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国際特許分類[H01L21/82]の内容

国際特許分類[H01L21/82]の下位に属する分類

基板がシリコン技術を用いる半導体であるもの (27,844)
基板がIII−V技術を用いる半導体であるもの
基板がII−VI技術を用いる半導体であるもの
基板がグループ21/822,21/8252または21/8254の1つに包含されない技術を用いる半導体であるもの
基板が21/822,21/8252,21/8254または21/8256に包含される技術の組み合わせを用いる半導体であるもの
基板が半導体本外以外のもの,例.絶縁体本外のもの (4)

国際特許分類[H01L21/82]に分類される特許

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集積回路(IC)内で実現される回路設計を、静電放電(ESD)から保護するための方法は、共通の重心(130)を共有するように、第1の装置アレイ(245)および第2の装置アレイ(250)を備える装置アレイ対(104および108)をIC上に配置することを含み、第1および第2の装置アレイは一致している。第1のESDダイオードアレイ(220)および第2のESDダイオードアレイ(225)を備えるESDダイオードアレイ対(110)は、IC上に、第1および第2の装置アレイを含む第1の周辺部(115)に隣接して配置され得、第1および第2のESDダイオードアレイは共通の重心を共有するとともに、一致している。第1のESDダイオードアレイの各ESDダイオード(220)のカソード端子は、第1の装置アレイ(245)の入力に結合され、第2のESDダイオードアレイの各ESDダイオード(225)のカソード端子は、第2の装置アレイ(250)の入力端子に結合され得る。
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【課題】PIDの影響を遮断することのできるレイアウト手法を用いてアンテナダイオードを配置することにより、PIDに起因する電界効果トランジスタの特性劣化を防止して、信頼度の高い半導体装置を実現する。
【解決手段】第1アンテナダイオードAD1とnMISのゲート電極16とを第1層目の配線M1を介して電気的に接続し、第2アンテナダイオードAD2と他の半導体素子とを第1層目の配線M1から第4層目の配線(アナログブロック内の最上層配線から1層下の配線)M4を介して電気的に接続する。さらに第1アンテナダイオードAD1と電気的に繋がる第4層目の配線M4と第2アンテナダイオードAD2と電気的に繋がる第4層目の配線M4とをアナログブロック内の最上層配線である第5層目の配線25によって結線する。 (もっと読む)


【課題】性能を改善する新しいレイアウト構造を有する集積回路を提供する。
【解決手段】半導体基板の活性領域102、第1ゲート114、前記活性領域に形成され、前記第1ゲートに隣接した第1領域に設置された第1ソース116、及び前記活性領域に形成され、前記第1ゲートに隣接した第2領域に設置された第1ドレイン118を含む前記活性領域に設置された電界効果トランジスタ108、及び前記第1ドレインに隣接して設置された分離ゲート140、及び前記活性領域に形成され、前記分離ゲートに隣接して設置されて、それと前記第1ドレインが前記分離ゲートの異なる側に位置する分離ソース142を含む前記活性領域に設置された分離構造を含む集積回路。 (もっと読む)


【課題】トランジスタ対を有する半導体装置において、回路面積の増大を抑えつつ、対をなすトランジスタの特性のアンバランスを抑制する。
【解決手段】トランジスタ1a,1bは活性領域パターンが互いに同一である領域A1a,A1bを有し、トランジスタ2a,2bは活性領域パターンが互いに同一である領域A2a,A2bを有する。トランジスタ2a,2bの活性領域13a,13bは、チャネル長方向の長さがトランジスタ1a,1bの活性領域11a,11bよりも長く、領域A2a,A2bは領域A1a,A1bよりもチャネル長方向の幅が狭い。 (もっと読む)


【課題】電子デバイスの更なる微細化及び高集積化が進んでも、リソグラフィー及びエッチングにより被加工対象の極めて高い寸法精度を達成し、信頼性の高い電子デバイスを実現する。
【解決手段】被加工対象上に形成されたレジスト膜を加工してレジストパターンを形成する工程と、レジストパターンをマスクとして、所定のエッチング条件で被加工対象をエッチングする工程とを実行する際に、形成されたレジストパターンの寸法及び形状(膜厚及びテーパ角度)を測定し、測定されたレジストパターンの寸法及び形状に基づいて前記エッチング条件を調整する。 (もっと読む)


【課題】半導体のレイアウトパターンのシミュレーションモデルの精度を適切に検証する技術を提供する。
【解決手段】半導体装置のパターンの設計データに基づいて、複数のリソグラフィシミュレーションモデルを用いたシミュレーションを実行することにより複数のシミュレーションパターンを生成する。半導体装置のパターンに対して、2以上の指定領域と、それらの指定領域の各々に対して互いに異なる重みとを指定する。複数のシミュレーションパターンの各々について半導体装置の実パターンとのずれの重み付け平均値を算出する。 (もっと読む)


【課題】レーザフューズを積層することなくフューズの設置面積の増大を抑制することのできる半導体装置を提供する。
【解決手段】積層フューズユニット100は、トレンチキャパシタ11の側壁に形成されたキャパシタ絶縁膜17がフューズとして機能するディープトレンチ型電気フューズ1の上方に、P領域12、21およびゲート電極24を有するMOSFETのゲート酸化膜27がフューズとして機能するゲートコンダクタ型電気フューズ2が積層されている。 (もっと読む)


【課題】電力管理回路を備える回路のための高速シミュレーション方法を提供する。
【解決手段】本発明の高速シミュレーション手法は、集積回路の電力供給モジュールの出力ノードを理想電力ノードとして指定し、電力供給モジュールをファンインブロックに指定し、電力ノードに接続された全ブロックをファンアウトブロックに指定する。集積回路のDCを初期化し、各時間ステップにて過渡的なシミュレーションを実施する間に、ファンアウトブロックの相互関係を決定し、各ファンアウトブロックのセンシティビティモデルを計算する。電力ノードは理想電力ノードとして指定されるため、各ファンアウトブロックのセンシティビティモデルの結果を電力ノードの総負荷に非同期的に追加できる。総負荷をファンインブロックのために計算された行列にロードし、シミュレーション波形ポイントを出力する。 (もっと読む)


【課題】デジタル回路領域とアナログ回路領域との離間距離を小さくでき、チップ面積の増大を抑制できる半導体集積回路装置を提供することを目的とする。
【解決手段】デジタル回路を形成するデジタル回路領域13と、アナログ回路を形成するアナログ回路領域12とに分離し、アナログ回路領域を、アナログ回路の能動素子を形成する能動素子領域12aと、アナログ回路の抵抗又はコンデンサを形成する抵抗容量素子領域12b,12cとに分離し、抵抗容量素子領域12b,12cをデジタル回路領域13と隣り合う領域に配置し、能動素子領域12aをデジタル回路領域13から離れた領域に配置する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置及び該半導体装置のレイアウト方法を提供する。
【解決手段】複数のビットラインパターンと、複数のビットラインパターンにそれぞれ連結されて形成される複数のパッドパターンと、パッドパターンに形成される少なくとも一つのコンタクトと、を備え、パッドパターンのピッチは、ビットラインパターンのピッチより長い半導体装置とする。 (もっと読む)


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