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国際特許分類[H01J49/40]の内容

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国際特許分類[H01J49/40]に分類される特許

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【課題】
広い測定質量範囲をもつ質量分析装置において、高質量または低質量での測定感度が低下する。
【解決手段】
加速されたイオンが検出器までに到達する飛行時間を測定することにより、質量数を測定する、飛行時間型質量分析装置において、測定質量数に応じて検出器表面に印加する電圧を走査する。または、飛行空間と検出器の間に電極を設け、電極に印加する電極の電圧を走査することにより、広い質量範囲において、高い検出効率で測定可能な飛行時間型質量分析装置。 (もっと読む)


差動移動度分光計を含むシステムとともに、差動移動度分光計を含むシステムを操作する方法について記載される。本方法およびシステムは、a)イオンを差動移動度分光計に提供することと、b)差動移動度分光計の入口にドリフトガスを提供することと、c)調整剤液をドリフトガスに供給するために、計器を調節して、選択された体積流量を規定することと、d)調整剤液の実体積流量をドリフトガスに供給することとを伴い、実体積流量は、選択された体積流量からあるパーセント偏差内にある。
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微分型移動度分析計と、少なくとも部分的に微分型移動度分析計にシールされ、かつ微分型移動度分析計と流体連絡している質量分析計とを含む、質量分析計システムを、関連方法とともに提供する。質量分析計システムは、a)内部動作圧力で微分型移動度分析計を維持するステップと、b)イオンを微分型移動度分析計に提供するステップと、c)微分型移動度分析計を通って真空チャンバの中へイオンを含むガス流を引き込むために、内部動作圧力よりも低い真空圧で質量分析計を維持するステップと、d)微分型移動度分析計を通るガス流速を変化させるために、微分型移動度分析計と質量分析計との間のガス流を修正するステップとを行うように動作可能となり得、方法はこれらのステップを含み得る。
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【課題】検出器の電気ノイズに時間的変動があった場合でも、このノイズを精度よく除去し質量スペクトルを作成する。
【解決手段】データ処理部では、イオントラップから各種イオンが出射されてTOF飛行空間を飛行して検出器に到達するまでの時間tと、検出器で検出された信号強度データをセットにして順次保存する。そして、測定質量範囲に対応した時間範囲T2に得られたデータをプロファイルデータとし、m/z最小のイオンが到達する前の期間T1又はm/z最大のイオンが到達した後の期間T3、に得られたデータをノイズ成分データとしてそれぞれ抽出する。ノイズ成分データからノイズレベルや標準偏差等のノイズ情報を算出し、このノイズ情報を用いてプロファイルデータからノイズを除去する。質量走査毎にノイズ成分データとプロファイルデータとがほぼ同時に得られるため、ノイズの時間的変動の影響を殆ど受けずに、的確なノイズ除去を実現できる。 (もっと読む)


【課題】大気圧またはそれに近い圧力の気相中において、検出対象のイオンを簡素な構成で分離して効率よく後段の質量分析計またはイオン検出器に導入する技術を提供し、後段の装置における検出精度を高める。
【解決手段】イオンを含む気体の流れ方向に沿って断面積が漸次減少した後に漸次増加する砂時計型の流路を構成し、砂時計の上部に配置した電極と砂時計流路の内壁および砂時計流路の内壁と砂時計の下部に配置した電極との間にそれぞれ電位差を設ける。これにより、所定の範囲のイオン移動度を有するイオンを流路中心部に収束して透過させ、所定の範囲外のイオン移動度を有するイオンを流路内壁方向へ進行させ、系外へ排除する。 (もっと読む)


【課題】質量分析、特にクロマトグラフィでの親イオンの同定、のための改良された方法および装置の提供。
【解決手段】混合物から親イオンが溶離するのと実質的に同時に生成されることが確認された娘イオンを照合することにより親イオンを同定する方法が開示されている。イオン源1から放出されたイオンは、イオンが実質的にフラグメント化され娘イオンを生成する第1のモードとイオンが実質的にフラグメント化しない第2のモードとの間を交互に繰り返し切り換わる衝突セル3に入射する。両方のモードで質量スペクトルが取得され、試行の最後に、2つの異なるモードで得られた質量スペクトルを比較することにより、親イオンと娘イオンが認識される。溶離時間の適合度により、娘イオンが特定の親イオンに適合され、それによって、親イオンの同定が可能になる。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、高い効率で測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析装置を提供することにある。
【解決手段】レーザ光が照射されることでプラズモンを励起し得る金属体が形成された表面を有し、表面に測定対象物質を付着させるデバイスを支持するデバイス支持体、デバイス支持体が内部に固定された真空チャンバ、デバイスの表面にレーザ光を照射して、前記表面に付着している測定試料をイオン化するとともに、表面から脱離させる光照射手段、及び、デバイスの表面から脱離されイオン化された前記測定試料の飛行時間から前記測定試料の質量を検出する検出手段とを有する分析装置本体と、複数の前室ユニットとを有し、各前室ユニットは、分析装置本体及び他の前室ユニットに対して独立した真空系であり、それぞれが分析装置本体にデバイスをセット、回収することで上記課題を解決する。 (もっと読む)


【構成】ガス流(10)におけるサンプルガスをイオン化するステージ、イオン化されたガス流を細長いイオン移動度測定室(12)の所定の横断面に導くステージ、測定電極(ex、e2、e3)から所定の距離でイオン化ガス流からイオンをフィルター処理(14)して、イオンのみを選択された点で流れ横断面から流動させるステージ、および横断静電界および測定室の壁部にそって設けられた少なくとも一つの測定電極対(e1、e2、e3)を利用して、異なるイオン移動度をもつイオン(J1−n)を分離するステージからなるガス状物質の測定方法、および測定装置である。 (もっと読む)


【課題】 装置のイオン光軸に対するMCPの入射面の精度を確保して質量分解能力を向上させたTOF−MSおよびそれに用いる荷電粒子検出装置を提供する。
【解決手段】 MCPをIN電極1とOUT電極とで挟み込み、その後にアノード電極、後方カバーを設置した荷電粒子検出装置100は、IN電極1より後方の構成部材がMCP入射面からみてIN電極1より内側に配置されており、後方の構成部材より外側に突出したIN電極1部分に設けられたフランジ部を利用してTOF−MSの筐体壁面330にネジ止め等により固定されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、高い精度で効率よく測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析装置を提供することにある。
【解決手段】レーザ光が照射されることでプラズモンを励起し得る金属体が形成された表面を有し、表面に測定対象物質を付着させる質量分析用デバイスと、質量分析用デバイスの表面にレーザ光を照射して、表面に付着している測定試料をイオン化するとともに、表面から脱離させる光照射手段と、質量分析用デバイスの表面から脱離されイオン化された測定試料の飛行時間から測定試料の質量を検出する検出手段とを有し、光照射手段は、レーザ光の偏光方向を調整する偏光調整機構を有することで上記課題を解決する。 (もっと読む)


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