検出装置及び検出プログラム
【課題】処理結果に重複や漏れが発生することを防止すること。
【解決手段】検出装置は、画像表示装置の撮像画像を取得する。また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。そして、検出装置は、種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補や所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。
【解決手段】検出装置は、画像表示装置の撮像画像を取得する。また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。そして、検出装置は、種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補や所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出装置及び検出プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像表示装置の表示領域にある各画素のうち、欠陥画素を検出する検出装置がある。欠陥画素には、消灯指示により消灯しない画素である明欠陥（明点）や、点灯指示により点灯しない画素である暗欠陥（暗点）がある。例えば、明欠陥を検出する場合には、検出装置は、画像表示装置を全表示領域にわたって消灯させ、画像表示装置の画像を撮像する。そして、検出装置は、撮像した撮像画像から消灯しない箇所を検出することで、明欠陥を検出する。
【０００３】
また、例えば、暗欠陥を検出する場合には、検出装置は、画像表示装置の全表示領域にわたって赤色（Ｒ、Red）を点灯させ、画像表示装置の画像を撮像する。そして、検出装置は、撮像した撮像画像から点灯しない箇所を検出することで、赤色についての暗欠陥を検出する。また、検出装置は、同様に、緑色（Ｇ、Green）や青色（Ｂ、Blue）についても暗欠陥を検出する。
【０００４】
また、複数の欠陥画素が直線状に分布した欠陥画素の領域は、「線欠陥」と称される。また、１つ又は少数の欠陥画素が点状に分布した欠陥画素の領域は、「点欠陥」と称される。なお、縦横個別に得たエッジ画像を分割し、領域ごとにプロファイル処理し、統計的に線欠陥候補を抽出する手法もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−１７２５５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、線欠陥を検出するための線欠陥検出処理と、点欠陥を検出するための点欠陥検出処理とを別個に実行する別個手法が考えられる。具体的には、別個手法では、線欠陥を検出する場合には、線欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて欠陥画素候補を検出し、検出した欠陥画素候補から線欠陥を決定する。また、別個手法では、点欠陥を検出する場合には、別途、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて欠陥画素候補を検出し、検出した欠陥画素候補から点欠陥を決定する。
【０００７】
しかしながら、線欠陥検出処理と点欠陥検出処理とを別個に実行すると、処理結果に重複や漏れが発生するという課題があった。別個手法では、線欠陥検出処理と点欠陥検出処理とが、それぞれ異なる検出条件を用いる。このため、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であっても、線欠陥検出処理によって検出された欠陥画素候補のサイズと、点欠陥検出処理によって検出された欠陥画素候補のサイズとが異なる場合があった。この結果、処理結果に重複や漏れが発生する。
【０００８】
例えば、撮像画像内に欠陥画素領域「Ｘ」がある場合を例に、図１８を用いて更に説明する、なお、図１８は、検出結果に重複が発生する場合について説明するための図である。なお、図１８の「７０１」は、撮像画像の一例である。図１８の「７０２ａ〜７０２ｃ」は、それぞれ異なる検出条件を用いて検出された欠陥画素候補を示す。また、図１８の「７０３ａ〜７０３ｃ」は、決定された点欠陥や線欠陥を示す。
【０００９】
この場合、図１８の（１）に示すように、点欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｘ」を、点欠陥のサイズに該当するとして、点欠陥として決定することがある。また、図１８の（２）に示すように、線欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｘ」を、線欠陥のサイズに該当するとして、線欠陥として決定することがある。この結果、処理結果に重複が発生する。
【００１０】
また、例えば、撮像画像内に欠陥画素領域「Ｙ」がある場合を例に用いて、更に説明する。この場合、線欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｙ」を、線欠陥のサイズに該当しないとして、つまり、点欠陥のサイズに該当するとして、線欠陥として決定しないことがある。また、点欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｙ」を、点欠陥のサイズに該当しないとして、つまり、線欠陥のサイズに該当するとして、点欠陥として決定しないことがある。この結果、処理結果に漏れが発生する。
【００１１】
開示の技術は、上述に鑑みてなされたものであって、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能な検出装置及び検出プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
開示の検出装置は、一つの態様において、画像表示装置の撮像画像を取得する取得部を備える。また、検出装置は、前記取得部によって取得された撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する検出部を備える。また、検出装置は、前記検出部によって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補及び／又は所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する移動部を備える。また、検出装置は、前記移動部による移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する決定部を備える。
【発明の効果】
【００１３】
開示の検出装置の一つの態様によれば、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能であるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】図１は、実施例１に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。
【図２】図２は、実施例２に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。
【図３】図３は、実施例２に係る検出装置の配置の一例について説明するための図である。
【図４】図４は、実施例２における点欠陥候補の一例について説明するための図である。
【図５】図５は、実施例２における横欠陥候補の一例について説明するための図である。
【図６】図６は、実施例２における縦欠陥候補の一例について説明するための図である。
【図７】図７は、欠陥画素候補がずれる場合について説明するための図である。
【図８】図８は、ロバートフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図９−１】図９−１は、ソーベルフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図９−２】図９−２は、ソーベルフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図１０】図１０は、ラプラシアンフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図１１】図１１は、実施例２における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。
【図１２】図１２は、実施例２に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１３】図１３は、第一の欠陥候補を分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１４】図１４は、第二の欠陥候補を再分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１５】図１５は、実施例３における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。
【図１６】図１６は、実施例３に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１７】図１７は、実施例２に係る検出プログラムを実行するコンピュータの一例について説明するための図である。
【図１８】図１８は、検出結果に重複が発生する場合について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下に、開示の検出装置及び検出プログラムの実施例について図面に基づいて詳細に説明する。なお、本実施例により開示の発明が限定されるものではない。また、各実施例は、処理内容を矛盾させない範囲で適宜組み合わせることが可能である。
【実施例１】
【００１６】
図１を用いて、実施例１に係る検出装置１００の構成の一例について説明する。図１は、実施例１に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。検出装置１００は、図１に示す例では、取得部１０１と、検出部１０２と、移動部１０３と、決定部１０４とを有する。
【００１７】
取得部１０１は、画像表示装置の撮像画像を取得する。また、検出部１０２は、取得部１０１によって取得された撮像画像から、撮像画像から検出する点欠陥や線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて、種別ごとに欠陥画素候補を検出する。
【００１８】
また、移動部１０３は、検出部１０２によって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、第一の閾値よりも小さい点欠陥候補や第一の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。そして、決定部１０４は、移動部１０３による移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。
【００１９】
ここで、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であっても、検出条件ごとに異なる検出結果が得られる場合がある。例えば、線欠陥を検出するのに適した検出条件を用いた際に検出される欠陥画素候補と、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いた際に検出される欠陥画素候補とが異なる場合がある。この結果、検出条件ごとに独立して欠陥画素を決定すると、処理結果に重複や漏れが発生する。
【００２０】
このことを踏まえ、実施例１に係る検出装置１００は、異なる検出条件を用いて得られた検出結果間で欠陥画素候補を移動することで、移動先の検出結果において、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補を統合する。この結果、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補を統合した上で点欠陥や線欠陥を決定でき、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【実施例２】
【００２１】
［検出装置の構成］
次に、実施例２に係る検出装置３００について説明する。まず、図２を用いて、実施例２に係る検出装置３００の構成の一例について説明する。図２は、実施例２に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。図２に示す例では、検出装置３００は、画像表示装置２００と接続され、カメラ３０１と制御部４００とを有する。
【００２２】
画像表示装置２００は、検出装置３００と接続される。画像表示装置２００は、単色あるいは複数色を用いて静止画や動画を表示する。例えば、画像表示装置２００は、ディスプレイやモニタ、テレビジョンなどの装置が該当する。また、画像表示装置２００は、静止画や動画を表示する表示領域を有する。すなわち、画像表示装置２００は、表示領域の画素各々が出力する色を制御することで、静止画や動画を表示する。
【００２３】
ここで、表示領域の画素は、「ｘ」軸（例えば、水平方向）と「ｙ」軸（例えば、垂直方向）とに沿って配列することで、表示領域を形成する。以下では、説明の便宜上、画素が配列した２つの方向のうち、一方を「横」を称し、他方を「縦」と称する。具体的には、表示領域の「ｘ」軸（例えば、水平方向）を「横」と称し、「ｙ」軸（例えば、垂直方向）を「縦」と称する。
【００２４】
画像表示装置２００は、複数の原色を用いて様々な色を再現する。以下では、画像表示装置２００が、複数の原色として、ＲＧＢ（赤（Red）、緑（Green）、青（Blue））を用いる場合を例に説明する。すなわち、画像表示装置２００が、赤色と緑色と青色との３つの原色を混ぜることで幅広い色を再現する場合を例に説明する。
【００２５】
なお、以下では、複数の原色としてＲＧＢを用いる場合を例に説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、ＲＧＢに他の色を加えた４つ以上の原色を用いても良く、あるいは、ＲＧＢ以外の色の組み合わせを用いても良い。また、例えば、検出装置３００を利用する者が設定した任意の色を用いても良い。
【００２６】
画像表示装置２００は、検出装置３００の点灯指示部４０１からテストパターンを受信すると、受信したテストパターンに基づいて表示領域を点灯する。なお、画像表示装置２００が受信するテストパターンの詳細については、ここでは説明を省略し、点灯指示部４０１について説明する際に併せて説明する。また、画像表示装置２００は、後述するように、表示領域の画像がカメラ３０１によって撮像される。
【００２７】
検出装置３００の各部について説明する。カメラ３０１は、制御部４００と接続される。カメラ３０１は、画像表示装置２００がテストパターンを表示すると、画像表示装置２００の表示領域を撮像する。例えば、カメラ３０１は、異なるテストパターンが表示されるごとに表示領域を撮像する。そして、カメラ３０１は、撮像した撮像画像を制御部４００の撮像画像取得部４０２に送信する。なお、以下では、カメラ３０１がモノクロの画像を撮像する場合について説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、カラーの画像を撮像しても良い。
【００２８】
また、後述するように、制御部４００は、カメラ３０１によって撮像された撮像画像を用いて、画像表示装置２００の表示領域にある各画素のうち欠陥画素を検出する。このため、カメラ３０１は、表示領域の画素各々を区別可能な画像を撮像可能なものを用いる。
【００２９】
ここで、撮像画像には、画像表示装置２００の表示領域だけでなく、画像表示装置２００の表示領域以外の部分も含まれる場合もある。以下では、説明の便宜上、特に言及しない限り、撮像画像には表示領域以外の部分が含まれないものとして説明する。すなわち、以下では、撮像画像と記載した場合には、表示領域の撮像画像を示すものとして説明する。
【００３０】
制御部４００は、画像表示装置２００及びカメラ３０１と接続される。制御部４００は、各種の制御手順などを規定したプログラムを記憶するための内部メモリを有し、種々の取得処理を制御する。制御部４００は、例えば、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などの集積回路、又は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＭＰＵ（Micro Processing Unit）などの電子回路である。制御部４００は、図２に示す例では、点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と決定部４０６とを有する。
【００３１】
ここで、図３を用いて、画像表示装置２００と、カメラ３０１と、制御部４００との配置の一例について簡単に説明する。図３は、実施例２に係る検出装置の配置の一例について説明するための図である。図３に示すように、制御部４００は、画像表示装置２００と接続され、後述するように、テストパターンを画像表示装置２００に送信する。画像表示装置２００は、テストパターンを受信すると、受信したテストパターンを表示領域にて表示する。また、カメラ３０１は、画像表示装置２００の表示領域に向かって撮像面となるレンズを向けており、テストパターンを表示した表示領域の画像を撮像する。
【００３２】
図２の説明に戻る。点灯指示により点灯しない画素である暗欠陥（暗点）を検出装置３００が検出する場合には、点灯指示部４０１は、画像表示装置２００が色を表示する際に用いる原色ごとに、全表示領域にわたって原色を点灯させるテストパターンを画像表示装置２００に送信する。例えば、点灯指示部４０１は、全表示領域にわたって赤色を点灯させるテストパターンを送信し、全表示領域にわたって緑色を点灯させるテストパターンを送信し、全表示領域にわたって青色を点灯させるテストパターンを送信する。
【００３３】
なお、この結果、画像表示装置２００は、点灯指示部４０１から受信したテストパターンに基づいて表示領域を点灯する。例えば、画像表示装置２００は、全表示領域にわたって赤色を点灯させるテストパターンに基づいて、全表示領域にわたって赤色を点灯する。また、同様に、画像表示装置２００は、全表示領域にわたって緑色を点灯し、全表示領域にわたって青色を点灯する。
【００３４】
また、その際、カメラ３０１は、画像表示装置２００が色を表示する際に用いる原色ごとに、全表示領域にわたって原色を点灯した画像表示装置２００の画像を撮像する。例えば、カメラ３０１は、全表示領域にわたって赤色を点灯させるテストパターンに基づいて点灯した表示領域の画像を撮像し、全表示領域にわたって緑色を点灯させるテストパターンに基づいて点灯した表示領域の画像を撮像する。また、カメラ３０１は、全表示領域にわたって青色を点灯させるテストパターンに基づいて点灯した表示領域の画像を撮像する。
【００３５】
また、消灯指示により消灯しない画素である明欠陥（明点）を検出装置３００が検出する場合には、点灯指示部４０１は、全表示領域にわたって消灯させるテストパターンを画像表示装置２００に送信する。なお、この結果、画像表示装置２００は、点灯指示部４０１から受信したテストパターンに基づいて表示領域を消灯し、カメラ３０１が、画像表示装置２００の画像を撮像する。
【００３６】
撮像画像取得部４０２は、カメラ３０１によって撮像された撮像画像を取得する。例えば、カメラ３０１によって画像が撮像されるごとに、撮像画像をカメラ３０１から取得する。
【００３７】
撮像画像取得部４０２が取得した撮像画像について、更に説明する。撮像画像は、テストパターンに基づいて点灯あるいは消灯した表示領域の画像である。ここで、表示領域に欠陥画素がある場合には、欠陥画素に対応する撮像画像の部分が示す画素値と、欠陥画素以外に対応する撮像画像の部分が示す画素値とが、異なる。なお、画素値とは、例えば、輝度や彩度、色相、明度などを示す。
【００３８】
例えば、全表示領域にわたって原色を点灯させるテストパターンを送信した場合を例に説明する。この場合、明欠陥以外に対応する部分（正常な部分）の輝度は「０」になり、明欠陥に対応する部分の輝度は「０」より高い値になる。また、例えば、全表示領域にわたって消灯させるテストパターンを送信した場合を例に説明する。この場合、暗欠陥に対応する部分の輝度は、暗欠陥以外に対応する部分（正常な部分）の輝度と比較して、低い値になる。
【００３９】
図２の説明に戻る。点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４は、撮像画像から、それぞれ異なる検出条件を用いて欠陥画素候補を検出する。具体的には、点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４は、欠陥画素が示す画素値と正常な画素が示す画素値とが異なることを用いて、欠陥画素候補を検出する。
【００４０】
欠陥画素を検出する処理について更に説明する。欠陥画素と正常な画素との境界では、画素値の変化が大きくなる。このため、画素値の変化が大きくなる箇所を検出することで、欠陥画素を検出できる。画素値の変化が大きくなる箇所を検出する手法としては、例えば、画素値の変化に対して微分演算を行う手法や、周囲にある画素の画素値との差分について差分演算を用いる手法がある。なお、画素値の変化が大きくなる箇所をデジタル画像から検出する場合には、差分演算が用いられる。
【００４１】
例えば、点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４は、周囲にある画素の画素値の重み付けテーブル（オペレータ）を用いて、周囲画素との差分を画素ごとに算出することで、欠陥画素候補を検出する。また、単純に差分処理を行うと、画像に含まれる雑音成分にも反応してしまうことを踏まえ、雑音の低減とノイズの除去との両方の働きを持つフィルタが用いられる。
【００４２】
以下では、点欠陥候補検出部４０３と線欠陥候補検出部４０４とについて、更に詳細に説明する。点欠陥候補検出部４０３は、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて、撮像画像から欠陥画素候補を検出する。ここで、点欠陥候補検出部４０３によって検出された欠陥画素候補が、点欠陥候補である。例えば、点欠陥候補検出部４０３は、ラプラシアンフィルタ（Laplacian Filter）を用いて欠陥画素候補を検出する。
【００４３】
なお、以下では、点欠陥候補検出部４０３は、ラプラシアンフィルタを用いて点欠陥候補を検出する場合を例に説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、他のフィルタを用いても良い。例えば、ソーベルフィルタ（Sobel Filter）を用いても良い。
【００４４】
図４を用いて、点欠陥候補検出部４０３によって検出された点欠陥候補の一例について説明する。図４は、実施例２における点欠陥候補の一例について説明するための図である。図４の（１）は、撮像画像の一例を示し、図４の（２）は、図４の（１）に示す撮像画像から検出された点欠陥候補の一例を示す。図４の（２）に示す例では、点欠陥候補には、点欠陥に対応する欠陥画素候補と、線欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる。
【００４５】
線欠陥候補検出部４０４は、撮像画像取得部４０２によって取得された撮像画像から、線欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて欠陥画素を検出する。ここで、線欠陥候補検出部４０４によって検出された欠陥画素候補が、線欠陥候補である。具体的には、線欠陥候補検出部４０４は、検出条件として、横欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から横欠陥候補を検出する。また、線欠陥候補検出部４０４は、縦欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から縦欠陥候補を検出する。なお、「横欠陥」は、横方向に欠陥画素が分布した線欠陥であり、「縦欠陥」は、縦方向に欠陥画素が分布した線欠陥である。
【００４６】
例えば、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥を検出するのに適したソーベルフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。また、線欠陥候補検出部４０４は、縦欠陥を検出するのに適したソーベルフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。
【００４７】
図５を用いて、線欠陥候補検出部４０４によって検出された横欠陥候補の一例について説明する。図５は、実施例２における横欠陥候補の一例について説明するための図である。図５の（１）は、撮像画像の一例を示し、図５の（２）は、図５の（１）に示す撮像画像から検出された横欠陥候補の一例を示す。
【００４８】
図５の（２）に示す例では、線欠陥候補検出部４０４が、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所を検出することで、横欠陥画素候補を検出した場合を例に示した。この場合、図５の（２）に示すように、横欠陥候補には、点欠陥に対応する欠陥画素候補と、縦欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、横欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる。
【００４９】
また、図６を用いて、線欠陥候補検出部４０４によって検出された縦欠陥候補の一例について説明する。図６は、実施例２における縦欠陥候補の一例について説明するための図である。図６の（１）は、撮像画像の一例を示し、図６の（２）は、図６の（１）に示す撮像画像から検出された縦欠陥候補の一例を示す。
【００５０】
図６の（２）に示す例では、線欠陥候補検出部４０４が、横方向に隣接した画素と輝度差がある箇所を検出することで、縦欠陥画素候補を検出した場合を例に示した。この場合、図６の（２）に示すように、縦欠陥候補には、点欠陥に対応する欠陥画素候補と、横欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、縦欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる。
【００５１】
ここで、図５に示すように、横欠陥候補として、縦欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、横欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる理由について説明する。上述のように、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥候補を検出する場合には、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所を検出する。ここで、縦欠陥を形成する欠陥画素のうち、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所は、上の端にある欠陥画素と、下の端にある欠陥画素とである。この結果、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥候補として、縦欠陥の端に対応する欠陥画素候補を検出する。また、横欠陥を形成する欠陥画素のうち、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所は、横欠陥画素を形成する画素すべてである。この結果、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥候補として、横欠陥に対応する欠陥画素候補を検出する。
【００５２】
なお、図６に示すように、縦欠陥候補として、横欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、縦欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる理由は、横欠陥候補について説明した理由と同様である。
【００５３】
ここで、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であっても、点欠陥候補検出部４０３によって検出される欠陥画素候補と、線欠陥候補検出部４０４によって検出される欠陥画素候補とがずれる場合について説明する。言い換えると、異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出すると、種別ごとの欠陥画素候補は完全に一致せず、ずれが発生する点について説明する。
【００５４】
例えば、検索条件として、「ロバートフィルタ（Roberts Filter）」や「ソーベルフィルタ」、「ラプラシアンフィルタ」を用いる場合を例に説明する。以下では、図７に示す撮像画像に対して検出処理を行った場合を例に説明する。図７は、欠陥画素候補がずれる場合について説明するための図である。また、図７に示すように、「３×３」のフィルタを用いた場合を例に説明する。以下では、各フィルタについて簡単に説明した上で、実際に検出結果にずれが発生したことを示す。
【００５５】
「ロバートフィルタ」について説明する。「ロバートフィルタ」は、空間１次微分を計算し、輪郭を検出する。「ロバートフィルタ」のオペレータは、下記の数１や数２のようになる。なお、数１や数２は、記載する形式を変更したものである。検出装置３００は、数１や数２を用いた場合には、斜め方向に隣接した画素と差分がある箇所を検出することで、エッジを検出する。
【００５６】
（数１） ｆ＝［０ ０ ０； ０ １ ０； ０ ０ −１］
【００５７】
【数２】
【００５８】
「ソーベルフィルタ」について説明する。「ソーベルフィルタ」は、空間１次微分を計算し、輪郭を検出する。「ソーベルフィルタ」のオペレータは、下記の数３や数４、あるいは、下記の数５や数６のようになる。なお、数３や数４、あるいは、数５や数６は、記載する形式を変更したものである。検出装置３００は、数３や数４を用いた場合には、横方向に隣接した画素と差分がある箇所を検出することで、縦方向に分布した欠陥画素のエッジを検出する。また、検出装置３００は、数５や数６を用いた場合には、隣接した画素と差分がある箇所を検出することで、横方向に分布した欠陥画素のエッジを検出する。
【００５９】
（数３） ｆ＝［−１ ０ １； −２ ０ ２； −１ ０ １］
【００６０】
【数４】
【００６１】
（数５） ｆ＝［１ ２ １； ０ ０ ０； −１ −２ −１］
【００６２】
【数６】
【００６３】
「ラプラシアンフィルタ」について説明する。「ラプラシアンフィルタ」は、空間２次微分を計算し、輪郭を検出する。「ラプラシアンフィルタ」のオペレータは、下記の数７や数８のようになる。なお、数７や数８は、記載する形式を変更したものである。
【００６４】
（数７） ｆ＝［０ −１ ０；−１ ４ −１；０ −１ ０］
【００６５】
【数８】
【００６６】
ここで、図８〜図１０を用いて、上述の各種フィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例を示す。図８は、ロバートフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。図９−１と図９−２とは、ソーベルフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。図１０は、ラプラシアンフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。図８〜図１０では、白抜きの部分がエッジを示す。つまり、図８〜図１０の白抜きの部分が、欠陥画素候補に対応する。ここで、図８〜図１０を比べるとわかるように、検出結果各々は、完全に一致するわけではなく、ずれが発生していることがわかる。例えば、図７における点欠陥に対応する欠陥画素候補の大きさが異なっており、また、例えば、図７における線欠陥に対応する欠陥画素候補の長さが異なっている。
【００６７】
図２の説明に戻り、分配処理部４０５について説明する。以下では、分配処理部４０５による分配処理と、分配処理部４０５による再分配処理とについて、順に説明する。まず、分配処理部４０５による分配処理について説明する。分配処理部４０５は、線欠陥候補検出部４０４によって検出された線欠陥候補のうち第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を抽出し、点欠陥候補検出部４０３によって検出された点欠陥候補に分配する。具体的には、分配処理部４０５は、横欠陥候補から第一の欠陥候補を点欠陥候補に分配し、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を点欠陥候補に分配する。ここで、第一の欠陥画素候補は、例えば、短い線欠陥に対応する欠陥画素候補や、点欠陥に対応する欠陥画素候補が該当する。
【００６８】
「第一の閾値」について更に説明する。上述のように、検出条件が異なる場合、検出結果には「ずれ」が発生する。言い換えると、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であったとしても、検出条件ごとに大きさが異なる場合がある。この結果、線欠陥には、検出条件によっては線欠陥や点欠陥として決定されたり決定されなかったりする長さの欠陥画素「Ａ」と、検出条件に関係なく線欠陥として決定される長さの欠陥画素「Ｂ」とがあると考えられる。「第一の閾値」は、線欠陥候補のうち、欠陥画素「Ｂ」に対応する欠陥画素候補以外の欠陥画素候補を識別するための閾値である。つまり、「第一の閾値」は、線欠陥候補から、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画候補と、線欠陥の端点や点欠陥に対応する欠陥画素候補とを識別するための閾値である。
【００６９】
すなわち、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、点欠陥候補に分配する。
【００７０】
例えば、第一の閾値として、「４画素」を用いる場合を例に更に説明する。すなわち、線欠陥候補のうち「４画素」より大きい欠陥画素候補は、線欠陥「Ｂ」に対応する場合を例に説明する。また、線欠陥候補のうち「４画素」より大きい欠陥画素候補以外の欠陥画素候補は、欠陥画素「Ａ」や点欠陥に対応する場合を例に説明する。
【００７１】
この場合、分配処理部４０５は、線欠陥候補から、「４画素」よりも小さい線状の欠陥画素候補や点状の欠陥画素候補を抽出し、点欠陥候補に分配する。この結果、分配後の線欠陥候補には、分配前の線欠陥候補のうち、線欠陥「Ｂ」に対応する欠陥画素候補のみが含まれる。また、分配後の点欠陥候補には、分配前の線欠陥候補のうち、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補や、線欠陥の端点や点欠陥に対応する欠陥画素候補が追加される。
【００７２】
また、分配後の点欠陥候補には、分配前の点欠陥候補が残ったままである。ここで、分配後の点欠陥候補では、線欠陥候補から分配された欠陥画素候補と、分配前の点欠陥候補とが、区別されない。つまり、分配後の点欠陥候補は、分配前の点欠陥候補と、線欠陥候補から分配された欠陥画素候補とを統合したものである。言い換えると、分配後の点欠陥候補は、分配前の点欠陥候補と、線欠陥候補から分配された欠陥画素候補とを重ねたものが該当する。
【００７３】
この結果、分配後の点欠陥候補においては、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補については、重ねられることで１つに統合される。また、横欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、横欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になり、縦欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、縦欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になる。
【００７４】
なお、以下では、第一の閾値として「４画素」を用いる場合について説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、「２画素」や「３画素」、あるいは、「５画素」以上の値など、検出装置３００を利用する利用者が任意の値に設定して良い。また、第一の閾値として直線状に分布した欠陥画素の「長さ」を用いる場合について説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、「面積」を用いても良い。
【００７５】
［分配処理部による再分配処理］
分配処理部４０５は、第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を分配後の点欠陥候補から抽出し、分配後の線欠陥候補に再分配する。具体的には、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、横方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の横欠陥候補に再分配する。また、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、縦方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の縦欠陥候補に再分配する。
【００７６】
「第二の閾値」について更に説明する。「第二の閾値」は、線欠陥か点欠陥かを区別するための閾値であり、利用者によって任意の値が設定される。例えば、「３画素」よりも多くの欠陥画素が直線状に分布した場合に、利用者が「線欠陥」と判断する場合を例に説明する。この場合、第二の閾値は「３画素」になる。
【００７７】
すなわち、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補に含まれる線欠陥を、分配後の線欠陥候補に再分配する。上述のように、線欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補が分配されており、分配後の線欠陥候補には、線欠陥か明らかではない短い線欠陥は含まれていない。このことを踏まえ、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から第二の欠陥候補（線欠陥）を抽出し、分配後の線欠陥候補に再分配する。つまり、分配処理部４０５は、漏れや重複が起きる可能性のある欠陥画素候補については、点欠陥候補に一旦集約した上で、集約後の点欠陥候補を用いて線欠陥か否かを判定する。そして、集約後の点欠陥候補を用いた判定結果において、線欠陥と判定した欠陥画素候補について、線欠陥候補に再分配する。
【００７８】
例えば、第二の閾値として、「３画素」を用いる場合を例に更に説明する。この場合、分配処理部４０５は、点欠陥候補から、「３画素」よりも大きい第二の欠陥候補を抽出し、線欠陥候補に再分配する。この結果、再分配後の点欠陥候補には、分配後再分配前の点欠陥候補のうち、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補が残る。つまり、分配後再分配前の点欠陥候補には、点欠陥が残る。また、再分配後の線欠陥候補には、分配後再分配前の点欠陥候補に含まれていた線欠陥が追加される。
【００７９】
なお、分配後再分配前の線欠陥候補には、線欠陥「Ｂ」に対応する欠陥画素候補が残っている。このため、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、分配後再分配前の線欠陥候補にないものを選択的に再分配しても良い。この場合、分配処理部４０５は、再分配後に、再分配後の点欠陥候補から、残りの第二の欠陥候補を削除する。なお、分配処理部４０５による詳細な処理の一例については、図１１や図１４〜図１６を用いて後述するため、ここでは説明を省略する。
【００８０】
図２の説明に戻る。決定部４０６は、再分配後の点欠陥候補を「点欠陥」として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の線欠陥候補を「線欠陥」として決定する。
【００８１】
ここで、図１１を用いて、分配処理部４０５と決定部４０６とによる処理について更に説明する。図１１は、実施例２における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。また、図１１では、分配処理部４０５が、上述のように、再分配の際に、選択的に再分配し、残りの第二の欠陥候補を点欠陥候補から削除する場合を例に説明する。
【００８２】
ここで、図１１の「５０１」は、撮像画像の一例であり、図１１の「５０２ａ〜５０２ｃ」は、点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４によって検出された欠陥画素候補である。また、図１１の「５０３ａ〜５０３ｃ」は、分配後の欠陥画素候補である。図１１の「５０４ａ〜５０４ｃ」は、再分配後の欠陥画素候補である。また、図１１の「５０５ｂ」は、削除後の点欠陥候補である。また、図１１の「５０２ａ、５０３ａ、５０４ａ」は、横欠陥候補であり、図１１の「５０２ｂ、５０３ｂ、５０４ｂ、５０５ｂ」は、点欠陥候補であり、図１１の「５０２ｃ、５０３ｃ、５０４ｃ」は、縦欠陥候補である。なお、図１１では説明の為、撮像画像を用いて説明しているが、本実施例はこれに限るものではない。例えば、検出された各欠陥画素候補に、それぞれ一意に識別するための情報を対応付けて記憶領域に記憶し、該記憶領域上で、各欠陥画素候補の識別情報をいずれの種類の結果に属するものかを更新することで、同様の機能を実現しても構わない。
【００８３】
図１１の（ｉ）や（ｉｉ）に示すように、分配処理部４０５は、横欠陥候補「５０２ａ」として検出した候補箇所のうち第一の欠陥候補を、横欠陥候補から削除するとともに点欠陥候補「５０２ｂ」に追加し、縦欠陥候補「５０２ｃ」として検出した候補箇所のうち第一の欠陥候補を、縦欠陥候補から削除するとともに点欠陥候補「５０２ｂ」に追加する。この結果、（３）分配後の横欠陥候補「５０３ａ」には、長い横欠陥に対応する欠陥画素候補が残り、分配後の縦欠陥候補「５０３ｃ」には、長い縦欠陥に対応する欠陥画素候補が残る。また、この結果、前記追加（分配）後の点欠陥候補「５０３ｂ」には、追加（分配）前の点欠陥候補「５０２ｂ」と、横欠陥候補「５０２ａ」や縦欠陥候補「５０２ｃ」に含まれていた第一の欠陥候補とが含まれる。
【００８４】
そして、図１１の（ｉｉｉ）や（ｉｖ）に示すように、分配処理部４０５は、追加後の点欠陥候補「５０３ｂ」の第二の欠陥候補のうち、（３）分配後の横欠陥候補「５０３ａ」や縦欠陥候補「５０３ｃ」で線欠陥候補にない欠陥候補を、点欠陥候補「５０３ｂ」から削除し、横欠陥候補「５０３ａ」または縦欠陥候補「５０３ｃ」へ追加する。この結果、（４）再分配後の横欠陥候補「５０４ａ」には、（３）分配後の横欠陥候補「５０３ａ」に含まれる欠陥候補と、欠陥候補「５０３ｂ」の第二の欠陥候補のうち横方向に欠陥画素候補が分布したものがあれば、該横方向に欠陥画素候補が分布した欠陥候補とが含まれることになる。また、（４）再分配後の縦欠陥候補「５０４ｃ」には、（３）分配後の縦欠陥候補「５０３ｃ」に含まれる欠陥候補と、欠陥候補「５０３ｂ」の第二の欠陥候補のうち縦方向に欠陥画素候補が分布したものがあれば、該縦方向に欠陥画素候補が分布した欠陥候補とが含まれることになる。
【００８５】
そして、図１１の（ｖ）に示すように、分配処理部４０５は、（４）再分配後の点欠陥候補「５０４ｂ」から、残った第二の欠陥候補を削除する。この結果、削除後の点欠陥候補「５０５ｂ」には、（３）分配後の点欠陥候補「５０３ｂ」のうち、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補が残る。
【００８６】
そして、決定部４０６は、（４）再分配後の横欠陥候補「５０４ａ」に含まれる欠陥画素候補が横欠陥であると決定し、再分配後の縦欠陥候補「５０４ｃ」に含まれる欠陥画素候補が縦欠陥であると決定する。また、決定部４０６は、（５）削除後の点欠陥候補「５０５ｂ」に含まれる欠陥画素候補が点欠陥であると決定する。
【００８７】
また、決定部４０６は、線欠陥や点欠陥を決定すると、決定した線欠陥や点欠陥の位置や個数を出力する。例えば、決定部４０６は、検出装置３００を利用する利用者に出力する。例えば、決定部４０６は、線欠陥が「２」個検出された旨や、検出された線欠陥の位置を出力する。
【００８８】
なお、検出装置３００は、既知のパーソナルコンピュータ、ワークステーション、携帯電話、ＰＨＳ（Personal Handyphone System）端末、移動体通信端末又はＰＤＡ（Personal Digital Assistant）などの情報処理装置を利用して実現しても良い。例えば、ＰＤＡなどの情報処理装置に、図２に示した点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と、決定部４０６との各機能を搭載することによって実現しても良い。
【００８９】
［実施例２に係る検出装置による処理］
次に、図１２を用いて、実施例２に係る検出装置３００による処理の流れの一例について説明する。図１２は、実施例２に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【００９０】
図１２に示すように、検査が開始されると（ステップＳ１０１肯定）、点灯指示部４０１は、テストパターンを送信する（ステップＳ１０２）。そして、カメラ３０１は、画像表示装置２００がテストパターンを表示すると、画像表示装置２００の表示領域を撮像する（ステップＳ１０３）。
【００９１】
そして、点欠陥候補検出部４０３は、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて、撮像画像から点欠陥候補を検出する（ステップＳ１０４）。例えば、点欠陥候補検出部４０３は、ラプラシアンフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。
【００９２】
また、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から横欠陥候補を検出し（ステップＳ１０５）、縦欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から縦欠陥候補を検出する（ステップＳ１０６）。例えば、線欠陥候補検出部４０４は、ソーベルフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。
【００９３】
そして、分配処理部４０５は、横欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配し（ステップＳ１０７）、縦欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する（ステップＳ１０８）。すなわち、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、点欠陥候補に分配する。
【００９４】
そして、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から分配後の線欠陥候補に、第二の欠陥候補を再分配する（ステップＳ１０９）。具体的には、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、横方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の横欠陥候補に再分配する。また、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、縦方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の縦欠陥候補に再分配する。
【００９５】
すなわち、分配処理部４０５は、漏れや重複が起きる可能性のある欠陥画素候補については、点欠陥候補に一旦集約した上で（上述のステップＳ１０７及びＳ１０８）、集約後の点欠陥候補を用いて線欠陥か点欠陥かを判定する。そして、集約後の点欠陥候補を用いた判定結果に基づいて、線欠陥については線欠陥候補に再分配し（上述のステップＳ１０９）、点欠陥についてはそのまま残す。
【００９６】
そして、決定部４０６は、再分配後の点欠陥候補を「点欠陥」として決定し、再分配後の線欠陥候補を「線欠陥」として決定する（ステップＳ１１０）。
【００９７】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ１０４〜Ｓ１０６との順番を利用者が任意に変更しても良く、並行して実行しても良い。また、例えば、上述のステップＳ１０７とＳ１０８との順番を逆にしても良い。
【００９８】
［実施例２における分配処理部による分配処理］
図１３を用いて、線欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する処理の流れの一例について説明する。図１３は、第一の欠陥候補を分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。なお、図１３を用いて説明する処理は、図１２におけるステップＳ１０７やステップＳ１０８に対応する。以下では、横欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する場合を例に説明する。
【００９９】
図１３に示すように、分配処理部４０５は、横欠陥候補について、横方向についての主軸限定処理を行う（ステップＳ２０１）。つまり、分配処理部４０５は、横欠陥候補から、横方向に欠陥画素候補が分布していない欠陥画素候補を除外する。言い換えると、分配処理部４０５は、縦方向や斜め方向に欠陥画素候補が分布しているものがあれば除外する。例えば、分配処理部４０５は、横方向を「ｘ」軸、縦方向を「ｙ」軸とした場合に、「ｘ」軸を中心として「±１０℃」以内に欠陥画素候補が分布しているもの以外を除外する。
【０１００】
主軸限定処理について更に説明する。例えば、撮像画像にノイズが含まれている場合には、縦欠陥候補に、「斜め」方向に分布した欠陥画素候補が含まれる場合がある。この場合、主軸限定処理を実行することによって、「斜め」方向に分布した欠陥画素候補を除外することができる。
【０１０１】
そして、分配処理部４０５は、横欠陥候補のうち、第一の閾値より小さい欠陥画素候補を抽出することで、第一の欠陥候補を抽出する（ステップＳ２０２）。例えば、分配処理部４０５は、「４画素」よりも小さい線状の欠陥画素候補や点状の欠陥画素候補を抽出する。
【０１０２】
そして、分配処理部４０５は、第一の欠陥候補を点欠陥候補に分配する（ステップＳ２０３）。また、この際、分配処理部４０５は、分配前の横欠陥候補から第一の欠陥候補を削除した上で、分配後の横欠陥候補とする。また、分配処理部４０５は、横欠陥候補からの第一の欠陥候補と、分配前の点欠陥候補とを統合する。
【０１０３】
なお、縦欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する場合には、分配処理部４０５は、上述のステップＳ２０１において、「ｙ」軸を中心として「±１０℃」以内に欠陥画素が分布しているもの以外を除外する。
【０１０４】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ２０１と〜Ｓ２０２との順番を逆にしても良い。また、上述の主軸限定処理では、「±１０℃」以内に欠陥画素候補が分布しているもの以外を除外する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、「±１０℃」より幅が広くても狭くても良く、利用者が任意の値を設定して良い。
【０１０５】
［実施例２における分配処理部による再分配処理］
次に、図１４を用いて、分配後の点欠陥候補から分配後の線欠陥候補に第二の欠陥候補を再分配する処理の流れの一例について説明する。図１４は、第二の欠陥候補を再分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。なお、図１４を用いて説明する処理は、図１２におけるステップＳ１０９に対応する。
【０１０６】
図１４に示すように、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補について、横方向についての主軸限定処理を行う（ステップＳ３０１）。つまり、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から、横方向に欠陥画素候補が分布していない欠陥画素候補を除外する。
【０１０７】
そして、分配処理部４０５は、横方向についての主軸限定処理により得られた欠陥画素候補のうち、第二の閾値より大きい欠陥画素候補を抽出することで、第二の欠陥候補を抽出する（ステップＳ３０２）。例えば、分配処理部４０５は、「３画素」よりも大きい欠陥画素候補を抽出する。
【０１０８】
そして、分配処理部４０５は、ステップＳ３０２にて抽出した第二の欠陥候補を横欠陥候補に再分配する（ステップＳ３０３）。この際、分配処理部４０５は、点欠陥候補からの第二の欠陥候補と、分配後の横欠陥候補とを統合し、再分配後の横欠陥候補とする。
【０１０９】
また、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補について、縦方向についての主軸限定処理を行う（ステップＳ３０４）。つまり、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から、縦方向に欠陥画素候補が分布していない欠陥画素候補を除外する。
【０１１０】
そして、分配処理部４０５は、縦方向についての主軸限定処理により得られた欠陥画素候補のうち、第二の閾値より大きい欠陥画素候補を抽出することで、第二の欠陥候補を抽出する（ステップＳ３０５）。例えば、分配処理部４０５は、「３画素」よりも大きい欠陥画素候補を抽出する。
【０１１１】
そして、分配処理部４０５は、ステップＳ３０５にて抽出した第二の欠陥候補を縦欠陥候補に再分配する（ステップＳ３０６）。この際、分配処理部４０５は、点欠陥候補からの第二の欠陥候補と、分配後の縦欠陥候補とを統合し、再分配後の縦欠陥候補とする。また、分配処理部４０５は、分配後再分配前の点欠陥候補から、ステップＳ３０３やステップＳ３０５にて再分配した第二の欠陥候補を削除する。
【０１１２】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ３０４〜Ｓ３０６を、ステップＳ３０１〜Ｓ３０３の前に実行しても良く、上述のステップＳ３０１とＳ３０２との順番を逆にしても良く、上述のステップＳ３０４とＳ３０５との順番を逆にしても良い。
【０１１３】
［実施例２の効果］
上述のように、実施例２によれば、検出装置３００は、画像表示装置２００の撮像画像を取得する。そして、取得した撮像画像から点欠陥候補を検出し、取得した撮像画像から線欠陥候補を検出する。そして、検出装置３００は、検出した線欠陥候補のうち第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を抽出し、第一の検出部によって検出された点欠陥候補に分配する。そして、検出装置３００は、分配後の点欠陥候補のうち第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を抽出し、分配後の線欠陥候補に再分配する。そして、検出装置３００は、再分配後の点欠陥候補を点欠陥として決定し、再分配後の線欠陥候補を線欠陥として決定する。この結果、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【０１１４】
例えば、処理結果に重複や漏れの発生を防止する手法としては、線欠陥を検出する処理や点欠陥を検出する処理にて用いられる閾値を適切な値に設定する手法が考えられる。しかしながら、光学的なゆがみの影響で、検出結果において欠陥画素候補の大きさが同一であっても、表示領域上では同じサイズの欠陥画素とは限らず、重複や漏れをなくすような閾値を定めることが困難である。これに対して、本発明によれば、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補を統合することで、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【実施例３】
【０１１５】
さて、これまで、実施例２として、点欠陥候補と線欠陥候補とを検出する手法について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、点欠陥候補を検出しなくても良い。具体的には、実施例２では、点欠陥候補と縦欠陥候補と横欠陥候補とを用いて実行する手法について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、縦欠陥候補と横欠陥候補とを用いて実行しても良い。
【０１１６】
そこで、以下では、実施例３として、縦欠陥候補と横欠陥候補とを用いて実行する手法について説明する。なお、以下では、実施例２に係る検出装置と同様の点については、簡単に説明し、又は、説明を省略する。
【０１１７】
具体的には、実施例３に係る検出装置では、分配処理部４０５は、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、横欠陥候補に分配する。そして、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、分配後の縦欠陥候補に再分配する。そして、決定部４０６は、再分配後の縦欠陥候補のうち、第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を点欠陥として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補を横欠陥として決定する。
【０１１８】
図１５を用いて、実施例３における分配処理部４０５と決定部４０６とによる処理について更に説明する。図１５は、実施例３における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。
【０１１９】
ここで、図１５の「６０１」は、撮像画像の一例である。図１５の「６０２ａ、６０２ｃ」は、線欠陥候補検出部４０４によって検出された欠陥画素候補である。図１５の「６０３ａ、６０３ｃ」は、分配後の欠陥画素候補である。図１５の「６０４ａ、６０４ｃ」は、再分配後の欠陥画素候補である。また、図１５の「６０５ｂや６０５ｃ」については、後述するため、ここでは説明を省略する。
【０１２０】
図１５の（ｉ）に示すように、分配処理部４０５は、縦欠陥候補「６０２ｃ」から第一の欠陥候補を横欠陥候補「６０２ａ」に分配する。この結果、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」には、横欠陥候補「６０２ａ」と、縦欠陥候補「６０２ｃ」に含まれていた第一の欠陥候補とが含まれる。また、分配後の縦欠陥候補「６０３ｃ」には、長い縦欠陥に対応する欠陥画素候補が残る。
【０１２１】
ここで、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」には、分配前の横欠陥候補「６０２ａ」が残ったままである。すなわち、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」は、分配前の横欠陥候補「６０２ａ」と、分配前の縦欠陥候補「６０２ｃ」から分配された欠陥画素候補とを統合したものである。言い換えると、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」は、分配前の横欠陥候補「６０２ａ」と、分配前の縦欠陥候補「６０２ｃ」から分配された欠陥画素候補とを重ねたものが該当する。この結果、縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補については、重ねられることで１つに統合される。また、横欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、横欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になる。
【０１２２】
そして、図１５の（ｉｉ）に示すように、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」から縦欠陥候補「６０３ｃ」に、第一の欠陥候補を再分配する。この結果、再分配後の横欠陥候補「６０４ａ」には、長い横欠陥に対応する欠陥画素候補が残る。また、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」には、長い縦欠陥に対応する欠陥画素候補と、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」に含まれていた第一の欠陥候補とが含まれる。
【０１２３】
ここで、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」には、再分配前の縦欠陥候補「６０３ｃ」が残ったままである。すなわち、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」は、再分配前の縦欠陥候補「６０３ｃ」と、再分配前の横欠陥候補「６０３ａ」から再分配された欠陥画素候補とを統合したものである。言い換えると、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」は、再分配前の縦欠陥候補「６０３ｃ」と、再分配前の横欠陥候補「６０３ａ」から再分配された欠陥画素候補とを重ねたものが該当する。この結果、横欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補については、重ねられることで１つに統合される。また、縦欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、縦欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になる。
【０１２４】
ここで、図１５の（ｉｉ）において再分配される第一の欠陥候補には、図１５の（ｉ）にて分配された第一の欠陥候補のうち、横欠陥の端部に対応する欠陥候補画素は含まれない。これは、上述のように、横欠陥の端部に対応する欠陥候補画素は、横欠陥に対応する横欠陥候補「６０２ａ」の欠陥画素候補に統合されたからである。
【０１２５】
そして、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補「６０４ａ」に含まれる欠陥画素候補を横欠陥として決定する。また、決定部４０６は、図１５の（ｉｉｉ）に示すように、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」に含まれる第二の欠陥候補を「縦欠陥」として決定する。また、決定部４０６は、図１５の（ｉｖ）に示すように、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を「点欠陥」として決定する。
【０１２６】
［実施例３に係る検出装置による処理］
図１６を用いて、実施例３に係る検出装置による処理の流れの一例について説明する。図１６は、実施例３に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【０１２７】
図１６に示すように、検査が開始されると（ステップＳ４０１肯定）、点灯指示部４０１は、テストパターンを送信する（ステップＳ４０２）。カメラ３０１は、画像表示装置２００がテストパターンを表示すると、画像表示装置２００の表示領域を撮像する（ステップＳ４０３）。
【０１２８】
そして、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から横欠陥候補を検出し（ステップＳ４０４）、縦欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から縦欠陥候補を検出する（ステップＳ４０５）。
【０１２９】
そして、分配処理部４０５は、縦欠陥候補から横欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する（ステップＳ４０６）。すなわち、分配処理部４０５は、縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、横欠陥候補に分配する。
【０１３０】
そして、分配処理部４０５は、横欠陥候補から縦欠陥候補に第一の欠陥候補を再分配する（ステップＳ４０７）。すなわち、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、縦欠陥候補に再分配する。
【０１３１】
そして、決定部４０６は、点欠陥や横欠陥、縦欠陥を決定する（ステップＳ４０８）。具体的には、決定部４０６は、決定部４０６は、再分配後の縦欠陥候補のうち、第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を点欠陥として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補を横欠陥として決定する。
【０１３２】
すなわち、分配処理部４０５は、漏れや重複が起きる可能性のある欠陥画素候補について、縦欠陥候補に一旦集約した上で（上述のステップＳ４０６及びＳ４０７）、集約後の縦欠陥候補から縦欠陥と点欠陥とを決定する。
【０１３３】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ４０４とＳ４０５との順番を逆にしても良い。
【０１３４】
また、上述の処理手順は、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を横欠陥候補に分配し、その後、分配後の横欠陥候補から第一の欠陥候補を縦欠陥候補に再分配する手法について説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、横欠陥候補から第一の欠陥候補を縦欠陥候補に分配し、その後、分配後の縦欠陥候補から第一の欠陥候補を横欠陥候補に再分配しても良い。
【０１３５】
［実施例３の効果］
上述のように、実施例３に係る検出装置では、分配処理部４０５は、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、横欠陥候補に分配する。そして、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、分配後の縦欠陥候補に再分配する。そして、決定部４０６は、再分配後の縦欠陥候補のうち、第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を点欠陥として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補を横欠陥として決定する。この結果、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【実施例４】
【０１３６】
さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述の実施例以外にも、その他の実施例にて実施されても良い。そこで、以下では、その他の実施例について説明する。
【０１３７】
［カメラ］
例えば、上述の実施例では、検出装置がカメラを有する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、検出装置とカメラ３０１とを別装置としても良い。この場合、検出装置は、画像表示装置２００の表示領域の撮像画像を取得できれば良い。例えば、利用者によって撮像画像が検出装置に入力されても良く、検出装置とは別装置のカメラから有線又は無線ネットワークを介して取得しても良い。
【０１３８】
［システム構成］
また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的に行われるものとして説明した処理の全部又は一部を手動的に行うこともでき、あるいは、手動的に行われるものとして説明した処理の全部又は一部を公知の方法で自動的に行うこともできる。例えば、上述の実施例では、カメラ３０１が自動的に画像を撮像する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、検出装置３００を利用する利用者が手動にて撮像しても良い。
【０１３９】
この他、上述文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報（図１〜図１７）については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【０１４０】
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。例えば、カメラ３０１を検出装置３００の外部装置としてネットワーク経由で接続するようにしても良い。また、点欠陥候補検出部４０３と線欠陥候補検出部４０４とを別の装置がそれぞれ有し、ネットワーク経由で接続されて協働することで、上述の検出装置３００の機能を実現するようにしても良い。
【０１４１】
［コンピュータ］
また、上述の実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、図１７を用いて、上述の実施例と同様の機能を有する検出プログラムを実行するコンピュータの一例について説明する。なお、図１７は、実施例２に係る検出プログラムを実行するコンピュータの一例について説明するための図である。
【０１４２】
図１７に示すように、実施例２におけるコンピュータ３０００は、操作部３００１、マイク３００２、スピーカ３００３、ディスプレイ３００４、通信部３００６、ＣＰＵ３０１０、ＲＯＭ３０１１、ＲＡＭ（Random Access Memory）３０１３をバス３００９などで接続して構成されている。
【０１４３】
ＲＯＭ３０１１には、上述の実施例２で示した点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と、決定部４０６と同様の機能を発揮する制御プログラム、つまり、図１７に示すように、点灯指示プログラム３０１１ａと、撮像画像取得プログラム３０１１ｂと、点欠陥候補検出プログラム３０１１ｃと、線欠陥候補検出プログラム３０１１ｄと、分配処理プログラム３０１１ｅと、決定プログラム３０１１ｆとが予め記憶されている。なお、これらのプログラム３０１１ａ〜３０１１ｆについては、図２に示した検出装置３００の各構成要素と同様、適宜統合又は分離しても良い。
【０１４４】
そして、ＣＰＵ３０１０が、これらのプログラム３０１１ａ〜３０１１ｆをＲＯＭ３０１１から読み出して実行することにより、図１７に示すように、各プログラム３０１１ａ〜３０１１ｆについては、点灯指示プロセス３０１０ａと、撮像画像取得プロセス３０１０ｂと、点欠陥候補検出プロセス３０１０ｃと、線欠陥候補検出プロセス３０１０ｄと、分配処理プロセス３０１０ｅと、決定プロセス３０１０ｆとして機能するようになる。なお、各プロセス３０１０ａ〜３０１０ｆは、図２に示した、点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と、決定部４０６とにそれぞれ対応する。
【０１４５】
そして、ＣＰＵ３０１０は、ＲＡＭ３０１３に格納された横欠陥候補データ３０１３ａと、縦欠陥候補データ３０１３ｂと、点欠陥候補データ３０１３ｃとを用いて、検出プログラムを実行する。
【０１４６】
［その他］
なお、本実施例で説明した検出プログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布することができる。また、検出プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。
【符号の説明】
【０１４７】
１００ 検出装置
１０１ 取得部
１０２ 検出部
１０３ 移動部
１０４ 決定部
２００ 画像表示装置
３００ 検出装置
３０１ カメラ
４００ 制御部
４０１ 点灯指示部
４０２ 撮像画像取得部
４０３ 点欠陥候補検出部
４０４ 線欠陥候補検出部
４０５ 分配処理部
４０６ 決定部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出装置及び検出プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像表示装置の表示領域にある各画素のうち、欠陥画素を検出する検出装置がある。欠陥画素には、消灯指示により消灯しない画素である明欠陥（明点）や、点灯指示により点灯しない画素である暗欠陥（暗点）がある。例えば、明欠陥を検出する場合には、検出装置は、画像表示装置を全表示領域にわたって消灯させ、画像表示装置の画像を撮像する。そして、検出装置は、撮像した撮像画像から消灯しない箇所を検出することで、明欠陥を検出する。
【０００３】
また、例えば、暗欠陥を検出する場合には、検出装置は、画像表示装置の全表示領域にわたって赤色（Ｒ、Red）を点灯させ、画像表示装置の画像を撮像する。そして、検出装置は、撮像した撮像画像から点灯しない箇所を検出することで、赤色についての暗欠陥を検出する。また、検出装置は、同様に、緑色（Ｇ、Green）や青色（Ｂ、Blue）についても暗欠陥を検出する。
【０００４】
また、複数の欠陥画素が直線状に分布した欠陥画素の領域は、「線欠陥」と称される。また、１つ又は少数の欠陥画素が点状に分布した欠陥画素の領域は、「点欠陥」と称される。なお、縦横個別に得たエッジ画像を分割し、領域ごとにプロファイル処理し、統計的に線欠陥候補を抽出する手法もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−１７２５５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、線欠陥を検出するための線欠陥検出処理と、点欠陥を検出するための点欠陥検出処理とを別個に実行する別個手法が考えられる。具体的には、別個手法では、線欠陥を検出する場合には、線欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて欠陥画素候補を検出し、検出した欠陥画素候補から線欠陥を決定する。また、別個手法では、点欠陥を検出する場合には、別途、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて欠陥画素候補を検出し、検出した欠陥画素候補から点欠陥を決定する。
【０００７】
しかしながら、線欠陥検出処理と点欠陥検出処理とを別個に実行すると、処理結果に重複や漏れが発生するという課題があった。別個手法では、線欠陥検出処理と点欠陥検出処理とが、それぞれ異なる検出条件を用いる。このため、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であっても、線欠陥検出処理によって検出された欠陥画素候補のサイズと、点欠陥検出処理によって検出された欠陥画素候補のサイズとが異なる場合があった。この結果、処理結果に重複や漏れが発生する。
【０００８】
例えば、撮像画像内に欠陥画素領域「Ｘ」がある場合を例に、図１８を用いて更に説明する、なお、図１８は、検出結果に重複が発生する場合について説明するための図である。なお、図１８の「７０１」は、撮像画像の一例である。図１８の「７０２ａ〜７０２ｃ」は、それぞれ異なる検出条件を用いて検出された欠陥画素候補を示す。また、図１８の「７０３ａ〜７０３ｃ」は、決定された点欠陥や線欠陥を示す。
【０００９】
この場合、図１８の（１）に示すように、点欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｘ」を、点欠陥のサイズに該当するとして、点欠陥として決定することがある。また、図１８の（２）に示すように、線欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｘ」を、線欠陥のサイズに該当するとして、線欠陥として決定することがある。この結果、処理結果に重複が発生する。
【００１０】
また、例えば、撮像画像内に欠陥画素領域「Ｙ」がある場合を例に用いて、更に説明する。この場合、線欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｙ」を、線欠陥のサイズに該当しないとして、つまり、点欠陥のサイズに該当するとして、線欠陥として決定しないことがある。また、点欠陥検出処理は、欠陥画素領域「Ｙ」を、点欠陥のサイズに該当しないとして、つまり、線欠陥のサイズに該当するとして、点欠陥として決定しないことがある。この結果、処理結果に漏れが発生する。
【００１１】
開示の技術は、上述に鑑みてなされたものであって、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能な検出装置及び検出プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
開示の検出装置は、一つの態様において、画像表示装置の撮像画像を取得する取得部を備える。また、検出装置は、前記取得部によって取得された撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する検出部を備える。また、検出装置は、前記検出部によって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補及び／又は所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する移動部を備える。また、検出装置は、前記移動部による移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する決定部を備える。
【発明の効果】
【００１３】
開示の検出装置の一つの態様によれば、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能であるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】図１は、実施例１に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。
【図２】図２は、実施例２に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。
【図３】図３は、実施例２に係る検出装置の配置の一例について説明するための図である。
【図４】図４は、実施例２における点欠陥候補の一例について説明するための図である。
【図５】図５は、実施例２における横欠陥候補の一例について説明するための図である。
【図６】図６は、実施例２における縦欠陥候補の一例について説明するための図である。
【図７】図７は、欠陥画素候補がずれる場合について説明するための図である。
【図８】図８は、ロバートフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図９−１】図９−１は、ソーベルフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図９−２】図９−２は、ソーベルフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図１０】図１０は、ラプラシアンフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。
【図１１】図１１は、実施例２における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。
【図１２】図１２は、実施例２に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１３】図１３は、第一の欠陥候補を分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１４】図１４は、第二の欠陥候補を再分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１５】図１５は、実施例３における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。
【図１６】図１６は、実施例３に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【図１７】図１７は、実施例２に係る検出プログラムを実行するコンピュータの一例について説明するための図である。
【図１８】図１８は、検出結果に重複が発生する場合について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下に、開示の検出装置及び検出プログラムの実施例について図面に基づいて詳細に説明する。なお、本実施例により開示の発明が限定されるものではない。また、各実施例は、処理内容を矛盾させない範囲で適宜組み合わせることが可能である。
【実施例１】
【００１６】
図１を用いて、実施例１に係る検出装置１００の構成の一例について説明する。図１は、実施例１に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。検出装置１００は、図１に示す例では、取得部１０１と、検出部１０２と、移動部１０３と、決定部１０４とを有する。
【００１７】
取得部１０１は、画像表示装置の撮像画像を取得する。また、検出部１０２は、取得部１０１によって取得された撮像画像から、撮像画像から検出する点欠陥や線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて、種別ごとに欠陥画素候補を検出する。
【００１８】
また、移動部１０３は、検出部１０２によって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、第一の閾値よりも小さい点欠陥候補や第一の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。そして、決定部１０４は、移動部１０３による移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。
【００１９】
ここで、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であっても、検出条件ごとに異なる検出結果が得られる場合がある。例えば、線欠陥を検出するのに適した検出条件を用いた際に検出される欠陥画素候補と、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いた際に検出される欠陥画素候補とが異なる場合がある。この結果、検出条件ごとに独立して欠陥画素を決定すると、処理結果に重複や漏れが発生する。
【００２０】
このことを踏まえ、実施例１に係る検出装置１００は、異なる検出条件を用いて得られた検出結果間で欠陥画素候補を移動することで、移動先の検出結果において、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補を統合する。この結果、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補を統合した上で点欠陥や線欠陥を決定でき、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【実施例２】
【００２１】
［検出装置の構成］
次に、実施例２に係る検出装置３００について説明する。まず、図２を用いて、実施例２に係る検出装置３００の構成の一例について説明する。図２は、実施例２に係る検出装置の構成の一例について説明するためのブロック図である。図２に示す例では、検出装置３００は、画像表示装置２００と接続され、カメラ３０１と制御部４００とを有する。
【００２２】
画像表示装置２００は、検出装置３００と接続される。画像表示装置２００は、単色あるいは複数色を用いて静止画や動画を表示する。例えば、画像表示装置２００は、ディスプレイやモニタ、テレビジョンなどの装置が該当する。また、画像表示装置２００は、静止画や動画を表示する表示領域を有する。すなわち、画像表示装置２００は、表示領域の画素各々が出力する色を制御することで、静止画や動画を表示する。
【００２３】
ここで、表示領域の画素は、「ｘ」軸（例えば、水平方向）と「ｙ」軸（例えば、垂直方向）とに沿って配列することで、表示領域を形成する。以下では、説明の便宜上、画素が配列した２つの方向のうち、一方を「横」を称し、他方を「縦」と称する。具体的には、表示領域の「ｘ」軸（例えば、水平方向）を「横」と称し、「ｙ」軸（例えば、垂直方向）を「縦」と称する。
【００２４】
画像表示装置２００は、複数の原色を用いて様々な色を再現する。以下では、画像表示装置２００が、複数の原色として、ＲＧＢ（赤（Red）、緑（Green）、青（Blue））を用いる場合を例に説明する。すなわち、画像表示装置２００が、赤色と緑色と青色との３つの原色を混ぜることで幅広い色を再現する場合を例に説明する。
【００２５】
なお、以下では、複数の原色としてＲＧＢを用いる場合を例に説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、ＲＧＢに他の色を加えた４つ以上の原色を用いても良く、あるいは、ＲＧＢ以外の色の組み合わせを用いても良い。また、例えば、検出装置３００を利用する者が設定した任意の色を用いても良い。
【００２６】
画像表示装置２００は、検出装置３００の点灯指示部４０１からテストパターンを受信すると、受信したテストパターンに基づいて表示領域を点灯する。なお、画像表示装置２００が受信するテストパターンの詳細については、ここでは説明を省略し、点灯指示部４０１について説明する際に併せて説明する。また、画像表示装置２００は、後述するように、表示領域の画像がカメラ３０１によって撮像される。
【００２７】
検出装置３００の各部について説明する。カメラ３０１は、制御部４００と接続される。カメラ３０１は、画像表示装置２００がテストパターンを表示すると、画像表示装置２００の表示領域を撮像する。例えば、カメラ３０１は、異なるテストパターンが表示されるごとに表示領域を撮像する。そして、カメラ３０１は、撮像した撮像画像を制御部４００の撮像画像取得部４０２に送信する。なお、以下では、カメラ３０１がモノクロの画像を撮像する場合について説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、カラーの画像を撮像しても良い。
【００２８】
また、後述するように、制御部４００は、カメラ３０１によって撮像された撮像画像を用いて、画像表示装置２００の表示領域にある各画素のうち欠陥画素を検出する。このため、カメラ３０１は、表示領域の画素各々を区別可能な画像を撮像可能なものを用いる。
【００２９】
ここで、撮像画像には、画像表示装置２００の表示領域だけでなく、画像表示装置２００の表示領域以外の部分も含まれる場合もある。以下では、説明の便宜上、特に言及しない限り、撮像画像には表示領域以外の部分が含まれないものとして説明する。すなわち、以下では、撮像画像と記載した場合には、表示領域の撮像画像を示すものとして説明する。
【００３０】
制御部４００は、画像表示装置２００及びカメラ３０１と接続される。制御部４００は、各種の制御手順などを規定したプログラムを記憶するための内部メモリを有し、種々の取得処理を制御する。制御部４００は、例えば、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などの集積回路、又は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＭＰＵ（Micro Processing Unit）などの電子回路である。制御部４００は、図２に示す例では、点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と決定部４０６とを有する。
【００３１】
ここで、図３を用いて、画像表示装置２００と、カメラ３０１と、制御部４００との配置の一例について簡単に説明する。図３は、実施例２に係る検出装置の配置の一例について説明するための図である。図３に示すように、制御部４００は、画像表示装置２００と接続され、後述するように、テストパターンを画像表示装置２００に送信する。画像表示装置２００は、テストパターンを受信すると、受信したテストパターンを表示領域にて表示する。また、カメラ３０１は、画像表示装置２００の表示領域に向かって撮像面となるレンズを向けており、テストパターンを表示した表示領域の画像を撮像する。
【００３２】
図２の説明に戻る。点灯指示により点灯しない画素である暗欠陥（暗点）を検出装置３００が検出する場合には、点灯指示部４０１は、画像表示装置２００が色を表示する際に用いる原色ごとに、全表示領域にわたって原色を点灯させるテストパターンを画像表示装置２００に送信する。例えば、点灯指示部４０１は、全表示領域にわたって赤色を点灯させるテストパターンを送信し、全表示領域にわたって緑色を点灯させるテストパターンを送信し、全表示領域にわたって青色を点灯させるテストパターンを送信する。
【００３３】
なお、この結果、画像表示装置２００は、点灯指示部４０１から受信したテストパターンに基づいて表示領域を点灯する。例えば、画像表示装置２００は、全表示領域にわたって赤色を点灯させるテストパターンに基づいて、全表示領域にわたって赤色を点灯する。また、同様に、画像表示装置２００は、全表示領域にわたって緑色を点灯し、全表示領域にわたって青色を点灯する。
【００３４】
また、その際、カメラ３０１は、画像表示装置２００が色を表示する際に用いる原色ごとに、全表示領域にわたって原色を点灯した画像表示装置２００の画像を撮像する。例えば、カメラ３０１は、全表示領域にわたって赤色を点灯させるテストパターンに基づいて点灯した表示領域の画像を撮像し、全表示領域にわたって緑色を点灯させるテストパターンに基づいて点灯した表示領域の画像を撮像する。また、カメラ３０１は、全表示領域にわたって青色を点灯させるテストパターンに基づいて点灯した表示領域の画像を撮像する。
【００３５】
また、消灯指示により消灯しない画素である明欠陥（明点）を検出装置３００が検出する場合には、点灯指示部４０１は、全表示領域にわたって消灯させるテストパターンを画像表示装置２００に送信する。なお、この結果、画像表示装置２００は、点灯指示部４０１から受信したテストパターンに基づいて表示領域を消灯し、カメラ３０１が、画像表示装置２００の画像を撮像する。
【００３６】
撮像画像取得部４０２は、カメラ３０１によって撮像された撮像画像を取得する。例えば、カメラ３０１によって画像が撮像されるごとに、撮像画像をカメラ３０１から取得する。
【００３７】
撮像画像取得部４０２が取得した撮像画像について、更に説明する。撮像画像は、テストパターンに基づいて点灯あるいは消灯した表示領域の画像である。ここで、表示領域に欠陥画素がある場合には、欠陥画素に対応する撮像画像の部分が示す画素値と、欠陥画素以外に対応する撮像画像の部分が示す画素値とが、異なる。なお、画素値とは、例えば、輝度や彩度、色相、明度などを示す。
【００３８】
例えば、全表示領域にわたって原色を点灯させるテストパターンを送信した場合を例に説明する。この場合、明欠陥以外に対応する部分（正常な部分）の輝度は「０」になり、明欠陥に対応する部分の輝度は「０」より高い値になる。また、例えば、全表示領域にわたって消灯させるテストパターンを送信した場合を例に説明する。この場合、暗欠陥に対応する部分の輝度は、暗欠陥以外に対応する部分（正常な部分）の輝度と比較して、低い値になる。
【００３９】
図２の説明に戻る。点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４は、撮像画像から、それぞれ異なる検出条件を用いて欠陥画素候補を検出する。具体的には、点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４は、欠陥画素が示す画素値と正常な画素が示す画素値とが異なることを用いて、欠陥画素候補を検出する。
【００４０】
欠陥画素を検出する処理について更に説明する。欠陥画素と正常な画素との境界では、画素値の変化が大きくなる。このため、画素値の変化が大きくなる箇所を検出することで、欠陥画素を検出できる。画素値の変化が大きくなる箇所を検出する手法としては、例えば、画素値の変化に対して微分演算を行う手法や、周囲にある画素の画素値との差分について差分演算を用いる手法がある。なお、画素値の変化が大きくなる箇所をデジタル画像から検出する場合には、差分演算が用いられる。
【００４１】
例えば、点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４は、周囲にある画素の画素値の重み付けテーブル（オペレータ）を用いて、周囲画素との差分を画素ごとに算出することで、欠陥画素候補を検出する。また、単純に差分処理を行うと、画像に含まれる雑音成分にも反応してしまうことを踏まえ、雑音の低減とノイズの除去との両方の働きを持つフィルタが用いられる。
【００４２】
以下では、点欠陥候補検出部４０３と線欠陥候補検出部４０４とについて、更に詳細に説明する。点欠陥候補検出部４０３は、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて、撮像画像から欠陥画素候補を検出する。ここで、点欠陥候補検出部４０３によって検出された欠陥画素候補が、点欠陥候補である。例えば、点欠陥候補検出部４０３は、ラプラシアンフィルタ（Laplacian Filter）を用いて欠陥画素候補を検出する。
【００４３】
なお、以下では、点欠陥候補検出部４０３は、ラプラシアンフィルタを用いて点欠陥候補を検出する場合を例に説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、他のフィルタを用いても良い。例えば、ソーベルフィルタ（Sobel Filter）を用いても良い。
【００４４】
図４を用いて、点欠陥候補検出部４０３によって検出された点欠陥候補の一例について説明する。図４は、実施例２における点欠陥候補の一例について説明するための図である。図４の（１）は、撮像画像の一例を示し、図４の（２）は、図４の（１）に示す撮像画像から検出された点欠陥候補の一例を示す。図４の（２）に示す例では、点欠陥候補には、点欠陥に対応する欠陥画素候補と、線欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる。
【００４５】
線欠陥候補検出部４０４は、撮像画像取得部４０２によって取得された撮像画像から、線欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて欠陥画素を検出する。ここで、線欠陥候補検出部４０４によって検出された欠陥画素候補が、線欠陥候補である。具体的には、線欠陥候補検出部４０４は、検出条件として、横欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から横欠陥候補を検出する。また、線欠陥候補検出部４０４は、縦欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から縦欠陥候補を検出する。なお、「横欠陥」は、横方向に欠陥画素が分布した線欠陥であり、「縦欠陥」は、縦方向に欠陥画素が分布した線欠陥である。
【００４６】
例えば、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥を検出するのに適したソーベルフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。また、線欠陥候補検出部４０４は、縦欠陥を検出するのに適したソーベルフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。
【００４７】
図５を用いて、線欠陥候補検出部４０４によって検出された横欠陥候補の一例について説明する。図５は、実施例２における横欠陥候補の一例について説明するための図である。図５の（１）は、撮像画像の一例を示し、図５の（２）は、図５の（１）に示す撮像画像から検出された横欠陥候補の一例を示す。
【００４８】
図５の（２）に示す例では、線欠陥候補検出部４０４が、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所を検出することで、横欠陥画素候補を検出した場合を例に示した。この場合、図５の（２）に示すように、横欠陥候補には、点欠陥に対応する欠陥画素候補と、縦欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、横欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる。
【００４９】
また、図６を用いて、線欠陥候補検出部４０４によって検出された縦欠陥候補の一例について説明する。図６は、実施例２における縦欠陥候補の一例について説明するための図である。図６の（１）は、撮像画像の一例を示し、図６の（２）は、図６の（１）に示す撮像画像から検出された縦欠陥候補の一例を示す。
【００５０】
図６の（２）に示す例では、線欠陥候補検出部４０４が、横方向に隣接した画素と輝度差がある箇所を検出することで、縦欠陥画素候補を検出した場合を例に示した。この場合、図６の（２）に示すように、縦欠陥候補には、点欠陥に対応する欠陥画素候補と、横欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、縦欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる。
【００５１】
ここで、図５に示すように、横欠陥候補として、縦欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、横欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる理由について説明する。上述のように、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥候補を検出する場合には、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所を検出する。ここで、縦欠陥を形成する欠陥画素のうち、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所は、上の端にある欠陥画素と、下の端にある欠陥画素とである。この結果、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥候補として、縦欠陥の端に対応する欠陥画素候補を検出する。また、横欠陥を形成する欠陥画素のうち、縦方向に隣接した画素と輝度差がある箇所は、横欠陥画素を形成する画素すべてである。この結果、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥候補として、横欠陥に対応する欠陥画素候補を検出する。
【００５２】
なお、図６に示すように、縦欠陥候補として、横欠陥の端に対応する欠陥画素候補と、縦欠陥に対応する欠陥画素候補とが含まれる理由は、横欠陥候補について説明した理由と同様である。
【００５３】
ここで、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であっても、点欠陥候補検出部４０３によって検出される欠陥画素候補と、線欠陥候補検出部４０４によって検出される欠陥画素候補とがずれる場合について説明する。言い換えると、異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出すると、種別ごとの欠陥画素候補は完全に一致せず、ずれが発生する点について説明する。
【００５４】
例えば、検索条件として、「ロバートフィルタ（Roberts Filter）」や「ソーベルフィルタ」、「ラプラシアンフィルタ」を用いる場合を例に説明する。以下では、図７に示す撮像画像に対して検出処理を行った場合を例に説明する。図７は、欠陥画素候補がずれる場合について説明するための図である。また、図７に示すように、「３×３」のフィルタを用いた場合を例に説明する。以下では、各フィルタについて簡単に説明した上で、実際に検出結果にずれが発生したことを示す。
【００５５】
「ロバートフィルタ」について説明する。「ロバートフィルタ」は、空間１次微分を計算し、輪郭を検出する。「ロバートフィルタ」のオペレータは、下記の数１や数２のようになる。なお、数１や数２は、記載する形式を変更したものである。検出装置３００は、数１や数２を用いた場合には、斜め方向に隣接した画素と差分がある箇所を検出することで、エッジを検出する。
【００５６】
（数１） ｆ＝［０ ０ ０； ０ １ ０； ０ ０ −１］
【００５７】
【数２】
【００５８】
「ソーベルフィルタ」について説明する。「ソーベルフィルタ」は、空間１次微分を計算し、輪郭を検出する。「ソーベルフィルタ」のオペレータは、下記の数３や数４、あるいは、下記の数５や数６のようになる。なお、数３や数４、あるいは、数５や数６は、記載する形式を変更したものである。検出装置３００は、数３や数４を用いた場合には、横方向に隣接した画素と差分がある箇所を検出することで、縦方向に分布した欠陥画素のエッジを検出する。また、検出装置３００は、数５や数６を用いた場合には、隣接した画素と差分がある箇所を検出することで、横方向に分布した欠陥画素のエッジを検出する。
【００５９】
（数３） ｆ＝［−１ ０ １； −２ ０ ２； −１ ０ １］
【００６０】
【数４】
【００６１】
（数５） ｆ＝［１ ２ １； ０ ０ ０； −１ −２ −１］
【００６２】
【数６】
【００６３】
「ラプラシアンフィルタ」について説明する。「ラプラシアンフィルタ」は、空間２次微分を計算し、輪郭を検出する。「ラプラシアンフィルタ」のオペレータは、下記の数７や数８のようになる。なお、数７や数８は、記載する形式を変更したものである。
【００６４】
（数７） ｆ＝［０ −１ ０；−１ ４ −１；０ −１ ０］
【００６５】
【数８】
【００６６】
ここで、図８〜図１０を用いて、上述の各種フィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例を示す。図８は、ロバートフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。図９−１と図９−２とは、ソーベルフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。図１０は、ラプラシアンフィルタを用いた場合に得られる検出結果の一例について説明するための図である。図８〜図１０では、白抜きの部分がエッジを示す。つまり、図８〜図１０の白抜きの部分が、欠陥画素候補に対応する。ここで、図８〜図１０を比べるとわかるように、検出結果各々は、完全に一致するわけではなく、ずれが発生していることがわかる。例えば、図７における点欠陥に対応する欠陥画素候補の大きさが異なっており、また、例えば、図７における線欠陥に対応する欠陥画素候補の長さが異なっている。
【００６７】
図２の説明に戻り、分配処理部４０５について説明する。以下では、分配処理部４０５による分配処理と、分配処理部４０５による再分配処理とについて、順に説明する。まず、分配処理部４０５による分配処理について説明する。分配処理部４０５は、線欠陥候補検出部４０４によって検出された線欠陥候補のうち第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を抽出し、点欠陥候補検出部４０３によって検出された点欠陥候補に分配する。具体的には、分配処理部４０５は、横欠陥候補から第一の欠陥候補を点欠陥候補に分配し、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を点欠陥候補に分配する。ここで、第一の欠陥画素候補は、例えば、短い線欠陥に対応する欠陥画素候補や、点欠陥に対応する欠陥画素候補が該当する。
【００６８】
「第一の閾値」について更に説明する。上述のように、検出条件が異なる場合、検出結果には「ずれ」が発生する。言い換えると、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補であったとしても、検出条件ごとに大きさが異なる場合がある。この結果、線欠陥には、検出条件によっては線欠陥や点欠陥として決定されたり決定されなかったりする長さの欠陥画素「Ａ」と、検出条件に関係なく線欠陥として決定される長さの欠陥画素「Ｂ」とがあると考えられる。「第一の閾値」は、線欠陥候補のうち、欠陥画素「Ｂ」に対応する欠陥画素候補以外の欠陥画素候補を識別するための閾値である。つまり、「第一の閾値」は、線欠陥候補から、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画候補と、線欠陥の端点や点欠陥に対応する欠陥画素候補とを識別するための閾値である。
【００６９】
すなわち、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、点欠陥候補に分配する。
【００７０】
例えば、第一の閾値として、「４画素」を用いる場合を例に更に説明する。すなわち、線欠陥候補のうち「４画素」より大きい欠陥画素候補は、線欠陥「Ｂ」に対応する場合を例に説明する。また、線欠陥候補のうち「４画素」より大きい欠陥画素候補以外の欠陥画素候補は、欠陥画素「Ａ」や点欠陥に対応する場合を例に説明する。
【００７１】
この場合、分配処理部４０５は、線欠陥候補から、「４画素」よりも小さい線状の欠陥画素候補や点状の欠陥画素候補を抽出し、点欠陥候補に分配する。この結果、分配後の線欠陥候補には、分配前の線欠陥候補のうち、線欠陥「Ｂ」に対応する欠陥画素候補のみが含まれる。また、分配後の点欠陥候補には、分配前の線欠陥候補のうち、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補や、線欠陥の端点や点欠陥に対応する欠陥画素候補が追加される。
【００７２】
また、分配後の点欠陥候補には、分配前の点欠陥候補が残ったままである。ここで、分配後の点欠陥候補では、線欠陥候補から分配された欠陥画素候補と、分配前の点欠陥候補とが、区別されない。つまり、分配後の点欠陥候補は、分配前の点欠陥候補と、線欠陥候補から分配された欠陥画素候補とを統合したものである。言い換えると、分配後の点欠陥候補は、分配前の点欠陥候補と、線欠陥候補から分配された欠陥画素候補とを重ねたものが該当する。
【００７３】
この結果、分配後の点欠陥候補においては、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補については、重ねられることで１つに統合される。また、横欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、横欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になり、縦欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、縦欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になる。
【００７４】
なお、以下では、第一の閾値として「４画素」を用いる場合について説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、「２画素」や「３画素」、あるいは、「５画素」以上の値など、検出装置３００を利用する利用者が任意の値に設定して良い。また、第一の閾値として直線状に分布した欠陥画素の「長さ」を用いる場合について説明するが、本発明はこれに限定されるものではなく、「面積」を用いても良い。
【００７５】
［分配処理部による再分配処理］
分配処理部４０５は、第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を分配後の点欠陥候補から抽出し、分配後の線欠陥候補に再分配する。具体的には、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、横方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の横欠陥候補に再分配する。また、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、縦方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の縦欠陥候補に再分配する。
【００７６】
「第二の閾値」について更に説明する。「第二の閾値」は、線欠陥か点欠陥かを区別するための閾値であり、利用者によって任意の値が設定される。例えば、「３画素」よりも多くの欠陥画素が直線状に分布した場合に、利用者が「線欠陥」と判断する場合を例に説明する。この場合、第二の閾値は「３画素」になる。
【００７７】
すなわち、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補に含まれる線欠陥を、分配後の線欠陥候補に再分配する。上述のように、線欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補が分配されており、分配後の線欠陥候補には、線欠陥か明らかではない短い線欠陥は含まれていない。このことを踏まえ、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から第二の欠陥候補（線欠陥）を抽出し、分配後の線欠陥候補に再分配する。つまり、分配処理部４０５は、漏れや重複が起きる可能性のある欠陥画素候補については、点欠陥候補に一旦集約した上で、集約後の点欠陥候補を用いて線欠陥か否かを判定する。そして、集約後の点欠陥候補を用いた判定結果において、線欠陥と判定した欠陥画素候補について、線欠陥候補に再分配する。
【００７８】
例えば、第二の閾値として、「３画素」を用いる場合を例に更に説明する。この場合、分配処理部４０５は、点欠陥候補から、「３画素」よりも大きい第二の欠陥候補を抽出し、線欠陥候補に再分配する。この結果、再分配後の点欠陥候補には、分配後再分配前の点欠陥候補のうち、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補が残る。つまり、分配後再分配前の点欠陥候補には、点欠陥が残る。また、再分配後の線欠陥候補には、分配後再分配前の点欠陥候補に含まれていた線欠陥が追加される。
【００７９】
なお、分配後再分配前の線欠陥候補には、線欠陥「Ｂ」に対応する欠陥画素候補が残っている。このため、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、分配後再分配前の線欠陥候補にないものを選択的に再分配しても良い。この場合、分配処理部４０５は、再分配後に、再分配後の点欠陥候補から、残りの第二の欠陥候補を削除する。なお、分配処理部４０５による詳細な処理の一例については、図１１や図１４〜図１６を用いて後述するため、ここでは説明を省略する。
【００８０】
図２の説明に戻る。決定部４０６は、再分配後の点欠陥候補を「点欠陥」として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の線欠陥候補を「線欠陥」として決定する。
【００８１】
ここで、図１１を用いて、分配処理部４０５と決定部４０６とによる処理について更に説明する。図１１は、実施例２における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。また、図１１では、分配処理部４０５が、上述のように、再分配の際に、選択的に再分配し、残りの第二の欠陥候補を点欠陥候補から削除する場合を例に説明する。
【００８２】
ここで、図１１の「５０１」は、撮像画像の一例であり、図１１の「５０２ａ〜５０２ｃ」は、点欠陥候補検出部４０３や線欠陥候補検出部４０４によって検出された欠陥画素候補である。また、図１１の「５０３ａ〜５０３ｃ」は、分配後の欠陥画素候補である。図１１の「５０４ａ〜５０４ｃ」は、再分配後の欠陥画素候補である。また、図１１の「５０５ｂ」は、削除後の点欠陥候補である。また、図１１の「５０２ａ、５０３ａ、５０４ａ」は、横欠陥候補であり、図１１の「５０２ｂ、５０３ｂ、５０４ｂ、５０５ｂ」は、点欠陥候補であり、図１１の「５０２ｃ、５０３ｃ、５０４ｃ」は、縦欠陥候補である。なお、図１１では説明の為、撮像画像を用いて説明しているが、本実施例はこれに限るものではない。例えば、検出された各欠陥画素候補に、それぞれ一意に識別するための情報を対応付けて記憶領域に記憶し、該記憶領域上で、各欠陥画素候補の識別情報をいずれの種類の結果に属するものかを更新することで、同様の機能を実現しても構わない。
【００８３】
図１１の（ｉ）や（ｉｉ）に示すように、分配処理部４０５は、横欠陥候補「５０２ａ」として検出した候補箇所のうち第一の欠陥候補を、横欠陥候補から削除するとともに点欠陥候補「５０２ｂ」に追加し、縦欠陥候補「５０２ｃ」として検出した候補箇所のうち第一の欠陥候補を、縦欠陥候補から削除するとともに点欠陥候補「５０２ｂ」に追加する。この結果、（３）分配後の横欠陥候補「５０３ａ」には、長い横欠陥に対応する欠陥画素候補が残り、分配後の縦欠陥候補「５０３ｃ」には、長い縦欠陥に対応する欠陥画素候補が残る。また、この結果、前記追加（分配）後の点欠陥候補「５０３ｂ」には、追加（分配）前の点欠陥候補「５０２ｂ」と、横欠陥候補「５０２ａ」や縦欠陥候補「５０２ｃ」に含まれていた第一の欠陥候補とが含まれる。
【００８４】
そして、図１１の（ｉｉｉ）や（ｉｖ）に示すように、分配処理部４０５は、追加後の点欠陥候補「５０３ｂ」の第二の欠陥候補のうち、（３）分配後の横欠陥候補「５０３ａ」や縦欠陥候補「５０３ｃ」で線欠陥候補にない欠陥候補を、点欠陥候補「５０３ｂ」から削除し、横欠陥候補「５０３ａ」または縦欠陥候補「５０３ｃ」へ追加する。この結果、（４）再分配後の横欠陥候補「５０４ａ」には、（３）分配後の横欠陥候補「５０３ａ」に含まれる欠陥候補と、欠陥候補「５０３ｂ」の第二の欠陥候補のうち横方向に欠陥画素候補が分布したものがあれば、該横方向に欠陥画素候補が分布した欠陥候補とが含まれることになる。また、（４）再分配後の縦欠陥候補「５０４ｃ」には、（３）分配後の縦欠陥候補「５０３ｃ」に含まれる欠陥候補と、欠陥候補「５０３ｂ」の第二の欠陥候補のうち縦方向に欠陥画素候補が分布したものがあれば、該縦方向に欠陥画素候補が分布した欠陥候補とが含まれることになる。
【００８５】
そして、図１１の（ｖ）に示すように、分配処理部４０５は、（４）再分配後の点欠陥候補「５０４ｂ」から、残った第二の欠陥候補を削除する。この結果、削除後の点欠陥候補「５０５ｂ」には、（３）分配後の点欠陥候補「５０３ｂ」のうち、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補が残る。
【００８６】
そして、決定部４０６は、（４）再分配後の横欠陥候補「５０４ａ」に含まれる欠陥画素候補が横欠陥であると決定し、再分配後の縦欠陥候補「５０４ｃ」に含まれる欠陥画素候補が縦欠陥であると決定する。また、決定部４０６は、（５）削除後の点欠陥候補「５０５ｂ」に含まれる欠陥画素候補が点欠陥であると決定する。
【００８７】
また、決定部４０６は、線欠陥や点欠陥を決定すると、決定した線欠陥や点欠陥の位置や個数を出力する。例えば、決定部４０６は、検出装置３００を利用する利用者に出力する。例えば、決定部４０６は、線欠陥が「２」個検出された旨や、検出された線欠陥の位置を出力する。
【００８８】
なお、検出装置３００は、既知のパーソナルコンピュータ、ワークステーション、携帯電話、ＰＨＳ（Personal Handyphone System）端末、移動体通信端末又はＰＤＡ（Personal Digital Assistant）などの情報処理装置を利用して実現しても良い。例えば、ＰＤＡなどの情報処理装置に、図２に示した点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と、決定部４０６との各機能を搭載することによって実現しても良い。
【００８９】
［実施例２に係る検出装置による処理］
次に、図１２を用いて、実施例２に係る検出装置３００による処理の流れの一例について説明する。図１２は、実施例２に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【００９０】
図１２に示すように、検査が開始されると（ステップＳ１０１肯定）、点灯指示部４０１は、テストパターンを送信する（ステップＳ１０２）。そして、カメラ３０１は、画像表示装置２００がテストパターンを表示すると、画像表示装置２００の表示領域を撮像する（ステップＳ１０３）。
【００９１】
そして、点欠陥候補検出部４０３は、点欠陥を検出するのに適した検出条件を用いて、撮像画像から点欠陥候補を検出する（ステップＳ１０４）。例えば、点欠陥候補検出部４０３は、ラプラシアンフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。
【００９２】
また、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から横欠陥候補を検出し（ステップＳ１０５）、縦欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から縦欠陥候補を検出する（ステップＳ１０６）。例えば、線欠陥候補検出部４０４は、ソーベルフィルタを用いて欠陥画素候補を検出する。
【００９３】
そして、分配処理部４０５は、横欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配し（ステップＳ１０７）、縦欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する（ステップＳ１０８）。すなわち、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、横欠陥候補や縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、点欠陥候補に分配する。
【００９４】
そして、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から分配後の線欠陥候補に、第二の欠陥候補を再分配する（ステップＳ１０９）。具体的には、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、横方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の横欠陥候補に再分配する。また、分配処理部４０５は、第二の欠陥候補のうち、縦方向に欠陥画素候補が分布したものを分配後の縦欠陥候補に再分配する。
【００９５】
すなわち、分配処理部４０５は、漏れや重複が起きる可能性のある欠陥画素候補については、点欠陥候補に一旦集約した上で（上述のステップＳ１０７及びＳ１０８）、集約後の点欠陥候補を用いて線欠陥か点欠陥かを判定する。そして、集約後の点欠陥候補を用いた判定結果に基づいて、線欠陥については線欠陥候補に再分配し（上述のステップＳ１０９）、点欠陥についてはそのまま残す。
【００９６】
そして、決定部４０６は、再分配後の点欠陥候補を「点欠陥」として決定し、再分配後の線欠陥候補を「線欠陥」として決定する（ステップＳ１１０）。
【００９７】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ１０４〜Ｓ１０６との順番を利用者が任意に変更しても良く、並行して実行しても良い。また、例えば、上述のステップＳ１０７とＳ１０８との順番を逆にしても良い。
【００９８】
［実施例２における分配処理部による分配処理］
図１３を用いて、線欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する処理の流れの一例について説明する。図１３は、第一の欠陥候補を分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。なお、図１３を用いて説明する処理は、図１２におけるステップＳ１０７やステップＳ１０８に対応する。以下では、横欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する場合を例に説明する。
【００９９】
図１３に示すように、分配処理部４０５は、横欠陥候補について、横方向についての主軸限定処理を行う（ステップＳ２０１）。つまり、分配処理部４０５は、横欠陥候補から、横方向に欠陥画素候補が分布していない欠陥画素候補を除外する。言い換えると、分配処理部４０５は、縦方向や斜め方向に欠陥画素候補が分布しているものがあれば除外する。例えば、分配処理部４０５は、横方向を「ｘ」軸、縦方向を「ｙ」軸とした場合に、「ｘ」軸を中心として「±１０℃」以内に欠陥画素候補が分布しているもの以外を除外する。
【０１００】
主軸限定処理について更に説明する。例えば、撮像画像にノイズが含まれている場合には、縦欠陥候補に、「斜め」方向に分布した欠陥画素候補が含まれる場合がある。この場合、主軸限定処理を実行することによって、「斜め」方向に分布した欠陥画素候補を除外することができる。
【０１０１】
そして、分配処理部４０５は、横欠陥候補のうち、第一の閾値より小さい欠陥画素候補を抽出することで、第一の欠陥候補を抽出する（ステップＳ２０２）。例えば、分配処理部４０５は、「４画素」よりも小さい線状の欠陥画素候補や点状の欠陥画素候補を抽出する。
【０１０２】
そして、分配処理部４０５は、第一の欠陥候補を点欠陥候補に分配する（ステップＳ２０３）。また、この際、分配処理部４０５は、分配前の横欠陥候補から第一の欠陥候補を削除した上で、分配後の横欠陥候補とする。また、分配処理部４０５は、横欠陥候補からの第一の欠陥候補と、分配前の点欠陥候補とを統合する。
【０１０３】
なお、縦欠陥候補から点欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する場合には、分配処理部４０５は、上述のステップＳ２０１において、「ｙ」軸を中心として「±１０℃」以内に欠陥画素が分布しているもの以外を除外する。
【０１０４】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ２０１と〜Ｓ２０２との順番を逆にしても良い。また、上述の主軸限定処理では、「±１０℃」以内に欠陥画素候補が分布しているもの以外を除外する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、「±１０℃」より幅が広くても狭くても良く、利用者が任意の値を設定して良い。
【０１０５】
［実施例２における分配処理部による再分配処理］
次に、図１４を用いて、分配後の点欠陥候補から分配後の線欠陥候補に第二の欠陥候補を再分配する処理の流れの一例について説明する。図１４は、第二の欠陥候補を再分配する処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。なお、図１４を用いて説明する処理は、図１２におけるステップＳ１０９に対応する。
【０１０６】
図１４に示すように、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補について、横方向についての主軸限定処理を行う（ステップＳ３０１）。つまり、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から、横方向に欠陥画素候補が分布していない欠陥画素候補を除外する。
【０１０７】
そして、分配処理部４０５は、横方向についての主軸限定処理により得られた欠陥画素候補のうち、第二の閾値より大きい欠陥画素候補を抽出することで、第二の欠陥候補を抽出する（ステップＳ３０２）。例えば、分配処理部４０５は、「３画素」よりも大きい欠陥画素候補を抽出する。
【０１０８】
そして、分配処理部４０５は、ステップＳ３０２にて抽出した第二の欠陥候補を横欠陥候補に再分配する（ステップＳ３０３）。この際、分配処理部４０５は、点欠陥候補からの第二の欠陥候補と、分配後の横欠陥候補とを統合し、再分配後の横欠陥候補とする。
【０１０９】
また、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補について、縦方向についての主軸限定処理を行う（ステップＳ３０４）。つまり、分配処理部４０５は、分配後の点欠陥候補から、縦方向に欠陥画素候補が分布していない欠陥画素候補を除外する。
【０１１０】
そして、分配処理部４０５は、縦方向についての主軸限定処理により得られた欠陥画素候補のうち、第二の閾値より大きい欠陥画素候補を抽出することで、第二の欠陥候補を抽出する（ステップＳ３０５）。例えば、分配処理部４０５は、「３画素」よりも大きい欠陥画素候補を抽出する。
【０１１１】
そして、分配処理部４０５は、ステップＳ３０５にて抽出した第二の欠陥候補を縦欠陥候補に再分配する（ステップＳ３０６）。この際、分配処理部４０５は、点欠陥候補からの第二の欠陥候補と、分配後の縦欠陥候補とを統合し、再分配後の縦欠陥候補とする。また、分配処理部４０５は、分配後再分配前の点欠陥候補から、ステップＳ３０３やステップＳ３０５にて再分配した第二の欠陥候補を削除する。
【０１１２】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ３０４〜Ｓ３０６を、ステップＳ３０１〜Ｓ３０３の前に実行しても良く、上述のステップＳ３０１とＳ３０２との順番を逆にしても良く、上述のステップＳ３０４とＳ３０５との順番を逆にしても良い。
【０１１３】
［実施例２の効果］
上述のように、実施例２によれば、検出装置３００は、画像表示装置２００の撮像画像を取得する。そして、取得した撮像画像から点欠陥候補を検出し、取得した撮像画像から線欠陥候補を検出する。そして、検出装置３００は、検出した線欠陥候補のうち第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を抽出し、第一の検出部によって検出された点欠陥候補に分配する。そして、検出装置３００は、分配後の点欠陥候補のうち第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を抽出し、分配後の線欠陥候補に再分配する。そして、検出装置３００は、再分配後の点欠陥候補を点欠陥として決定し、再分配後の線欠陥候補を線欠陥として決定する。この結果、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【０１１４】
例えば、処理結果に重複や漏れの発生を防止する手法としては、線欠陥を検出する処理や点欠陥を検出する処理にて用いられる閾値を適切な値に設定する手法が考えられる。しかしながら、光学的なゆがみの影響で、検出結果において欠陥画素候補の大きさが同一であっても、表示領域上では同じサイズの欠陥画素とは限らず、重複や漏れをなくすような閾値を定めることが困難である。これに対して、本発明によれば、同一の欠陥画素に対応する欠陥画素候補を統合することで、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【実施例３】
【０１１５】
さて、これまで、実施例２として、点欠陥候補と線欠陥候補とを検出する手法について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、点欠陥候補を検出しなくても良い。具体的には、実施例２では、点欠陥候補と縦欠陥候補と横欠陥候補とを用いて実行する手法について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、縦欠陥候補と横欠陥候補とを用いて実行しても良い。
【０１１６】
そこで、以下では、実施例３として、縦欠陥候補と横欠陥候補とを用いて実行する手法について説明する。なお、以下では、実施例２に係る検出装置と同様の点については、簡単に説明し、又は、説明を省略する。
【０１１７】
具体的には、実施例３に係る検出装置では、分配処理部４０５は、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、横欠陥候補に分配する。そして、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、分配後の縦欠陥候補に再分配する。そして、決定部４０６は、再分配後の縦欠陥候補のうち、第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を点欠陥として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補を横欠陥として決定する。
【０１１８】
図１５を用いて、実施例３における分配処理部４０５と決定部４０６とによる処理について更に説明する。図１５は、実施例３における分配処理部と決定部とによる処理について説明するための図である。
【０１１９】
ここで、図１５の「６０１」は、撮像画像の一例である。図１５の「６０２ａ、６０２ｃ」は、線欠陥候補検出部４０４によって検出された欠陥画素候補である。図１５の「６０３ａ、６０３ｃ」は、分配後の欠陥画素候補である。図１５の「６０４ａ、６０４ｃ」は、再分配後の欠陥画素候補である。また、図１５の「６０５ｂや６０５ｃ」については、後述するため、ここでは説明を省略する。
【０１２０】
図１５の（ｉ）に示すように、分配処理部４０５は、縦欠陥候補「６０２ｃ」から第一の欠陥候補を横欠陥候補「６０２ａ」に分配する。この結果、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」には、横欠陥候補「６０２ａ」と、縦欠陥候補「６０２ｃ」に含まれていた第一の欠陥候補とが含まれる。また、分配後の縦欠陥候補「６０３ｃ」には、長い縦欠陥に対応する欠陥画素候補が残る。
【０１２１】
ここで、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」には、分配前の横欠陥候補「６０２ａ」が残ったままである。すなわち、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」は、分配前の横欠陥候補「６０２ａ」と、分配前の縦欠陥候補「６０２ｃ」から分配された欠陥画素候補とを統合したものである。言い換えると、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」は、分配前の横欠陥候補「６０２ａ」と、分配前の縦欠陥候補「６０２ｃ」から分配された欠陥画素候補とを重ねたものが該当する。この結果、縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補については、重ねられることで１つに統合される。また、横欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、横欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になる。
【０１２２】
そして、図１５の（ｉｉ）に示すように、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」から縦欠陥候補「６０３ｃ」に、第一の欠陥候補を再分配する。この結果、再分配後の横欠陥候補「６０４ａ」には、長い横欠陥に対応する欠陥画素候補が残る。また、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」には、長い縦欠陥に対応する欠陥画素候補と、分配後の横欠陥候補「６０３ａ」に含まれていた第一の欠陥候補とが含まれる。
【０１２３】
ここで、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」には、再分配前の縦欠陥候補「６０３ｃ」が残ったままである。すなわち、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」は、再分配前の縦欠陥候補「６０３ｃ」と、再分配前の横欠陥候補「６０３ａ」から再分配された欠陥画素候補とを統合したものである。言い換えると、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」は、再分配前の縦欠陥候補「６０３ｃ」と、再分配前の横欠陥候補「６０３ａ」から再分配された欠陥画素候補とを重ねたものが該当する。この結果、横欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、欠陥画素「Ａ」に対応する欠陥画素候補については、重ねられることで１つに統合される。また、縦欠陥の端点に対応する欠陥画素候補は、縦欠陥に対応する欠陥画素候補の一部になる。
【０１２４】
ここで、図１５の（ｉｉ）において再分配される第一の欠陥候補には、図１５の（ｉ）にて分配された第一の欠陥候補のうち、横欠陥の端部に対応する欠陥候補画素は含まれない。これは、上述のように、横欠陥の端部に対応する欠陥候補画素は、横欠陥に対応する横欠陥候補「６０２ａ」の欠陥画素候補に統合されたからである。
【０１２５】
そして、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補「６０４ａ」に含まれる欠陥画素候補を横欠陥として決定する。また、決定部４０６は、図１５の（ｉｉｉ）に示すように、再分配後の縦欠陥候補「６０４ｃ」に含まれる第二の欠陥候補を「縦欠陥」として決定する。また、決定部４０６は、図１５の（ｉｖ）に示すように、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を「点欠陥」として決定する。
【０１２６】
［実施例３に係る検出装置による処理］
図１６を用いて、実施例３に係る検出装置による処理の流れの一例について説明する。図１６は、実施例３に係る検出装置による処理の流れの一例について説明するためのフローチャートである。
【０１２７】
図１６に示すように、検査が開始されると（ステップＳ４０１肯定）、点灯指示部４０１は、テストパターンを送信する（ステップＳ４０２）。カメラ３０１は、画像表示装置２００がテストパターンを表示すると、画像表示装置２００の表示領域を撮像する（ステップＳ４０３）。
【０１２８】
そして、線欠陥候補検出部４０４は、横欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から横欠陥候補を検出し（ステップＳ４０４）、縦欠陥を検出するのに適した条件を用いて、撮像画像から縦欠陥候補を検出する（ステップＳ４０５）。
【０１２９】
そして、分配処理部４０５は、縦欠陥候補から横欠陥候補に第一の欠陥候補を分配する（ステップＳ４０６）。すなわち、分配処理部４０５は、縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、縦欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、横欠陥候補に分配する。
【０１３０】
そして、分配処理部４０５は、横欠陥候補から縦欠陥候補に第一の欠陥候補を再分配する（ステップＳ４０７）。すなわち、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補についてはそのまま残す。一方、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補に含まれる欠陥画素候補のうち、線欠陥であることが明らかな欠陥画素候補以外の欠陥画素候補については、縦欠陥候補に再分配する。
【０１３１】
そして、決定部４０６は、点欠陥や横欠陥、縦欠陥を決定する（ステップＳ４０８）。具体的には、決定部４０６は、決定部４０６は、再分配後の縦欠陥候補のうち、第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を点欠陥として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補を横欠陥として決定する。
【０１３２】
すなわち、分配処理部４０５は、漏れや重複が起きる可能性のある欠陥画素候補について、縦欠陥候補に一旦集約した上で（上述のステップＳ４０６及びＳ４０７）、集約後の縦欠陥候補から縦欠陥と点欠陥とを決定する。
【０１３３】
なお、上述の処理手順は、上述の順番に限定されるものではなく、処理内容を矛盾させない範囲で適宜変更しても良い。例えば、上述のステップＳ４０４とＳ４０５との順番を逆にしても良い。
【０１３４】
また、上述の処理手順は、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を横欠陥候補に分配し、その後、分配後の横欠陥候補から第一の欠陥候補を縦欠陥候補に再分配する手法について説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、横欠陥候補から第一の欠陥候補を縦欠陥候補に分配し、その後、分配後の縦欠陥候補から第一の欠陥候補を横欠陥候補に再分配しても良い。
【０１３５】
［実施例３の効果］
上述のように、実施例３に係る検出装置では、分配処理部４０５は、縦欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、横欠陥候補に分配する。そして、分配処理部４０５は、分配後の横欠陥候補から第一の欠陥候補を抽出し、分配後の縦欠陥候補に再分配する。そして、決定部４０６は、再分配後の縦欠陥候補のうち、第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、第二の欠陥候補以外の欠陥画素候補を点欠陥として決定する。また、決定部４０６は、再分配後の横欠陥候補を横欠陥として決定する。この結果、処理結果に重複や漏れが発生することを防止可能である。
【実施例４】
【０１３６】
さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述の実施例以外にも、その他の実施例にて実施されても良い。そこで、以下では、その他の実施例について説明する。
【０１３７】
［カメラ］
例えば、上述の実施例では、検出装置がカメラを有する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、検出装置とカメラ３０１とを別装置としても良い。この場合、検出装置は、画像表示装置２００の表示領域の撮像画像を取得できれば良い。例えば、利用者によって撮像画像が検出装置に入力されても良く、検出装置とは別装置のカメラから有線又は無線ネットワークを介して取得しても良い。
【０１３８】
［システム構成］
また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的に行われるものとして説明した処理の全部又は一部を手動的に行うこともでき、あるいは、手動的に行われるものとして説明した処理の全部又は一部を公知の方法で自動的に行うこともできる。例えば、上述の実施例では、カメラ３０１が自動的に画像を撮像する場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、検出装置３００を利用する利用者が手動にて撮像しても良い。
【０１３９】
この他、上述文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報（図１〜図１７）については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【０１４０】
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。例えば、カメラ３０１を検出装置３００の外部装置としてネットワーク経由で接続するようにしても良い。また、点欠陥候補検出部４０３と線欠陥候補検出部４０４とを別の装置がそれぞれ有し、ネットワーク経由で接続されて協働することで、上述の検出装置３００の機能を実現するようにしても良い。
【０１４１】
［コンピュータ］
また、上述の実施例で説明した各種の処理は、予め用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することによって実現することができる。そこで、以下では、図１７を用いて、上述の実施例と同様の機能を有する検出プログラムを実行するコンピュータの一例について説明する。なお、図１７は、実施例２に係る検出プログラムを実行するコンピュータの一例について説明するための図である。
【０１４２】
図１７に示すように、実施例２におけるコンピュータ３０００は、操作部３００１、マイク３００２、スピーカ３００３、ディスプレイ３００４、通信部３００６、ＣＰＵ３０１０、ＲＯＭ３０１１、ＲＡＭ（Random Access Memory）３０１３をバス３００９などで接続して構成されている。
【０１４３】
ＲＯＭ３０１１には、上述の実施例２で示した点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と、決定部４０６と同様の機能を発揮する制御プログラム、つまり、図１７に示すように、点灯指示プログラム３０１１ａと、撮像画像取得プログラム３０１１ｂと、点欠陥候補検出プログラム３０１１ｃと、線欠陥候補検出プログラム３０１１ｄと、分配処理プログラム３０１１ｅと、決定プログラム３０１１ｆとが予め記憶されている。なお、これらのプログラム３０１１ａ〜３０１１ｆについては、図２に示した検出装置３００の各構成要素と同様、適宜統合又は分離しても良い。
【０１４４】
そして、ＣＰＵ３０１０が、これらのプログラム３０１１ａ〜３０１１ｆをＲＯＭ３０１１から読み出して実行することにより、図１７に示すように、各プログラム３０１１ａ〜３０１１ｆについては、点灯指示プロセス３０１０ａと、撮像画像取得プロセス３０１０ｂと、点欠陥候補検出プロセス３０１０ｃと、線欠陥候補検出プロセス３０１０ｄと、分配処理プロセス３０１０ｅと、決定プロセス３０１０ｆとして機能するようになる。なお、各プロセス３０１０ａ〜３０１０ｆは、図２に示した、点灯指示部４０１と、撮像画像取得部４０２と、点欠陥候補検出部４０３と、線欠陥候補検出部４０４と、分配処理部４０５と、決定部４０６とにそれぞれ対応する。
【０１４５】
そして、ＣＰＵ３０１０は、ＲＡＭ３０１３に格納された横欠陥候補データ３０１３ａと、縦欠陥候補データ３０１３ｂと、点欠陥候補データ３０１３ｃとを用いて、検出プログラムを実行する。
【０１４６】
［その他］
なお、本実施例で説明した検出プログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布することができる。また、検出プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。
【符号の説明】
【０１４７】
１００ 検出装置
１０１ 取得部
１０２ 検出部
１０３ 移動部
１０４ 決定部
２００ 画像表示装置
３００ 検出装置
３０１ カメラ
４００ 制御部
４０１ 点灯指示部
４０２ 撮像画像取得部
４０３ 点欠陥候補検出部
４０４ 線欠陥候補検出部
４０５ 分配処理部
４０６ 決定部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する検出部と、
前記検出部によって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補及び／又は所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する移動部と、
前記移動部による移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する決定部と
を備えたことを特徴とする検出装置。
【請求項２】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から点欠陥候補を検出する第一の検出部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から線欠陥候補を検出する第二の検出部と、
前記第二の検出部によって検出された線欠陥候補から第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を削除するとともに、前記第一の検出部によって検出された点欠陥候補に追加する第一の分配部と、
前記第一の分配部による処理後の点欠陥候補から第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を抽出し、前記第一の分配部による処理後の線欠陥候補に追加する再分配部と、
前記再分配部による処理後の点欠陥候補を点欠陥として決定する第一の決定部と、
前記再分配部による処理後の線欠陥候補を線欠陥として決定する第二の決定部と
を備えたことを特徴とする検出装置。
【請求項３】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から横欠陥候補を検出する第一の検出部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から縦欠陥候補を検出する第二の検出部と、
前記第二の検出部によって検出された縦欠陥候補から第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を削除するとともに、前記第一の検出部によって検出された横欠陥候補に追加する第一の分配部と、
前記第一の分配部による処理後の横欠陥候補から第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を抽出し、前記第一の分配部による処理後の縦欠陥候補に追加する再分配部と、
前記再分配部による処理後の縦欠陥候補のうち、第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、該第二の欠陥候補以外を点欠陥として決定する第三の決定部と、
前記再分配部による処理後の横欠陥候補を横欠陥として決定する第四の決定部と
を備えたことを特徴とする検出装置。
【請求項４】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得ステップと、
前記取得ステップによって取得された撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する検出ステップと、
前記検出ステップによって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補及び／又は所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を前記種別ごとの候補間で移動する移動ステップと、
前記移動ステップによる移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する決定ステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とする検出プログラム。
【請求項１】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する検出部と、
前記検出部によって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補及び／又は所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する移動部と、
前記移動部による移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する決定部と
を備えたことを特徴とする検出装置。
【請求項２】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から点欠陥候補を検出する第一の検出部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から線欠陥候補を検出する第二の検出部と、
前記第二の検出部によって検出された線欠陥候補から第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を削除するとともに、前記第一の検出部によって検出された点欠陥候補に追加する第一の分配部と、
前記第一の分配部による処理後の点欠陥候補から第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を抽出し、前記第一の分配部による処理後の線欠陥候補に追加する再分配部と、
前記再分配部による処理後の点欠陥候補を点欠陥として決定する第一の決定部と、
前記再分配部による処理後の線欠陥候補を線欠陥として決定する第二の決定部と
を備えたことを特徴とする検出装置。
【請求項３】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から横欠陥候補を検出する第一の検出部と、
前記取得部によって取得された撮像画像から縦欠陥候補を検出する第二の検出部と、
前記第二の検出部によって検出された縦欠陥候補から第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を削除するとともに、前記第一の検出部によって検出された横欠陥候補に追加する第一の分配部と、
前記第一の分配部による処理後の横欠陥候補から第一の閾値よりも小さい第一の欠陥候補を抽出し、前記第一の分配部による処理後の縦欠陥候補に追加する再分配部と、
前記再分配部による処理後の縦欠陥候補のうち、第二の閾値よりも大きい第二の欠陥候補を縦欠陥として決定し、該第二の欠陥候補以外を点欠陥として決定する第三の決定部と、
前記再分配部による処理後の横欠陥候補を横欠陥として決定する第四の決定部と
を備えたことを特徴とする検出装置。
【請求項４】
画像表示装置の撮像画像を取得する取得ステップと、
前記取得ステップによって取得された撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する検出ステップと、
前記検出ステップによって種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補及び／又は所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を前記種別ごとの候補間で移動する移動ステップと、
前記移動ステップによる移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する決定ステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とする検出プログラム。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９−１】
【図９−２】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９−１】
【図９−２】
【図１０】
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【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【公開番号】特開２０１１−５３１１６（Ｐ２０１１−５３１１６Ａ）
【公開日】平成２３年３月１７日（２０１１．３．１７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−２０３０４１（Ｐ２００９−２０３０４１）
【出願日】平成２１年９月２日（２００９．９．２）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年３月１７日（２０１１．３．１７）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年９月２日（２００９．９．２）
【出願人】（０００００５２２３）富士通株式会社 (25,993)
【Ｆターム（参考）】
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