説明

レーザー走査型顕微鏡

【課題】本発明では、励起光波長を高速に切り換えることができるレーザー走査型顕微鏡を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の上記課題は、複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型顕微鏡において、前記複数波長のレーザーを入射し、所望の波長のレーザーのみを選択的に前記試料に照射するための光路に射出する電気光学結晶と、前記所望の波長のレーザーによって励起された前記試料内の蛍光物質から放射された蛍光が前記電気光学結晶を通過した後の結像面に配置される、前記電気光学結晶の屈折率傾斜の方向に開口した共焦点スリットとを備え、前記電気光学結晶に印加する電圧を制御することによって、前記所望の波長のレーザーを動的に切り換えることによって解決される。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明はレーザー走査型顕微鏡に関する。
【背景技術】
【0002】
共焦点レーザー走査顕微鏡は、通常の顕微鏡に比べて、分解能・コントラストが良く、試料の高さ方向にも分解能を持つことから、例えば生体試料や半導体試料の観察・測定等に広く使用されている。これを蛍光顕微鏡と組み合わせた共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡は、レーザーによって試料内の蛍光物質の蛍光を観察する顕微鏡である。近年では共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡において複数色(複数波長)のレーザーを試料に照射して、試料内の複数の蛍光物質を多色に染め分けて観測する手法が多く利用される。
【0003】
このとき多くの場合は、ダイクロイックミラーなどを切り換えることによりレーザー切り換えを行い、各波長での観察結果を画像処理によって一つのフレームを合成する。
従来の走査方法による多波長励起観測では、1フレーム(あるいは1ライン)ごとに励起波長を切り換える方法を取っていた。その理由は励起波長を切り換えるための時間が試料面を走査する時間と比べて遅かったからである。つまり、従来の多波長励起観測では励起波長ごとに少なからず時間差が生じてしまっていて、観察結果の同時性精度が損なわれていた。このことは生体試料(とくに生きたまま細胞内の生体反応)などの時間変化をする観察対象に対しては大きな問題である。
【非特許文献1】Nakamura et al. Wide-angle, low-voltage electro-optic beam deflection based on space-charge-controlled mode of electrical conduction in , Applied Physics Letter 89, 131-115, 2006
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
本発明は、上記の技術的問題に鑑み、複数の励起光波長を高速に切り換えることができるレーザー走査型顕微鏡を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0005】
本発明の上記課題は、複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型顕微鏡において、前記複数波長のレーザーを入射し、所望の波長のレーザーのみを選択的に前記試料に照射するための光路に射出する電気光学結晶と、前記所望の波長のレーザーによって励起された前記試料内の蛍光物質から放射された蛍光が前記電気光学結晶を通過した後の結像面に配置される、前記電気光学結晶の屈折率傾斜の方向に開口した共焦点スリットとを備え、前記電気光学結晶に印加する電圧を制御することによって、前記所望の波長のレーザーを動的に切り換えることによって解決される。
【0006】
電気光学結晶による波長選択は物質的な駆動を伴わないので作動が高速であることに加えて、上記の構成によれば、電気光学結晶のもつ偏光特性による観察光分離の影響を抑えることができる。
【0007】
また本発明の上記課題は、複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型顕微鏡において、前記複数波長のレーザーを入射し、所望の波長のレーザーのみを選択的に前記試料に照射するための光路に射出する第一の電気光学結晶と、前記所望の波長のレーザーによって励起された前記試料内の蛍光物質から放射された蛍光が前記第一の電気光学結晶を通過した後の光路に配置される、前記第一の電気光学結晶によって生じる光線分離を相殺させる第二の電気光学結晶とを備え、前記電気光学結晶に印加する電圧を制御することによって、前記所望の波長のレーザーを動的に切り換えることによっても解決される。
【0008】
電気光学結晶による波長選択は物質的な駆動を伴わないので作動が高速であることに加えて、上記の構成によれば、電気光学結晶のもつ偏光特性と分散を相殺することができる。
【0009】
さらに、複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型顕微鏡において、前記複数波長のレーザーを入射し、所望の波長のレーザーのみを選択的に前記試料に照射するための光路に射出する電気光学結晶と、前記電気光学結晶と前記試料との間の前記試料と光学的に共役な位置に配置される共焦点ピンホールと、前記共焦点ピンホールと前記電気光学結晶の間に配置された、入射光を前記電気光学結晶の有効方向の直線偏光に変換する偏光面変換手段と、前記所望の波長のレーザーによって励起された前記試料内の蛍光物質から放射された蛍光が前記電気光学結晶を通過した後の結像面に配置される、前記電気光学結晶の屈折率傾斜の方向に直交した開口を持ち、所望の波長の蛍光を選択的に通過させるスリットとを備え、前記電気光学結晶に印加する電圧を制御することによって、前記所望の波長のレーザーを動的に切り換えることによっても解決される。
【0010】
電気光学結晶による波長選択は物質的な駆動を伴わないので作動が高速であることに加えて、上記の構成によれば、電気光学結晶のもつ分散を蛍光の分光に利用することができる。また、前記電気光学結晶としてKTa1-xNbxO3であることが望ましい。
【0011】
なお、前記偏光面変換手段は偏光ビームスプリッターとλ/2位相板を組み合わせて構成されることが考えられる。
また、本発明によるレーザー走査型顕微鏡は、ピクセルごとに前記複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型方法に適している。
【発明の効果】
【0012】
本発明によれば、ダイクロイックミラー等の光学部材を交換することなく、複数レーザー波長での励起と蛍光の取り込みが行えるレーザー走査型顕微鏡が提供される。
また、本発明によるレーザー走査型では、多波長蛍光の観察でも蛍光のクロストークが少なく、時間的に変化する標本を観察することに有効な高速検出が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0013】
以下では、図面を参照ながら本発明の実施形態について説明する。
図1は本発明の実施に利用される一般的な形のレーザー走査型顕微鏡の模式図である。同図における顕微鏡本体1は、ステージ2上の試料3を、対物レンズ4を使って観察する。そして顕微鏡本体1にはスキャンユニット5が接続され、スキャンユニット5にはレーザーユニット6からファイバーケーブル7を通してレーザーが導入され内部でレーザー走査が行われる。上記のような構成をする理由は一般的なレーザーユニットは大型の装置となるので顕微鏡本体に直接備え付けることができないからである。さらにコンピュータ端末8が備えられ、スキャンユニット5やレーザーユニット6の制御と得られた検出結果の可視化に利用される。
【0014】
図2は従来のレーザー走査型顕微鏡の内部構成を説明する概略図である。通常のレーザー走査型顕微鏡ではレーザー光源として例えばアルゴンイオンレーザー(488nm)とHe−Neグリーンレーザー(543nm)とHe−Neレーザー(633nm)などの複数のレーザー光源9を搭載し、ダイクロイックミラー10を組み合わせることによって同一光路に合成することによって一つのレーザーユニット6を構成する。一つの光路に合成されたレーザーはAOTF(Acousto-optic tunable filters)12によって光量調節などを行った後にファイバーカップリング機構13を経由してファイバーケーブル7に導入される。
【0015】
ファイバーケーブル7からスキャンユニット5に導入されたレーザーはダイクロイックミラー15によって、対物レンズ4方向へ反射される。その光路の途中にはガルバノミラー16、瞳投影レンズ17、結像レンズ18が配置され、レーザーを走査する機能が備えられている。ここで、多波長励起観察を行う場合にはダイクロイックミラー15は励起波長に応じて選択して利用することが多かったので、この切り換え時間によって高速化が妨げられていた。
【0016】
試料からの観察光は逆の光路を通り、ダイクロイックミラー15を通過して検出光路に入る。検出光路内には結像レンズ20が配置され、観察光は共焦点ピンホール21に結像され、これを通過した観察光をダイクロイックミラー22によって所望の波長ごとに分離する。分離したそれぞれの観察光を検出器(フォトマルチプライヤ)24によって検出する。
【0017】
なお、図中の符号11、14、19、23は光路を曲げるためのミラーである。
本発明は、ダイクロイックミラー15の波長ごとの交換によって生じてしまう時間のロスを電気光学結晶に交換することによって大幅に短縮する。そこで先ず、図3を使って本発明で使われる電気光学結晶の働きについて説明する。本発明で使用する電気光学結晶は、電圧の印加により内部に屈折率のグラディエーションが誘起されるものであればよく、以下ではその一例としてKTN結晶を使って説明をする。このKTN結晶はKTa1-xNbxO3により構成され、カー定数が3×10-16m2/V以上のものである。この結晶の詳細については、例えば非特許文献1を参照できる。
【0018】
KTN結晶25は電圧の印加により屈折率の変化(光電効果)する光学素子である。その原理は以下の通りである。2つの電極26によって電圧が印加されることによって電子27が結晶内に注入され、電界傾斜28が発生する。その結果、KTN結晶25内に屈折率のグラディエーションが生じる。そしてこの屈折率のグラディエーションによって入射光が偏向する仕組みである。
【0019】
ただし、KTN結晶25のこの作用には偏光特性がある。つまり、有効な入射方向の直線偏光のみにしか上述の作用は起こらない。
図4はKTN結晶25にランダム偏光が入射した場合の作用を説明する図である。同図において実線で示されるのは有効直線偏光であり、上述の通り電界方向に偏向される。一方、同図において点線で示されるのは有効入射方向と直交する成分を示しており、有効入射方向で入射した光線とは異なる振る舞いをする。この直交成分は直行する光線と有効直線偏光と反対に偏向される光線とに分かれる。つまり、KTN結晶25にランダム偏光が入射した場合は電界方向に光線が分離される。
【0020】
次に、KTN結晶25を使って波長選択を行うための基本構成を、図5を使って説明する。一般的な光学素子と同様にKTN結晶25も分散を持つ。すなわち、多波長光線を入射した場合は、波長ごとに分解されて射出される。そこで、射出光の一部をスリット29や開口で抜き出すことにより、所望の波長の光線のみを選択することができる。また、電極26に印加する電圧の制御によりKTN結晶25の屈折率のグラディエーションは変えることができるので、スリット29を動かすことなく選択波長を変更することができる。この操作は物質的な駆動を伴わないので、作動が高速である。
【0021】
以下では、レーザー走査型顕微鏡においてKTN結晶25を波長選択に利用した本発明の実施例について説明する。ここでは、スキャンユニット5の内部構成についてのみの説明をするが、それ以外の部位は従来と同様の構成としてよい。
【実施例1】
【0022】
図6は本発明の実施の一形態によるスキャンユニット5の内部構成の概略図である。同図において、レーザーユニットからファイバーケーブルを通じて導入された多波長レーザー光は、ミラー14などによってKTN結晶25に入射される。そこで電圧印加により偏向角を制御し、後段のスリット29を通過できる波長のレーザーを選択する。その後、レーザーはガルバノミラー16と瞳投影レンズ17などを経由し、試料内の蛍光試薬を励起する。
【0023】
その結果として試料から放射される蛍光は、光路を励起光と逆に進む。つまり、瞳投影レンズ17とガルバノミラー16を経由して、スリット29を通過し、KTN結晶25へ入射される。このとき、蛍光もKTN結晶25によって偏向されるが、蛍光は励起光よりも波長が長い(ストークスシフト)ことによって、励起光路とは異なる方向に進む。つまり、励起光と蛍光がKTN結晶25によって分離される。
【0024】
また、一般にレーザー光は直線偏光であるが、観察光としての蛍光は直線偏光とは限らない。つまり、KTN結晶25に入射した蛍光は有効方向の直線偏光による偏向と、その直行成分の直線偏光による偏向によって、3つの異なる方向(一つは直行)に分離される。さらに、観察光である蛍光はある程度の波長帯域をもって射出されるので、このことによってもKTN結晶25に入射した蛍光は分散してしまう。
【0025】
この3種類の光線はすべて観察光であるので、これらすべてを検出する構成を後段に備える。
本構成例ではKTN結晶25から射出された3つの光線を結像レンズ20によって共焦点スリット30に結像させる。この部分は本来、共焦点ピンホール21であったものである。本構成例ではKTN結晶25によって観察光が3つに分離してしまうために、その分離方向に開口したスリットを配置して共焦点効果を作り出す。
【0026】
その後、共焦点スリット30を通過した蛍光をリレーレンズ31など使って検出器24へ導く。このとき、ダイクロイックミラー22や不図示のフィルタなどをつかって蛍光を光線分離し、複数の検出器24によって検出する構成が好ましい。
【実施例2】
【0027】
図7は本発明の実施の一形態によるスキャンユニット5の内部構成の概略図である。同図において、レーザーユニットからファイバーケーブルを通じて導入された多波長レーザー光は、ミラー14などによってKTN結晶25に入射される。そこで電圧印加により偏向角を制御し、後段のスリット29を通過できる波長のレーザーを選択する。その後、レーザーはガルバノミラー16と瞳投影レンズ17などを経由し、試料内の蛍光試薬を励起する。
【0028】
その結果として試料から放射される蛍光は、光路を励起光と逆に進む。つまり、瞳投影レンズ17とガルバノミラー16を経由して、スリット29を通過し、KTN結晶25へ入射される。このとき、蛍光もKTN結晶25によって偏向されるが、蛍光は励起光よりも波長が長い(ストークスシフト)ことによって、励起光路とは異なる方向に進む。つまり、励起光と蛍光がKTN結晶25によって分離される。
【0029】
このとき本構成例では、もう一つのKTN結晶32を配置して、KTN結晶25によって発生した分散をKTN結晶32によって相殺させる。その後、結像レンズ20によって共焦点ピンホール21に集光させる。
【0030】
その後、共焦点ピンホール21を通過した蛍光をリレーレンズなど使って検出器24へ導く。このとき、ダイクロイックミラー22や不図示のフィルタなどをつかって蛍光を光線分離し、複数の検出器24によって検出する構成は好ましい。
【実施例3】
【0031】
図8は本発明の実施の一形態によるスキャンユニット5の内部構成の概略図である。本構成では、共焦点ピンホールより検出器寄りにKTN結晶を配置する。同図において、レーザーユニットからファイバーケーブルを通じて導入された多波長レーザー光は、ミラー14などによってKTN結晶25に入射される。そこで電圧印加により偏向角を制御し、後段の共焦点ピンホール21を通過できる波長のレーザーを選択する。このとき共焦点ピンホール21を通過できるように結像レンズ20をその前後に配置する。その後、レーザーはガルバノミラー16と瞳投影レンズ17などを経由し、試料内の蛍光試薬を励起する。
【0032】
その結果として試料から放射される蛍光は、光路を励起光と逆に進む。つまり、瞳投影レンズ17とガルバノミラー16を経由して、共焦点ピンホール21と結像レンズ20を通過し、KTN結晶25へ入射される。
【0033】
この構成ではKTN結晶25の偏光特性による光線の分離を避けるために、KTN結晶25の前段に偏光面を揃える工夫を施す。単純に偏光板を挿入することが考えられるが、ここでは偏光ビームスプリッターを使った構成を用いる。
【0034】
図8に示される構成例では、共焦点ピンホール21とKTN結晶25の間に偏光ビームスプリッター33を挿入して、有効方向偏光とそれに直行する偏光に分解する。その後、有効方向偏光に直行する偏光をλ/2位相板34を通過させて偏光面を90度回転させる。その後、合成光学部材35によって元の光路へ戻す。この結果、光量の損失を抑えながら観察光の偏光面を揃えることができる。なお、図中のミラー36は光線を適切に導くために配置されている。
【0035】
このように偏光面を揃えた場合には、KTN結晶25の偏光特性の影響を受けることがなく、蛍光と励起光を分離することができる。本構成ではKTN結晶25によって、さらに分光を行う。
【0036】
すでに説明したように、KTN結晶25は分散を持っている光学素子である。つまり、検出器24との間に2枚のリレーレンズ31によって結像面を作った場合には、その面上では波長ごとに分光された像が生成されている。本構成ではこの結像面にスリット37を配置して、所望の波長を選択することができるようにする。このときスリット37は可変にすることが望ましい。
【0037】
以下では、本発明による上記のレーザー走査型顕微鏡によって実現される走査方法について説明する。
図9は従来の走査方法(a)と本発明の実施による走査方法(b)の比較をするためのフローチャートである。
【0038】
従来の走査方法(a)では、はじめのピクセルに対して励起光を照射する(S1)。それと同時に蛍光の測定を行う(S2)。その後、ガルバノミラーなどの走査手段によってピクセルを移動する(S3)。この走査を観察領域のすべてのピクセルに対して繰り返す。その後、励起光の切り替えを行う(S4)。そして利用するすべての励起光に対して上記の作業を行うことによってフレームを生成する。また、ラスタースキャンの1ライン毎に励起光波長を切り替えながら多波長蛍光画像のフレームを生成することも行われていた。
【0039】
一方、本発明の実施による走査方法(b)では、はじめのピクセルに対して励起光を照射、同時に蛍光の測定を行う(S5,S6)ことは同じである。その後、KTN結晶の印加電圧を変更して励起光の切り替えを行う(S7)。これを利用するすべての励起光に対して上記の作業を行う。その後、ガルバノミラーなどの走査手段によってピクセルを移動する(S8)。この走査を観察領域のすべてのピクセルに対して繰り返すことによってフレームを生成する。つまり、KTN結晶は作動時間が非常に短い(数MHz)ので、ピクセル毎に励起光を切り換えながらの走査を可能にするのである。
【0040】
以上のように、本発明によれば励起光波長を高速に切り換えることができるレーザー走査型顕微鏡が提供される。
【図面の簡単な説明】
【0041】
【図1】一般的な形のレーザー走査型顕微鏡の模式図である。
【図2】従来のレーザー走査型顕微鏡の内部構成を説明する概略図である。
【図3】KTN結晶の働きについて説明する図である。
【図4】KTN結晶にランダム偏光が入射した場合の作用を説明する図である。
【図5】KTN結晶を使って波長選択を行うための基本構成の図である。
【図6】本発明の実施例1によるスキャンユニットの内部構成の概略図である。
【図7】本発明の実施例2によるスキャンユニットの内部構成の概略図である。
【図8】本発明の実施例3によるスキャンユニットの内部構成の概略図である。
【図9】従来の走査方法と本発明の実施による走査方法の比較をするためのフローチャートである。
【符号の説明】
【0042】
1・・・顕微鏡本体
2・・・ステージ
3・・・試料
4・・・対物レンズ
5・・・スキャンユニット
6・・・レーザーユニット
7・・・ファイバーケーブル
8・・・コンピュータ端末
9・・・レーザー光源
10・・・ダイクロイックミラー
11・・・ミラー
12・・・AOTF
13・・・ファイバーカップリング機構
14・・・ミラー
15・・・ダイクロイックミラー
16・・・ガルバノミラー
17・・・瞳投影レンズ
18・・・結像レンズ
19・・・ミラー
20・・・結像レンズ
21・・・共焦点ピンホール
22・・・ダイクロイックミラー
23・・・ミラー
24・・・検出器
25・・・KTN結晶
26・・・電極
27・・・電子
28・・・電界傾斜
29・・・スリット
30・・・共焦点スリット
31・・・リレーレンズ
32・・・KTN結晶
33・・・偏光ビームスプリッター
34・・・λ/2位相板
35・・・合成光学部材
36・・・ミラー
37・・・スリット

【特許請求の範囲】
【請求項1】
複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型顕微鏡において、
前記複数波長のレーザーを入射し、所望の波長のレーザーのみを選択的に前記試料に照射するための光路に射出する、電圧の印加により内部に屈折率のグラディエーションが誘起される電気光学結晶と、
前記所望の波長のレーザーによって励起された前記試料内の蛍光物質から放射された蛍光が前記電気光学結晶を通過した後の結像面に配置される、前記電気光学結晶の屈折率傾斜の方向に開口した共焦点スリットと
を備え、前記電気光学結晶に印加する電圧を制御することによって、前記所望の波長のレーザーを動的に切り換えることを特徴とするレーザー走査型顕微鏡。
【請求項2】
複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型顕微鏡において、
前記複数波長のレーザーを入射し、所望の波長のレーザーのみを選択的に前記試料に照射するための光路に射出する第一の電気光学結晶と、
前記所望の波長のレーザーによって励起された前記試料内の蛍光物質から放射された蛍光が前記第一の電気光学結晶を通過した後の光路に配置される、前記第一の電気光学結晶によって生じる光線分離を相殺させる第二の電気光学結晶と
を備え、前記第一と第二の電気光学結晶に印加する電圧を制御することによって、前記所望の波長のレーザーを動的に切り換えることを特徴とするレーザー走査型顕微鏡。
【請求項3】
複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査型顕微鏡において、
前記複数波長のレーザーを入射し、所望の波長のレーザーのみを選択的に前記試料に照射するための光路に射出する電気光学結晶と、
前記電気光学結晶と前記試料との間の前記試料と光学的に共役な位置に配置される共焦点ピンホールと、
前記共焦点ピンホールと前記電気光学結晶の間に配置された、入射光を前記電気光学結晶の有効方向の直線偏光に変換する偏光面変換手段と、
前記所望の波長のレーザーによって励起された前記試料内の蛍光物質から放射された蛍光が前記電気光学結晶を通過した後の結像面に配置される、前記電気光学結晶の屈折率傾斜の方向に直交した開口を持ち、所望の波長の蛍光を選択的に通過させるスリットと
を備え、前記電気光学結晶に印加する電圧を制御することによって、前記所望の波長のレーザーを動的に切り換えることを特徴とするレーザー走査型顕微鏡。
【請求項4】
前記偏光面変換手段は偏光ビームスプリッターとλ/2位相板を組み合わせて構成されることを特徴とする請求項3に記載のレーザー走査型顕微鏡。
【請求項5】
前記電気光学結晶がKTa1-xNbxO3である、請求項1から4のいずれかに記載のレーザー走査型顕微鏡。
【請求項6】
請求項1から請求項5の何れかに記載のレーザー走査型顕微鏡を使ったレーザー走査方法において、
ピクセルごとに前記複数波長のレーザーを切り換えて試料に照射するレーザー走査方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図6】
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【図7】
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【図9】
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【図5】
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【図8】
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【公開番号】特開2008−203301(P2008−203301A)
【公開日】平成20年9月4日(2008.9.4)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2007−35915(P2007−35915)
【出願日】平成19年2月16日(2007.2.16)
【出願人】(000000376)オリンパス株式会社 (11,466)
【Fターム(参考)】