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国際特許分類[H01L21/67]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 製造または処理中の半導体または電気的固体装置の取扱いに特に適用される装置;半導体または電気的固体装置もしくは構成部品の製造または処理中のウエハの取扱いに特に適用される装置 (11,346)

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国際特許分類[H01L21/67]に分類される特許

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【課題】 ダイアタッチフィルムを介してダイシングテープに貼り付けたチップを速やかにピックアップするダイボンディング技術を提供する。
【解決手段】 ピックアップ装置10のエキスパンドリング12を下降させ、ダイシングテープ5の周辺部に接着されたウエハリング6を下方に押し下げると、ダイシングテープ5が、その中心部から周辺部に向かう強い張力を受けて水平方向に弛みなく引き伸ばされるので、ダイアタッチフィルム4も引き伸ばされて切断され、チップ単位で互いに分離される。次に、エキスパンドリング12を低速で僅かに上昇させ、ダイシングテープ5に加わる水平方向の張力を小さくした後、チップ1とダイアタッチフィルム4をダイシングテープ5から剥離する。 (もっと読む)


【課題】半導体チップの反転を伴う分離工程を中断なく連続的に行うことができる分離装置を提供する。
【解決手段】水平に位置する回転軸22aを有して垂直面で間欠回転するインデックステーブル20に複数の吸着へッド30が設けられ、分離ステーションPに至った吸着ヘッドが降下して分離ステーション上の半導体チップ12aを吸着し、吸着ヘッドが上昇することにより半導体ウエハ12から半導体チップが分離される。インデックステーブル20がさらに間欠回転すれば、吸着ヘッド30に吸着された半導体チップ12aの上下が反転し、分離と反転とがインデックステーブルの回転という一連の動作の中で連続的に行なわれる。 (もっと読む)


【課題】薄厚化したチップをピックアップする際に、クラックを抑制でき、チップの品質を向上できるピックアップ装置及びピックアップ方法を提供する。
【解決手段】突き上げ機構22のピンで粘着テープからチップを引き剥がす際、粘着テープにおける粘着面の裏面側を吸着して保持しつつ、粘着テープの粘着面側から、コレット28をチップの上方に近づけ、コレットを徐々に下降させてチップを吸着し、チップが粘着テープから引き剥がされるまで待った後、コレットを上昇させてチップをピックアップすることを特徴としている。ピンを滞留させることでチップの剥離を促すことができる。また、ダイシングが終了し、粘着テープに貼り付けられたチップをピックアップするとき、粘着テープを高温の不活性ガスを吹き付けて瞬時に加熱することで、チップを粘着テープからダメージなく剥がすことを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】サイズが異なる多品種のチップを安定してピックアップすることができるチップピックアップ装置およびチップピックアップ方法を提供すること。
【解決手段】紫外線照射により窒素ガスを発生する性質を有する粘着層5aによってチップ6を貼着保持したシート5からチップ6をピックアップするチップピックアップ装置において、UV光源部8bとシート5との間に2枚の遮光板37,38を重ね合わせた構成のシャッター部を設け、それぞれの透光部37b、38bが重複した透光範囲Tを変更自在とする。そして光照射に先立って、チップ6の形状・サイズに応じてシート5に照射される光が透過する透光範囲Tを変更する。これにより、ピックアップ対象のチップに応じた範囲のみに光を照射して、サイズが異なる多品種のチップを安定してピックアップすることができる。 (もっと読む)


【課題】昇降精度に基づき、性能とコストの適正化を図ることができる、ロードポート装置及びマッピング装置を提供する。
【解決手段】ロードポート装置Pを構成するロードポートフレーム1の正面部に、蓋体着脱装置Aと、該蓋体着脱装置Aを昇降させるための第1昇降装置U1 と、マッピング装置Bを片持ち状態で支持したマッピングフレーム43とを配設すると共に、前記ロードポートフレーム1の背面部に、前記マッピング装置Bを昇降させるための第2昇降装置U2 を配設して、両装置A,Bが第1及び第2の各昇降装置U1,U2 によりそれぞれ独立して昇降されるように構成し、前記蓋体着脱装置Aをエアシリンダ9,11で昇降させると共に、前記マッピング装置Bをステッピングモータ38で昇降させる。 (もっと読む)


【課題】 ICチップのピックアップ処理が容易であり、その実装に要する手間を低減できるようにしたICチップの実装方法及びその実装装置、非接触識別タグの製造方法を提供する。
【解決手段】 リングシート3上に貼着されたICチップ1上にテープ5の接着剤を有する面を押し当てて、当該ICチップ1を該テープ5に接着させる工程と、ICチップ1を接着したテープ5をリングシート3から遠ざけて当該リングシート3上からICチップ1を剥す工程と、を含むものである。従来の技術と比べて、リングシート3上に貼着されたICチップ1を吸着コレットでピックアップする必要がない。 (もっと読む)


【課題】基板の素材に関係なく確実に基板の有無を検出し、装置のサイズを大きくすることも低減することができる基板検出装置及び基板検出方法を提供する。
【解決手段】基板5の表面に対して斜めに入射するように、この基板5の搬送経路に向けて光を発する発光部1と、基板5の搬送経路を通過した光を受ける位置に配置された受光部3とを有するものとし、受光部3は少なくとも直列に配置された複数のセンサで構成する。 (もっと読む)


【課題】 エキスパンドされたシート上のペレットをニードルレスのピックアップユニットで能率よくピックアップする。
【解決手段】 エキスパンド機構のステージ1上で伸縮性シート3を放射状に伸展させて、シート3上の複数のペレット5を1枚ずつニードルレス式ピックアップユニット20の揺動アーム22でピックアップする方法と装置で、カメラ25でシート3上のペレット5を撮像し、撮像した画像信号を制御回路部30で演算処理する機能と、揺動アーム22をアーム回転部40で180°回転可能に支持する機能を有し、ペレットピックアップ動作の途中で適宜に制御回路部30からの制御信号に基づいて揺動アーム22を180°反転させてペレットピックアップ動作を継続させる。 (もっと読む)


【課題】
発送前に容器内に収納された半導体ウエハの状態を容器外部から蓋を開けることなく簡単に確認でき、安全かつ確実に収納不良を検出できる半導体ウエハ収納容器の検査装置を提供する。
【解決手段】
容器1内に収納されている半導体ウエハ1aの状態を容器に収納したまま検査する半導体ウエハ収納容器の検査装置であって、
検査台4に載置された容器1内の半導体ウエハ1aに背景光を容器下部から照射する照明器具3と、この背景光により容器内の半導体ウエハの画像を容器外部の上方から捕らえる撮像器具2a,2bと、得られた画像を処理して半導体ウエハの状態を判断する処理装置11,12とを有する半導体ウエハ収納容器の検査装置。
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【課題】
発送前に容器内に収納された半導体ウエハの状態を容器外部から蓋を開けることなく簡単に確認でき、安全かつ確実に収納不良を検出できる半導体ウエハ収納容器の検査装置を提供する。
【解決手段】
容器1内に収納されている半導体ウエハ1aの状態を容器に収納したまま検査する半導体ウエハ収納容器の検査装置であって、検査台4に載置された容器1内の半導体ウエハ1aに背景光を照射する照明器具3と、この背景光により容器内の半導体ウエハの画像を容器外部の下方から捕らえる撮像器具2a,2bと、得られた画像を処理して半導体ウエハの状態を判断する処理装置11,12とを有する半導体ウエハ収納容器の検査装置。
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