説明

ヒータ

【課題】絶縁耐圧を高めつつ、通電量の制御を適切に行えることが可能なヒータを提供すること。
【解決手段】表面1aおよび裏面1bを有する基板1と、基板1の表面1aに形成された発熱抵抗体2と、発熱抵抗体2を覆う保護膜3と、保護膜3上に設けられたサーミスタ素子4と、を備えており、基板1の裏面1bに対して記録紙Pが摺動されるヒータAであって、保護膜3の最外層は、結晶化ガラス層33とされている。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、たとえばレーザプリンタにおいて記録紙に転写されたトナーを熱定着させるために記録紙を加熱する手段として用いられるヒータに関する。
【背景技術】
【0002】
図3は、従来のヒータの一例を示している(たとえば、特許文献1参照)。同図に示されたヒータXは、基板91、発熱抵抗体92、保護膜93、およびサーミスタ素子94を備えている。基板91は、長矩形状であり、絶縁材料によって形成されている。発熱抵抗体92は、たとえばAg−Pdからなり、基板91の表面91aにおいて、長手方向に沿って互いに平行に延びる2つの部分を有する帯状とされている。保護膜93は、発熱抵抗体92を保護するためのものであり、結晶化ガラス層93aと非晶質ガラス層93bとからなる。結晶化ガラス層93aは、たとえばSiO2−BaO−Al23−ZnO系ガラスなどの結晶化ガラスからなり、発熱抵抗体92に対して接している。非晶質ガラス層93bは、たとえばSiO2−ZnO−MgO系ガラスなどの非晶質ガラスからなり、結晶化ガラス層93aを覆っている。結晶化ガラス層93aと非晶質ガラス層93bとは、それぞれの厚さが40μm程度とされている。サーミスタ素子94は、発熱抵抗体92からの発熱量を計測するためのものである。基板91の裏面91bに加熱対象物である記録紙Pを摺動させるときに、サーミスタ素子94の検出結果を用いて、発熱抵抗体92の通電量がフィードバック制御される。
【0003】
非晶質ガラス層93bは、一般的に表面を滑らかに仕上げやすいとされている。しかしながら、耐電圧の向上などの要請により非晶質ガラス層93bを比較的厚く形成しようとすると、たとえば異物の混入により部分的な結晶成長が突発的に生じやすい。このため、
非晶質ガラス層93bの表面は、滑らかな状態であるものと意図しない凹凸を有するものとが混在することとなる。このようなことでは、保護膜93からサーミスタ素子94への伝熱状態がばらつくこととなり、通電量の制御が適切に行えないという問題があった。
【0004】
【特許文献1】特開2002−289328号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、絶縁耐圧を高めつつ、通電量の制御を適切に行えることが可能なヒータを提供することをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明によって提供されるヒータは、表裏面を有する基板と、上記基板の表面に形成された発熱抵抗体と、上記発熱抵抗体を覆う保護膜と、上記保護膜上に設けられたサーミスタ素子と、を備えており、上記基板の上記裏面に対して加熱対象物が摺動されるヒータであって、上記保護膜の最外層は、結晶化ガラス層とされていることを特徴としている。
【0007】
このような構成によれば、結晶化ガラスは、非晶質ガラスと比べて平均的な表面粗さが粗くなる反面、形成工程において異物などの混入による突発的な突起の形成が生じにくい。このため、上記結晶化ガラス層の表面が、極端に滑らかであったり、意図しない突起を有するものであったりするおそれが少ない。これにより、上記保護膜から上記サーミスタ素子への伝熱状態のばらつきを顕著に抑制することが可能である。したがって、上記発熱抵抗体への通電量の制御を適切に行なうことができる。
【0008】
好ましい実施形態においては、上記保護膜は、上記結晶化ガラス層の下層に位置する非晶質ガラス層を有する。このような構成によれば、上記保護膜の耐電圧を向上させることができる。また、上記結晶化ガラス層によってもある程度の耐電圧向上効果が期待できるため、上記非晶質ガラス層のみを厚くする必要はない。これは、上記非晶質ガラス層に意図しない突起が生じることを抑制するのに適している。上記非晶質ガラス層の表面が滑らかであれば、上記結晶化ガラス層を形成するのに好ましい。
【0009】
好ましい実施形態においては、上記基板は、AlNからなる。AlNは、絶縁体としては顕著に熱伝導率が高い。このような材質からなる上記基板は、上記表面に設けられた発熱抵抗体からの熱を上記裏面に伝えるのに好適である。
【0010】
本発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【0011】
以下、本発明の好ましい実施の形態につき、図面を参照して具体的に説明する。
【0012】
図1および図2は、本発明に係るヒータの一例を示している。本実施形態のヒータAは、基板1、発熱抵抗体2、保護膜3、およびサーミスタ素子4を備えている。ヒータAは、たとえば、レーザプリンタにおいて記録紙Pに転写されたトナーを熱定着させるために用いられる。この記録紙Pは、基板1の裏面1bに摺動させられる。なお、図1においては、理解の便宜上、保護膜3を省略している。
【0013】
基板1は、長矩形状とされており、絶縁材料からなる。絶縁材料の例としては、表面1aに形成された発熱抵抗体2からの熱を裏面1bに適切に伝えうる程度に熱伝導率が高い材料が好ましく、たとえばAlNが挙げられる。
【0014】
発熱抵抗体2は、基板1の表面1a上に形成されており、コの字の帯状である。発熱抵抗体2は、抵抗体材料としてたとえばAg−Pdを含んでいる。本実施形態においては、Pdの重量比率が50〜60%であるAg−Pdが用いられている。
【0015】
保護膜3は、発熱抵抗体2を保護するためのものであり、結晶化ガラス層31、非晶質ガラス層32、および結晶化ガラス層33からなる。
【0016】
結晶化ガラス層31は、たとえばSiO2−BaO−Al23−ZnO系ガラスなどの結晶化ガラスからなり、発熱抵抗体2に対して接している。本実施形態においては、結晶化ガラス層31の厚さは、40μm程度とされている。
【0017】
非晶質ガラス層32は、たとえばSiO2−ZnO−MgO系ガラスなどの非晶質ガラスからなり、結晶化ガラス層31を覆っている。本実施形態においては、非晶質ガラス層32の厚さは、20μm程度とされている。
【0018】
結晶化ガラス層33は、たとえばSiO2−BaO−Al23−ZnO系ガラスなどの結晶化ガラスからなり、非晶質ガラス層32を覆っている。すなわち、結晶化ガラス層33は、保護膜3の最外層となっている。本実施形態においては、結晶化ガラス層33の厚さは、20μm程度とされている。
【0019】
結晶化ガラス層31,33、および非晶質ガラス層32を形成するには、たとえばガラスペーストの印刷および焼成を行う。本実施形態の場合、結晶化ガラス層31,33、および非晶質ガラス層32の各層を形成するために必要な印刷および焼成の繰り返し回数は、2〜3回程度である。
【0020】
次に、ヒータAの作用について説明する。
【0021】
本実施形態によれば、保護膜3の最外層には、結晶化ガラスからなる結晶化ガラス層33が採用されている。結晶化ガラスは、非晶質ガラスと比べて平均的な表面粗さが粗くなる反面、形成工程において異物などの混入による突発的な突起の形成が生じにくい。このため、結晶化ガラス層33の表面が、極端に滑らかであったり、意図しない突起を有するものであったりするおそれが少ない。これにより、保護膜3からサーミスタ素子4への伝熱状態のばらつきを顕著に抑制することが可能である。したがって、発熱抵抗体2への通電量の制御を適切に行なうことができる。
【0022】
非晶質ガラス層32を備えることにより、保護膜3の耐電圧を向上させることができる。また、結晶化ガラス層33によってもある程度の耐電圧向上効果が期待できるため、非晶質ガラス層32のみを厚くする必要はない。これは、非晶質ガラス層32に意図しない突起が生じることを抑制するのに適している。非晶質ガラス層32の表面が滑らかであれば、結晶化ガラス層33を形成するのに好ましい。
【0023】
AlNは、絶縁体としては顕著に熱伝導率が高い。このような材質からなる基板1は、表面1aに設けられた発熱抵抗体2からの熱を裏面1bに伝えるのに好適である。
【0024】
本発明に係るヒータは、上述した実施形態に限定されるものではない。本発明に係るヒータの各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。
【図面の簡単な説明】
【0025】
【図1】本発明に係るヒータの一例を示す斜視図である。
【図2】図1のII−II線に沿う断面図である。
【図3】従来のヒータの一例を示す断面図である。
【符号の説明】
【0026】
A ヒータ
P 記録紙
1 基板
1a 表面
1b 裏面
2 発熱抵抗体
3 保護膜
31 結晶化ガラス層
32 非晶質ガラス層
33 結晶化ガラス層

【特許請求の範囲】
【請求項1】
表裏面を有する基板と、
上記基板の表面に形成された発熱抵抗体と、
上記発熱抵抗体を覆う保護膜と、
上記保護膜上に設けられたサーミスタ素子と、
を備えており、
上記基板の上記裏面に対して加熱対象物が摺動されるヒータであって、
上記保護膜の最外層は、結晶化ガラス層とされていることを特徴とする、ヒータ。
【請求項2】
上記保護膜は、上記結晶化ガラス層の下層に位置する非晶質ガラス層を有する、請求項1に記載のヒータ。
【請求項3】
上記基板は、AlNからなる、請求項1または2に記載のヒータ。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【公開番号】特開2009−193844(P2009−193844A)
【公開日】平成21年8月27日(2009.8.27)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−34384(P2008−34384)
【出願日】平成20年2月15日(2008.2.15)
【出願人】(000116024)ローム株式会社 (3,539)
【Fターム(参考)】