欠陥検出装置、欠陥修復装置、表示パネル、表示装置、欠陥検出方法、プログラム
【課題】本発明は、カラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルに表示された画像をカメラで撮像し、表示パネルの欠陥を検出する技術に関し、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断することができる欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】
表示パネルを撮像し、画像データとして取得する撮像部と、前記画像データから欠陥部位候補を抽出する欠陥部位検出部と、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部とを備える欠陥検出装置において、前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出する。
【解決手段】
表示パネルを撮像し、画像データとして取得する撮像部と、前記画像データから欠陥部位候補を抽出する欠陥部位検出部と、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部とを備える欠陥検出装置において、前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、カラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルに表示された画像をカメラで撮像し、表示パネルの欠陥を検出する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、複数色の絵素が一定方向に配列した表示パネルを、撮像素子を有する撮像部で撮像することにより、表示パネルの欠陥を検査する欠陥検査装置が開示されている。
【０００３】
特許文献１記載の欠陥検査装置は、撮像素子により撮像された画像データを処理することにより欠陥を判定する画像処理部を備える。上記画像処理部は、表示パネルの欠陥を検査するための検査パターンを表示パネルに表示させるパターン表示部と、検査パターンが表示された表示パネルを撮像素子により撮像して得られた画像データに基づいて表示パネルの欠陥部位候補を検出する欠陥部位検出部と、上記欠陥部位候補の色を特定する欠陥部位色特定部とを備える。上記画像処理部は、上記欠陥部位色特定部によって特定された欠陥部位候補の色ごとに設定された判定基準に基づいて、欠陥部位候補の良否を判定することを特徴とする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−８５８９２公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
モノクロカメラでカラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルを撮像して欠陥部位候補を特定しようとする際に、前記欠陥部位候補は、複数の色の絵素を含む場合（例えば、赤の絵素とその隣にある緑の絵素とを含む大きな欠陥部位など）があるが、特許文献１はそのような場合を想定するものではない。そのため、欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含む場合においても、複数種類の色の絵素を含まない単一色と判定され、前記判定された単一色の判定基準に基づいて欠陥部位候補の良否を判定するため、適切な判断基準と異なる基準で判断されることとなり、欠陥の誤検出が発生する。
【０００６】
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、欠陥部位候補が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断することができる欠陥検出装置を提供するものである。
【０００７】
本発明は、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断し、正確に検出された欠陥を修復する欠陥検出装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の欠陥検出装置は、複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部とを備える欠陥検出装置であって前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の欠陥検出装置は、前記良否判定部は、欠陥部位候補の画素が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記欠陥部位候補の画素に係る前記コントラスト値を分割し、前記分割した前記コントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し、前記１つの欠陥部位候補の画素に係る前記欠陥度を算出することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の欠陥検出装置は、複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部と、前記良否判定部により欠陥と判定された場合に、欠陥を修復する表示パネル修復部と、を備える欠陥修復装置であって前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明の欠陥検出装置は、複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得するステップと、前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出するステップと、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定するステップと、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定するステップとを実行する欠陥検出方法であって１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明のプログラムは、対象物を撮像し画像データとして取得する撮像装置と接続されたコンピュータに欠陥度を判定させるプログラムであって、該プログラムは、前記画像データの画素の輝度信号量と前記画像データが示す対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位を検出するステップと、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定ステップと、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定ステップと、１つの前記欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するステップと、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係る欠陥検出装置または欠陥検出方法によれば、モノクロカメラでカラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルを撮像して欠陥部位候補を特定しようとする際に、前記欠陥部位候補が複数の色の絵素を含む場合においても、前記色毎に異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するので、適切な基準で判断することができるので、誤検出を防止し欠陥を正確に検出することができる。
【００１４】
また、本発明に係る欠陥修正装置によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復すべき欠陥が修復されずに残ることが無い。従って、不良品を生産するリスクが低い。
【００１５】
また、本発明に係る欠陥修正装置によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復する必要のない軽微な欠陥を修復することが無い。従って、表示パネルの生産コストの削減および生産期間の短縮を行うことができる。
【００１６】
また、本発明に係る欠陥修正装置によれば、低コストまたは／かつ低不良率の表示パネルおよび前記表示パネルを具備する表示装置を提供することができる。
【００１７】
また、本発明に係るプログラムまたは前記プログラムを記憶した記憶媒体によれば、前記プログラムを、撮像装置に接続されたコンピュータにインストールすることにより、本実施例に係る欠陥検出装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施の形態に係る欠陥検出装置と欠陥検出の対象物である表示装置との構成図である。
【図２】本実施の形態の欠陥検出方法のフロー図である。
【図３】本実施の形態に係る欠陥修復装置と欠陥修復の対象物である表示装置との構成図である。
【図４】本実施の形態の欠陥修復方法のフロー図である。
【図５】表示パネル上の絵素配列の例である。
【図６】絵素配列と画素配列との対応関係を示す説明図である。
【図７】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【図８】補正係数を示す表である。
【図９】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【図１０】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【図１１】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明に係る実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
図１に本実施の形態に係る欠陥検出装置と欠陥検出の対象物である表示装置との構成図を示す。本実施の形態の欠陥検出装置は、モノクロカメラである撮像部１、欠陥部位検出部２、色特定部３、良否判定部４、出力部５を備える。また、欠陥検出の対象物である表示装置は表示パネル６を備え、該表示パネル６は各色に対応した複数の絵素を備える。
【００２０】
図２に本実施の形態の欠陥検出方法のフロー図を示す。まず初めに、パターン表示部７が表示パネル６にパターンを表示し、撮像部１が前記パターンを撮像し、画像データとして取得する（ステップ１。これを「Ｓ１」として示す。以下同様）。なお、本明細書においては、撮像部の受光素子が受けた光の強度に応じて前記受光素子が出力した信号の大きさを「輝度信号量」と呼ぶこととする。前記画像データの各画素の値は輝度信号量となっている。
【００２１】
次に欠陥部位検出部２が画像データに関しコントラスト値の計算を行ない、コントラスト画像を作成する（Ｓ２）。コントラスト値とは、画像データの最小単位である画素について、画素の値である輝度信号量と、前記表示装置に前記パターンが正常に表示された場合における輝度信号量の予測値と、の差を言う。
【００２２】
次に画像データから欠陥部位候補を抽出する（Ｓ３）。前記コントラスト値の計算により、正常な絵素に係るコントラスト値は約０となっているはずであるから、コントラスト画像において０と大きく異なる値を有する画素に対応する表示パネル６の部位は、欠陥である可能性が高い。従って、コントラスト値の絶対値があるしきい値より大きな画素を欠陥部位候補として抽出すれば良い。
【００２３】
この時、撮像部１が撮像した画像データの分解能が欠陥部位候補より大きければ、１つの欠陥部位候補は、隣接する複数の画素からなる画素群として抽出される。
【００２４】
次に色特定部３が、欠陥部位候補に含まれる各画素についての対象物である絵素の色を特定する（Ｓ４）。色の特定は、画像データにおける輝度信号量に基づいて特定しても良いし、表示パネル６に位置合せ用のパターンを表示し、前記パターンを撮像部１で撮像して画像データとし、前記パターンと画像データにおける前記パターンとを照合して対応関係を特定する位置合せ情報を作成し、画素の座慓と前記位置合せ情報とに基づいて前記画素に対応する絵素を特定し、さらに表示パネルに係る設計情報に基づき、特定された絵素から前記絵素の色を特定することによって特定しても良い。
【００２５】
次に良否判定部４が、特定された色に基づき、欠陥度を算出する（Ｓ５）。コントラスト値の絶対値と欠陥度との比である補正係数は、表示パターンおよび絵素の色により異なる。以下に３つの例を示す。
【００２６】
例えば、表示パターンに基づいて黒色で表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は黒で表示される。前記黒で表示されるべき絵素が赤、緑、青のいずれか（コントラスト値が正）で表示された場合、輝点欠陥であると考えられるが、人間の目の感度は緑色に対し高く、青色に対しては低い。欠陥度を人間の目の感度に一致させるため、黒で表示されるべき絵素が青で表示される場合については、小さな補正係数を乗じ、黒で表示されるべき絵素が緑で表示される場合については、大きな補正係数を乗ずる。なお、撮像部１がモノクロカメラであるので、輝点欠陥がいずれの色で表示されているかは不明であるが、輝点欠陥において、絵素本来の色と異なる色で表示される確率は、極めて希であるので、色特定部３が特定する色で表示されたと推定して上記の補正係数を乗ずることとする。
【００２７】
また、表示パターンに基づいて、明るく表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は、赤、緑、青、それぞれの絵素の色で表示される。赤、緑、青のいずれかで表示されるべき絵素が黒（コントラスト値が負）で表示された場合、黒点欠陥であると考えられるが、人間の目の感度に応じて補正するため、青で表示されるべき絵素が黒で表示される場合については、コントラスト値に−１を乗じて符号を正とした後に、小さな補正係数を乗じ、緑で表示されるべき絵素が黒で表示される場合については、コントラスト値に−１を乗じて符号を正とした後に、大きな補正係数を乗ずることによって、欠陥度を人間の目の感度に近い値とする。
【００２８】
また、表示パターンに基づいて、明るく表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は、赤、緑、青、それぞれの絵素の色で表示される。赤、緑、青のいずれかで表示されるべき絵素が白（コントラスト値が正）で表示された場合、白点欠陥と考えられるが、人間の目の感度に応じて補正するため、青で表示されるべき絵素が白で表示される場合については、大きな補正係数を乗じ、緑で表示されるべき絵素が白で表示される場合については、小さな補正係数を乗ずることによって、欠陥度を人間の目の感度に近い値とする。なお、白色欠陥は、カラーフィルタにインクが載っておらず、全ての光を透過する場合等に発生する。
【００２９】
以上、説明した通り、表示パターンとコントラスト値の符号および色特定部３が特定した色とに基づき、適切な補正係数を選択し、コントラスト値に乗ずる。なお、補正係数は、絵素の色および絵素の色に対する受光素子の感度によって、設定するべき値であり、上記の以外の補正係数であっても良い。
【００３０】
また、欠陥部位候補が複数の画素からなる時は、前記複数の画素の欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度とすれば良い。すなわち、１つの欠陥が複数種類の色の絵素を含んでいる場合には、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することとなる。
【００３１】
次に、欠陥を判定する（Ｓ６）。具体的には、Ｓ３にて抽出された各欠陥について、欠陥度と判定値と比較し、判定値より欠陥度が大きければ、欠陥と判定する。
【００３２】
最後に、出力部５が、欠陥と判定された部位に関する情報を出力する（Ｓ７）。欠陥と判定された部位に関する情報としては、その表示パネルにおける欠陥の座慓値、色、欠陥の種類等がある。表示パネルにおける欠陥の座慓値は、コントラスト画像における欠陥の座標値を、画素データの各画素に対応する絵素を特定する情報に基づいて、表示パネルにおける座慓に変換することにより可能である。また、欠陥の種類としては、黒点欠陥、輝点欠陥、白点欠陥等がある。
【００３３】
本実施の形態によれば、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて欠陥度に補正を行なうので、適切な基準で判断することができ、ご検出を防止し、欠陥を正確に検出することができる。
【実施例１】
【００３４】
図３を参照して、本発明の実施例に係る欠陥修復装置の構成について説明する。図３は、本実施例に係る欠陥修復装置と欠陥修復の対象物である表示装置との構成図である。本実施例の欠陥修復装置は、表示装置の欠陥（絵素欠け等）を修復する装置である。
【００３５】
本実施の形態の欠陥修復装置は、本実施の形態に係る欠陥検出装置を備える。具体的には、撮像部１、欠陥部位検出部２、色特定部３、良否判定部４を備える。また、表示パネル修復部８、位置合せ部９、位置合せ情報１０を備えて構成される。また、欠陥検出の対象物である表示装置は表示パネル６を備える。パターン表示部７は、欠陥修復装置、表示装置のいずれに含まれていても良い。
【００３６】
なお、欠陥部位検出部２、色特定部３、良否判定部４、位置合せ部９は、コンピュータを前記各部として機能させるプログラムをインストールすることによって構成しても良い。
【００３７】
図４に本実施の形態の欠陥修復方法のフロー図を示す。まず初めに、位置合せ部９が表示パネル６と撮像部１との位置合せ（キャリブレーション）を行ない、位置合せ情報１０を出力する（Ｓ０）。位置合せ情報１０とは、撮像部１によって撮像された画素データの各画素に対応する表示パネル６の絵素およびその色を特定する情報である。具体的には、表示パネル６に位置合せ用のパターンを表示し、前記パターンを撮像部１で撮像して画像データとし、前記パターンと画像データにおける前記パターンとを照合して、対応関係を特定する。本工程Ｓ０は、前記位置合せ情報１０を作成できれば良く、上記に例示した方法以外の方法で位置合せ情報１０を作成しても良い。
【００３８】
次に、パターン表示部７が表示パネル６に欠陥検出用のパターンを表示し、撮像部１が前記パターンを撮像し、その輝度信号量を画像データとして取得する（Ｓ１）。
【００３９】
欠陥検出用のパターンとしては、その目的に応じて様々なパターンがある。全灯パターン（全ての絵素を明るく表示すること）、黒ベタパターン（全ての絵素を暗く表示すること）等がある。全灯パターンでは、光らない欠陥（黒点欠陥、黒線欠陥等）や色ムラを検出することができる。黒ベタパターンでは、光る欠陥（輝点、輝線、白点、白線）を検出することができる。また、一種類の色の絵素のみを光らせる単色パターン、絵素を１つおきに光らせる奇数パターン、偶数パターンにおいては、欠陥のある絵素の特定が容易である。なお、本実施例は、欠陥検出用のパターンを限定するものではなく、いずれのパターンであっても良い。
【００４０】
また、前記画像データにおいては、撮像部１の撮像光学系を理由とする歪みがある場合は、前記歪みを補正した方が望ましい。前記歪みは、位置合せ情報１０より特定することができる。
【００４１】
次に欠陥部位検出部２がコントラスト値の計算を行ない、コントラスト画像とする（Ｓ２）。コントラスト値の計算とは、画像データの各画素について、画素の値である輝度信号量と、表示パターンが正常に表示された場合の輝度信号量の予測値と、の差を算出することを言う。表示パターンが正常に表示された場合の輝度信号量の予測方法としては、欠陥検出用のパターンおよび表示パネル６の絵素配列の空間的周期性に基づき、異なる周期の同位相の画素から特定する方法がある。
【００４２】
図５に表示パネル６上の絵素配列１００の例を示す。図５は、横方向にＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の絵素が横に並び１つの単位を構成し、かつ前記単位が縦横に配列されていることを示している。ここでは、ｍ行ｎ列目の単位を構成する赤の絵素をＲｍｎ、緑の絵素をＧｍｎ、青の絵素をＢｍｎで示している。図５に示した絵素構成において全灯パターンを表示させた場合、横方向１単位を空間的周期とするパターンとなるから、Ｒ２２に対しＲ２１、Ｒ２３がそれぞれ横に１周期離れた同位相の絵素となる。周期が異なっても位相が同じであれば、その輝度信号量は類似するはずであり、Ｒ２１の輝度信号量とＲ２３の輝度信号量との平均は、パターンが正常に表示された場合のＲ２２の輝度信号量と近似するはずである。すなわち、Ｒ２２の絵素に係るコントラストＣＲ２２をＲ２２−（Ｒ２１＋Ｒ２３）／２と求めても良い。これにより、画像データから表示パターンの空間的周期性および表示パネル上の絵素配列の空間的周期性を原因とする輝度信号量の変動が排除される。
【００４３】
表示パネル６上の絵素配置１００には空間的周期性があるのが通常であるので、空間的周期は特定可能である。表示するパターンも既知であるから、周期性があるパターンであれば、その空間的周期も特定可能である。これを液晶パネルのピッチ等の情報を有する位置合せ情報１０に基づいて変換すれば、画像データにおける空間的周期を特定することができる。
【００４４】
また、別の空間的周期の特定方法としては、画像データの特徴に基づいて、空間的周期を求める方法がある。具体的には、空間的周期の値を少しずつ変更してコントラスト画像を複数作成し、コントラスト値のばらつきが最小となる周期を真の周期として特定する方法等である。
【００４５】
次にコントラスト画像から欠陥部位候補を抽出する（Ｓ３）。前記コントラスト値の計算により、正常な絵素に係るコントラスト値は約０となっているはずであるから、コントラスト画像において０と大きく異なる値を有する画素に対応する表示パネル６の部位は、欠陥である可能性が高い。従って、コントラスト値の絶対値があるしきい値より大きな画素を欠陥部位候補として抽出すれば良い。
【００４６】
なお、撮像部１が撮像した画像データの分解能が欠陥より大きければ、１つの欠陥部位候補は、隣接する複数の画素からなる画素群として抽出される。
【００４７】
次に色特定部３が、欠陥部位候補に含まれる各画素について、対応する絵素の色を特定する（Ｓ４）。画素データの各画素に対応する絵素およびその色を特定する情報を取得し、画素の座慓と前記情報とに基づいて前記画素に対応する絵素を特定し、さらに前記絵素の色を特定することによって特定しても良い。また、他の方法によって特定しても良い。
【００４８】
図６を用いて、画素の色１０１ａの特定について説明する。画素の色１０１ａは、画素における絵素の面積比である。図６は絵素配列１００と、前記絵素配列１００を撮像して取得した画素配列１０１との対応関係を示したものである。図６においては、一行の絵素配列１００と一行の画素配列１０１についてのみ図示している。絵素配列１００は、Ｒ、Ｇ、Ｂ、Ｒ、Ｇ、Ｂと６つの絵素が順に並んでいることを示している。画素配列１０１は、前記絵素配列１００に対応するデータであり、図６ではｘ１〜ｘ１１からなる１１個の直列する画素から構成されている。画素配列１００と画素配列１０１との対応は、位置合せ情報１０により特定することができる。
【００４９】
絵素の色から画素の色１０１ａを特定するに際し、１つの画素が１つの絵素にのみ対応する場合は、前記絵素の色を画素の色と特定する。例えば、画素ｘ１の色はＲ、画素ｘ３の色はＧ、画素ｘ５の色はＢ、画素ｘ７の色はＲ、画素ｘ９の色はＧ、画素ｘ１１の色はＢである。また、１つ画素が２つ以上の絵素を含んでいる（対応する）場合、前記画素における各絵素の面積比を算出する。例えば、画素ｘ２は、絵素Ｒ１とＧ１とに対応するが、その面積の割合はＲが５でＧが１である。同様に、画素ｘ４はＧが２でＢが１の割合、画素ｘ６はＢが１でＲが１の割合、画素ｘ８はＲが１でＧが２の割合、画素ｘ１０はＧが１でＢが５の割合である。
【００５０】
次に良否判定部４が、特定された色に基づき、欠陥度を算出する（Ｓ５）。コントラスト値の絶対値と欠陥度との比である補正係数は、表示するパターンおよび絵素の色により異なる。
【００５１】
図７に黒ベタパターンを表示した場合における輝点欠陥、および全灯パターンにおける黒点欠陥に関する補正係数を示す。輝度信号量を目視感度に一致させるため、目視感度／輝度信号量を補正係数とする。表示パネル６が表示するＲ、Ｇ、Ｂ各色に係る画像データの輝度信号量が０．４、０．３、０．３であったとする。また、人間の目視感度が０．３、０．６、０．１であったとする。この場合、Ｒに係る補正係数は０．３／０．４＝０．７５、Ｇに係る補正係数は０．６／０．３＝２．０、Ｂに係る補正係数は０．１／０．３＝０．３３とすれば良い。なお、Ｒ、Ｇ、Ｂ各色の目視感度は、表示パネル６に表示された各色を色彩輝度計によって測定することによって特定することが出来る。
【００５２】
図７の「補正係数（補色）」の列に、白点欠陥（絵素を光らせるパターンを表示させた場合に、本来の輝度よりさらに明るく表示される欠陥）に用いる補正係数を示す。輝度信号量を目視感度に一致させるため、（ｗ−ｌ）／（Ｗ−Ｌ）を補正係数とする。なお、Ｗは、ＲＧＢの絵素全てを光らせた場合における輝度信号量であり、ＲＧＢの輝度信号量の合計である。ｌは各色の目視感度である。また、ｗは、ＲＧＢ全てを光らせた場合における目視感度であり、ＲＧＢの目視感度の合計である。Ｌは各色の輝度信号量である。図７の例では、Ｗ＝０．４＋０．３＋０．３＝１、ｗ＝０．３＋０．６＋０．１＝１であるので、Ｒの補正係数（補色）は（１−０．３）／（１−０．４）＝１．１７、Ｇの補正係数（補色）は（１−０．６）／（１−０．３）＝０．５７、Ｂの補正係数（補色）は（１−０．１）／（１−０．３）＝１．２９となる。
【００５３】
図８を用いて、各画素の欠陥度１０２ａの算出例を説明する。図８に画素配列１０１に対応するコントラスト値１０２を示す。コントラスト値１０２は、黒ベタパターンを表示パネル６に表示して撮像した画像データに基づく。
【００５４】
工程Ｓ３において、画素ｘ３のコントラスト値が０．０７５、画素ｘ４のコントラスト値が０．３、画素ｘ５のコントラスト値が０．０７５である１つの欠陥部位候補が検出されたことを示している。
【００５５】
画素ｘ３の欠陥度１０２ａを算出する。画素ｘ３の色は、画素の色１０１ａよりＧである。Ｇの補正係数は図７より２．０であるので、画素ｘ３のコントラスト値である０．０７５にＧの補正係数である２．０を乗じて、欠陥度の値０．１５を得る。
【００５６】
画素ｘ４の欠陥度１０２ａを算出する。画素ｘ４の色は画像の色１０１ａよりＧが２、Ｂが１の面積比である。これに基づき、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合の色毎のコントラスト値を求める。図７にあるように、明るく表示されるよう制御した場合のＧの輝度信号量は０．３であるので、Ｇに係るコントラスト値は、Ｇの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＧの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比２／３を乗じた値である０．２となる。同様に、明るく表示されるよう制御した場合のＢの輝度信号量は０．３であるので、Ｂに係るコントラスト値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／３を乗じた値である０．１となる。
【００５７】
図７より、Ｇの補正係数は２．０、Ｂの補正係数０．３３であるので、画素ｘ４に係る補正係数は前記各色に係るコントラスト値の割合でＧの補正係数とＢの補正係数とを合成したものとなる。即ち、（０．２×２．０＋０．１×０．３３）／（０．２＋０．１）＝１．４４３が画素ｘ４に係る補正係数となる。これをコントラスト値である０．３に乗じて、欠陥度の値０．４３３を得る。
【００５８】
画素ｘ５の欠陥度１０２ａを算出する。画素ｘ５の色は画像の色１０１ａよりＢである。Ｂの補正係数は図７より０．３３であるので、画素ｘ５のコントラスト値である０．７５にＢの補正係数である０．３３を乗じて、欠陥度の値０．０２５を得る。
【００５９】
次に、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度は１つの欠陥部位候補に係るので、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度を求める。欠陥度は、０．１５＋０．４３３＋０．０２５＝０．６０８と算出される。
【００６０】
次に、欠陥を判定する（Ｓ６）。具体的には、Ｓ３にて抽出された欠陥部位候補について、欠陥度と判定値と比較し、判定値より欠陥度が大きければ、欠陥と判定する。図７のコントラスト画像１０２に示した欠陥の欠陥度は０．６０８であるので、これと判定値とを大小比較し、判定値より欠陥度が大きければ、欠陥と判定する。例えば、判定値が０．５とすると、前記の値は欠陥と判定される。
【００６１】
なお、前記算出においては、算出に用いる計算式の代わりに等価ないし近似である他の計算式を用いても良い。例えば、図８のコントラスト値１０２における画素ｘ４に係るコントラスト値のうち２／３がＧに係るコントラスト値、１／３がＢに係るコントラスト値と解釈できる。これにより、欠陥全体におけるＧに係るコントラスト値は、画素ｘ３に係るコントラス値０．０７５と画素ｘ４に係るコントラスト値０．３をＧの割合２／３で分割した値との合計、すなわち、０．０７５＋０．３×２／３＝０．２７５と算出する。これはＧに係る部分なのでＧに係る補正係数である２．０を乗じて、Ｇに係る欠陥度０．５５を得る。同様にＢに係るコントラスト値は、画素ｘ４のコントラスト値０．３をＢの割合１／３で分割した値と画素ｘ５に係るコントラスト値０．０７５との合計、すなわち、０．３×１／３＋０．０７５＝０．０１７５である。これにＢに係る補正係数である０．３３を乗じてＢに係る欠陥度０．０５８を得る。最後にＧに係る欠陥度０．５５と、Ｂに係る欠陥度０．０５８とを合計し、０．６０８を求めても良い。
【００６２】
また、判定に影響を与えない範囲で計算を省略しても良い。例えば、判定値が０．５である場合、画素ｘ３に係る欠陥度０．１５と画素ｘ４に係る欠陥度０．４４３とを合計した時点で判定値０．５を超えるので、画素ｘ５に係る欠陥度を合計するまでもなく、欠陥であることが判定できる。このように、判定と関係のない計算については、適宜省略しても良い。
【００６３】
最後に、表示パネル修復部８が欠陥について修復を行なう。表示パネル修復部８は、レーザを用いた欠陥修復装置等から構成される。
【００６４】
具体的には、工程Ｓ６において欠陥と判定された欠陥部位候補について、コントラスト画像における座慓に位置合せ情報１０を適用して、欠陥のある絵素を特定する。欠陥のある絵素、すなわち修復すべき絵素の色については、工程Ｓ４において色特定部３が特定した通りである。欠陥の種類は、欠陥検出用のパターンとコントラスト値の符号によって判断することができる。欠陥のある絵素および色、欠陥の種類が特定できたら、前記欠陥に係る情報に基づき、表示パネル修復部８が欠陥のある絵素を修復する。これにより、欠陥のある絵素が修復された表示パネルおよび前記表示パネルを具備する表示装置を生産することが可能となる。
【００６５】
本実施例によれば、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、前記色毎に異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するので、適切な基準で判断することができ、欠陥でないものを欠陥として検出したり、欠陥を検出しなかったりすることを防止し、正確に欠陥を検出することができる。
【００６６】
さらに、本実施例によれば、欠陥部位候補の画素が複数種類の色の絵素を含んでいる場合においても、前記色の割合で前記欠陥または前記欠陥部位候補の画素に係る前記コントラスト値を分割し、前記分割した前記コントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し、前記１つの欠陥部位候補の画素に係る前記欠陥度を算出する。従って、適切な基準で判断することができ、欠陥でないものを欠陥として検出したり、欠陥を検出しなかったりすることを防止し、正確に欠陥を検出することができる。
【００６７】
さらに、本実施例によれば、欠陥に含まれる色の割合に応じて欠陥度の補正を行なうので、撮像部１および画素配列１０１、コントラスト画像１０２の解像度が低い場合においても正確に欠陥を検出することができ、本発明の欠陥検出装置、欠陥修復装置の製造コストの削減や、欠陥検出のためのタクトタイムの向上を図ることができる。
【００６８】
また、本実施例によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復すべき欠陥が修復されずに残ることが無い。
【００６９】
また、本実施例によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復する必要のない軽微な欠陥を修復することが無い。従って、表示パネル６の生産コストの軽減および生産期間を短縮することができる。
【００７０】
また、本実施例によれば、低コストまたは／かつ低不良率の表示パネルおよび前記表示パネルを具備する表示装置を提供することができる。
【００７１】
また、本実施例に係るプログラムまたは前記プログラムを記憶した記憶媒体によれば、前記プログラムを、撮像装置を有するコンピュータにインストールすることにより、本実施例に係る欠陥検出装置を提供することができる。
【実施例２】
【００７２】
本実施例は、欠陥度を算出する工程Ｓ５の算出方法が実施例１と異なる実施例である。それ以外においては、実施例１と同様であるので、説明を略す。
【００７３】
図９を用いて、本実施例に係る欠陥度の算出例を説明する。図９に絵素配列１００と前記絵素配列１００を撮像して取得した画素配列１０１との対応関係を示す。絵素配列１００および画素配列１０１の関係は実施例１と同じである。また、画素配列１０１に対応するコントラスト値１０２ａを示す。コントラスト画像１０２ａは、黒ベタパターンを表示パネル６に表示して撮像した画像データに基づく。
【００７４】
図９のコントラスト値１０２は、工程Ｓ３において、画素ｘ４の値が０．１５、画素ｘ５の値が０．３、画素ｘ６の値が０．０７５である１つの欠陥部位候補が検出されたことを示している。
【００７５】
図９において、画素ｘ４は欠陥部位候補の端に位置する画素であり、隣接する画素ｘ３は欠陥部位候補ではない。従って、画素ｘ４における欠陥は、欠陥部位候補であるｘ５側に偏在していると予想される。画素ｘ４の右側（画素ｘ５側）１／３はＢの絵素が配置され、左側（画素ｘ３側）２／３はＧの絵素が配置されている。従って、欠陥のうち多くの部分はＢの絵素に存在するものであり、Ｇの絵素に存在する欠陥の面積は狭いと予想できる。
【００７６】
仮に欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量と同じであると仮定すると、画素ｘ４におけるＢの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比１／３を乗じた値である０．１と考えられる。また、画素ｘ４におけるＧの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｇの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＧの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比２／３を乗じた値である０．２と考えられる。
【００７７】
ここで、画素ｘ４に係るコントラスト値０．１５は同画素におけるＢの絵素のコントラスト値の最大値０．１より大きいので、前記コントラスト値０．１５のうち最大値０．１を超えない部分、すなわち０．１についてはＢの絵素に係る欠陥によるコントラスト値と推定する。また、画素ｘ４に係るコントラスト値０．１５よりＢの絵素に係るコントラスト値０．１を減じた残りのコントラスト値０．０５については、Ｇに係る欠陥と推定する。
【００７８】
以上の推定に基づき、画素ｘ４に係る欠陥度を算出する。具体的には、Ｂの絵素に係るコントラスト値０．１にＢに係る補正係数０．３３を乗じて、Ｂの絵素に係る欠陥度０．０３３を得る。また、Ｇの絵素に係るコントラスト値０．０５にＧに係る補正係数２．０を乗じて、Ｇの絵素に係る欠陥度０．１を得る。最後にＧの絵素に係る欠陥度０．０３３とＧの絵素に係る欠陥度０．１とを合計し、画素ｘ４に係る欠陥度０．１３３を得る。
【００７９】
次に、画素ｘ５に係る欠陥度を算出する。画素ｘ５に係る絵素の色はＢのみであるので、コントラスト値０．３にＢに係る補正係数０．３３を乗じて、画素ｘ５に係る欠陥度０．０９９を得る。
【００８０】
次に、画素ｘ６に係る欠陥度を算出する。画素ｘ６は欠陥部位候補の端に位置する画素であり、隣接する画素ｘ７は欠陥部位候補ではない。従って、画素ｘ６における欠陥は、欠陥部位候補であるｘ５側に偏在していると予想される。画素ｘ６の左側（画素ｘ５側）１／２はＢの絵素が配置され、右側（画素ｘ７側）１／２はＲの絵素が配置されている。従って、欠陥のうち多くの部分はＢの絵素に存在するものであり、Ｒの絵素に存在する欠陥の面積は狭いと予想できる。
【００８１】
仮に欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量と同じであると仮定すると、画素ｘ６におけるＢの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．１５と考えられる。また、画素ｘ６におけるＲの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｒの輝度信号量０．４から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＲの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．２と考えられる。
【００８２】
ここで、画素ｘ６に係るコントラスト値０．０７５は同画素におけるＢの絵素のコントラスト値の最大値０．１５より小さいので、前記コントラスト値０．０７５のうち最大値０．１５以下である部分、すなわち０．０７５全部についてはＢの絵素に係る欠陥によるコントラスト値と推定する。
【００８３】
以上の推定に基づき、画素ｘ６に係る欠陥度を算出する。具体的には、Ｂの絵素に係るコントラスト値０．０７５にＢに係る補正係数０．３３を乗じて、Ｂの絵素に係る欠陥度０．０２５を得る。また、Ｇの絵素に欠陥は無いので、Ｇの絵素に係る欠陥度は０である。従って、画素ｘ６に係る欠陥度は０．０２５となる。
【００８４】
次に、画素ｘ４〜画素ｘ６に係る欠陥度は１つの欠陥部位候補に係るので、画素ｘ４〜画素ｘ６に係る欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度を求める。欠陥度は、０．１３３＋０．０９９＋０．０２５＝０．２６と算出される。
【００８５】
本実施例によれば、欠陥部位候補の端にある画素が複数の色の絵素を含む場合において、前記画素に隣接する画素が欠陥部位候補であるか否かと、前記画素に係る絵素の配置に基づき、前記欠陥がいずれの絵素に偏在しているかを推定し、かつ前記絵素に係るコントラスト値の最大値を推定し、前記コントラスト値の最大値を超えない範囲で、前記偏在に基づく割合で画素に係るコントラスト値を絵素に係るコントラスト値に分割する。従って、各絵素に係るコントラスト値を正確に算出できる。
【００８６】
従って、各色に係るコントラスト値を正確に算出することができる。さらに各色に係るコントラスト値に対し、色によって異なる補正係数を乗じて欠陥度を算出するので、正確に欠陥度を算出することができ、より正確な欠陥の検出および欠陥の修復を行なうことができる。
【００８７】
なお、欠陥部位候補の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率であると仮定して算出してもよい。例えば、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量の８０％と仮定するならば、画素ｘ４におけるＢの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｂの輝度信号量０．３に８０％を乗じてから黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／３を乗じた値である０．０８と算出される。この場合、輝点欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率（例えば約８０％）である場合に関し、正確にコントラスト値の最大値を算出することができる。
【００８８】
同様に黒点欠陥において、欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率（例えば１％）であると仮定して算出してもよい。この場合、黒点欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率（例えば約１％）である場合に関し、正確にコントラスト値の最小値を算出することができる。
【００８９】
同様に白点欠陥において、欠陥の輝度信号量が、Ｗに対し特定の比率（例えば８０％）であると仮定して算出してもよい。この場合、白点欠陥の輝度信号量が、Ｗに対し特定の比率（例えば約８０％）である場合に関し、正確にコントラスト値の最大値を算出することができる。
【００９０】
なお、黒点欠陥等、正常な絵素より暗く表示される欠陥においては、コントラスト値は０以下の値となるので、コントラスト値の最大値に代わりにコントラスト値の最小値を算出し、これを下回らない範囲でコントラスト値を分割すれば良い。
【実施例３】
【００９１】
本実施例は、欠陥候補中の撮像画素における絵素の色を特定する工程Ｓ４の算出方法が実施例１と異なる実施例である。それ以外においては、実施例１と同様であるので、説明を略す。
【００９２】
図１０を用いて、本実施例に係る工程Ｓ４について説明する。本実施例においては、図１０に示す画素ｘ２、ｘ４、ｘ６、ｘ８、ｘ１０に係る画素の色１０１ａのように、１つ画素が２つ以上の絵素を含んでいる（対応する）場合、前記画素における各絵素の面積比を１：１と見なす。
【００９３】
工程Ｓ５以下の工程においては実施例１と同じ方法を用いるが、画素の色１０１ａが実施例１と異なるため、実施例１とは異なる欠陥度が算出される。
【００９４】
図１０に示すｘ４に係る欠陥度の算出を例に説明する。まず、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合の色毎のコントラスト値を求める。明るく表示されるよう制御した場合のＧの輝度信号量は０．３であるので、図７にあるように、Ｇに係るコントラスト値は、Ｇの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＧの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．１５となる。同様に、明るく表示されるよう制御した場合のＢの輝度信号量は０．３であるので、Ｂに係るコントラスト値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．１５となる。
【００９５】
図７より、Ｇの補正係数は２．０、Ｂの補正係数０．３３であるので、画素ｘ４に係る補正係数は前記各色に係るコントラスト値の割合でＧの補正係数とＢの補正係数とを合成したものとなる。即ち、（０．１５×２．０＋０．１５×０．３３）／（０．１５＋０．１５）＝１．１６５が画素ｘ４に係る補正係数となる。これをコントラスト値である０．３に乗じて、欠陥度の値０．３５０を得る。
【００９６】
次に、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度は１つの欠陥部位候補に係るので、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度を求める。画素ｘ３、ｘ５に係る欠陥度は実施例１と同じであるので、欠陥度は、０．１５＋０．３５０＋０．０２５＝０．５２５と算出される。
【００９７】
本実施例によれば、画素における各絵素の面積比を算出する必要が無いため、早く計算することができる。また、１つ画素が２つの絵素を含んでいる場合、前記２つの絵素の色の組み合せによって、補正係数は一定の値となる（例えば、ＲとＧの組み合せの場合、補正係数は常に１．１６５である。）ので、１つの画素が２つ以上の絵素を含んでいる場合に、絵素の面積比毎に補正係数を算出する必要が無く、早く計算することができる。
【００９８】
実施例１の工程Ｓ０に関し説明したように、一般的に、位置合せ情報１０は、表示パネル６に位置合せ用のパターンを表示し、前記パターンを撮像部１で撮像して画像データとし、前記パターンと画像データにおける前記パターンとを照合して、対応関係を特定する。従って、位置合せ情報１０の位置合せ精度は、画像データの解像度（すなわち画素の大きさ）に依存し、画素幅の１／２程度の誤差を含む場合もある。この場合、実施例１の画素の色１０１ａのように正確に面積比を求めることはできないので、本実施例のように、画素における各絵素の面積比を１：１と見なすのが適当である。
【００９９】
なお、目視による欠陥検出結果と本発明の欠陥検出装置の検出結果とを比較し、本発明の欠陥検出装置の検出結果を目視による欠陥検出結果に近づけるよう補正係数を変更しても良い。
【０１００】
具体的には、目視によって検出され、かつ本発明の欠陥検出装置によって検出されない欠陥を未検出欠陥とし、前記未検出欠陥とされた欠陥が、２つの絵素を含む画素を含む場合に、前記画素に係る補正係数を大きくする。
【０１０１】
また、目視によって検出されず、かつ本発明の欠陥検出装置によって検出される欠陥を過検出欠陥とし、前記過検出欠陥とされた欠陥が、２つの絵素を含む画素を含む場合に、前記画素に係る補正係数を小さくする。
【０１０２】
前記補正係数の変更により、本発明の欠陥検出装置は、より目視に近い判断基準で正確に欠陥を検出することができる。
【実施例４】
【０１０３】
本実施例は、欠陥候補中の撮像画素における絵素の色を特定する工程Ｓ４の算出方法が実施例３と異なる実施例である。それ以外においては、実施例３と同様であるので、説明を略す。本実施例は、位置合せ情報１０における位置合せの誤差が画素幅の１／２より大きいと想定される場合に主として用いられる方法および装置である。
【０１０４】
図１１を用いて、本実施例に係る工程Ｓ４について説明する。図１１においては、絵素配列１００は、Ｒ、Ｇ、Ｂと３つの絵素が順に並んでいることを示している。画素ｘ１、ｘ２、ｘ３の色はＲ、画素ｘ６の色はＧ、画素ｘ９、ｘ１０、ｘ１１の色はＢである。また、本実施例においては、位置合せ情報１０における位置合せの誤差が画素幅の１／２より大きいと想定されるので、画素ｘ４、ｘ８だけでなく、それと隣接する画素ｘ５、ｘ８も２つの絵素を含んでいる可能性がある。従って、画素ｘ４、ｘ５に係る補正係数として、ＲとＧとが１：１の面積比の場合の補正係数を用い、画素ｘ８、ｘ９に関する補正係数としてＧとＢとが１：１の面積比の場合の補正係数を用いれば良い。
【０１０５】
図１１の例の場合、ｘ４、ｘ５に関しては、ＲとＧが１：１の面積比の場合の補正係数である１．１６５を用いる。ｘ４に係る欠陥度はコントラスト値０．３に補正係数１．１６５を乗じて０．３５０として求められ、ｘ５に係る欠陥度はコントラスト値０．０７５に補正係数１．１６５を乗じて０．０８７として求められる。ｘ３に係る欠陥度は０．１５であるので、欠陥部位候補全体の欠陥度は、０．１５＋０．３５０＋０．０８７＝０．５８７として算出される。
【０１０６】
本実施例によれば、撮像部の光学特性等により、位置合せ情報１０における位置合せの誤差が画素幅の１／２より大きいと想定される場合においても、２つの絵素を含んでいる可能性のある画素について、適当な補正係数を乗じて欠陥度を検出するので、正確に欠陥を検出することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０７】
多色の絵素から構成される表示パネル（液晶パネル、有機ＥＬパネル、プラズマディスプレイ、ブラウン管、ＬＣＤ表示パネル等）の欠陥を検出ないし修復するに際し利用可能である。
【符号の説明】
【０１０８】
１ 撮像部
２ 欠陥部位検出部
３ 色特定部
４ 良否判定部
５ 出力部
６ 表示パネル
７ パターン表示部
８ 表示パネル修復部
９ 位置合せ部
１０ 位置合せ情報
【技術分野】
【０００１】
本発明は、カラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルに表示された画像をカメラで撮像し、表示パネルの欠陥を検出する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、複数色の絵素が一定方向に配列した表示パネルを、撮像素子を有する撮像部で撮像することにより、表示パネルの欠陥を検査する欠陥検査装置が開示されている。
【０００３】
特許文献１記載の欠陥検査装置は、撮像素子により撮像された画像データを処理することにより欠陥を判定する画像処理部を備える。上記画像処理部は、表示パネルの欠陥を検査するための検査パターンを表示パネルに表示させるパターン表示部と、検査パターンが表示された表示パネルを撮像素子により撮像して得られた画像データに基づいて表示パネルの欠陥部位候補を検出する欠陥部位検出部と、上記欠陥部位候補の色を特定する欠陥部位色特定部とを備える。上記画像処理部は、上記欠陥部位色特定部によって特定された欠陥部位候補の色ごとに設定された判定基準に基づいて、欠陥部位候補の良否を判定することを特徴とする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−８５８９２公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
モノクロカメラでカラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルを撮像して欠陥部位候補を特定しようとする際に、前記欠陥部位候補は、複数の色の絵素を含む場合（例えば、赤の絵素とその隣にある緑の絵素とを含む大きな欠陥部位など）があるが、特許文献１はそのような場合を想定するものではない。そのため、欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含む場合においても、複数種類の色の絵素を含まない単一色と判定され、前記判定された単一色の判定基準に基づいて欠陥部位候補の良否を判定するため、適切な判断基準と異なる基準で判断されることとなり、欠陥の誤検出が発生する。
【０００６】
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、欠陥部位候補が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断することができる欠陥検出装置を提供するものである。
【０００７】
本発明は、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断し、正確に検出された欠陥を修復する欠陥検出装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の欠陥検出装置は、複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部とを備える欠陥検出装置であって前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の欠陥検出装置は、前記良否判定部は、欠陥部位候補の画素が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記欠陥部位候補の画素に係る前記コントラスト値を分割し、前記分割した前記コントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し、前記１つの欠陥部位候補の画素に係る前記欠陥度を算出することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明の欠陥検出装置は、複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部と、前記良否判定部により欠陥と判定された場合に、欠陥を修復する表示パネル修復部と、を備える欠陥修復装置であって前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明の欠陥検出装置は、複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得するステップと、前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出するステップと、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定するステップと、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定するステップとを実行する欠陥検出方法であって１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明のプログラムは、対象物を撮像し画像データとして取得する撮像装置と接続されたコンピュータに欠陥度を判定させるプログラムであって、該プログラムは、前記画像データの画素の輝度信号量と前記画像データが示す対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位を検出するステップと、前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定ステップと、前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定ステップと、１つの前記欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するステップと、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係る欠陥検出装置または欠陥検出方法によれば、モノクロカメラでカラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルを撮像して欠陥部位候補を特定しようとする際に、前記欠陥部位候補が複数の色の絵素を含む場合においても、前記色毎に異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するので、適切な基準で判断することができるので、誤検出を防止し欠陥を正確に検出することができる。
【００１４】
また、本発明に係る欠陥修正装置によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復すべき欠陥が修復されずに残ることが無い。従って、不良品を生産するリスクが低い。
【００１５】
また、本発明に係る欠陥修正装置によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復する必要のない軽微な欠陥を修復することが無い。従って、表示パネルの生産コストの削減および生産期間の短縮を行うことができる。
【００１６】
また、本発明に係る欠陥修正装置によれば、低コストまたは／かつ低不良率の表示パネルおよび前記表示パネルを具備する表示装置を提供することができる。
【００１７】
また、本発明に係るプログラムまたは前記プログラムを記憶した記憶媒体によれば、前記プログラムを、撮像装置に接続されたコンピュータにインストールすることにより、本実施例に係る欠陥検出装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本実施の形態に係る欠陥検出装置と欠陥検出の対象物である表示装置との構成図である。
【図２】本実施の形態の欠陥検出方法のフロー図である。
【図３】本実施の形態に係る欠陥修復装置と欠陥修復の対象物である表示装置との構成図である。
【図４】本実施の形態の欠陥修復方法のフロー図である。
【図５】表示パネル上の絵素配列の例である。
【図６】絵素配列と画素配列との対応関係を示す説明図である。
【図７】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【図８】補正係数を示す表である。
【図９】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【図１０】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【図１１】絵素配列と画素配列とコントラスト値との対応関係を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明に係る実施の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
図１に本実施の形態に係る欠陥検出装置と欠陥検出の対象物である表示装置との構成図を示す。本実施の形態の欠陥検出装置は、モノクロカメラである撮像部１、欠陥部位検出部２、色特定部３、良否判定部４、出力部５を備える。また、欠陥検出の対象物である表示装置は表示パネル６を備え、該表示パネル６は各色に対応した複数の絵素を備える。
【００２０】
図２に本実施の形態の欠陥検出方法のフロー図を示す。まず初めに、パターン表示部７が表示パネル６にパターンを表示し、撮像部１が前記パターンを撮像し、画像データとして取得する（ステップ１。これを「Ｓ１」として示す。以下同様）。なお、本明細書においては、撮像部の受光素子が受けた光の強度に応じて前記受光素子が出力した信号の大きさを「輝度信号量」と呼ぶこととする。前記画像データの各画素の値は輝度信号量となっている。
【００２１】
次に欠陥部位検出部２が画像データに関しコントラスト値の計算を行ない、コントラスト画像を作成する（Ｓ２）。コントラスト値とは、画像データの最小単位である画素について、画素の値である輝度信号量と、前記表示装置に前記パターンが正常に表示された場合における輝度信号量の予測値と、の差を言う。
【００２２】
次に画像データから欠陥部位候補を抽出する（Ｓ３）。前記コントラスト値の計算により、正常な絵素に係るコントラスト値は約０となっているはずであるから、コントラスト画像において０と大きく異なる値を有する画素に対応する表示パネル６の部位は、欠陥である可能性が高い。従って、コントラスト値の絶対値があるしきい値より大きな画素を欠陥部位候補として抽出すれば良い。
【００２３】
この時、撮像部１が撮像した画像データの分解能が欠陥部位候補より大きければ、１つの欠陥部位候補は、隣接する複数の画素からなる画素群として抽出される。
【００２４】
次に色特定部３が、欠陥部位候補に含まれる各画素についての対象物である絵素の色を特定する（Ｓ４）。色の特定は、画像データにおける輝度信号量に基づいて特定しても良いし、表示パネル６に位置合せ用のパターンを表示し、前記パターンを撮像部１で撮像して画像データとし、前記パターンと画像データにおける前記パターンとを照合して対応関係を特定する位置合せ情報を作成し、画素の座慓と前記位置合せ情報とに基づいて前記画素に対応する絵素を特定し、さらに表示パネルに係る設計情報に基づき、特定された絵素から前記絵素の色を特定することによって特定しても良い。
【００２５】
次に良否判定部４が、特定された色に基づき、欠陥度を算出する（Ｓ５）。コントラスト値の絶対値と欠陥度との比である補正係数は、表示パターンおよび絵素の色により異なる。以下に３つの例を示す。
【００２６】
例えば、表示パターンに基づいて黒色で表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は黒で表示される。前記黒で表示されるべき絵素が赤、緑、青のいずれか（コントラスト値が正）で表示された場合、輝点欠陥であると考えられるが、人間の目の感度は緑色に対し高く、青色に対しては低い。欠陥度を人間の目の感度に一致させるため、黒で表示されるべき絵素が青で表示される場合については、小さな補正係数を乗じ、黒で表示されるべき絵素が緑で表示される場合については、大きな補正係数を乗ずる。なお、撮像部１がモノクロカメラであるので、輝点欠陥がいずれの色で表示されているかは不明であるが、輝点欠陥において、絵素本来の色と異なる色で表示される確率は、極めて希であるので、色特定部３が特定する色で表示されたと推定して上記の補正係数を乗ずることとする。
【００２７】
また、表示パターンに基づいて、明るく表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は、赤、緑、青、それぞれの絵素の色で表示される。赤、緑、青のいずれかで表示されるべき絵素が黒（コントラスト値が負）で表示された場合、黒点欠陥であると考えられるが、人間の目の感度に応じて補正するため、青で表示されるべき絵素が黒で表示される場合については、コントラスト値に−１を乗じて符号を正とした後に、小さな補正係数を乗じ、緑で表示されるべき絵素が黒で表示される場合については、コントラスト値に−１を乗じて符号を正とした後に、大きな補正係数を乗ずることによって、欠陥度を人間の目の感度に近い値とする。
【００２８】
また、表示パターンに基づいて、明るく表示されるように制御されている絵素は、正常な場合は、赤、緑、青、それぞれの絵素の色で表示される。赤、緑、青のいずれかで表示されるべき絵素が白（コントラスト値が正）で表示された場合、白点欠陥と考えられるが、人間の目の感度に応じて補正するため、青で表示されるべき絵素が白で表示される場合については、大きな補正係数を乗じ、緑で表示されるべき絵素が白で表示される場合については、小さな補正係数を乗ずることによって、欠陥度を人間の目の感度に近い値とする。なお、白色欠陥は、カラーフィルタにインクが載っておらず、全ての光を透過する場合等に発生する。
【００２９】
以上、説明した通り、表示パターンとコントラスト値の符号および色特定部３が特定した色とに基づき、適切な補正係数を選択し、コントラスト値に乗ずる。なお、補正係数は、絵素の色および絵素の色に対する受光素子の感度によって、設定するべき値であり、上記の以外の補正係数であっても良い。
【００３０】
また、欠陥部位候補が複数の画素からなる時は、前記複数の画素の欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度とすれば良い。すなわち、１つの欠陥が複数種類の色の絵素を含んでいる場合には、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することとなる。
【００３１】
次に、欠陥を判定する（Ｓ６）。具体的には、Ｓ３にて抽出された各欠陥について、欠陥度と判定値と比較し、判定値より欠陥度が大きければ、欠陥と判定する。
【００３２】
最後に、出力部５が、欠陥と判定された部位に関する情報を出力する（Ｓ７）。欠陥と判定された部位に関する情報としては、その表示パネルにおける欠陥の座慓値、色、欠陥の種類等がある。表示パネルにおける欠陥の座慓値は、コントラスト画像における欠陥の座標値を、画素データの各画素に対応する絵素を特定する情報に基づいて、表示パネルにおける座慓に変換することにより可能である。また、欠陥の種類としては、黒点欠陥、輝点欠陥、白点欠陥等がある。
【００３３】
本実施の形態によれば、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて欠陥度に補正を行なうので、適切な基準で判断することができ、ご検出を防止し、欠陥を正確に検出することができる。
【実施例１】
【００３４】
図３を参照して、本発明の実施例に係る欠陥修復装置の構成について説明する。図３は、本実施例に係る欠陥修復装置と欠陥修復の対象物である表示装置との構成図である。本実施例の欠陥修復装置は、表示装置の欠陥（絵素欠け等）を修復する装置である。
【００３５】
本実施の形態の欠陥修復装置は、本実施の形態に係る欠陥検出装置を備える。具体的には、撮像部１、欠陥部位検出部２、色特定部３、良否判定部４を備える。また、表示パネル修復部８、位置合せ部９、位置合せ情報１０を備えて構成される。また、欠陥検出の対象物である表示装置は表示パネル６を備える。パターン表示部７は、欠陥修復装置、表示装置のいずれに含まれていても良い。
【００３６】
なお、欠陥部位検出部２、色特定部３、良否判定部４、位置合せ部９は、コンピュータを前記各部として機能させるプログラムをインストールすることによって構成しても良い。
【００３７】
図４に本実施の形態の欠陥修復方法のフロー図を示す。まず初めに、位置合せ部９が表示パネル６と撮像部１との位置合せ（キャリブレーション）を行ない、位置合せ情報１０を出力する（Ｓ０）。位置合せ情報１０とは、撮像部１によって撮像された画素データの各画素に対応する表示パネル６の絵素およびその色を特定する情報である。具体的には、表示パネル６に位置合せ用のパターンを表示し、前記パターンを撮像部１で撮像して画像データとし、前記パターンと画像データにおける前記パターンとを照合して、対応関係を特定する。本工程Ｓ０は、前記位置合せ情報１０を作成できれば良く、上記に例示した方法以外の方法で位置合せ情報１０を作成しても良い。
【００３８】
次に、パターン表示部７が表示パネル６に欠陥検出用のパターンを表示し、撮像部１が前記パターンを撮像し、その輝度信号量を画像データとして取得する（Ｓ１）。
【００３９】
欠陥検出用のパターンとしては、その目的に応じて様々なパターンがある。全灯パターン（全ての絵素を明るく表示すること）、黒ベタパターン（全ての絵素を暗く表示すること）等がある。全灯パターンでは、光らない欠陥（黒点欠陥、黒線欠陥等）や色ムラを検出することができる。黒ベタパターンでは、光る欠陥（輝点、輝線、白点、白線）を検出することができる。また、一種類の色の絵素のみを光らせる単色パターン、絵素を１つおきに光らせる奇数パターン、偶数パターンにおいては、欠陥のある絵素の特定が容易である。なお、本実施例は、欠陥検出用のパターンを限定するものではなく、いずれのパターンであっても良い。
【００４０】
また、前記画像データにおいては、撮像部１の撮像光学系を理由とする歪みがある場合は、前記歪みを補正した方が望ましい。前記歪みは、位置合せ情報１０より特定することができる。
【００４１】
次に欠陥部位検出部２がコントラスト値の計算を行ない、コントラスト画像とする（Ｓ２）。コントラスト値の計算とは、画像データの各画素について、画素の値である輝度信号量と、表示パターンが正常に表示された場合の輝度信号量の予測値と、の差を算出することを言う。表示パターンが正常に表示された場合の輝度信号量の予測方法としては、欠陥検出用のパターンおよび表示パネル６の絵素配列の空間的周期性に基づき、異なる周期の同位相の画素から特定する方法がある。
【００４２】
図５に表示パネル６上の絵素配列１００の例を示す。図５は、横方向にＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の絵素が横に並び１つの単位を構成し、かつ前記単位が縦横に配列されていることを示している。ここでは、ｍ行ｎ列目の単位を構成する赤の絵素をＲｍｎ、緑の絵素をＧｍｎ、青の絵素をＢｍｎで示している。図５に示した絵素構成において全灯パターンを表示させた場合、横方向１単位を空間的周期とするパターンとなるから、Ｒ２２に対しＲ２１、Ｒ２３がそれぞれ横に１周期離れた同位相の絵素となる。周期が異なっても位相が同じであれば、その輝度信号量は類似するはずであり、Ｒ２１の輝度信号量とＲ２３の輝度信号量との平均は、パターンが正常に表示された場合のＲ２２の輝度信号量と近似するはずである。すなわち、Ｒ２２の絵素に係るコントラストＣＲ２２をＲ２２−（Ｒ２１＋Ｒ２３）／２と求めても良い。これにより、画像データから表示パターンの空間的周期性および表示パネル上の絵素配列の空間的周期性を原因とする輝度信号量の変動が排除される。
【００４３】
表示パネル６上の絵素配置１００には空間的周期性があるのが通常であるので、空間的周期は特定可能である。表示するパターンも既知であるから、周期性があるパターンであれば、その空間的周期も特定可能である。これを液晶パネルのピッチ等の情報を有する位置合せ情報１０に基づいて変換すれば、画像データにおける空間的周期を特定することができる。
【００４４】
また、別の空間的周期の特定方法としては、画像データの特徴に基づいて、空間的周期を求める方法がある。具体的には、空間的周期の値を少しずつ変更してコントラスト画像を複数作成し、コントラスト値のばらつきが最小となる周期を真の周期として特定する方法等である。
【００４５】
次にコントラスト画像から欠陥部位候補を抽出する（Ｓ３）。前記コントラスト値の計算により、正常な絵素に係るコントラスト値は約０となっているはずであるから、コントラスト画像において０と大きく異なる値を有する画素に対応する表示パネル６の部位は、欠陥である可能性が高い。従って、コントラスト値の絶対値があるしきい値より大きな画素を欠陥部位候補として抽出すれば良い。
【００４６】
なお、撮像部１が撮像した画像データの分解能が欠陥より大きければ、１つの欠陥部位候補は、隣接する複数の画素からなる画素群として抽出される。
【００４７】
次に色特定部３が、欠陥部位候補に含まれる各画素について、対応する絵素の色を特定する（Ｓ４）。画素データの各画素に対応する絵素およびその色を特定する情報を取得し、画素の座慓と前記情報とに基づいて前記画素に対応する絵素を特定し、さらに前記絵素の色を特定することによって特定しても良い。また、他の方法によって特定しても良い。
【００４８】
図６を用いて、画素の色１０１ａの特定について説明する。画素の色１０１ａは、画素における絵素の面積比である。図６は絵素配列１００と、前記絵素配列１００を撮像して取得した画素配列１０１との対応関係を示したものである。図６においては、一行の絵素配列１００と一行の画素配列１０１についてのみ図示している。絵素配列１００は、Ｒ、Ｇ、Ｂ、Ｒ、Ｇ、Ｂと６つの絵素が順に並んでいることを示している。画素配列１０１は、前記絵素配列１００に対応するデータであり、図６ではｘ１〜ｘ１１からなる１１個の直列する画素から構成されている。画素配列１００と画素配列１０１との対応は、位置合せ情報１０により特定することができる。
【００４９】
絵素の色から画素の色１０１ａを特定するに際し、１つの画素が１つの絵素にのみ対応する場合は、前記絵素の色を画素の色と特定する。例えば、画素ｘ１の色はＲ、画素ｘ３の色はＧ、画素ｘ５の色はＢ、画素ｘ７の色はＲ、画素ｘ９の色はＧ、画素ｘ１１の色はＢである。また、１つ画素が２つ以上の絵素を含んでいる（対応する）場合、前記画素における各絵素の面積比を算出する。例えば、画素ｘ２は、絵素Ｒ１とＧ１とに対応するが、その面積の割合はＲが５でＧが１である。同様に、画素ｘ４はＧが２でＢが１の割合、画素ｘ６はＢが１でＲが１の割合、画素ｘ８はＲが１でＧが２の割合、画素ｘ１０はＧが１でＢが５の割合である。
【００５０】
次に良否判定部４が、特定された色に基づき、欠陥度を算出する（Ｓ５）。コントラスト値の絶対値と欠陥度との比である補正係数は、表示するパターンおよび絵素の色により異なる。
【００５１】
図７に黒ベタパターンを表示した場合における輝点欠陥、および全灯パターンにおける黒点欠陥に関する補正係数を示す。輝度信号量を目視感度に一致させるため、目視感度／輝度信号量を補正係数とする。表示パネル６が表示するＲ、Ｇ、Ｂ各色に係る画像データの輝度信号量が０．４、０．３、０．３であったとする。また、人間の目視感度が０．３、０．６、０．１であったとする。この場合、Ｒに係る補正係数は０．３／０．４＝０．７５、Ｇに係る補正係数は０．６／０．３＝２．０、Ｂに係る補正係数は０．１／０．３＝０．３３とすれば良い。なお、Ｒ、Ｇ、Ｂ各色の目視感度は、表示パネル６に表示された各色を色彩輝度計によって測定することによって特定することが出来る。
【００５２】
図７の「補正係数（補色）」の列に、白点欠陥（絵素を光らせるパターンを表示させた場合に、本来の輝度よりさらに明るく表示される欠陥）に用いる補正係数を示す。輝度信号量を目視感度に一致させるため、（ｗ−ｌ）／（Ｗ−Ｌ）を補正係数とする。なお、Ｗは、ＲＧＢの絵素全てを光らせた場合における輝度信号量であり、ＲＧＢの輝度信号量の合計である。ｌは各色の目視感度である。また、ｗは、ＲＧＢ全てを光らせた場合における目視感度であり、ＲＧＢの目視感度の合計である。Ｌは各色の輝度信号量である。図７の例では、Ｗ＝０．４＋０．３＋０．３＝１、ｗ＝０．３＋０．６＋０．１＝１であるので、Ｒの補正係数（補色）は（１−０．３）／（１−０．４）＝１．１７、Ｇの補正係数（補色）は（１−０．６）／（１−０．３）＝０．５７、Ｂの補正係数（補色）は（１−０．１）／（１−０．３）＝１．２９となる。
【００５３】
図８を用いて、各画素の欠陥度１０２ａの算出例を説明する。図８に画素配列１０１に対応するコントラスト値１０２を示す。コントラスト値１０２は、黒ベタパターンを表示パネル６に表示して撮像した画像データに基づく。
【００５４】
工程Ｓ３において、画素ｘ３のコントラスト値が０．０７５、画素ｘ４のコントラスト値が０．３、画素ｘ５のコントラスト値が０．０７５である１つの欠陥部位候補が検出されたことを示している。
【００５５】
画素ｘ３の欠陥度１０２ａを算出する。画素ｘ３の色は、画素の色１０１ａよりＧである。Ｇの補正係数は図７より２．０であるので、画素ｘ３のコントラスト値である０．０７５にＧの補正係数である２．０を乗じて、欠陥度の値０．１５を得る。
【００５６】
画素ｘ４の欠陥度１０２ａを算出する。画素ｘ４の色は画像の色１０１ａよりＧが２、Ｂが１の面積比である。これに基づき、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合の色毎のコントラスト値を求める。図７にあるように、明るく表示されるよう制御した場合のＧの輝度信号量は０．３であるので、Ｇに係るコントラスト値は、Ｇの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＧの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比２／３を乗じた値である０．２となる。同様に、明るく表示されるよう制御した場合のＢの輝度信号量は０．３であるので、Ｂに係るコントラスト値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／３を乗じた値である０．１となる。
【００５７】
図７より、Ｇの補正係数は２．０、Ｂの補正係数０．３３であるので、画素ｘ４に係る補正係数は前記各色に係るコントラスト値の割合でＧの補正係数とＢの補正係数とを合成したものとなる。即ち、（０．２×２．０＋０．１×０．３３）／（０．２＋０．１）＝１．４４３が画素ｘ４に係る補正係数となる。これをコントラスト値である０．３に乗じて、欠陥度の値０．４３３を得る。
【００５８】
画素ｘ５の欠陥度１０２ａを算出する。画素ｘ５の色は画像の色１０１ａよりＢである。Ｂの補正係数は図７より０．３３であるので、画素ｘ５のコントラスト値である０．７５にＢの補正係数である０．３３を乗じて、欠陥度の値０．０２５を得る。
【００５９】
次に、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度は１つの欠陥部位候補に係るので、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度を求める。欠陥度は、０．１５＋０．４３３＋０．０２５＝０．６０８と算出される。
【００６０】
次に、欠陥を判定する（Ｓ６）。具体的には、Ｓ３にて抽出された欠陥部位候補について、欠陥度と判定値と比較し、判定値より欠陥度が大きければ、欠陥と判定する。図７のコントラスト画像１０２に示した欠陥の欠陥度は０．６０８であるので、これと判定値とを大小比較し、判定値より欠陥度が大きければ、欠陥と判定する。例えば、判定値が０．５とすると、前記の値は欠陥と判定される。
【００６１】
なお、前記算出においては、算出に用いる計算式の代わりに等価ないし近似である他の計算式を用いても良い。例えば、図８のコントラスト値１０２における画素ｘ４に係るコントラスト値のうち２／３がＧに係るコントラスト値、１／３がＢに係るコントラスト値と解釈できる。これにより、欠陥全体におけるＧに係るコントラスト値は、画素ｘ３に係るコントラス値０．０７５と画素ｘ４に係るコントラスト値０．３をＧの割合２／３で分割した値との合計、すなわち、０．０７５＋０．３×２／３＝０．２７５と算出する。これはＧに係る部分なのでＧに係る補正係数である２．０を乗じて、Ｇに係る欠陥度０．５５を得る。同様にＢに係るコントラスト値は、画素ｘ４のコントラスト値０．３をＢの割合１／３で分割した値と画素ｘ５に係るコントラスト値０．０７５との合計、すなわち、０．３×１／３＋０．０７５＝０．０１７５である。これにＢに係る補正係数である０．３３を乗じてＢに係る欠陥度０．０５８を得る。最後にＧに係る欠陥度０．５５と、Ｂに係る欠陥度０．０５８とを合計し、０．６０８を求めても良い。
【００６２】
また、判定に影響を与えない範囲で計算を省略しても良い。例えば、判定値が０．５である場合、画素ｘ３に係る欠陥度０．１５と画素ｘ４に係る欠陥度０．４４３とを合計した時点で判定値０．５を超えるので、画素ｘ５に係る欠陥度を合計するまでもなく、欠陥であることが判定できる。このように、判定と関係のない計算については、適宜省略しても良い。
【００６３】
最後に、表示パネル修復部８が欠陥について修復を行なう。表示パネル修復部８は、レーザを用いた欠陥修復装置等から構成される。
【００６４】
具体的には、工程Ｓ６において欠陥と判定された欠陥部位候補について、コントラスト画像における座慓に位置合せ情報１０を適用して、欠陥のある絵素を特定する。欠陥のある絵素、すなわち修復すべき絵素の色については、工程Ｓ４において色特定部３が特定した通りである。欠陥の種類は、欠陥検出用のパターンとコントラスト値の符号によって判断することができる。欠陥のある絵素および色、欠陥の種類が特定できたら、前記欠陥に係る情報に基づき、表示パネル修復部８が欠陥のある絵素を修復する。これにより、欠陥のある絵素が修復された表示パネルおよび前記表示パネルを具備する表示装置を生産することが可能となる。
【００６５】
本実施例によれば、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、前記色毎に異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するので、適切な基準で判断することができ、欠陥でないものを欠陥として検出したり、欠陥を検出しなかったりすることを防止し、正確に欠陥を検出することができる。
【００６６】
さらに、本実施例によれば、欠陥部位候補の画素が複数種類の色の絵素を含んでいる場合においても、前記色の割合で前記欠陥または前記欠陥部位候補の画素に係る前記コントラスト値を分割し、前記分割した前記コントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し、前記１つの欠陥部位候補の画素に係る前記欠陥度を算出する。従って、適切な基準で判断することができ、欠陥でないものを欠陥として検出したり、欠陥を検出しなかったりすることを防止し、正確に欠陥を検出することができる。
【００６７】
さらに、本実施例によれば、欠陥に含まれる色の割合に応じて欠陥度の補正を行なうので、撮像部１および画素配列１０１、コントラスト画像１０２の解像度が低い場合においても正確に欠陥を検出することができ、本発明の欠陥検出装置、欠陥修復装置の製造コストの削減や、欠陥検出のためのタクトタイムの向上を図ることができる。
【００６８】
また、本実施例によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復すべき欠陥が修復されずに残ることが無い。
【００６９】
また、本実施例によれば、正確に検出された欠陥について修復を行なうので、修復する必要のない軽微な欠陥を修復することが無い。従って、表示パネル６の生産コストの軽減および生産期間を短縮することができる。
【００７０】
また、本実施例によれば、低コストまたは／かつ低不良率の表示パネルおよび前記表示パネルを具備する表示装置を提供することができる。
【００７１】
また、本実施例に係るプログラムまたは前記プログラムを記憶した記憶媒体によれば、前記プログラムを、撮像装置を有するコンピュータにインストールすることにより、本実施例に係る欠陥検出装置を提供することができる。
【実施例２】
【００７２】
本実施例は、欠陥度を算出する工程Ｓ５の算出方法が実施例１と異なる実施例である。それ以外においては、実施例１と同様であるので、説明を略す。
【００７３】
図９を用いて、本実施例に係る欠陥度の算出例を説明する。図９に絵素配列１００と前記絵素配列１００を撮像して取得した画素配列１０１との対応関係を示す。絵素配列１００および画素配列１０１の関係は実施例１と同じである。また、画素配列１０１に対応するコントラスト値１０２ａを示す。コントラスト画像１０２ａは、黒ベタパターンを表示パネル６に表示して撮像した画像データに基づく。
【００７４】
図９のコントラスト値１０２は、工程Ｓ３において、画素ｘ４の値が０．１５、画素ｘ５の値が０．３、画素ｘ６の値が０．０７５である１つの欠陥部位候補が検出されたことを示している。
【００７５】
図９において、画素ｘ４は欠陥部位候補の端に位置する画素であり、隣接する画素ｘ３は欠陥部位候補ではない。従って、画素ｘ４における欠陥は、欠陥部位候補であるｘ５側に偏在していると予想される。画素ｘ４の右側（画素ｘ５側）１／３はＢの絵素が配置され、左側（画素ｘ３側）２／３はＧの絵素が配置されている。従って、欠陥のうち多くの部分はＢの絵素に存在するものであり、Ｇの絵素に存在する欠陥の面積は狭いと予想できる。
【００７６】
仮に欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量と同じであると仮定すると、画素ｘ４におけるＢの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比１／３を乗じた値である０．１と考えられる。また、画素ｘ４におけるＧの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｇの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＧの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比２／３を乗じた値である０．２と考えられる。
【００７７】
ここで、画素ｘ４に係るコントラスト値０．１５は同画素におけるＢの絵素のコントラスト値の最大値０．１より大きいので、前記コントラスト値０．１５のうち最大値０．１を超えない部分、すなわち０．１についてはＢの絵素に係る欠陥によるコントラスト値と推定する。また、画素ｘ４に係るコントラスト値０．１５よりＢの絵素に係るコントラスト値０．１を減じた残りのコントラスト値０．０５については、Ｇに係る欠陥と推定する。
【００７８】
以上の推定に基づき、画素ｘ４に係る欠陥度を算出する。具体的には、Ｂの絵素に係るコントラスト値０．１にＢに係る補正係数０．３３を乗じて、Ｂの絵素に係る欠陥度０．０３３を得る。また、Ｇの絵素に係るコントラスト値０．０５にＧに係る補正係数２．０を乗じて、Ｇの絵素に係る欠陥度０．１を得る。最後にＧの絵素に係る欠陥度０．０３３とＧの絵素に係る欠陥度０．１とを合計し、画素ｘ４に係る欠陥度０．１３３を得る。
【００７９】
次に、画素ｘ５に係る欠陥度を算出する。画素ｘ５に係る絵素の色はＢのみであるので、コントラスト値０．３にＢに係る補正係数０．３３を乗じて、画素ｘ５に係る欠陥度０．０９９を得る。
【００８０】
次に、画素ｘ６に係る欠陥度を算出する。画素ｘ６は欠陥部位候補の端に位置する画素であり、隣接する画素ｘ７は欠陥部位候補ではない。従って、画素ｘ６における欠陥は、欠陥部位候補であるｘ５側に偏在していると予想される。画素ｘ６の左側（画素ｘ５側）１／２はＢの絵素が配置され、右側（画素ｘ７側）１／２はＲの絵素が配置されている。従って、欠陥のうち多くの部分はＢの絵素に存在するものであり、Ｒの絵素に存在する欠陥の面積は狭いと予想できる。
【００８１】
仮に欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量と同じであると仮定すると、画素ｘ６におけるＢの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．１５と考えられる。また、画素ｘ６におけるＲの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｒの輝度信号量０．４から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＲの絵素の輝度信号量である０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．２と考えられる。
【００８２】
ここで、画素ｘ６に係るコントラスト値０．０７５は同画素におけるＢの絵素のコントラスト値の最大値０．１５より小さいので、前記コントラスト値０．０７５のうち最大値０．１５以下である部分、すなわち０．０７５全部についてはＢの絵素に係る欠陥によるコントラスト値と推定する。
【００８３】
以上の推定に基づき、画素ｘ６に係る欠陥度を算出する。具体的には、Ｂの絵素に係るコントラスト値０．０７５にＢに係る補正係数０．３３を乗じて、Ｂの絵素に係る欠陥度０．０２５を得る。また、Ｇの絵素に欠陥は無いので、Ｇの絵素に係る欠陥度は０である。従って、画素ｘ６に係る欠陥度は０．０２５となる。
【００８４】
次に、画素ｘ４〜画素ｘ６に係る欠陥度は１つの欠陥部位候補に係るので、画素ｘ４〜画素ｘ６に係る欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度を求める。欠陥度は、０．１３３＋０．０９９＋０．０２５＝０．２６と算出される。
【００８５】
本実施例によれば、欠陥部位候補の端にある画素が複数の色の絵素を含む場合において、前記画素に隣接する画素が欠陥部位候補であるか否かと、前記画素に係る絵素の配置に基づき、前記欠陥がいずれの絵素に偏在しているかを推定し、かつ前記絵素に係るコントラスト値の最大値を推定し、前記コントラスト値の最大値を超えない範囲で、前記偏在に基づく割合で画素に係るコントラスト値を絵素に係るコントラスト値に分割する。従って、各絵素に係るコントラスト値を正確に算出できる。
【００８６】
従って、各色に係るコントラスト値を正確に算出することができる。さらに各色に係るコントラスト値に対し、色によって異なる補正係数を乗じて欠陥度を算出するので、正確に欠陥度を算出することができ、より正確な欠陥の検出および欠陥の修復を行なうことができる。
【００８７】
なお、欠陥部位候補の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率であると仮定して算出してもよい。例えば、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量の８０％と仮定するならば、画素ｘ４におけるＢの絵素の欠陥時におけるコントラスト値の最大値は、Ｂの輝度信号量０．３に８０％を乗じてから黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／３を乗じた値である０．０８と算出される。この場合、輝点欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率（例えば約８０％）である場合に関し、正確にコントラスト値の最大値を算出することができる。
【００８８】
同様に黒点欠陥において、欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率（例えば１％）であると仮定して算出してもよい。この場合、黒点欠陥の輝度信号量が、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合における絵素の輝度信号量に対し特定の比率（例えば約１％）である場合に関し、正確にコントラスト値の最小値を算出することができる。
【００８９】
同様に白点欠陥において、欠陥の輝度信号量が、Ｗに対し特定の比率（例えば８０％）であると仮定して算出してもよい。この場合、白点欠陥の輝度信号量が、Ｗに対し特定の比率（例えば約８０％）である場合に関し、正確にコントラスト値の最大値を算出することができる。
【００９０】
なお、黒点欠陥等、正常な絵素より暗く表示される欠陥においては、コントラスト値は０以下の値となるので、コントラスト値の最大値に代わりにコントラスト値の最小値を算出し、これを下回らない範囲でコントラスト値を分割すれば良い。
【実施例３】
【００９１】
本実施例は、欠陥候補中の撮像画素における絵素の色を特定する工程Ｓ４の算出方法が実施例１と異なる実施例である。それ以外においては、実施例１と同様であるので、説明を略す。
【００９２】
図１０を用いて、本実施例に係る工程Ｓ４について説明する。本実施例においては、図１０に示す画素ｘ２、ｘ４、ｘ６、ｘ８、ｘ１０に係る画素の色１０１ａのように、１つ画素が２つ以上の絵素を含んでいる（対応する）場合、前記画素における各絵素の面積比を１：１と見なす。
【００９３】
工程Ｓ５以下の工程においては実施例１と同じ方法を用いるが、画素の色１０１ａが実施例１と異なるため、実施例１とは異なる欠陥度が算出される。
【００９４】
図１０に示すｘ４に係る欠陥度の算出を例に説明する。まず、各絵素が明るく表示されるよう制御した場合の色毎のコントラスト値を求める。明るく表示されるよう制御した場合のＧの輝度信号量は０．３であるので、図７にあるように、Ｇに係るコントラスト値は、Ｇの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＧの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．１５となる。同様に、明るく表示されるよう制御した場合のＢの輝度信号量は０．３であるので、Ｂに係るコントラスト値は、Ｂの輝度信号量０．３から黒ベタパターンを表示させた場合の正常なＢの絵素の輝度信号量０を減算した後に面積比１／２を乗じた値である０．１５となる。
【００９５】
図７より、Ｇの補正係数は２．０、Ｂの補正係数０．３３であるので、画素ｘ４に係る補正係数は前記各色に係るコントラスト値の割合でＧの補正係数とＢの補正係数とを合成したものとなる。即ち、（０．１５×２．０＋０．１５×０．３３）／（０．１５＋０．１５）＝１．１６５が画素ｘ４に係る補正係数となる。これをコントラスト値である０．３に乗じて、欠陥度の値０．３５０を得る。
【００９６】
次に、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度は１つの欠陥部位候補に係るので、画素ｘ３〜画素ｘ５に係る欠陥度を合計し、欠陥部位候補全体の欠陥度を求める。画素ｘ３、ｘ５に係る欠陥度は実施例１と同じであるので、欠陥度は、０．１５＋０．３５０＋０．０２５＝０．５２５と算出される。
【００９７】
本実施例によれば、画素における各絵素の面積比を算出する必要が無いため、早く計算することができる。また、１つ画素が２つの絵素を含んでいる場合、前記２つの絵素の色の組み合せによって、補正係数は一定の値となる（例えば、ＲとＧの組み合せの場合、補正係数は常に１．１６５である。）ので、１つの画素が２つ以上の絵素を含んでいる場合に、絵素の面積比毎に補正係数を算出する必要が無く、早く計算することができる。
【００９８】
実施例１の工程Ｓ０に関し説明したように、一般的に、位置合せ情報１０は、表示パネル６に位置合せ用のパターンを表示し、前記パターンを撮像部１で撮像して画像データとし、前記パターンと画像データにおける前記パターンとを照合して、対応関係を特定する。従って、位置合せ情報１０の位置合せ精度は、画像データの解像度（すなわち画素の大きさ）に依存し、画素幅の１／２程度の誤差を含む場合もある。この場合、実施例１の画素の色１０１ａのように正確に面積比を求めることはできないので、本実施例のように、画素における各絵素の面積比を１：１と見なすのが適当である。
【００９９】
なお、目視による欠陥検出結果と本発明の欠陥検出装置の検出結果とを比較し、本発明の欠陥検出装置の検出結果を目視による欠陥検出結果に近づけるよう補正係数を変更しても良い。
【０１００】
具体的には、目視によって検出され、かつ本発明の欠陥検出装置によって検出されない欠陥を未検出欠陥とし、前記未検出欠陥とされた欠陥が、２つの絵素を含む画素を含む場合に、前記画素に係る補正係数を大きくする。
【０１０１】
また、目視によって検出されず、かつ本発明の欠陥検出装置によって検出される欠陥を過検出欠陥とし、前記過検出欠陥とされた欠陥が、２つの絵素を含む画素を含む場合に、前記画素に係る補正係数を小さくする。
【０１０２】
前記補正係数の変更により、本発明の欠陥検出装置は、より目視に近い判断基準で正確に欠陥を検出することができる。
【実施例４】
【０１０３】
本実施例は、欠陥候補中の撮像画素における絵素の色を特定する工程Ｓ４の算出方法が実施例３と異なる実施例である。それ以外においては、実施例３と同様であるので、説明を略す。本実施例は、位置合せ情報１０における位置合せの誤差が画素幅の１／２より大きいと想定される場合に主として用いられる方法および装置である。
【０１０４】
図１１を用いて、本実施例に係る工程Ｓ４について説明する。図１１においては、絵素配列１００は、Ｒ、Ｇ、Ｂと３つの絵素が順に並んでいることを示している。画素ｘ１、ｘ２、ｘ３の色はＲ、画素ｘ６の色はＧ、画素ｘ９、ｘ１０、ｘ１１の色はＢである。また、本実施例においては、位置合せ情報１０における位置合せの誤差が画素幅の１／２より大きいと想定されるので、画素ｘ４、ｘ８だけでなく、それと隣接する画素ｘ５、ｘ８も２つの絵素を含んでいる可能性がある。従って、画素ｘ４、ｘ５に係る補正係数として、ＲとＧとが１：１の面積比の場合の補正係数を用い、画素ｘ８、ｘ９に関する補正係数としてＧとＢとが１：１の面積比の場合の補正係数を用いれば良い。
【０１０５】
図１１の例の場合、ｘ４、ｘ５に関しては、ＲとＧが１：１の面積比の場合の補正係数である１．１６５を用いる。ｘ４に係る欠陥度はコントラスト値０．３に補正係数１．１６５を乗じて０．３５０として求められ、ｘ５に係る欠陥度はコントラスト値０．０７５に補正係数１．１６５を乗じて０．０８７として求められる。ｘ３に係る欠陥度は０．１５であるので、欠陥部位候補全体の欠陥度は、０．１５＋０．３５０＋０．０８７＝０．５８７として算出される。
【０１０６】
本実施例によれば、撮像部の光学特性等により、位置合せ情報１０における位置合せの誤差が画素幅の１／２より大きいと想定される場合においても、２つの絵素を含んでいる可能性のある画素について、適当な補正係数を乗じて欠陥度を検出するので、正確に欠陥を検出することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０７】
多色の絵素から構成される表示パネル（液晶パネル、有機ＥＬパネル、プラズマディスプレイ、ブラウン管、ＬＣＤ表示パネル等）の欠陥を検出ないし修復するに際し利用可能である。
【符号の説明】
【０１０８】
１ 撮像部
２ 欠陥部位検出部
３ 色特定部
４ 良否判定部
５ 出力部
６ 表示パネル
７ パターン表示部
８ 表示パネル修復部
９ 位置合せ部
１０ 位置合せ情報
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、
前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部と
を備える欠陥検出装置であって
前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出すること
を特徴とする欠陥検出装置。
【請求項２】
請求項１記載の欠陥検出装置であって、
前記良否判定部は、欠陥部位候補の画素が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記欠陥部位候補の画素に係る前記コントラスト値を分割し、前記分割した前記コントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し、前記１つの欠陥部位候補の画素に係る前記欠陥度を算出することを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項３】
複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、
前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部と、
前記良否判定部により欠陥と判定された場合に、欠陥を修復する表示パネル修復部と、
を備える欠陥修復装置であって
前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出すること
を特徴とする欠陥修復装置。
【請求項４】
複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得するステップと、
前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出するステップと、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定するステップと、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定するステップと
を実行する欠陥検出方法であって
１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする
欠陥検出方法。
【請求項５】
対象物を撮像し画像データとして取得する撮像装置と接続されたコンピュータに欠陥度を判定させるプログラムであって、
該プログラムは、
前記画像データの画素の輝度信号量と前記画像データが示す対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位を検出するステップと、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定ステップと、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定ステップと、
１つの前記欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するステップと、
を有することを特徴とする
プログラム。
【請求項１】
複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、
前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部と
を備える欠陥検出装置であって
前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出すること
を特徴とする欠陥検出装置。
【請求項２】
請求項１記載の欠陥検出装置であって、
前記良否判定部は、欠陥部位候補の画素が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記欠陥部位候補の画素に係る前記コントラスト値を分割し、前記分割した前記コントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し、前記１つの欠陥部位候補の画素に係る前記欠陥度を算出することを特徴とする欠陥検出装置。
【請求項３】
複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得する撮像部と、
前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位検出部と、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定部と、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定部と、
前記良否判定部により欠陥と判定された場合に、欠陥を修復する表示パネル修復部と、
を備える欠陥修復装置であって
前記良否判定部は、１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出すること
を特徴とする欠陥修復装置。
【請求項４】
複数の絵素を備える対象物を撮像し、画像データとして取得するステップと、
前記画像データの画素であって、前記画素の輝度信号量と前記対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出するステップと、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定するステップと、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定するステップと
を実行する欠陥検出方法であって
１つの欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出することを特徴とする
欠陥検出方法。
【請求項５】
対象物を撮像し画像データとして取得する撮像装置と接続されたコンピュータに欠陥度を判定させるプログラムであって、
該プログラムは、
前記画像データの画素の輝度信号量と前記画像データが示す対象物が正常である場合における前記画素の輝度信号量の予測値との差であるコントラスト値の絶対値がしきい値以上である画素を欠陥部位候補として抽出する欠陥部位を検出するステップと、
前記欠陥部位候補についての対象物である絵素の色を特定する色特定ステップと、
前記色によって異なる補正係数を前記コントラスト値に乗じて欠陥度を算出し、前記欠陥度が判定値より大きい場合に欠陥と判定する良否判定ステップと、
１つの前記欠陥部位候補が複数種類の色の絵素を含んでいる場合に、前記色毎のコントラスト値に前記色によって異なる補正係数を乗じた後に合計し欠陥度を算出するステップと、
を有することを特徴とする
プログラム。
【図２】
【図４】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１】
【図３】
【図５】
【図４】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１】
【図３】
【図５】
【公開番号】特開２０１１−１９６６８５（Ｐ２０１１−１９６６８５Ａ）
【公開日】平成２３年１０月６日（２０１１．１０．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−６０２８８（Ｐ２０１０−６０２８８）
【出願日】平成２２年３月１７日（２０１０．３．１７）
【出願人】（０００００５０４９）シャープ株式会社 (33,933)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２３年１０月６日（２０１１．１０．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年３月１７日（２０１０．３．１７）
【出願人】（０００００５０４９）シャープ株式会社 (33,933)
【Ｆターム（参考）】
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