【課題】イオン分布画像の画質を保持しつつ、飛行時間を収束させる。
【解決手段】試料１８をパルス的にイオン化するレーザー光源１５と、試料１８の上流に位置するサンプルプレート１１と、試料１８の下流に位置し、レーザー光源１５が試料１８をイオン化した時点において、サンプルプレート１１と自身との電位差により、生成されたイオンを試料１８の表面から引き出す引き出し電極１２と、引き出し電極１２よりも下流に位置し、当該引き出し電極１２と自身との電位差により、引き出し電極１２によって引き出されたイオンを加速する引き込み電極１３とを備えている。引き出し電極１２は、自身と引き込み電極１３との電位差によってイオンが加速されている間に、当該イオンが正イオンの場合には自身の電位を所定量上げ、当該イオンが負イオンの場合には自身の電位を所定量下げる。 （もっと読む）

【課題】ＥＩ法によるイオン源でパルス的にイオンを出射させる場合に、同一m/zのイオンの収束性を高める。
【解決手段】熱電子生成用のフィラメント１２とイオン化室１０の熱電子導入口１０２との間にゲート電極１５を配置する。熱電子をイオン化室１０に導入して試料分子をイオン化した後に、ゲート電極１５に所定電圧を印加することで熱電子を遮断する。そして、その直前にイオン化室１０に導入された熱電子がイオン化室１０を通り抜けた後にリペラ電極１４にイオン出射用電圧を印加し、イオン化室１０内のイオンに初期運動エネルギを付与してイオン化室１０からパルス的に出射させる。その時点ではイオン化室１０内に熱電子が殆ど存在しないため、熱電子による電場の乱れはなく、イオンの挙動は熱電子の影響を受けない。また、熱電子がリペラ電極１４に衝突することによるノイズも抑制できる。 （もっと読む）

【課題】 ＭＣＰ（マイクロチャネルプレート）の交換が容易で、かつ、その入射面とイオン軌跡との直交性を高精度に確保することを可能とした質量分析装置を提供する。
【解決手段】 真空フランジ６と本体１とで構成される真空容器内にイオンが飛行するフライトチューブ２が配置されており、その末端にＭＣＰ群４がＭＣＰ−ＩＮ電極３を介して取り付けられている。真空フランジ６は、本体１に着脱可能に取り付けられ、ＭＣＰ群４はその真空フランジ６に取り付けられた検出用の回路基板７上に設けられたスプリング７１０により、フライトチューブ２の端部に向けて付勢されてそのイオン飛行軌跡に対する直交性が確保されている。 （もっと読む）

【課題】衝突室中での減衰を伴うタンデム飛行時間型質量分析計およびその使用のための方法を提供すること。
【解決手段】第一の飛行時間型質量分析計の、衝突減衰を伴う衝突室の使用によって、直交加速を伴う時間飛行型質量分析計を含む、種々のタイプのいずれか１つの第２の質量分析計への有効な結合を提供する。本発明のタンデム質量分析計の一般的な好ましい実施態様は以下を備える：飛行時間型質量分析計に連結されたイオンのパルス発生器；時限式イオンセレクタ；投入されたイオンビームを衝突によって減衰させるため、そして飛行時間型質量分析計および時限式イオンセレクタと連絡してフラグメンテーションを誘起するために、十分に高圧の気体で充填された衝突室；ならびにフラグメントイオンを分析するための第二の質量分析計。 （もっと読む）

【課題】 飛行時間型の質量分析装置におけるＡＤＣ方式のデータ処理機能において、データ転送時間の短縮化を実現すると共にノイズデータの除去を同時に行うことも可能とし、また、解析効率の向上を実現することが可能な質量分析技術を提供する。
【解決手段】 質量分析装置におけるデータ収集回路５は、Ａ／Ｄ変換器５１と、イオン信号を所定の時間範囲、および測定回数のデータの格納および積算処理を行う信号積算メモリ５３、それと並行して所定の時間範囲、および測定回数の電圧値の頻度を積算格納する電圧値頻度積算メモリ５４、そのメモリの格納結果より、所定のしきい値を演算するしきい値演算回路５６、信号積算メモリに格納したデータの内、しきい値以上のデータだけを抽出する圧縮メモリ５５、また、データ収集の測定時間や各回路の動作制御を行うカウンタ５２を有する。 （もっと読む）

試料分析システムは、試料分析システムから残留イオンを除去するためのイオン除去機構を組み込む。イオン除去機構は、イオン移動度フィルタを質量分析器計に接続する、イオン光学アセンブリの中に含むことができる。試料分析システムによって分析される試料は、イオン移動度フィルタの中へ進入させられ得る。イオン移動度フィルタは、試料のイオンを濾過して、濾過したイオン群をイオン光学アセンブリに通す。イオン光学アセンブリは、イオン群の中のイオンのうちのいくつかまたは全てが検出される質量分析器に、濾過したイオン群を輸送する。イオン除去機構は、次いで、第２の濾過した群を通過させる前に、第１の濾過した群から残った全てまたは実質的に全ての残留イオンをイオン光学系から除去する。
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【課題】試料上の狭い測定領域内の異なる複数の測定点についての質量分析を行って収集されたデータを用い該測定領域におけるマススペクトルを求める場合に、試料表面の凹凸により測定点毎の飛行距離に差異があっても、その影響をなくして高い質量分解能のマススペクトルを求める。
【解決手段】１つの測定点について得られるマススペクトル毎に、内部標準法による質量較正を実行して正確な質量軸に修整する（Ｓ３〜Ｓ７）。測定点毎に得られる較正済みのマススペクトルの中で、積算により質量分解能を低下させるおそれのある形状不良のマススペクトルがある場合にはそれを排除し（Ｓ８、Ｓ１０）、質量軸が正確で形状が正常であるマススペクトルを積算することにより、測定領域に対するマススペクトルを求め、これを表示画面上に表示する（Ｓ９、Ｓ１３）。 （もっと読む）

試料（１０１）を収容する手段と、試料（１０１）の表面からイオンを抽出する手段と、第１の方向における第１の曲率および第１の曲率中心（１０５）と第１の方向と垂直な第２の方向における第２の曲率および第２の曲率中心とによって等電位線が規定されるトロイダル静電界を生成するリフレクトロン（１０３）とを含む、特に質量分析計または原子プローブ顕微鏡型の、広い角度受け入れを有する質量分析装置（１００）であって、第１の曲率中心（１０５）の近くに試料（１０１）が位置決めされていることを特徴とする。 （もっと読む）

本発明は、対象サンプルがまず複数の知られている位置においてイオン化され、その後複数の知られている位置の各々におけるイオン化サンプルの質量スペクトルが質量分析計を用いて生成される、基質のイメージング方法を含む。サンプル全体の全体スペクトルがその後作成され、全体スペクトル内のいくつかのピークが選択される。選択されたピークのうち少なくともいくつかの走査分布が作成され、走査分布は、サンプル内の異なるアナライトの間の相関を特定するために比較される。
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【課題】重イオンや超高分子をエネルギー分解能良くかつ検出効率も高く、高速で時間精度良く測定でき、粒子源からの輻射熱の影響も受け難い放射線検出器およびその放射線検出器を用いた分析装置を提供すること。
【解決手段】中央も含めて超伝導直列接合４で検出器用の基板１の表側を出来るだけ広く均一に覆うこと、薄い基板１を用いること、基板の少なくとも１つの表面に輻射反射膜２５を設けること、あるいは基板の超伝導直列接合を設けた面とは反対側の面の上に直接に超伝導体帯状薄膜検出器２８を設けることによって解決できる。 （もっと読む）