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国際特許分類[H01L33/00]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 光の放出に特に適用される少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する半導体装置;それらの装置またはその部品の製造,あるいは処理に特に適用される方法または装置;それらの装置の細部[2,8,2010.01] (19,444)

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【目的】 小型のランプを使用した場合であっても、機器の基板に装着されるリード線の間隔を広くして自動実装を容易にし、また外力の吸収機能に優れた照光装置を提供する。
【構成】 ランプ21の発光部22から延びるリード線24a,24bは第1の曲げ部Bにより互いに逆方向に曲げられ、さらに第2の曲げ部Cにより曲げられて、W2の間隔にて互いにほぼ平行に延びている。ソケット31の凹部33内の底面にはリード線24aと24bの間に介入する仕切板34と、各リード線24a,24bを外部に導く挿通穴35a,35bが形成されている。リード線24aと24bはその間隔W2を広くでき、また曲げ部BとCではその弾性変形により、外力を吸収できるようになる。 (もっと読む)


【目的】 1種類の化合物合金半導体を用いて広範囲の波長領域において発光する新規なIII−V族合金半導体材料およびその製造方法を提供する。
【構成】 III族元素としてGaを、V族元素としてAsとNを含有する新規なGaAsN系合金半導体を構成する。減圧気相反応容器内に基板を配設し、高周波プラズマにより活性化したN2または窒素化合物ガスに、少なくともアルシンガスと、有機ガリウム化合物ガスを基板上に導入してGaAsN系の合金半導体膜を形成する工程を含むIII−V族合金半導体膜の製造方法。
【効果】 AsとNの組成を任意に調整することにより、任意のバンドギャップを持つGaAsN系の合金半導体が実現できる。また、GaAsNにおいて従来のGaAsの発光波長よりも長波長の発光素子が得られる。さらに、発光デバイスのみならず高速な電子デバイスも実現でき、光電子集積回路の基幹材料となり得る。 (もっと読む)


【目的】 従来の発光素子に対し、すぐれた特性を有し、発光波長を200〜600nmの範囲で変化しうる発光素子を提供すること。
【構成】 発光層63中に

層を少なくとも一層含む半導体発光素子において、発光層63と成長基板61との間に

層62を設けたことを特徴とする半導体発光素子。 (もっと読む)


【目的】 窓層の抵抗を低くし、結晶成長中の活性層へのp型不純物の拡散を抑え、高輝度で信頼性に優れた発光ダイオードおよびその製造方法を提供する。
【構成】 窓層6aの正孔濃度を、活性層に近い1μmのみ正孔濃度p=1×1018cm-3とし、残り6μmはp=3×1018cm-3とする。すなわち窓層6aの内、活性層に近い領域のZn濃度を低くすることにより、活性層へのZnの拡散を抑え、活性層中の非発光中心の発生を防ぐことができる。活性層から離れた領域のZn濃度を高くすることにより、窓層6a中の抵抗を低くできる。 (もっと読む)


【構成】 ホルダ31に内筒部32、外筒部33および嵌合部36を形成する。中央部の通孔41の内側に、発光ダイオード21を嵌合保持する保持部42を形成する。外筒部33に階段状の溝部52を形成する。発光ダイオード21にリード線24を接続する。発光ダイオード21を保持部42に嵌入する。リード線24の長手方向の中間部分を溝部52に挿入し係止溝部55を通過して保持溝部56にて保持する。
【効果】 リード線24を接続して半組立て状態とした発光ダイオード21をホルダ31に容易に組付けでき、作業効率を向上できる。部品点数を削減して製造効率を向上できる。 (もっと読む)



【目的】 イメージセンサ等に用いられるLEDアレイ光源において、各LEDチップ群の光量のばらつきがなく、安価かつ小型のLEDアレイ光源を提供する。
【構成】 基板上にLEDチップ12を形成する。LEDチップ12を所定個直列接続し、各LEDチップ群に共通に光量調整用抵抗18を直列に接続する。 (もっと読む)


【目的】 エピタキシャル層表面に析出するSi結晶を選択的にエッチング除去できるSiドープ半導体エピタキシャル成長基板の表面処理方法を提供すること。
【構成】 Siドープ半導体エピタキシャル成長基板を強アルカリ液中に浸漬して、エピタキシャル層表面に析出したSi結晶をエッチング除去することを特徴とする。
【効果】 エピタキシャル層表面に山脈状に析出したSi結晶を選択的にエッチング除去できる。したがって、高価な機器の使用を不要にできる。また、エピ層表面からSi結晶を機械的に削り取らないので、エピ層表面を傷つけることがなく、ウエハーを割る不良原因を排除できて、生産における歩留りが向上する。 (もっと読む)




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