【課題】 ３次元微細領域元素分析方法及び３次元微細領域元素分析装置に関し、試料に電界蒸発を起こすのに必要な高電圧パルスを印加することなく、一層ずつ制御された状態で、且つ、構成元素の蒸発電界の違いに影響されずに分析を行う。
【解決手段】 被分析試料１に飽和吸着し、且つ、エネルギービーム５の照射によってエッチングが進行するガス種３を被分析試料１に供給したのち、エネルギービーム５を照射して前記被分析試料１のガス種３の吸着した部分のみを脱離させ、脱離した被分析試料１由来の粒子６の質量分析を行なうことによって被分析試料１表面の元素分析を行なう。 （もっと読む）

例えば質量分析計における、イオン光学エレメントを動的にバイアスするためのデバイスが提供される。該デバイスは電圧ソース、電圧ソースと結合される第１のイオン光学エレメント、第１のイオン光学エレメントと抵抗結合される第２のイオン光学エレメント、および第２のイオン光学エレメントと容量結合されるパルス発生器を含む。パルス発生器は第２のイオン光学エレメントに一連のパルスを加えるように構成される。定常状態オペレーションにおいて、第１のイオン光学エレメントと第２のイオン光学エレメントとの間に動的バイアス電圧が生成される。動的バイアス電圧は、加えられるパルスのパルス幅、パルス振幅、およびパルス繰り返し速度などの、加えられるパルスの特性を制御することによって、制御可能である。
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試料に含まれる検体の質量を正確に測定し、機器間でおよび単一の機器で経時的に一貫した方法で試料に存在する検体の量も測定する、レーザー脱離／イオン化飛行時間型質量分析（「ＬＤＩ−ＴＯＦ−ＭＳ」）装置、および方法。特に、本発明は、１）レーザーパルスのエネルギーおよび照射される試料の領域（フルエンス）が、検体の脱離およびイオン化のための一貫した状況を生成するために、一貫性がありかつ制御され、２）質量分析器が再現可能な方法で機能し、そして３）検出システムが、異なる質量のイオンの到達を一貫して示す信号を生成する、ＬＤＩ―ＴＯＦ―ＭＳ装置および方法を提供する。
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レーザ原子プローブ（１００）には、試料台および検出器（１０６）間に対極が配置され、対極（１０８）の開口（１１０）を通して試料（１０４）に照射を行うようビーム（１２２）が位置合わせされたレーザ（１１６）が設けられる。そして検出器および試料台（１０２）は、試料のイオン化のためにパルス駆動される。イオン出発時間および到着時間を定めるのにレーザパルスのタイミングを用いることで、イオンの質量／電荷比の決定が可能となり、従ってその同定が可能となる。レーザが自動的に対象エリアに向けられるようにした自動化位置合わせ方法が記載される。
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本発明は、コンパクトかつ広範なイオン質量の範囲にわたって高度な質量分解能を有する飛行時間型質量分析器、および、それを設計する方法を提供する。本飛行時間型質量分析器において、本設計方法は、所定の連続関数を用いて時間依存性のある抽出ポテンシャルの強度を低減してイオンのエネルギ分布を拡大させ、質量の範囲にわたる高質量分解能を実現し、他方、加速領域からイオン・ミラーにおいて適用されるポテンシャルの時間依存性およびその大きさ、ならびに、時間依存性のある抽出ポテンシャルを変更することはなく、質量分析器の物理的寸法を変化させることもなく、被分析イオンの高分解能分析を実現する。本設計方法により、全長４６センチメートル未満の飛行時間型質量分析器において質量の大きさのオーダーでおよそ５オーダーにわたり、およそ１０，０００もしくはそれ以上の質量分解能が実現される。
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レーザ原子プローブ（１００）には、試料台および検出器（１０６）間に対極が配置され、対極（１０８）の開口（１１０）を通して試料（１０４）に照射を行うようビーム（１２２）が位置合わせされたレーザ（１１６）が設けられる。そして検出器および試料台（１０２）は、試料のイオン化のためにパルス駆動される。イオン出発時間および到着時間を定めるのにレーザパルスのタイミングを用いることで、イオンの質量／電荷比の決定が可能となり、従ってその同定が可能となる。レーザが自動的に対象エリアに向けられるようにした自動化位置合わせ方法が記載される。
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【解決手段】液体試料中の低濃度の検体を特定する方法及び装置を提供する。液体試料は、連続流動膜入口システムを介して導入される。膜を透過する検体は、光イオン化飛行時間型質量分析によって分析される。膜を透過しない液体試料中に残る検体は、液体試料及び他の検体を小滴として光イオン化領域へ導入する毛細管入口へ導かれる。膜上に吸収又は吸着されて残る検体は、熱を加えることで、膜を通過させる。検体は、共鳴多光子イオン化（ＲＥＭＰＩ）又は単光子イオン化（ＳＰＩ）によって分析してよく、その両方を装置で提供し、代替ソースとして選択可能である。 （もっと読む）

照射手段は、試料表面に照射されることで試料表面に非熱的な脱離イオン化を引き起こす、該試料表面の材質に応じた低フルーエンス領域内のフェムト秒レーザを、試料表面に対して照射する。分析手段は、照射されたフェムト秒レーザに応じて試料表面から脱離される分子イオンを、例えば飛行時間型質量分析等で、分析する。 （もっと読む）

ＭＡＬＤＩイオン源、イオン形成の方法及び質量分析装置システムを提供する。さまざまな実施形態において、サンプル面のサンプルに、取付け面の法線から１０度以内の角度でレーザー・エネルギー・パルスを照射するよう構成されたＭＡＬＤＩイオン源、及び取付け面の法線から５度以内の方向にサンプルイオンを抽出するよう構成された第一イオン光学システムを提供する。さまざまな実施形態において、ほぼ同軸のサンプル照射及びイオン抽出を具えるＭＡＬＤＩイオン源を提供する。さまざまな実施形態において、ＭＡＬＤＩによってサンプルイオンを生成し、加速電界を用いてサンプルイオンを抽出して、加速電界からの出口におけるサンプルイオン軌道の角度が、イオンビームのほぼ中心部において実質上サンプルイオンの質量に左右されないようにイオンビームを形成する方法を提供する。
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本教示は、分子のマトリックス支援レーザー脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）質量分析法のために有用なプレートおよびそのプレートを作製するためのプロセスに関する。疎水性コーティングおよびＭＡＬＤＩマトリックス材料とポリマーのような境界剤との混合物の薄膜コーティングを含む複合コーティングを備える、ＭＳ分析またはＭＳ−ＭＳ分析のために適したＭＡＬＤＩプレートが開示される。本教示に従って作製されるＭＡＬＤＩプレートは、ＭＡＬＤＩ−ＭＳスペクトルの低質量領域（１，０００ダルトン未満）におけるマトリックスイオンの抑制のために有用である。
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