物を形成するレーザー脱離ユニット。 （もっと読む）

【課題】広範囲な分子量の物質を高精度で簡単に質量分析することができる質量分析用基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析に用いる質量分析用の基板であって、基板上に配列したワイヤ状の金属からなるワイヤ状金属層を有する質量分析用基板。基板上に、チューブ状のメソ細孔が実質的に一方向に配向して設けられているメソポーラスシリカ薄膜を形成する工程と、該チューブ状の細孔内に金属を導入する工程と、金属を導入しら後にシリカを除去する工程とを有する質量分析用基板の製造方法。 （もっと読む）

【課題】軟Ｘ線を用いて試料分子をイオン化する際のイオン密度を高めることができるイオン化装置を提供する。
【解決手段】イオン化装置１は、本体部２１、軟Ｘ線管３、及び電極４，５を備える。本体部２１は、所定の軸方向に延びており試料分子をイオン化するイオン化室２と、イオン化室２に試料分子を導入する導入口２２と、試料分子イオンを排出する排出口２３とを有する。軟Ｘ線管３は、電子源３１と、電子源３１からの電子を受けて軟Ｘ線を発生するターゲット部３２とを有する。電極４，５はイオン化室２の一端側、他端側にそれぞれ設けられている。軟Ｘ線管３の軟Ｘ線出射軸方向は、上記所定の軸方向と交差している。ターゲット部３２に設けられた電極３２ｂと電極５とは、互いに短絡されている。導入口２２の中心軸方向は、軟Ｘ線出射軸方向と交差している。 （もっと読む）

【課題】軟Ｘ線を用いてベースガスイオンを生成し、このベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応により試料分子イオンを生成することによって、安全性が高く、装置の汚染、試料の分解、及びイオン化室の電界への影響などを抑制でき、試料分子を効率よくイオン化できるイオン移動度計およびイオン移動度計測方法を提供する。
【解決手段】イオン移動度計１は、試料分子をイオン化するイオン化装置２と、イオン化された試料分子の移動度を計測するドリフト室１１とを備える。イオン化装置２は、ベースガスをイオン化するとともにベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応を促すイオン化室２０と、イオン化室２０内へ軟Ｘ線を照射する軟Ｘ線管３とを有する。軟Ｘ線管３は、軟Ｘ線の照射量を増減可能に構成されている。 （もっと読む）