分析装置
【課題】 光ディスク１の偏心成分による光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布のずれを補正し、光ディスク１の任意の測定チャンバにおいて試料を正確に光学測定できる分析装置を提供する。
【解決手段】 光ピックアップユニット７における光学レンズ５の位置を検出するレンズ位置検出手段１０と、所定の測定チャンバを検出するトリガマーク検出手段１２と、所定の測定チャンバにおけるレンズ位置検出手段１０の出力信号を記憶し、所定のチャンバ領域以外においても光ピックアップユニット制御信号として出力する制御信号検出手段１６とを備え、光ピックアップユニット制御信号を元に光ピックアップユニット７の位置を制御する。
【解決手段】 光ピックアップユニット７における光学レンズ５の位置を検出するレンズ位置検出手段１０と、所定の測定チャンバを検出するトリガマーク検出手段１２と、所定の測定チャンバにおけるレンズ位置検出手段１０の出力信号を記憶し、所定のチャンバ領域以外においても光ピックアップユニット制御信号として出力する制御信号検出手段１６とを備え、光ピックアップユニット制御信号を元に光ピックアップユニット７の位置を制御する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク上に形成された流路およびチャンバによって、分離、攪拌、移送、試薬反応させた試料に光を照射し、透過光又は反射光によって反応度合いを測定する分析装置に関し、より詳細には、測定位置において分析装置のレンズ位置と半導体レーザの光強度分布の位置関係を好適にする技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の分析装置を図５および図６を用いて説明する。
【０００３】
図５において光ディスク１は、螺旋状または同心円状のトラックと、試料の分離、攪拌、移送、試薬反応、測定を行うための流路およびチャンバを有している。また、図６に示すように、各測定位置を検出するためのトリガマーク３が外縁部分に印刷されている。トリガマーク３は、複数の測定チャンバ２の円周位置および順番の情報を含んだ所定のパターンによって構成される。
【０００４】
光ディスク１は回転駆動手段４によって回転される。光ディスク１の流路に挿入された試料は、回転駆動手段４による加速・減速・停止・一定回転・逆回転などの制御により、分離、攪拌、移送、試薬反応の各処理が行われ、測定チャンバ２に挿入される。
【０００５】
また、光ピックアップユニット７は、半導体レーザ、光学レンズ５、アクチュエータ６によって構成される。
【０００６】
半導体レーザは、光学レンズ５によって集束され、光ディスク１に照射される。
【０００７】
光ディスク１からの反射光は光ピックアップユニット７内に搭載された図示しないフォトディテクタにより検出さる。フォトディテクタによる検出信号はサーボエラー信号生成手段８に入力される。サーボエラー信号生成手段８は、半導体レーザの集束光を光ディスク１の反射面および、トラックに追従するための信号をそれぞれフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号として生成する。
【０００８】
フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号はアクチュエータ制御手段９により信号処理され、半導体レーザの集束光が光ディスク１のディスク面およびトラックに追従するように制御される。
【０００９】
ここで、アクチュエータ制御手段９はＰＩＤサーボフィルタなどの信号処理手段やアクチュエータを駆動するための駆動手段が含まれる。
【００１０】
レンズ位置検出手段１０はトラッキングエラー信号の低域成分からレンズ位置検出信号を生成する。
【００１１】
レンズ位置検出信号はトラバースフィルタ１５によって処理され、光ピックアップユニット制御信号を生成する。光ピックアップユニット７は光ピックアップユニット制御信号によって駆動される。ここで、トラバースフィルタ１５には、光ピックアップユニットが光ディスク１の偏心成分に追従しないように、たとえばディスク回転周期の成分を減衰させるノッチフィルタや、または不感帯領域を設けたフィルタが用いられる。ここで、半導体レーザの光強度分布はガウス分布となっており、光ピックアップユニット７は偏心に追従している光学レンズ５が半導体レーザの光強度分布を中心に稼動するように制御されている。
【００１２】
一方、トリガマーク検出手段１２は、所定の測定チャンバの円周上の位置を検出し、そのタイミングで光検出手段１３の測定データを検出データ取得手段１４により取得する。
【００１３】
以上より、所定の測定チャンバに挿入された処理後の試料に半導体レーザが照射され、その透過光または反射光が光検出手段１３によって検出される。
【特許文献１】特開２００４−２３９７９０号公報
【特許文献２】特開２００３−２７０１２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、前記従来の構成では、半導体レーザの集束光が光ディスク１のトラックに追従する際、集束光は光ディスク１のトラックの偏心成分に追従するために、測定チャンバ２の位置によってはレンズシフトによる集束光の光量ダウンが生じ、測定結果に影響を及ぼすという問題を有している。
【００１５】
課題の詳細を図７および図８を用いて説明する。
【００１６】
図７は偏心がある光ディスク１の概略図を示したものである。実線はディスク回転中心からの等距離を示し、測定チャンバ２は実線上にあるとする。また、破線は概略のトラック軌道を示しており、偏心成分を含んでいる。
【００１７】
また図８はそれぞれの測定チャンバにおける光ピックアップユニット７および光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布（ｂ）の位置相関を示したものである。
【００１８】
半導体レーザの集束光は図７に示す光ディスク１の偏心成分に追従する。一方、光ピックアップユニット７は光ディスク１の偏心成分に追従しないようにトラバースフィルタ１５によって偏心成分を減衰または削除させている。
【００１９】
このとき、たとえば、図７（ア）または図７（オ）の位置にある測定チャンバを測定しようとすると、光ピックアップユニット７と光学レンズ５の位置関係は図８（ア’）または図８（オ’）に示すようになる。また、光ディスク１を一周分トレースした場合の光学レンズ５の稼動範囲は光ディスク１の偏心成分が存在するために（ａ）に示す矢印の範囲となっている。このとき、半導体レーザの光強度分布（ｂ）は、光学レンズ５と一直線上になり、光量ダウンは発生しないが、図７（ウ）または図７（キ）の位置にある測定チャンバを測定しようとすると、光ピックアップユニット７と光学レンズ５の位置関係は図８（ウ’）または図８（キ’）に示すようになり、このとき、半導体レーザの光強度分布（ｂ）と光学レンズ５はずれてしまい、光量ダウンが発生してしまう。
【００２０】
同様に図７（イ）または図７（エ）または図７（カ）または図７（ク）の位置にある測定チャンバを測定しようとすると、光ピックアップユニット７と光学レンズ５との位置関係は図８（イ’）または図８（エ’）または図８（カ’）または図８（ク’）に示すようになり、図８（ウ’）および図８（キ’）の状態ほどではないがレンズシフトによる光量ダウンが発生してしまう。
【００２１】
すなわち、光ディスク１の複数の測定チャンバの透過光または反射光を測定しようとすると、測定チャンバ２と光ディスク１の偏心成分の位置関係によって、光学レンズ５が半導体レーザの光強度分布の中心からはずれることとなり、すなわちレンズシフト状態となる場合があり、半導体レーザの集束光の光量が低下し、それぞれの測定チャンバでの測定値が異なるという課題を有していた。
【００２２】
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、光ディスク１のそれぞれの測定チャンバにおいて、正確な測定が行える分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
前記従来の課題を解決するために、本発明は、内部にチャンバが設けられた光ディスクを回転させて前記チャンバに収容された検体を分析する分析装置において、前記光ディスクに向けてレーザ光を照射する照射手段と、前記照射手段が照射するレーザ光を前記光ディスク上に集束させる光学レンズと、前記光ディスクが前記光学レンズにより集束されたレーザ光に基づいて発する反射光をもとに前記光学レンズにより集束されたレーザ光の前記ディスク上における照射位置と前記ディスク上におけるトラックの位置とのずれを検出する第１検出手段と、前記ずれに基づいて前記レーザ光が前記トラック上に集束するように前記光学レンズを移動させる移動手段と、前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正手段と、を備えてなる。
【００２４】
さらに、本発明は、前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれを検出する第２検出手段を備え、前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれに基づいて前記光学レンズが集束させるレーザ光の光量が最大となる位置に前記補正手段が前記照射手段を移動させてなる。
【００２５】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が前記光学レンズを検出する検出位置を示すマークが前記光ディスクに付されてなる。
【００２６】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が検出した前記ずれからなるずれ情報を記憶する第１記憶手段を備え、前記補正手段が前記マークの示す検出位置以外においては前記第１記憶手段が記憶する前記ずれ情報に基づいて前記照射手段を移動させてなる。
【００２７】
さらに、本発明は、前記補正手段が、前記光ディスク上における前記光学レンズの位置ごとに前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正情報を記憶する第２記憶手段と、前記第２記憶手段から前記補正情報を読み出して前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する第２補正手段と、を備えてなる。
【００２８】
さらに、本発明は、前記補正情報が、検体が前記チャンバに収容される前における前記反射光の光量情報でなる。
【００２９】
さらに、本発明は、いずれかのチャンバを透過するレーザ光またはいずれかのチャンバで反射されるレーザ光、の光量からなる光量情報と前記第２記憶手段の記憶する補正情報とに基づいて前記第２補正手段が前記変化量を補正してなる。
【００３０】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が、前記レーザ光に基づいて前記光ディスクから発せられる、反射光または透過光、をもとに生成される信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて、前記光学レンズの位置を検出してなる。
【００３１】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が前記光学レンズの位置を光学センサにより検出してなる。
【００３２】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が、前記光学レンズの移動を制御する信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて前記光学レンズの位置を検出してなる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明の分析装置によれば、トラック偏心の大きな光ディスクにおいても、任意の測定チャンバにおいて半導体レーザの集束光の光量低下を防ぐことができ、測定精度を向上させることができる。
【００３４】
また、本発明の分析装置によれば、トラック偏心の大きな光ディスクにおいても、任意の測定チャンバにおいて光検出光量の補正を行うことができ、測定精度を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
以下に、本発明の分析装置の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
【実施例１】
【００３６】
図１は、本発明の第１の実施例における分析装置のブロック図を示す。
【００３７】
また、図２は本発明の第１の実施例における制御信号検出手段の動作図を示す。
【００３８】
また、図６は光ディスク１の外観図を示す。
【００３９】
また、図７は測定チャンバと光ディスクの偏心成分の相関図を示す。
【００４０】
図１において、光ディスク１は、螺旋状または同心円状のトラックと、試料の分離、攪拌、移送、試薬反応、測定を行うための流路およびチャンバとを有している。また、図６に示すように、各測定位置を検出するためのトリガマーク３が円周に印刷されている。トリガマーク３は、複数の測定チャンバ２の円周位置および順番の情報を含んだ所定のパターンによって構成される。
【００４１】
光ディスク１は回転駆動手段４によって回転される。光ディスク１の流路に挿入された試料は、回転駆動手段４による加速・減速・停止・一定回転・逆回転などの制御により、分離、攪拌、移送、試薬反応の各処理が行われ、測定チャンバ２に挿入される。
【００４２】
また、光ピックアップユニット７は、半導体レーザ、光学レンズ５、アクチュエータ６によって構成される。
【００４３】
半導体レーザは、光学レンズ５によって集束され、光ディスク１に照射される。
【００４４】
光ディスク１からの反射光は光ピックアップユニット７内に搭載された図示しないフォトディテクタにより検出さる。フォトディテクタによる検出信号はサーボエラー信号生成手段８に入力される。サーボエラー信号生成手段８は、半導体レーザの集束光を光ディスク１の反射面および、トラックに追従するための信号をそれぞれフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号として生成する。
【００４５】
フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号はアクチュエータ制御手段９により信号処理され、半導体レーザの集束光が光ディスク１のディスク面およびトラックに追従するように制御される。
【００４６】
ここで、アクチュエータ制御手段９はＰＩＤサーボフィルタなどの信号処理手段やアクチュエータを駆動するための駆動手段が含まれる。
【００４７】
レンズ位置検出手段１０はトラッキングエラー信号の低域成分からレンズ位置検出信号を生成する。
【００４８】
トリガマーク検出手段１２は光ディスク１のトリガマーク３を検出したトリガマーク検出信号（ケ）から、所定の測定チャンバにおける測定チャンバ検出信号（サ）を出力する。制御信号検出手段１６は、測定チャンバ検出信号（サ）と同じタイミングでレンズ位置検出信号（シ）の値を記憶し、測定チャンバ検出信号（サ）が出力されていない部分では記憶された値を光ピックアップユニット制御信号（ス）として出力する。光ピックアップユニット制御手段１１は、光ピックアップユニット制御信号（ス）を元に光ピックアップユニット７の制御を行う。すなわち、光ピックアップユニット７は所定の測定チャンバにおいて半導体レーザの光強度分布と光学レンズ５が一直線となるように制御される。
【００４９】
たとえば、測定チャンバが図７（ア）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（ア’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５０】
たとえば、測定チャンバが図７（イ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（イ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５１】
たとえば、測定チャンバが図７（ウ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（ウ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５２】
たとえば、測定チャンバが図７（エ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（エ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５３】
たとえば、測定チャンバが図７（オ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（オ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５４】
たとえば、測定チャンバが図７（カ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（カ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５５】
たとえば、測定チャンバが図７（キ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（キ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５６】
たとえば、測定チャンバが図７（ク）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（ク’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５７】
一方、トリガマーク検出手段１２は、所定の測定チャンバの円周上の位置を検出し、そのタイミングで光検出手段１３の測定データを検出データ取得手段１４により取得する。
【００５８】
以上より、所定の測定チャンバに挿入された処理後の試料に半導体レーザが照射され、その透過光または反射光が検出される。
【００５９】
以上のように、本実施例１においては光ピックアップユニット７を所定の測定チャンバの位置でのレンズ位置検出信号を光ピックアップユニット制御信号として制御することにより、所定の測定チャンバにおいて半導体レーザの光強度分布の中心位置に光学レンズ５が位置するように制御し、光ディスク１の任意の測定チャンバにおいて偏心による半導体レーザの光量ダウンがなく、正確な測定を行うことができる。
【００６０】
また、本実施例１では、レンズ位置検出手段として光学センサを用いることもできる。
【００６１】
また、本実施例１では、レンズ位置検出手段をアクチュエータ駆動信号の低域成分から検出する構成にすることもできる。ここで、アクチュエータ駆動信号の低域成分とは、アクチュエータ駆動信号のうち、光ディスクの回転周期成分のみを抜き出した信号成分をいうものとする。
【実施例２】
【００６２】
図３は、本発明の第２の実施例における分析装置のブロック図を示す。
【００６３】
また、図６は光ディスク１の外観図を示す。
【００６４】
また、図４は各測定チャンバにおける光検出光量を示す。
【００６５】
また、図７は測定チャンバと光ディスクの偏心成分の相関図を示す。
【００６６】
図３において、光ディスク１は、螺旋状または同心円状のトラックと、試料の分離、攪拌、移送、試薬反応、測定を行うための流路およびチャンバとを有している。また、図６に示すように、各測定位置を検出するためのトリガマーク３が円周に印刷されている。トリガマーク３は、複数の測定チャンバ２の円周位置および順番の情報を含んだ所定のパターンによって構成される。
【００６７】
光ディスク１は回転駆動手段４によって回転される。
【００６８】
また、光ピックアップユニット７は、半導体レーザ、光学レンズ５、アクチュエータ６によって構成される。
【００６９】
半導体レーザは、光学レンズ５によって集束され、光ディスク１に照射される。
【００７０】
光ディスク１からの反射光は光ピックアップユニット７内に搭載された図示しないフォトディテクタにより検出さる。フォトディテクタによる検出信号はサーボエラー信号生成手段８に入力される。サーボエラー信号生成手段８は、半導体レーザの集束光を光ディスク１の反射面および、トラックに追従するための信号をそれぞれフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号として生成する。
【００７１】
フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号はアクチュエータ制御手段９により信号処理され、半導体レーザの集束光が光ディスク１のディスク面およびトラックに追従するように制御される。
【００７２】
ここで、アクチュエータ制御手段９はＰＩＤサーボフィルタなどの信号処理手段やアクチュエータを駆動するための駆動手段が含まれる。
【００７３】
レンズ位置検出手段１０はトラッキングエラー信号の低域成分からレンズ位置検出信号を生成する。ここで、トラッキングエラー信号の低域成分とは、トラッキングエラー信号のうち、光ディスクの回転周期成分のみを抜き出した信号成分をいうものとする。
【００７４】
光検出光量補正手段１７では、試料が挿入されていない各測定チャンバにおいて、レンズ位置検出手段１０による光学レンズ５のレンズ位置と、光検出手段１３による光検出光量との相関を取る。たとえば、レンズ位置による各測定チャンバにおける光検出光量が同一となるような測定チャンバ毎の補正係数をあらかじめ求めておく。
【００７５】
具体的には、図７に示す測定チャンバ（ア）、（イ）、（ウ）、（エ）、（オ）、（カ）、（キ）および（ク）に対応する図４に示す光検出光量をそれぞれ（ア’’’）、（イ’’’）、（ウ’’’）、（エ’’’）、（オ’’’）、（カ’’’）、（キ’’’）および（ク’’’）とすると、測定チャンバ（ア）の光検出光量（ア’’’）での係数を１とすると、測定チャンバ（イ）、（ウ）、（エ）、（オ）、（カ）、（キ）および（ク）での光検出係数はそれぞれ、（ア’’’）／（イ’’’）、（ア’’’）／（ウ’’’）、（ア’’’）／（エ’’’）、（ア’’’）／（オ’’’）、（ア’’’）／（カ’’’）、（ア’’’）／（キ’’’）および（ア’’’）／（ク’’’）となる。
【００７６】
光ディスク１の流路に挿入された試料は、回転駆動手段４による加速・減速・停止・一定回転・逆回転などの制御により、分離、攪拌、移送、試薬反応の各処理が行われ、測定チャンバ２に挿入される。
【００７７】
光検出光量補正手段１７は、試料が挿入された測定チャンバにおける光検出手段１３の出力に、上述したレンズ位置検出手段１０によるレンズ位置との相関による補正係数を乗じる。
【００７８】
トリガマーク検出手段１２は、所定の測定チャンバの円周上の位置を検出し、そのタイミングで光検出光量補正手段１７の出力データを検出データ取得手段１４により取得する。
【００７９】
以上より、所定の測定チャンバに挿入された処理後の試料に半導体レーザが照射され、その透過光または反射光が検出される。
【００８０】
以上のように、本実施例２においては光検出手段１３の出力を、光検出光量補正手段１７にて、あらかじめ求められた係数により補正してやることで、正確な測定を行うことができる。
【００８１】
また、本実施例２では、レンズ位置検出手段として光学センサを用いることもできる。
【００８２】
また、本実施例２では、レンズ位置検出手段をアクチュエータ駆動信号の低域成分から検出する構成にすることもできる。
【産業上の利用可能性】
【００８３】
本発明にかかる分析装置は、トラック偏心の大きな光ディスク上のどの測定チャンバにおいても半導体レーザの集束光の光量低下を防ぐことができ、光学特性を用いた生化学物質の測定などに有用である。
【００８４】
また、本発明にかかる分析装置は、トラック偏心の大きな光ディスク上のどの測定チャンバにおいても半導体レーザの集束光を補正することができ、光学特性を用いた生化学物質の測定などに有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の実施例１における分析装置のブロック図
【図２】本発明の制御信号検出手段における動作図
【図３】本発明の実施例２における分析装置のブロック図
【図４】各測定チャンバにおける光検出光量を示す図
【図５】従来の分析装置のブロック図
【図６】光ディスクの外観図
【図７】測定チャンバと光ディスクの偏心成分の相関図
【図８】各測定チャンバにおける光ピックアップユニットおよび光学レンズおよび半導体レーザの光強度分布の位置相関図
【符号の説明】
【００８６】
１ 光ディスク
２ 測定チャンバ
３ トリガマーク
４ 回転駆動手段
５ 光学レンズ
６ アクチュエータ
７ 光ピックアップユニット
８ サーボエラー信号生成手段
９ アクチュエータ制御手段
１０ レンズ位置検出手段
１１ 光ピックアップユニット制御手段
１２ トリガマーク検出手段
１３ 光検出手段
１４ 検出データ取得手段
１５ トラバースフィルタ
１６ 制御信号検出手段
１７ 光検出光量補正手段
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク上に形成された流路およびチャンバによって、分離、攪拌、移送、試薬反応させた試料に光を照射し、透過光又は反射光によって反応度合いを測定する分析装置に関し、より詳細には、測定位置において分析装置のレンズ位置と半導体レーザの光強度分布の位置関係を好適にする技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の分析装置を図５および図６を用いて説明する。
【０００３】
図５において光ディスク１は、螺旋状または同心円状のトラックと、試料の分離、攪拌、移送、試薬反応、測定を行うための流路およびチャンバを有している。また、図６に示すように、各測定位置を検出するためのトリガマーク３が外縁部分に印刷されている。トリガマーク３は、複数の測定チャンバ２の円周位置および順番の情報を含んだ所定のパターンによって構成される。
【０００４】
光ディスク１は回転駆動手段４によって回転される。光ディスク１の流路に挿入された試料は、回転駆動手段４による加速・減速・停止・一定回転・逆回転などの制御により、分離、攪拌、移送、試薬反応の各処理が行われ、測定チャンバ２に挿入される。
【０００５】
また、光ピックアップユニット７は、半導体レーザ、光学レンズ５、アクチュエータ６によって構成される。
【０００６】
半導体レーザは、光学レンズ５によって集束され、光ディスク１に照射される。
【０００７】
光ディスク１からの反射光は光ピックアップユニット７内に搭載された図示しないフォトディテクタにより検出さる。フォトディテクタによる検出信号はサーボエラー信号生成手段８に入力される。サーボエラー信号生成手段８は、半導体レーザの集束光を光ディスク１の反射面および、トラックに追従するための信号をそれぞれフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号として生成する。
【０００８】
フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号はアクチュエータ制御手段９により信号処理され、半導体レーザの集束光が光ディスク１のディスク面およびトラックに追従するように制御される。
【０００９】
ここで、アクチュエータ制御手段９はＰＩＤサーボフィルタなどの信号処理手段やアクチュエータを駆動するための駆動手段が含まれる。
【００１０】
レンズ位置検出手段１０はトラッキングエラー信号の低域成分からレンズ位置検出信号を生成する。
【００１１】
レンズ位置検出信号はトラバースフィルタ１５によって処理され、光ピックアップユニット制御信号を生成する。光ピックアップユニット７は光ピックアップユニット制御信号によって駆動される。ここで、トラバースフィルタ１５には、光ピックアップユニットが光ディスク１の偏心成分に追従しないように、たとえばディスク回転周期の成分を減衰させるノッチフィルタや、または不感帯領域を設けたフィルタが用いられる。ここで、半導体レーザの光強度分布はガウス分布となっており、光ピックアップユニット７は偏心に追従している光学レンズ５が半導体レーザの光強度分布を中心に稼動するように制御されている。
【００１２】
一方、トリガマーク検出手段１２は、所定の測定チャンバの円周上の位置を検出し、そのタイミングで光検出手段１３の測定データを検出データ取得手段１４により取得する。
【００１３】
以上より、所定の測定チャンバに挿入された処理後の試料に半導体レーザが照射され、その透過光または反射光が光検出手段１３によって検出される。
【特許文献１】特開２００４−２３９７９０号公報
【特許文献２】特開２００３−２７０１２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、前記従来の構成では、半導体レーザの集束光が光ディスク１のトラックに追従する際、集束光は光ディスク１のトラックの偏心成分に追従するために、測定チャンバ２の位置によってはレンズシフトによる集束光の光量ダウンが生じ、測定結果に影響を及ぼすという問題を有している。
【００１５】
課題の詳細を図７および図８を用いて説明する。
【００１６】
図７は偏心がある光ディスク１の概略図を示したものである。実線はディスク回転中心からの等距離を示し、測定チャンバ２は実線上にあるとする。また、破線は概略のトラック軌道を示しており、偏心成分を含んでいる。
【００１７】
また図８はそれぞれの測定チャンバにおける光ピックアップユニット７および光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布（ｂ）の位置相関を示したものである。
【００１８】
半導体レーザの集束光は図７に示す光ディスク１の偏心成分に追従する。一方、光ピックアップユニット７は光ディスク１の偏心成分に追従しないようにトラバースフィルタ１５によって偏心成分を減衰または削除させている。
【００１９】
このとき、たとえば、図７（ア）または図７（オ）の位置にある測定チャンバを測定しようとすると、光ピックアップユニット７と光学レンズ５の位置関係は図８（ア’）または図８（オ’）に示すようになる。また、光ディスク１を一周分トレースした場合の光学レンズ５の稼動範囲は光ディスク１の偏心成分が存在するために（ａ）に示す矢印の範囲となっている。このとき、半導体レーザの光強度分布（ｂ）は、光学レンズ５と一直線上になり、光量ダウンは発生しないが、図７（ウ）または図７（キ）の位置にある測定チャンバを測定しようとすると、光ピックアップユニット７と光学レンズ５の位置関係は図８（ウ’）または図８（キ’）に示すようになり、このとき、半導体レーザの光強度分布（ｂ）と光学レンズ５はずれてしまい、光量ダウンが発生してしまう。
【００２０】
同様に図７（イ）または図７（エ）または図７（カ）または図７（ク）の位置にある測定チャンバを測定しようとすると、光ピックアップユニット７と光学レンズ５との位置関係は図８（イ’）または図８（エ’）または図８（カ’）または図８（ク’）に示すようになり、図８（ウ’）および図８（キ’）の状態ほどではないがレンズシフトによる光量ダウンが発生してしまう。
【００２１】
すなわち、光ディスク１の複数の測定チャンバの透過光または反射光を測定しようとすると、測定チャンバ２と光ディスク１の偏心成分の位置関係によって、光学レンズ５が半導体レーザの光強度分布の中心からはずれることとなり、すなわちレンズシフト状態となる場合があり、半導体レーザの集束光の光量が低下し、それぞれの測定チャンバでの測定値が異なるという課題を有していた。
【００２２】
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、光ディスク１のそれぞれの測定チャンバにおいて、正確な測定が行える分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
前記従来の課題を解決するために、本発明は、内部にチャンバが設けられた光ディスクを回転させて前記チャンバに収容された検体を分析する分析装置において、前記光ディスクに向けてレーザ光を照射する照射手段と、前記照射手段が照射するレーザ光を前記光ディスク上に集束させる光学レンズと、前記光ディスクが前記光学レンズにより集束されたレーザ光に基づいて発する反射光をもとに前記光学レンズにより集束されたレーザ光の前記ディスク上における照射位置と前記ディスク上におけるトラックの位置とのずれを検出する第１検出手段と、前記ずれに基づいて前記レーザ光が前記トラック上に集束するように前記光学レンズを移動させる移動手段と、前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正手段と、を備えてなる。
【００２４】
さらに、本発明は、前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれを検出する第２検出手段を備え、前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれに基づいて前記光学レンズが集束させるレーザ光の光量が最大となる位置に前記補正手段が前記照射手段を移動させてなる。
【００２５】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が前記光学レンズを検出する検出位置を示すマークが前記光ディスクに付されてなる。
【００２６】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が検出した前記ずれからなるずれ情報を記憶する第１記憶手段を備え、前記補正手段が前記マークの示す検出位置以外においては前記第１記憶手段が記憶する前記ずれ情報に基づいて前記照射手段を移動させてなる。
【００２７】
さらに、本発明は、前記補正手段が、前記光ディスク上における前記光学レンズの位置ごとに前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正情報を記憶する第２記憶手段と、前記第２記憶手段から前記補正情報を読み出して前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する第２補正手段と、を備えてなる。
【００２８】
さらに、本発明は、前記補正情報が、検体が前記チャンバに収容される前における前記反射光の光量情報でなる。
【００２９】
さらに、本発明は、いずれかのチャンバを透過するレーザ光またはいずれかのチャンバで反射されるレーザ光、の光量からなる光量情報と前記第２記憶手段の記憶する補正情報とに基づいて前記第２補正手段が前記変化量を補正してなる。
【００３０】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が、前記レーザ光に基づいて前記光ディスクから発せられる、反射光または透過光、をもとに生成される信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて、前記光学レンズの位置を検出してなる。
【００３１】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が前記光学レンズの位置を光学センサにより検出してなる。
【００３２】
さらに、本発明は、前記第２検出手段が、前記光学レンズの移動を制御する信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて前記光学レンズの位置を検出してなる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明の分析装置によれば、トラック偏心の大きな光ディスクにおいても、任意の測定チャンバにおいて半導体レーザの集束光の光量低下を防ぐことができ、測定精度を向上させることができる。
【００３４】
また、本発明の分析装置によれば、トラック偏心の大きな光ディスクにおいても、任意の測定チャンバにおいて光検出光量の補正を行うことができ、測定精度を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
以下に、本発明の分析装置の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
【実施例１】
【００３６】
図１は、本発明の第１の実施例における分析装置のブロック図を示す。
【００３７】
また、図２は本発明の第１の実施例における制御信号検出手段の動作図を示す。
【００３８】
また、図６は光ディスク１の外観図を示す。
【００３９】
また、図７は測定チャンバと光ディスクの偏心成分の相関図を示す。
【００４０】
図１において、光ディスク１は、螺旋状または同心円状のトラックと、試料の分離、攪拌、移送、試薬反応、測定を行うための流路およびチャンバとを有している。また、図６に示すように、各測定位置を検出するためのトリガマーク３が円周に印刷されている。トリガマーク３は、複数の測定チャンバ２の円周位置および順番の情報を含んだ所定のパターンによって構成される。
【００４１】
光ディスク１は回転駆動手段４によって回転される。光ディスク１の流路に挿入された試料は、回転駆動手段４による加速・減速・停止・一定回転・逆回転などの制御により、分離、攪拌、移送、試薬反応の各処理が行われ、測定チャンバ２に挿入される。
【００４２】
また、光ピックアップユニット７は、半導体レーザ、光学レンズ５、アクチュエータ６によって構成される。
【００４３】
半導体レーザは、光学レンズ５によって集束され、光ディスク１に照射される。
【００４４】
光ディスク１からの反射光は光ピックアップユニット７内に搭載された図示しないフォトディテクタにより検出さる。フォトディテクタによる検出信号はサーボエラー信号生成手段８に入力される。サーボエラー信号生成手段８は、半導体レーザの集束光を光ディスク１の反射面および、トラックに追従するための信号をそれぞれフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号として生成する。
【００４５】
フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号はアクチュエータ制御手段９により信号処理され、半導体レーザの集束光が光ディスク１のディスク面およびトラックに追従するように制御される。
【００４６】
ここで、アクチュエータ制御手段９はＰＩＤサーボフィルタなどの信号処理手段やアクチュエータを駆動するための駆動手段が含まれる。
【００４７】
レンズ位置検出手段１０はトラッキングエラー信号の低域成分からレンズ位置検出信号を生成する。
【００４８】
トリガマーク検出手段１２は光ディスク１のトリガマーク３を検出したトリガマーク検出信号（ケ）から、所定の測定チャンバにおける測定チャンバ検出信号（サ）を出力する。制御信号検出手段１６は、測定チャンバ検出信号（サ）と同じタイミングでレンズ位置検出信号（シ）の値を記憶し、測定チャンバ検出信号（サ）が出力されていない部分では記憶された値を光ピックアップユニット制御信号（ス）として出力する。光ピックアップユニット制御手段１１は、光ピックアップユニット制御信号（ス）を元に光ピックアップユニット７の制御を行う。すなわち、光ピックアップユニット７は所定の測定チャンバにおいて半導体レーザの光強度分布と光学レンズ５が一直線となるように制御される。
【００４９】
たとえば、測定チャンバが図７（ア）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（ア’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５０】
たとえば、測定チャンバが図７（イ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（イ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５１】
たとえば、測定チャンバが図７（ウ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（ウ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５２】
たとえば、測定チャンバが図７（エ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（エ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５３】
たとえば、測定チャンバが図７（オ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（オ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５４】
たとえば、測定チャンバが図７（カ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（カ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５５】
たとえば、測定チャンバが図７（キ）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（キ’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５６】
たとえば、測定チャンバが図７（ク）の位置にある場合は、光ピックアップユニット７光学レンズ５と半導体レーザの光強度分布（ｂ）との位置関係は図８（ク’’）に示すようになり、光学レンズ５および半導体レーザの光強度分布が一直線となる。
【００５７】
一方、トリガマーク検出手段１２は、所定の測定チャンバの円周上の位置を検出し、そのタイミングで光検出手段１３の測定データを検出データ取得手段１４により取得する。
【００５８】
以上より、所定の測定チャンバに挿入された処理後の試料に半導体レーザが照射され、その透過光または反射光が検出される。
【００５９】
以上のように、本実施例１においては光ピックアップユニット７を所定の測定チャンバの位置でのレンズ位置検出信号を光ピックアップユニット制御信号として制御することにより、所定の測定チャンバにおいて半導体レーザの光強度分布の中心位置に光学レンズ５が位置するように制御し、光ディスク１の任意の測定チャンバにおいて偏心による半導体レーザの光量ダウンがなく、正確な測定を行うことができる。
【００６０】
また、本実施例１では、レンズ位置検出手段として光学センサを用いることもできる。
【００６１】
また、本実施例１では、レンズ位置検出手段をアクチュエータ駆動信号の低域成分から検出する構成にすることもできる。ここで、アクチュエータ駆動信号の低域成分とは、アクチュエータ駆動信号のうち、光ディスクの回転周期成分のみを抜き出した信号成分をいうものとする。
【実施例２】
【００６２】
図３は、本発明の第２の実施例における分析装置のブロック図を示す。
【００６３】
また、図６は光ディスク１の外観図を示す。
【００６４】
また、図４は各測定チャンバにおける光検出光量を示す。
【００６５】
また、図７は測定チャンバと光ディスクの偏心成分の相関図を示す。
【００６６】
図３において、光ディスク１は、螺旋状または同心円状のトラックと、試料の分離、攪拌、移送、試薬反応、測定を行うための流路およびチャンバとを有している。また、図６に示すように、各測定位置を検出するためのトリガマーク３が円周に印刷されている。トリガマーク３は、複数の測定チャンバ２の円周位置および順番の情報を含んだ所定のパターンによって構成される。
【００６７】
光ディスク１は回転駆動手段４によって回転される。
【００６８】
また、光ピックアップユニット７は、半導体レーザ、光学レンズ５、アクチュエータ６によって構成される。
【００６９】
半導体レーザは、光学レンズ５によって集束され、光ディスク１に照射される。
【００７０】
光ディスク１からの反射光は光ピックアップユニット７内に搭載された図示しないフォトディテクタにより検出さる。フォトディテクタによる検出信号はサーボエラー信号生成手段８に入力される。サーボエラー信号生成手段８は、半導体レーザの集束光を光ディスク１の反射面および、トラックに追従するための信号をそれぞれフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号として生成する。
【００７１】
フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号はアクチュエータ制御手段９により信号処理され、半導体レーザの集束光が光ディスク１のディスク面およびトラックに追従するように制御される。
【００７２】
ここで、アクチュエータ制御手段９はＰＩＤサーボフィルタなどの信号処理手段やアクチュエータを駆動するための駆動手段が含まれる。
【００７３】
レンズ位置検出手段１０はトラッキングエラー信号の低域成分からレンズ位置検出信号を生成する。ここで、トラッキングエラー信号の低域成分とは、トラッキングエラー信号のうち、光ディスクの回転周期成分のみを抜き出した信号成分をいうものとする。
【００７４】
光検出光量補正手段１７では、試料が挿入されていない各測定チャンバにおいて、レンズ位置検出手段１０による光学レンズ５のレンズ位置と、光検出手段１３による光検出光量との相関を取る。たとえば、レンズ位置による各測定チャンバにおける光検出光量が同一となるような測定チャンバ毎の補正係数をあらかじめ求めておく。
【００７５】
具体的には、図７に示す測定チャンバ（ア）、（イ）、（ウ）、（エ）、（オ）、（カ）、（キ）および（ク）に対応する図４に示す光検出光量をそれぞれ（ア’’’）、（イ’’’）、（ウ’’’）、（エ’’’）、（オ’’’）、（カ’’’）、（キ’’’）および（ク’’’）とすると、測定チャンバ（ア）の光検出光量（ア’’’）での係数を１とすると、測定チャンバ（イ）、（ウ）、（エ）、（オ）、（カ）、（キ）および（ク）での光検出係数はそれぞれ、（ア’’’）／（イ’’’）、（ア’’’）／（ウ’’’）、（ア’’’）／（エ’’’）、（ア’’’）／（オ’’’）、（ア’’’）／（カ’’’）、（ア’’’）／（キ’’’）および（ア’’’）／（ク’’’）となる。
【００７６】
光ディスク１の流路に挿入された試料は、回転駆動手段４による加速・減速・停止・一定回転・逆回転などの制御により、分離、攪拌、移送、試薬反応の各処理が行われ、測定チャンバ２に挿入される。
【００７７】
光検出光量補正手段１７は、試料が挿入された測定チャンバにおける光検出手段１３の出力に、上述したレンズ位置検出手段１０によるレンズ位置との相関による補正係数を乗じる。
【００７８】
トリガマーク検出手段１２は、所定の測定チャンバの円周上の位置を検出し、そのタイミングで光検出光量補正手段１７の出力データを検出データ取得手段１４により取得する。
【００７９】
以上より、所定の測定チャンバに挿入された処理後の試料に半導体レーザが照射され、その透過光または反射光が検出される。
【００８０】
以上のように、本実施例２においては光検出手段１３の出力を、光検出光量補正手段１７にて、あらかじめ求められた係数により補正してやることで、正確な測定を行うことができる。
【００８１】
また、本実施例２では、レンズ位置検出手段として光学センサを用いることもできる。
【００８２】
また、本実施例２では、レンズ位置検出手段をアクチュエータ駆動信号の低域成分から検出する構成にすることもできる。
【産業上の利用可能性】
【００８３】
本発明にかかる分析装置は、トラック偏心の大きな光ディスク上のどの測定チャンバにおいても半導体レーザの集束光の光量低下を防ぐことができ、光学特性を用いた生化学物質の測定などに有用である。
【００８４】
また、本発明にかかる分析装置は、トラック偏心の大きな光ディスク上のどの測定チャンバにおいても半導体レーザの集束光を補正することができ、光学特性を用いた生化学物質の測定などに有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の実施例１における分析装置のブロック図
【図２】本発明の制御信号検出手段における動作図
【図３】本発明の実施例２における分析装置のブロック図
【図４】各測定チャンバにおける光検出光量を示す図
【図５】従来の分析装置のブロック図
【図６】光ディスクの外観図
【図７】測定チャンバと光ディスクの偏心成分の相関図
【図８】各測定チャンバにおける光ピックアップユニットおよび光学レンズおよび半導体レーザの光強度分布の位置相関図
【符号の説明】
【００８６】
１ 光ディスク
２ 測定チャンバ
３ トリガマーク
４ 回転駆動手段
５ 光学レンズ
６ アクチュエータ
７ 光ピックアップユニット
８ サーボエラー信号生成手段
９ アクチュエータ制御手段
１０ レンズ位置検出手段
１１ 光ピックアップユニット制御手段
１２ トリガマーク検出手段
１３ 光検出手段
１４ 検出データ取得手段
１５ トラバースフィルタ
１６ 制御信号検出手段
１７ 光検出光量補正手段
【特許請求の範囲】
【請求項１】
内部にチャンバが設けられた光ディスクを回転させて前記チャンバに収容された検体を分析する分析装置において、前記光ディスクに向けてレーザ光を照射する照射手段と、前記照射手段が照射するレーザ光を前記光ディスク上に集束させる光学レンズと、前記光ディスクが前記光学レンズにより集束されたレーザ光に基づいて発する反射光をもとに前記光学レンズにより集束されたレーザ光の前記ディスク上における照射位置と前記ディスク上におけるトラックの位置とのずれを検出する第１検出手段と、前記ずれに基づいて前記レーザ光が前記トラック上に集束するように前記光学レンズを移動させる移動手段と、前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正手段と、を備えてなる分析装置。
【請求項２】
前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれを検出する第２検出手段を備え、前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれに基づいて前記光学レンズが集束させるレーザ光の光量が最大となる位置に前記補正手段が前記照射手段を移動させてなる、請求項１に記載の分析装置。
【請求項３】
前記第２検出手段が前記光学レンズを検出する検出位置を示すマークが前記光ディスクに付されてなる、請求項２に記載の分析装置。
【請求項４】
前記第２検出手段が検出した前記ずれからなるずれ情報を記憶する第１記憶手段を備え、前記補正手段が前記マークの示す検出位置以外においては前記第１記憶手段が記憶する前記ずれ情報に基づいて前記照射手段を移動させてなる、請求項３に記載の分析装置。
【請求項５】
前記補正手段が、前記光ディスク上における前記光学レンズの位置ごとに前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正情報を記憶する第２記憶手段と、前記第２記憶手段から前記補正情報を読み出して前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する第２補正手段と、を備えてなる請求項１に記載の分析装置。
【請求項６】
前記補正情報が、検体が前記チャンバに収容される前における前記反射光の光量情報でなる、請求項５に記載の分析装置。
【請求項７】
いずれかのチャンバを透過するレーザ光またはいずれかのチャンバで反射されるレーザ光、の光量からなる光量情報と前記第２記憶手段の記憶する補正情報とに基づいて前記第２補正手段が前記変化量を補正してなる、請求項５に記載の分析装置。
【請求項８】
前記第２検出手段が、前記レーザ光に基づいて前記光ディスクから発せられる、反射光または透過光、をもとに生成される信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて、前記光学レンズの位置を検出してなる、請求項２に記載の分析装置。
【請求項９】
前記第２検出手段が前記光学レンズの位置を光学センサにより検出してなる、請求項２に記載の分析装置。
【請求項１０】
前記第２検出手段が、前記光学レンズの移動を制御する信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて前記光学レンズの位置を検出してなる、請求項２に記載の分析装置。
【請求項１】
内部にチャンバが設けられた光ディスクを回転させて前記チャンバに収容された検体を分析する分析装置において、前記光ディスクに向けてレーザ光を照射する照射手段と、前記照射手段が照射するレーザ光を前記光ディスク上に集束させる光学レンズと、前記光ディスクが前記光学レンズにより集束されたレーザ光に基づいて発する反射光をもとに前記光学レンズにより集束されたレーザ光の前記ディスク上における照射位置と前記ディスク上におけるトラックの位置とのずれを検出する第１検出手段と、前記ずれに基づいて前記レーザ光が前記トラック上に集束するように前記光学レンズを移動させる移動手段と、前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正手段と、を備えてなる分析装置。
【請求項２】
前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれを検出する第２検出手段を備え、前記照射手段の位置と前記光学レンズの位置とのずれに基づいて前記光学レンズが集束させるレーザ光の光量が最大となる位置に前記補正手段が前記照射手段を移動させてなる、請求項１に記載の分析装置。
【請求項３】
前記第２検出手段が前記光学レンズを検出する検出位置を示すマークが前記光ディスクに付されてなる、請求項２に記載の分析装置。
【請求項４】
前記第２検出手段が検出した前記ずれからなるずれ情報を記憶する第１記憶手段を備え、前記補正手段が前記マークの示す検出位置以外においては前記第１記憶手段が記憶する前記ずれ情報に基づいて前記照射手段を移動させてなる、請求項３に記載の分析装置。
【請求項５】
前記補正手段が、前記光ディスク上における前記光学レンズの位置ごとに前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する補正情報を記憶する第２記憶手段と、前記第２記憶手段から前記補正情報を読み出して前記移動手段により移動させられた前記光学レンズにより収束された前記レーザ光の強度の変化量を補正する第２補正手段と、を備えてなる請求項１に記載の分析装置。
【請求項６】
前記補正情報が、検体が前記チャンバに収容される前における前記反射光の光量情報でなる、請求項５に記載の分析装置。
【請求項７】
いずれかのチャンバを透過するレーザ光またはいずれかのチャンバで反射されるレーザ光、の光量からなる光量情報と前記第２記憶手段の記憶する補正情報とに基づいて前記第２補正手段が前記変化量を補正してなる、請求項５に記載の分析装置。
【請求項８】
前記第２検出手段が、前記レーザ光に基づいて前記光ディスクから発せられる、反射光または透過光、をもとに生成される信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて、前記光学レンズの位置を検出してなる、請求項２に記載の分析装置。
【請求項９】
前記第２検出手段が前記光学レンズの位置を光学センサにより検出してなる、請求項２に記載の分析装置。
【請求項１０】
前記第２検出手段が、前記光学レンズの移動を制御する信号のうち、前記光ディスクの回転周期成分のみからなる信号成分に基づいて前記光学レンズの位置を検出してなる、請求項２に記載の分析装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２００６−３２２７２２（Ｐ２００６−３２２７２２Ａ）
【公開日】平成１８年１１月３０日（２００６．１１．３０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−１４３７６５（Ｐ２００５−１４３７６５）
【出願日】平成１７年５月１７日（２００５．５．１７）
【出願人】（０００００５８２１）松下電器産業株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年１１月３０日（２００６．１１．３０）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年５月１７日（２００５．５．１７）
【出願人】（０００００５８２１）松下電器産業株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]