画像読取装置
【課題】読取ガラスを清掃する清掃ブラシの変形状態を検知することにより、変形状態が悪化して清掃不良が生じることを未然に防止する。
【解決手段】画像読取装置４の原稿搬送路を挟んで読取ガラス２１に対向する位置に、清掃ブラシ４３を備えた清掃部材４１が配置されており、この清掃部材４１が所定の回転方向Ｒ１に動作することで清掃ブラシ４３が読取ガラス２１の表面を清掃する。位置検出センサ４５によって清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であることが検出されると、それに応答して、清掃部材４３を回転駆動するモータＭ１の駆動電流が読み出され、その駆動電流に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態が検知される構成である。
【解決手段】画像読取装置４の原稿搬送路を挟んで読取ガラス２１に対向する位置に、清掃ブラシ４３を備えた清掃部材４１が配置されており、この清掃部材４１が所定の回転方向Ｒ１に動作することで清掃ブラシ４３が読取ガラス２１の表面を清掃する。位置検出センサ４５によって清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であることが検出されると、それに応答して、清掃部材４３を回転駆動するモータＭ１の駆動電流が読み出され、その駆動電流に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態が検知される構成である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置に関し、特に、原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、その原稿が読取ガラス面上の読取位置を通過する際に画像読取を行うようにした画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、いわゆるシートスルータイプの自動原稿搬送装置を備えた画像読取装置が公知である。この種の装置は、自動原稿搬送装置が原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、その原稿が読取ガラス面上の所定の読取位置を通過する際に、画像読取部が原稿の画像を読み取るように構成されている。
【０００３】
このような画像読取装置では、読取ガラスの表面に紙粉などの異物が付着していると、読み取った画像にその異物が筋状のノイズとなって現れる。そのため、従来から読取ガラスの表面にある異物の影響を除去するために、種々の方法が提案されている。そのなかには、例えば読取ガラス面の上にブラシなどを備えた清掃部材を配置し、その清掃部材を駆動してガラス表面を清掃することによって読取ガラスの表面から異物を除去する方法がある（例えば、特許文献１，２）。
【０００４】
【特許文献１】特開平６−１６４８６３号公報
【特許文献２】特開２０００−２７０１５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、読取ガラスの表面を清掃ブラシで清掃する場合、清掃ブラシの動作方向は、通常、読取ガラス面上を搬送される原稿の搬送方向と常に同じである。そのため、清掃動作を繰り返し行うことにより、清掃ブラシが一定方向に曲がって変形する。これが放置されると、その変形状態はさらに悪化していき、清掃ブラシが読取ガラスに対して良好に接触しなくなる。そのため、清掃不良となり、読み取った画像に筋状のノイズが出現する割合が高くなるという問題がある。
【０００６】
そこで本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされたものであり、清掃ブラシの変形状態を検知することにより、変形状態が悪化して清掃不良が生じることを未然に防止できる画像読取装置を提供することを目的としており、またさらには清掃ブラシの変形状態を補正して清掃ブラシの清掃性能を改善できる画像読取装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、請求項１にかかる発明は、原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、当該原稿が前記読取ガラス面上の読取位置を通過する際に画像読取を行うようにした画像読取装置であって、原稿搬送路を挟んで前記読取ガラスに対向して配置され、所定の回転方向に動作することで前記読取ガラスと接触し、前記読取ガラスの表面を清掃する清掃ブラシと、前記清掃ブラシの清掃動作を制御する制御手段と、前記清掃ブラシの回転位置を検出する位置検出手段と、を備え、前記制御手段は、清掃動作の繰り返しによって生ずる前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【０００８】
また請求項２にかかる発明は、請求項１に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記清掃ブラシの変形に伴って変化する情報を取得し、その情報に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【０００９】
また請求項３にかかる発明は、請求項１又は２に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記清掃ブラシの清掃動作中に前記清掃ブラシの変形状態することを特徴としている。
【００１０】
また請求項４にかかる発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシを前記回転方向に駆動する駆動手段と、前記駆動手段が前記清掃ブラシを駆動する際の駆動電流を検出する電流検出手段と、をさらに備え、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記電流検出手段が検出する前記駆動手段の駆動電流に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【００１１】
また請求項５にかかる発明は、請求項４に記載の画像読取装置において、前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが接触する位置であることを特徴としている。
【００１２】
また請求項６にかかる発明は、請求項４に記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段をさらに備え、前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記異物掻取手段とが接触する位置であることを特徴としている。
【００１３】
また請求項７にかかる発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段と、前記異物掻取手段が前記清掃ブラシと接触して前記清掃ブラシから異物を掻き取る際の振動を検出する振動検出手段と、をさらに備え、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記清掃ブラシと接触する位置であることが検出されたことに応答して、前記振動検出手段が検出する前記異物掻取手段の振動幅に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【００１４】
また請求項８にかかる発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシが変形していない状態で前記清掃ブラシを前記回転方向に回転させたとき、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが最初に接触する接触開始位置で画像読取を行い、読み取った画像の濃度レベルを検出する濃度レベル測定手段をさらに備え、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記接触開始位置であることが検出されたことに応答して、前記濃度レベル測定手段が検出する濃度レベルに基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【００１５】
また請求項９にかかる発明は、請求項８記載の画像読取装置において、前記読取位置に対応して設けられた読取ヘッドを有し、前記読取ヘッドを介して前記読取位置の画像を読み取るように構成された画像読取手段と、前記読取ヘッドを移動させる移動手段と、を備え、前記移動手段は、前記読取ヘッドを移動させることによって前記読取位置を前記接触開始位置に移動させ、前記画像読取手段を前記濃度レベル測定手段として使用可能とすることを特徴としている。
【００１６】
また請求項１０にかかる発明は、請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、前記清掃ブラシを前記回転方向とは逆方向に所定回数回転させることを特徴としている。
【００１７】
また請求項１１にかかる発明は、請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、その変形方向側を所定の部材で押さえ付けた状態として前記清掃部材を停止させることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１８】
本発明にかかる画像読取装置よれば、清掃ブラシによる清掃動作を繰り返し行うことによって清掃ブラシが一定方向に曲がって変形した場合、その清掃ブラシの変形状態を検知することができる。そのため、清掃ブラシが変形した状態のまま放置されることを防止でき、変形状態の悪化を未然に防止することが可能である。特に、清掃ブラシが変形している場合には、清掃ブラシを清掃方向とは逆方向に所定回数回転させたり、或いは、清掃ブラシの変形方向側を所定の部材で押さえ付けた状態として清掃部材を停止させたりすることにより、変形した清掃ブラシを補正することができるので、清掃ブラシの清掃性能を改善することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の好ましい実施形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。尚、以下に説明する幾つかの実施形態において互いに共通する部材については同一符号を付しており、それらについて繰り返しとなる説明は省略する。
【００２０】
（第１の実施の形態）
【００２１】
図１は、画像読取機能を備えた画像処理装置１の外観構成の一例を示す斜視図である。この画像処理装置１は、いわゆる複合機やＭＦＰなどと称される装置であり、コピー機能、ＦＡＸ機能、プリンタ機能、スキャナ機能など、複数の機能を備えている。画像処理装置１は、ＬＡＮなどのネットワークに接続可能であり、また電話回線などの通信網にも接続可能である。そして原稿から読み取った画像データをネットワーク経由で他のコンピュータに出力したり、或いはネットワーク経由で他のコンピュータから画像データを入力し、その画像データに基づいてプリント出力を行うことができるようになっている。また通信網を介してＦＡＸデータの送受信も行うことができる構成となっている。
【００２２】
この画像処理装置１は、装置本体１ａの上部にスキャナ部２と自動原稿搬送装置（いわゆるＡＤＦ）３から成る画像読取装置４を備えている。画像読取装置４は、自動原稿搬送装置３とスキャナ部２とを同期して動作させることにより、自動原稿搬送装置３にセットされた原稿から１枚ずつ画像を読み取って画像データを出力するように構成されている。より具体的には、自動原稿搬送装置３は、原稿を１枚ずつスキャナ部２に向けて搬送するように構成されており、スキャナ部２はその原稿が所定の読取位置を通過中に画像読み取り行って画像データを生成するように構成されている。
【００２３】
画像処理装置１の装置本体１ａの下部内部には給紙部６が設けられており、さらにその上部には画像形成部５が設けられている。給紙部６は画像形成媒体となる用紙を収容し、画像形成部５に対してその用紙を１枚ずつ供給する。画像形成部５は、入力する画像データに基づいて画像形成を行う画像形成手段であり、入力する画像データに基づいて給紙部６から供給される用紙に対して画像形成を行い、プリント出力を行うように構成されている。例えばコピー機能の場合には、画像形成部５が画像読取装置４から入力する画像データに基づいて画像形成を行うことにより、画像処理装置１は、読み取った原稿のコピー出力を行う。
【００２４】
画像処理装置１の装置本体１ａの正面側（前面側）には、ユーザが操作可能な操作パネル１０が設けられている。ユーザはこの操作パネル１０に表示される案内画面などを見ながらキー操作を行うことにより、画像処理装置１の複数の機能のうちから使用する機能を選択し、その選択した機能に関する各種の設定操作を行うと共に、画像処理装置１に対してジョブの実行を指示することができるようになっている。
【００２５】
図２は、画像読取装置４の全体的な内部構成を示す概略図である。自動原稿搬送装置３は、原稿９を積載する給紙トレイ３１を備えており、この給紙トレイ３１にセットされた原稿９を装置内部に設けられた搬送機構が１枚ずつ取り出して搬送するように構成されている。自動原稿搬送装置３は原稿を１枚ずつ搬送する搬送機構として、ピックアップローラ３２と、複数の搬送ローラ３３，３６とを備えている。ピックアップローラ３２は、給紙トレイ３１に積載された原稿９のうち最上面の原稿のみを取り出し、搬送ローラ３３に供給する。
【００２６】
搬送ローラ３３はピックアップローラ３２によって給紙される原稿を第１の搬送路３４に沿って搬送し、スキャナ部２の読取ガラス２１に対応して設けられた原稿読取部３５に搬送する。原稿読取部３５に搬送された原稿は、読取ガラス２１における所定の読取位置を通過する際にスキャナ部２によってその画像が読み取られる。そして原稿読取部３５を通過した原稿は搬送ローラ３６によって第２の搬送路３７を搬送され、排出口３８を介して原稿排出部３９に排出される。尚、自動原稿搬送装置３には、上述した搬送路３４、３７の他、両面原稿の場合に原稿を反転させるための搬送路が別途設けられるが、それについては図示を省略している。
【００２７】
スキャナ部２は、その上面に、原稿の画像を読み取るために設けられた透明の読取ガラス２１を備えている。そしてスキャナ部２の内部には、この読取ガラス２１を介して画像を読み取るための画像読取手段が設けられている。具体的に説明すると、スキャナ部２の内部には、所定の読取位置を通過する原稿を露光するための露光装置２２が設けられており、この露光装置２２によって露光された原稿からの反射光は、読取ガラス２１を介してスキャナ部２の内部に導かれ、複数のミラー２３及びレンズ２４を通ってＣＣＤなどの画像読取部２５に結像される。ここで露光装置２２と複数のミラー２３は、読取位置に対応して設けられる読取ヘッド２９に組み付けられてユニット化されている。そのため、言い換えれば、この読取ヘッド２９の設置位置が、読取ガラス２１の上面を通過する原稿の読取位置を規定している。画像読取部２５は、読取ガラス２１及び読取ヘッド２９を介して入射するＲ，Ｇ，Ｂの各色成分の光量に応じた濃度レベルを検出して画像信号を生成するように構成されており、その画像信号を画像処理部２６に出力する。そして画像処理部２６は、画像読取部２５から入力する画像信号をＡ／Ｄ変換すると共に、各種の画像処理を施して画像データを生成する。
【００２８】
そして本実施形態では、自動原稿搬送装置３の原稿読取部３５において、原稿搬送路を挟んで読取ガラス２１に対向するようにガラス面清掃機構４０が設けられている。このガラス面清掃機構４０は、読取ガラス２１の上面を原稿が搬送されていない状態で清掃動作を行い、読取ガラス２１の上面に付着する紙粉などの異物を除去するように構成されている。例えば、自動原稿搬送装置３において複数枚の原稿９の連続搬送が行われる場合、ガラス面清掃機構４０は、先行する原稿が画像読取部３５を通過してから、その次の原稿が画像読取部３５に搬送されてくるまでの間の原稿間隔で、清掃動作を行うように構成されている。
【００２９】
図３は、ガラス面清掃機構４０が設けられた部分の構成を示す拡大図である。自動原稿搬送装置３によって搬送される原稿は読取ガラス２１の上面を搬送方向Ｆに沿って搬送され、その原稿が読取位置２０の直上を通過する際、スキャナ部２で画像の読み取りが行われる。そしてガラス面清掃機構４０は、読取ガラス２１における読取位置２０に対応してその上方に設けられている。
【００３０】
ガラス面清掃機構４０は、モータＭ１によって動作する清掃部材４１を備えている。この清掃部材４１は、回転軸４２ａに対して正逆双方向に回転可能に支持された略円柱状のローラ部材４２を有しており、そのローラ部材４２の周方向の一部が略平坦なブラシ保持面となっており、このブラシ保持面に多数のブラシ毛が植設されることにより清掃ブラシ４３が構成されている。またローラ部材４２において清掃ブラシ４３が植設されていない部分の周面は、白色のローラ面となっている。また清掃ブラシ４３の長さは、清掃部材４１が回転したとき、読取ガラス２１の上面を清掃可能な長さである。尚、図例では清掃ブラシ４３をローラ部材４２に直接植設した構成例を示しているが、清掃ブラシ４３とローラ部材４２とを着脱可能にして、清掃ブラシ４３のみを交換可能としても良い。
【００３１】
このような清掃部材４１は、例えば図３に示すように清掃ブラシ４３を上に向けた状態を通常のホームポジション（待機位置）としており、読取ガラス２１の上面を原稿が通過中のときはこのホームポジションで待機する。そして読取ガラス２１の上面を清掃可能なタイミングで、清掃部材４１はモータＭ１によって駆動され、正転方向である回転方向Ｒ１に回転する。これにより、清掃ブラシ４３も回転方向Ｒ１に回転し、清掃動作を開始する。この清掃動作では、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１の上面に接触した状態となって回転方向Ｒ１に回転することにより、読取ガラスの２１の上面にある紙粉などの異物を掃き取り、読取位置２０から異物を除去する。ここで清掃部材４１の回転方向Ｒ１は、清掃ブラシ４３による清掃方向が原稿の搬送方向Ｆと同じ方向になるように設定されている。そのため、清掃部材４１は、読取ガラス２１の上面にある異物を搬送方向Ｆの下流側に向けて掃き出すようになっている。
【００３２】
そして読取ガラス２１の読取位置２０から除去される異物は、一部が読取位置２０の下流側に掃き出され、他の一部が清掃ブラシ４３に付着する。清掃ブラシ４３に付着した異物をそのままの状態にしておくと、次回の清掃時に、清掃ブラシ４３に付着していた異物が再び読取ガラス２１に付着する可能性がある。そのため、上記のような清掃動作によって清掃ブラシ４３に付着した異物は、清掃ブラシ４３から取り除いておく必要がある。そこで本実施形態では、清掃ブラシ４３に付着した異物を取り除くため、清掃部材４１の回転方向Ｒ１の下流側において、回転する清掃部材４１の清掃ブラシ４３と接触することが可能な位置に、異物掻取部材５０が設けられている。この異物掻取部材５０は例えば平板状又はブレード状の部材によって構成され、回転動作中の清掃ブラシ４３と接触することにより、読取ガラス２１の上面を清掃した清掃ブラシ４３から異物を掻き落とすためのものである。そのため、清掃部材４１が回転方向Ｒ１に回転すると、まず清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが接触して読取ガラス２１の清掃動作が行われ、その後、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが離れると、その次に清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触して清掃ブラシ４３に付着した異物が取り除かれ、清掃ブラシ４３を異物が付着していない綺麗な状態にしてホームポジションに戻すことができる。
【００３３】
また清掃部材４１の近傍には、ローラ部材４２の回転位置を検出する位置検出センサ４５が設けられる。この位置検出センサ４５は、例えばスキャナ部２による主走査方向の画像読取幅から外れた位置に設けられ、ローラ部材４２の周面に付されたマーキングを検知してオン／オフすることにより、ローラ部材４２が所定の回転位置に到達したことを検出することができる構成である。この位置検出センサ４５によれば、清掃ブラシ４３の回転位置も検出されることになる。本実施形態の場合、位置検出センサ４５が検出する回転位置は、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１と接触する位置、或いは、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触する位置のいずれかに設定される。尚、図例では位置検出センサ４５は清掃部材４１の上方に設置されている場合を示しているが、清掃部材４１の周囲近傍であればその設置位置は特に限定するものではない。
【００３４】
図４乃至図６は、清掃ブラシ４３による清掃動作の流れを示す図である。まず、図４（Ａ）に示すように読取ガラス２１の上面を先行する原稿９ａが通過しているとき、清掃部材４１はホームポジションで待機状態となっており、清掃ブラシ４３は原稿搬送路から退避している。また図４（Ａ）では読取ガラス２１の上面に紙粉などの異物Ｇが付着している場合を示している。そして先行する原稿９ａの後端が搬送路内の所定位置を通過すると、図４（Ｂ）に示すように清掃部材４１が回転駆動され、清掃ブラシ４３は回転方向Ｒ１への回転動作を開始する。
【００３５】
そして先行する原稿９ａの後端が読取ガラス２１の上面を下流側に搬送されていくと、図５（Ａ）に示すように清掃部材４１はその清掃ブラシ４３を読取ガラス２１の上面に接触させ、読取ガラス２１の清掃を開始する。そして清掃ブラシ４３は、先行する原稿９ａの後端を追いかけるように読取ガラス２１の上面を掃きながら、読取ガラス２１の読取位置２０の上面の異物Ｇを除去していく。このとき、除去される異物Ｇの一部が清掃ブラシ４３に付着する。そして清掃部材４１がさらに回転して清掃ブラシ４３が読取ガラス２１から離れると、次に図５（Ｂ）に示すように清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触する。異物掻取部材５０は、回転動作中の清掃ブラシ４３と接触することにより、清掃ブラシ４３に付着した異物Ｇを掻き取り、清掃ブラシ４３から取り除く。その後、図６に示すように清掃部材４１はホームポジションまで回転すると停止する。また異物掻取部材５０が掻き取った異物Ｇは、異物掻取部材５０の下方に自然落下し、原稿搬送路内の読取位置２０の下流側に堆積する。この異物Ｇは次の原稿９ｂが搬送されることに伴い、原稿９ｂに付着して自動原稿搬送装置３の外部に排出される。
【００３６】
上記のように清掃部材４１は回転方向Ｒ１に１回転すれば、読取ガラス２１の上面に付着した異物を清掃ブラシ４３が掃き取って読取位置２０から除去する清掃動作が１回行われると共に、その清掃動作中に清掃ブラシ４３に付着した異物も取り除くことができるようになっている。そして、このような清掃動作が画像読取装置４において繰り返し行われることにより、清掃ブラシ４３が一定方向に曲がって変形していくことになる。
【００３７】
次に、画像読取装置４の制御機構について説明する。図７は、画像処理装置１における主として画像読取装置４を制御するための制御機構を示すブロック図である。画像処理装置１にはメイン制御部１０が設けられており、このメイン制御部１０がスキャナ部２及び自動原稿搬送装置３を統括的に制御するようになっている。例えばユーザが操作パネル７に対して原稿の読み取り開始を指示した場合、メイン制御部１０は、操作パネル７から入力する読み取り開始指示に応答して、自動原稿搬送装置３のＡＤＦ制御部１１及びスキャナ部２のスキャナ制御部１２に対して原稿の読み取り動作を開始させるコマンドを出力する。
【００３８】
ＡＤＦ制御部１１とスキャナ制御部１２は互いに通信可能なように接続されており、メイン制御部１０から原稿の読み取り開始を指示するコマンドを入力すると、原稿の搬送タイミングや画像読取タイミングなどのタイミング情報及びその他の情報を互いにやりとりしながら各部を制御することで、自動原稿搬送装置３とスキャナ部２とが同期した動作を行うようになっている。
【００３９】
ＡＤＦ制御部１１は、ＣＰＵ１１ａとメモリ１１ｂとを備えた構成であり、ＣＰＵ１１ａが所定のプログラムに基づいた処理を実行することにより、自動原稿搬送装置３に設けられた各部を動作制御する制御手段として機能する。例えば、ＡＤＦ制御部１１は、上述したピックアップローラ３２、搬送ローラ３３及び搬送ローラ３６などから成る搬送機構を駆動するための原稿搬送駆動部１３を制御することにより、自動原稿搬送装置３における原稿の搬送動作がスキャナ部２の画像読取動作と同期するように制御する。またＡＤＦ制御部１１は、ガラス面清掃機構４０を制御し、上述した清掃ブラシ４３による清掃動作を制御する。
【００４０】
ガラス面清掃機構４０は、上述した清掃部材４１を駆動するための構成として、モータ駆動部４７とモータＭ１とを備えると共に、清掃部材４１の回転位置を検出する位置検出センサ４５を備えている。モータＭ１は例えばＤＣモータが使用されている。ＡＤＦ制御部１１がモータ駆動部４７に対してモータＭ１を駆動させるためのパルス信号を出力すると、モータ駆動部４７はそのパルス信号に基づいてモータＭ１を駆動させるべく、モータＭ１に駆動電流を流す。したがって、モータＭ１はモータ駆動部４７から駆動電流が供給されることによって起動される。モータ駆動部４７にはこの駆動電流を検出する電流検出回路４８が設けられており、電流検出回路４８が検出した電流値はＡＤＦ制御部１１に出力される。また位置検出センサ４５は、清掃部材４１の回転位置が所定位置であるときにオンし、その信号をＡＤＦ制御部１１に出力する。
【００４１】
またスキャナ制御部１２は、ＣＰＵ１２ａとメモリ１２ｂとを備えた構成であり、ＣＰＵ１２ａが所定のプログラムに基づいた処理を実行することにより、スキャナ部２に設けられた各部の動作を制御する。すなわち、スキャナ制御部１２は、自動原稿搬送装置３における原稿の搬送動作と同期して画像の読み取り動作を行うように、ＡＤＦ制御部１１とデータ通信を行いながら、露光装置２２、画像読取部２５及び画像処理部２６の各部を制御する。
【００４２】
上記構成において、ＡＤＦ制御部１１は、さらに、清掃動作を繰り返すことによって生じる清掃ブラシ４３の変形状態を検知するように構成されている。具体的に説明すると、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１と接触して清掃動作を行っているときの清掃ブラシ４３と読取ガラス２１との摩擦力は大きく、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて大きくなる。それに対し、清掃ブラシ４３が次第に変形していくと、清掃動作時の清掃ブラシ４３と読取ガラス２１との摩擦力は低下し、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて小さくなる。そしてモータＭ１にかかる負荷が変動すればそれに伴ってモータＭ１を駆動する際の駆動電流が変動する。つまり、モータＭ１にかかる負荷が大きければ、モータＭ１を駆動する際の駆動電流は大きくなるのに対し、モータＭ１にかかる負荷が小さければ、駆動電流は小さくなる。そのため、本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報としてモータＭ１の駆動電流を利用しており、ＡＤＦ制御部１１は電流検出回路４８から入力する電流値に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を検知する。
【００４３】
図８は、清掃ブラシ４３による清掃動作中におけるモータＭ１の駆動電流の変化特性を示す図である。時刻Ｔ０に清掃動作を開始すべくモータＭ１を起動し始めたとすると、その駆動電流は図中Ｌａで示すように変化し、起動直後においてモータＭ１には一時的に大きな起動電流が流れる。この起動電流が流れる起動領域Ｒ１は、時刻Ｔ０からＴ１まであり、時刻Ｔ１以降は駆動電流が安定する。この安定領域Ｒ２では、駆動電流はモータＭ１にかかる負荷に応じて変化するので、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが接触して摩擦力が作用すると、それに応じた電流となる。
【００４４】
図９は、清掃ブラシ４３の変形状態に応じて変化するモータＭ１の駆動電流を示す図である。図中、駆動電流Ｌａ１は、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態でモータＭ１を駆動し、清掃動作を行った場合の駆動電流を示している。この状態では清掃ブラシ４３と読取ガラス２１との摩擦力は大きく、モータＭ１にかかる負荷も大きくなるので、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１に接触しているときの駆動電流Ｌａ１は大きくなる。そして清掃動作を繰り返すことによって次第に清掃ブラシ４３が変形していくと、駆動電流は、Ｌａ１から、次第に、Ｌａ２、Ｌａ３、Ｌａ４という順に低下していくことになる。
【００４５】
そのため本実施形態では、図９に示すように駆動電流Ｌａが、安定領域Ｒ２であり、且つ、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが互いに接触しているタイミングＴｓで、位置検出センサ４５がオンするように構成されている。そしてＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓで電流検出回路４８が出力する電流値を読み取り、その電流値に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。
【００４６】
ＡＤＦ制御部１１のメモリ１１ｂには清掃ブラシ４３の変形段階を判別するための複数の閾値ＴＡ１，ＴＡ２，ＴＡ３（ただし、ＴＡ１＞ＴＡ２＞ＴＡ３）が予め格納されており、ＡＤＦ制御部１１は電流検出回路４８から取得した電流値をこれら閾値ＴＡ１，ＴＡ２，ＴＡ３と比較することで清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。例えば、図９に示すように、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓで取得した電流値がＶａ１であれば、その電流値Ｖａ１は閾値ＴＡ１よりも大きいため、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。また電流検出回路４８から取得した電流値がＶａ２であった場合、その電流値Ｖａ２は閾値ＴＡ１よりも小さく、閾値ＴＡ２よりも大きいため、清掃ブラシ４３は初期状態から若干変形した変形状態の第１段階であると判断する。また電流検出回路４８から取得した電流値がＶａ３であった場合、その電流値Ｖａ３は閾値ＴＡ２よりも小さく、閾値ＴＡ３よりも大きいため、清掃ブラシ４３は第１段階からさらに若干変形した変形状態の第２段階であると判断する。さらに電流検出回路４８から取得した電流値がＶａ４であった場合、その電流値Ｖａ４は閾値ＴＡ３よりも小さいため、清掃ブラシ４３は第２段階からさらに変形した変形状態の第３段階であると判断する。
【００４７】
尚、ここでは清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態を３段階で検出する例を示しているが、これは必ずしも３段階である必要はなく、１段階であっても良いし、２段階であっても良い。更には４段階以上としても良い。
【００４８】
またモータＭ１の駆動電流Ｌａが清掃ブラシ４３の変形状態に応じて変化する位置は、上述したように清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが接触する位置だけでなく、清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触する位置もある。つまり、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触して異物の掻取動作が行われているときの清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０との摩擦力は大きく、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて大きくなる。それに対し、清掃ブラシ４３が次第に変形していくと、異物掻取時の清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０との摩擦力は低下していき、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて小さくなる。そのため、位置検出センサ４５が検出する回転位置は、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１と接触する位置としても良いが、これに限られず、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触する位置としても良い。
【００４９】
そして上記のようにして清掃ブラシ４３の変形状態を検知することにより、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが検知された場合、例えば、それを操作パネル７などでユーザに報知する構成とすれば、清掃ブラシ４３を新品と交換するなど適切な処理を行うことができ、清掃ブラシ４３が変形した状態のままで放置されることを防止することができる。それ故、変形状態がさらに悪化することによる読取ガラス２１の清掃不良を未然に防止することが可能である。
【００５０】
また本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形状態を検知した結果、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが判明した場合、ＡＤＦ制御部１１が、その変形状態の段階に応じてガラス面清掃機構４０を制御し、清掃ブラシ４３の変形を補正する補正動作を行うように構成されている。
【００５１】
図１０は、清掃ブラシ４３が変形している場合の第１の補正動作を示す図である。第１の補正動作は、清掃ブラシ４３を清掃動作時の回転方向Ｒ１とは逆の回転方向Ｒ２に所定回数回転させる動作である。ＡＤＦ制御部１１は、モータ駆動部４７に対してモータＭ１を清掃動作時とは逆方向に駆動させるためのパルス信号を出力すると、モータ駆動部４７がそのパルス信号に基づいてモータＭ１に清掃動作時とは逆方向の駆動電流を流す。これにより、モータＭ１は清掃動作時とは逆方向に駆動され、清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ２に回転させる。このような第１の補正動作により、清掃動作の繰り返しで一定方向に変形した清掃ブラシ４３を逆の方向に変形させるので、清掃ブラシ４３の変形状態を補正することができる。ここで回転方向Ｒ１とは逆の回転方向Ｒ２に回転させる回数は適宜設定可能であるが、本実施形態の場合、清掃ブラシ４３の変形状態が第１段階のときはＮ１回（ただし、Ｎ１≧１）の逆転駆動を行い、第２段階のときはＮ２回（ただし、Ｎ２＞Ｎ１）の逆転駆動を行うように構成される。つまり、清掃ブラシ４３の変形状態が悪化することに従って逆方向への回転回数が増加するように設定される。このような第１の補正動作は、清掃ブラシ４３による清掃動作が終了したタイミングで行うようにしても良いし、或いは全ての原稿搬送動作が終了したタイミングで行うようにしても良い。
【００５２】
図１１は、清掃ブラシ４３が変形している場合の第２の補正動作を示す図である。第２の補正動作は、清掃動作の繰り返しで一定方向に変形した清掃ブラシ４３に対し、ブラシの変形方向側から所定の押さえ部材を押さえ付けた状態とし、その状態を保持することで清掃ブラシ４３の変形状態を直すための癖付けを行う癖付け動作となっている。図例の場合、ブラシの変形方向側から押さえ付ける押さえ部材として、異物掻取部材５０を用いている。そのため、ＡＤＦ制御部１１は、例えば清掃動作中において回転方向Ｒ１に回転する清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０を通過した後、その清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ２に一定量逆回転させて戻すことにより、清掃ブラシ４３の変形したブラシ先端を異物掻取部材５０の上面に押さえ付けた状態とし、その状態を保持させる。このような第２の補正動作により、清掃動作の繰り返しで一定方向に変形した清掃ブラシ４３が直毛状のブラシに戻るように癖付けが行われるので、清掃ブラシ４３の変形状態を補正することができる。ここで、清掃ブラシ４３の変形したブラシ先端を異物掻取部材５０の上面に押さえ付けた癖付け状態での保持時間は、適宜設定可能であり、予め設定した所定時間保持するようにしても良いし、またこの癖付け状態を清掃部材４１のホームポジションに変更して清掃動作を行わない待機状態では常にこの癖付け動作が行われるように設定しても良い。このような第２の補正動作は、本実施形態の場合、清掃ブラシ４３の変形状態が第３段階のときに行われる。尚、図１１の例では、異物掻取部材５０を、清掃ブラシ４３の変形方向側からブラシを押さえる押さえ部材として用いる場合を示しているが、読取ガラス２１の上面を押さえ部材として利用しても良いし、また専用の押さえ部材を別途配置しても良い。
【００５３】
次に、画像読取装置４において清掃ブラシ４３の変形状態の検知及び補正動作を行うための処理シーケンスについて説明する。図１２及び図１３は、ＡＤＦ制御部１１による一連の処理手順を示すフローチャートであり、図１２はその前半の処理手順を示しており、図１３はその後半の処理手順を示している。この処理は、例えば自動原稿搬送装置３において原稿９の搬送動作が開始されると、ＡＤＦ制御部１１によって一定時間（例えば数ミリ秒）ごとに繰り返し実行される処理であり、清掃動作中においても繰り返し実行される処理である。図１２に示すように、ＡＤＦ制御部１１は、まず清掃部材４１が回転動作中であるか否かを判断する（ステップＳ１０）。ここで清掃部材４１が動作していない場合（ＮＯの場合）には、清掃動作中でないため、この処理を終了する。これに対し、清掃部材４１が動作中である場合（ＹＥＳの場合）には、ステップＳ１１に進む。
【００５４】
清掃部材４１が清掃動作中である場合、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたか否かを判断する（ステップＳ１１）。ここで位置検出センサ４５がオフであれば、清掃部材４１は未だ、清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達していないことになるため、ＮＯとなり、この処理を終了する。これに対し、位置検出センサ４５がオンであれば、清掃部材４１は清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達しているため、ＹＥＳとなり、ステップＳ１２に進む。
【００５５】
位置検出センサ４５がオンである場合、ＡＤＦ制御部１１は、モータＭ１を駆動している駆動電流の電流値Ｖａを電流検出回路４８から取得する（ステップＳ１２）。ＡＤＦ制御部１１はその取得した電流値Ｖａを閾値ＴＡ１と比較し、電流値Ｖａが閾値ＴＡ１よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１３）。ここで電流値Ｖａが閾値ＴＡ１以上であれば、ＮＯとなってステップＳ１４に進み、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。一方、電流値Ｖａが閾値ＴＡ１よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３は変形した状態と判断される。
【００５６】
そしてＡＤＦ制御部１１は、その変形状態の段階を特定すべく、次に電流値Ｖａが閾値ＴＡ２よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１５）。ここで電流値Ｖａが閾値ＴＡ２以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第１段階であると判断する（ステップＳ１６）。これに対し、電流値Ｖａが閾値ＴＡ２よりも小さい場合には、さらに続いて電流値Ｖａが閾値ＴＡ３よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１７）。ここで電流値Ｖａが閾値ＴＡ３以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第２段階であると判断する（ステップＳ１８）。また電流値Ｖａが閾値ＴＡ３よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３の変形状態は第３段階であると判断する（ステップＳ１９）。以上のようにして清掃ブラシ４３の変形状態が特定されると、次に図１３のフローチャートに進む。
【００５７】
そしてＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３の変形状態の検知結果に基づいて清掃ブラシ４３が変形しているか否かを判断する（ステップＳ２０）。ここで清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、その後の処理を行う必要がないので処理を終了する。これに対し、清掃ブラシ４３が変形している場合は、その変形段階に応じた補正動作が清掃動作の終了後に実行されるように補正動作の設定を行うべく、ステップＳ２１以降の処理に進む。
【００５８】
ＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３の変形状態が第１段階であるか否かを判断し（ステップＳ２１）、第１段階であれば、清掃動作の終了後に上述した第１の補正動作（図１０参照）を実行させるべく、清掃部材４１の逆転動作を設定する（ステップＳ２２）。ここでは、清掃部材４１を逆転方向に回転動作させる回数をＮ１回として設定する。そして設定が終了すると、この処理を終了する。
【００５９】
一方、清掃ブラシ４３の変形状態が第１段階でなかった場合、ＡＤＦ制御部１１は、次に清掃ブラシ４３の変形状態が第２段階であるか否かを判断し（ステップＳ２３）、第２段階であれば、清掃動作の終了後に上述した第１の補正動作（図１０参照）を実行させるべく、清掃部材４１の逆転動作を設定する（ステップＳ２４）。ここでは、清掃部材４１を逆転方向に回転動作させる回数を第１段階のときのよりも多いＮ２回として設定する。そして設定が終了すると、この処理を終了する。
【００６０】
また清掃ブラシ４３の変形状態が第２段階でもなかった場合（つまり、第３段階である場合）、ＡＤＦ制御部１１は、清掃動作の終了後に上述した第２の補正動作（図１１参照）を実行させるべく、清掃ブラシ４３の変形を直すための癖付け動作を設定する（ステップＳ２５）。このとき、清掃動作の終了後に癖付け状態を所定時間保持するように設定しても良いし、また清掃部材４１のホームポジションを癖付け状態としてポジションに変更しても良い。そして設定が終了すると、この処理を終了する。
【００６１】
このような処理により、ＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３による制動動作中に清掃ブラシ４３の変形状態を検知することができ、清掃ブラシ４３が変形状態であることを検知した場合、清掃動作終了後に変形状態の段階に応じて第１又は第２の補正動作を行うことを設定する。そのため、清掃動作の終了後には第１又は第２の補正動作が行われるので、清掃ブラシ４３はその変形状態を悪化させることがなく、寧ろブラシの形状が初期状態に戻るように補正されることになる。
【００６２】
以上のように本実施形態は、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、モータＭ１が清掃ブラシ４３を動作させる際の駆動電流を検出する構成であり、清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であることが検出されたときの駆動電流に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を特定している。そのため、清掃ブラシ４３の変形状態を正確に検知することができる構成となっている。また清掃ブラシ４３が変形している場合には、上述した第１又は第２の補正動作を行うことにより、清掃ブラシ４３の変形を補正することができるので、清掃性能を改善することが可能である。
【００６３】
（第２の実施の形態）
次に第２の実施の形態について説明する。本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触し、異物掻取部材５０が清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取っているときの振動を検出するようにした形態について説明する。尚、本実施形態でも、画像処理装置１及び画像読取装置４の全体構成は、図１及び図２に示したものと同様である。
【００６４】
図１４は、本実施形態においてガラス面清掃機構４０が設けられた部分の構成を示す拡大図である。本実施形態では、清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取るための異物掻取部材５０の上面に振動検出センサ５１が取り付けられる。振動検出センサ５１は、少なくとも上下方向の振動を検出することが可能であり、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０に接触し、異物掻取部材５０が清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取っている状態で異物掻取部材５０に生じる上下方向の振動を検出するように構成されている。
【００６５】
図１５は、本実施形態における画像読取装置４を制御するための制御機構を示すブロック図である。この制御機構が、第１の実施の形態と異なる点は、モータＭ１の駆動電流を検出する電流検出回路は必要でなく、その代わりに、上述した振動検出センサ５１が検出して出力する信号がＡＤＦ制御部１１に入力するように構成されている点である。そしてＡＤＦ制御部１１は、振動検出センサ５１から入力する振動出力に基づいて、清掃ブラシ４３の変形状態を検知するように構成されている。
【００６６】
具体的に説明すると、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、異物掻取部材５０による異物の掻取動作を行う際、清掃ブラシ４３の根元に近い部分が異物掻取部材５０と接触するので、その接触時の衝撃が大きくなり、清掃ブラシ４１が異物掻取部材５０に与える振動幅も大きくなる。それに対し、清掃ブラシ４３が次第に変形していくと、異物掻取部材５０との接触部分は清掃ブラシ４３の先端側に変化していくので、接触時の衝撃は小さくなり、清掃ブラシ４１が異物掻取部材５０に与える振動幅も次第に小さくなっていく。そのため、異物掻取部材５０の振動幅を検知することで、清掃ブラシ４３の変形状態を検知することが可能である。
【００６７】
図１６は、清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触したときの振動検出センサ５１による振動出力の変化特性の一例を示す図である。図１６に示す振動出力Ｌｂは、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０に接触すると、その衝撃で異物掻取部材５０が大きく振動することを示している。このとき、振動幅Ｈは最大となる。そしてその後、その振動は徐々に減衰し、やがて振動は停止する。ここで振動出力Ｌｂの振動幅Ｈの大きさは、清掃ブラシ４３の変化状態に応じた大きさとなる。
【００６８】
図１７は、清掃ブラシ４３の変形状態に応じて変化する異物掻取部材５０の振動出力を示す図である。図中、振動出力Ｌｂ１は、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態で清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触した場合の振動出力を示している。この状態では清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触するときの衝撃が大きく、その振動幅Ｈも大きくなる。そして清掃動作を繰り返すことによって次第に清掃ブラシ４３が変形していくと、振動検出センサ５１からの振動出力は、Ｌｂ１から、次第に、Ｌｂ２、Ｌｂ３、Ｌｂ４という順に小さくなっていく。
【００６９】
本実施形態では、図１７に示すように、清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触するタイミングＴｓで、位置検出センサ４５がオンするように構成されており、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓで振動検出センサ５１が出力する振動出力を読み取り、その振動出力から最大振動幅Ｈを測定する。例えば、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓから一定期間Ｔの間、振動出力をサンプリングし、その期間Ｔ内で最大となる振動幅Ｈを検出する。そしてＡＤＦ制御部１１はその最大振動幅Ｈに基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。
【００７０】
ＡＤＦ制御部１１のメモリ１１ｂには清掃ブラシ４３の変形段階を判別するための複数の閾値Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３（ただし、Ｈ１＞Ｈ２＞Ｈ３）が予め格納されており、ＡＤＦ制御部１１は異物掻取部材５０の最大振動幅Ｈをこれら閾値Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３と比較することで清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。例えば、図１７に示すように、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓに応答してサンプリングを行い、検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ１に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ１よりも大きいため、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。また検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ２に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ１よりも小さく、閾値Ｈ２よりも大きいため、清掃ブラシ４３は初期状態から若干変形した変形状態の第１段階であると判断する。また検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ３に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ２よりも小さく、閾値Ｈ３よりも大きいため、清掃ブラシ４３は第１段階からさらに若干変形した第２段階であると判断する。さらに検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ４に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ３よりも小さいため、清掃ブラシ４３は第２段階からさらに変形した第３段階であると判断する。
【００７１】
尚、ここでも清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態を３段階で検出する例を示しているが、これは必ずしも３段階である必要はなく、１段階であっても良いし、２段階であっても良い。更には４段階以上としても良い。
【００７２】
そして本実施形態では、第１の実施の形態と同様、清掃ブラシ４３の変形状態を検知した結果、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが判明した場合、ＡＤＦ制御部１１が、その変形状態の段階に応じてガラス面清掃機構４０を制御し、清掃ブラシ４３の変形を補正する補正動作を行うように構成されている。尚、補正動作の詳細については第１の実施の形態で説明したものと同様である。
【００７３】
次に、本実施形態において清掃ブラシ４３の変形状態の検知及び補正動作を行うための処理シーケンスについて説明する。図１８は、ＡＤＦ制御部１１による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。尚、この処理手順に続く後半の処理手順は、第１の実施の形態で説明した図１３のフローチャートと同じである。
【００７４】
図１８に示す処理は、例えば自動原稿搬送装置３において原稿９の搬送動作が開始されると、ＡＤＦ制御部１１によって一定時間（例えば数ミリ秒）ごとに繰り返し実行される処理であり、清掃動作中においても繰り返し実行される処理である。図１８に示すように、ＡＤＦ制御部１１は、まず清掃部材４１が回転動作中であるか否かを判断する（ステップＳ３０）。ここで清掃部材４１が動作していない場合（ＮＯの場合）には、清掃動作中でないため、この処理を終了する。これに対し、清掃部材４１が動作中である場合（ＹＥＳの場合）には、ステップＳ３１に進む。
【００７５】
清掃部材４１が清掃動作中である場合、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたか否かを判断する（ステップＳ３１）。ここで位置検出センサ４５がオフであれば、清掃部材４１は未だ、清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達していないことになるため、ＮＯとなり、この処理を終了する。これに対し、位置検出センサ４５がオンであれば、清掃部材４１は清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達しているため、ＹＥＳとなり、ステップＳ３２に進む。
【００７６】
位置検出センサ４５がオンである場合、ＡＤＦ制御部１１は、振動検出センサ５１が出力する振動出力を一定期間サンプリングし、最大振動幅Ｈを測定する（ステップＳ３２）。そしてＡＤＦ制御部１１はその測定した最大振動幅Ｈを閾値Ｈ１と比較し、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ１よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ３３）。ここで最大振動幅Ｈが閾値Ｈ１以上であれば、ＮＯとなってステップＳ３４に進み、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。一方、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ１よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３は変形した状態と判断される。
【００７７】
そしてＡＤＦ制御部１１は、その変形状態の段階を特定すべく、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ２よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ３５）。ここで最大振動幅Ｈが閾値Ｈ２以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第１段階であると判断する（ステップＳ３６）。これに対し、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ２よりも小さい場合には、さらに続いて最大振動幅Ｈが閾値Ｈ３よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ３７）。ここで最大振動幅Ｈが閾値Ｈ３以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第２段階であると判断する（ステップＳ３８）。また最大振動幅Ｈが閾値Ｈ３よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３の変形状態は第３段階であると判断する（ステップＳ３９）。以上のようにして清掃ブラシ４３の変形状態が特定されると、それ以降は図１３のフローチャートに進み、上述したように清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態の段階に応じた補正動作が設定され、処理が終了する。
【００７８】
以上のように本実施形態は、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、異物掻取部材５０が清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取る際の振動幅を検出する構成であり、清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であることが検出されたときの異物掻取部材５０の振動幅に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を特定している。そのため、清掃ブラシ４３の変形状態を正確に検知することができる構成となっている。また清掃ブラシ４３が変形している場合には、上述した第１又は第２の補正動作を行うことにより、清掃ブラシ４３の変形を補正することができるので、清掃性能を改善することが可能である。
【００７９】
尚、自動原稿搬送装置３において原稿搬送が行われると、その原稿搬送動作に伴う振動が発生し、振動検出センサ５１がその振動を検出する。そのため、上述した本実施形態では、原稿搬送動作による振動を誤検知することを避けるために、位置検出センサ４５により清掃部材４１が所定位置に回転したことが検出されたことに応答して振動検出センサ５１の振動出力をサンプリングするように構成されている。しかし、自動原稿搬送装置３における原稿搬送動作に伴って生じる振動が、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０に接触することにより異物掻取部材５０に与える振動よりも小さい場合には、常時、振動検出センサ５１の振動出力をサンプリングするように構成しても良い。
【００８０】
（第３の実施の形態）
次に第３の実施の形態について説明する。本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、清掃ブラシ４３が変形していない状態で清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ１に回転させたとき、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが最初に接触する接触開始位置で画像読取を行い、その読み取った画像の濃度レベルを検出するようにした形態について説明する。尚、本実施形態でも、画像処理装置１の全体構成は、図１に示したものと同様である。
【００８１】
図１９は、本実施形態における画像読取装置４の全体的な内部構成を示す概略図である。本実施形態では、スキャナ部２の内部にモータＭ２が設けられており、このモータＭ２は、露光装置２２と複数のミラー２３とを備えてユニット化された読取ヘッド２９を図中矢印Ｓ方向に移動させる。そのため、スキャナ部２による読取位置２０は、モータＭ２が読取ヘッド２９を移動させることに伴って図中矢印Ｓ方向に移動する。
【００８２】
図２０は、本実施形態においてガラス面清掃機構４０が設けられた部分の構成を示す拡大図である。図２０に示す読取位置２０ａは、スキャナ部２が原稿を読み取る際の読取位置であり、読取位置２０ｂは、清掃ブラシ４３の先端の画像を読み取ってその濃度レベルを測定するための読取位置である。読取位置２０ｂは、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態で清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ１に回転させたとき、清掃ブラシ４３の先端が読取ガラス２１と最初に接触する接触開始位置とほぼ同じ位置である。モータＭ２は、読取ヘッド２９をＳ方向に移動させることにより、スキャナ部２の読取位置２０を、読取位置２０ａと２０ｂとの間で移動させることができる。
【００８３】
図２１は、本実施形態における画像読取装置４を制御するための制御機構を示すブロック図である。この制御機構では、スキャナ部２においてスキャナ制御部１２がモータＭ２を駆動するモータ駆動部２８を制御するように構成されている。スキャナ制御部１２は、ＡＤＦ制御部１１とデータ通信を行っており、ＡＤＦ制御部１１から濃度測定が指示されると、モータ駆動部２８にパルス信号を出力してモータＭ２を駆動させ、読取位置２０を、原稿の読取位置２０ａから清掃ブラシ４３の先端画像の読取位置２０ｂに移動させる。そしてその状態で、露光装置２２、画像読取部２５及び画像処理部２６を機能させて画像読取を行い、読み取った画像の濃度レベルをＡＤＦ制御部１１に出力する。その後、スキャナ制御部１２は、モータＭ２を再び駆動して読取位置２０を読取位置２０ｂから原稿の読取位置２０ａに移動させて原稿の画像を読取可能な状態に戻す。
【００８４】
そして本実施形態のＡＤＦ制御部１１は、スキャナ制御部１２から取得した濃度レベルに基づいて、清掃ブラシ４３の変形状態を検知するように構成されている。
【００８５】
図２２は、清掃ブラシ４３の変形状態による濃度レベルの変化を示す図である。まず図２２（Ａ）に示すように、スキャナ部２が読取位置２０ｂにおいて清掃ブラシ４３の先端画像を読み取る際、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であればブラシ先端４３ａは読取位置２０ｂの上の読取ガラス２１にほぼ接触した状態となるので、読み取った画像の濃度レベルは高くなる。それに対し、清掃ブラシ４３が変形すると、ブラシ先端４３ｂは読取位置２０ｂの上の読取ガラス２１から離れた状態となるので、読み取った画像の濃度レベルは低くなる。つまり、図２２（Ａ）に示すように、読取位置２０ｂで清掃ブラシ４３の先端画像を読み取れば、その読み取った画像の濃度レベルＬｃは清掃ブラシ４３の変形状態に応じて図２２（Ｂ）に示すようなレベルとなる。図２２（Ｂ）において、濃度レベルＬｃ１は、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態で清掃ブラシ４３の先端画像を読み取った場合の濃度レベルを示しており、最も高いレベルとなっている。そして清掃動作を繰り返すことによって次第に清掃ブラシ４３が変形していくと、濃度レベルＬｃは、Ｌｃ１から、次第に、Ｌｃ２、Ｌｃ３、Ｌｃ４という順に小さくなっていく。そのため、この濃度レベルを測定することで、清掃ブラシ４３の変形状態を検知することが可能である。
【００８６】
そして本実施形態では、清掃ブラシ４３が上述した接触開始位置まで回転したタイミングＴｓで、位置検出センサ４５がオンするように構成されており、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓでスキャナ制御部１２に濃度測定を指示する。このとき、スキャナ部２で直ちに読取位置２０ｂの画像読取を行うことができない場合は、ＡＤＦ制御部１１が清掃ブラシ４３の回転を一時停止させることが好ましい。この場合、ＡＤＦ制御部１１がスキャナ制御部１２から濃度レベルを取得すれば清掃ブラシ４３の回転駆動が再開される。
【００８７】
ＡＤＦ制御部１１は、スキャナ制御部１２に対して濃度測定を指示した後、スキャナ制御部１２が測定した濃度レベルＬｃを取得すると、その濃度レベルＬｃに基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。ＡＤＦ制御部１１のメモリ１１ｂには、図２２（Ｂ）に示すように、清掃ブラシ４３の変形段階を判別するための複数の閾値Ｔｃ１，Ｔｃ２，Ｔｃ３（ただし、Ｔｃ１＞Ｔｃ２＞Ｔｃ３）が予め格納されており、ＡＤＦ制御部１１は清掃ブラシ４３の先端画像の濃度レベルＬｃをこれら閾値Ｔｃ１，Ｔｃ２，Ｔｃ３と比較することで清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。例えば、濃度レベルＬｃがＬｃ１であった場合、閾値Ｔｃ１よりも大きいため、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。また濃度レベルＬｃがＬｃ２であった場合、閾値Ｔｃ１よりも小さく、閾値Ｔｃ２よりも大きいため、清掃ブラシ４３は初期状態から若干変形した変形状態の第１段階であると判断する。また濃度レベルＬｃがＬｃ３であった場合、閾値Ｔｃ２よりも小さく、閾値Ｔｃ３よりも大きいため、清掃ブラシ４３は第１段階からさらに若干変形した第２段階であると判断する。さらに濃度レベルＬｃがＬｃ４であった場合、閾値Ｔｃ３よりも小さいため、清掃ブラシ４３は第２段階からさらに変形した第３段階であると判断する。
【００８８】
尚、ここでも清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態を３段階で検出する例を示しているが、これは必ずしも３段階である必要はなく、１段階であっても良いし、２段階であっても良い。更には４段階以上としても良い。
【００８９】
そして本実施形態でも、第１の実施の形態と同様、清掃ブラシ４３の変形状態を検知した結果、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが判明した場合、ＡＤＦ制御部１１が、その変形状態の段階に応じてガラス面清掃機構４０を制御し、清掃ブラシ４３の変形を補正する補正動作を行うように構成されている。尚、補正動作の詳細については第１の実施の形態で説明したものと同様である。
【００９０】
次に、本実施形態において清掃ブラシ４３の変形状態の検知及び補正動作を行うための処理シーケンスについて説明する。図２３及び図２４は、ＡＤＦ制御部１１による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。尚、この処理手順に続く後半の処理手順は、第１の実施の形態で説明した図１３のフローチャートと同じである。
【００９１】
図２３に示す処理は、例えば自動原稿搬送装置３において原稿９の搬送動作が開始されると、ＡＤＦ制御部１１によって一定時間（例えば数ミリ秒）ごとに繰り返し実行される処理であり、清掃動作中においても繰り返し実行される処理である。図２３に示すように、ＡＤＦ制御部１１は、まず清掃部材４１が回転動作中であるか否かを判断する（ステップＳ４０）。ここで清掃部材４１が動作していない場合（ＮＯの場合）には、清掃動作中でないため、この処理を終了する。これに対し、清掃部材４１が動作中である場合（ＹＥＳの場合）には、ステップＳ４１に進む。
【００９２】
清掃部材４１が清掃動作中である場合、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたか否かを判断する（ステップＳ４１）。ここで位置検出センサ４５がオフであれば、清掃部材４１は未だ、清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達していないことになるため、ＮＯとなり、この処理を終了する。これに対し、位置検出センサ４５がオンであれば、清掃部材４１は清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達しているため、ＹＥＳとなり、ステップＳ４２に進む。
【００９３】
ステップＳ４２では清掃ブラシ状態測定処理が行われる。この処理の詳細を図２４に示す。ＡＤＦ制御部１１は、清掃部材４１の回転動作を一時停止させ（ステップＳ４２１）、スキャナ制御部１２に対して濃度測定指示を送信する（ステップＳ４２２）。これにより、スキャナ部２では、読取位置２０を原稿の読取位置２０ａから清掃ブラシ４３の先端画像の読取位置２０ｂに移動させる処理が行われると共に、その読取位置２０ｂで清掃ブラシ４３の先端画像を読み取る処理が行われる。そして読み取った画像の濃度レベルＬｃが測定され、ＡＤＦ制御部１１に出力される。ＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３の濃度レベルＬｃをスキャナ制御部１２から取得すると（ステップＳ４２３）、一時停止させておいた清掃部材４１の駆動を再開する（ステップＳ４２４）。以上で、ステップＳ４２の清掃ブラシ状態測定処理が終了し、図２３のフローチャートに戻る。
【００９４】
そしてＡＤＦ制御部１１はスキャナ制御部１２から取得した濃度レベルＬｃを閾値Ｔｃ１と比較し、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ１よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ４３）。ここで濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ１以上であれば、ＮＯとなってステップＳ４４に進み、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。一方、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ１よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３は変形した状態と判断される。
【００９５】
そしてＡＤＦ制御部１１は、その変形状態の段階を特定すべく、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ２よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ４５）。ここで濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ２以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第１段階であると判断する（ステップＳ４６）。これに対し、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ２よりも小さい場合には、さらに続いて濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ３よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ４７）。ここで濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ３以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第２段階であると判断する（ステップＳ４８）。また濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ３よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３の変形状態は第３段階であると判断する（ステップＳ４９）。以上のようにして清掃ブラシ４３の変形状態が特定されると、それ以降は図１３のフローチャートに進み、上述したように清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態の段階に応じた補正動作が設定され、処理が終了する。
【００９６】
以上のように本実施形態は、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、清掃ブラシ４３の先端画像の濃度レベルＬｃを検出する構成であり、清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であるときに画像読取を行い、その読み取った画像の濃度レベルＬｃに基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を特定している。そのため、清掃ブラシ４３の変形状態を正確に検知することができる構成となっている。また清掃ブラシ４３が変形している場合には、上述した第１又は第２の補正動作を行うことにより、清掃ブラシ４３の変形を補正することができるので、清掃性能を改善することが可能である。
【００９７】
尚、上記においては、位置検出センサ４５がオンした後、清掃部材４１の回転を一時停止させる場合を例示したが、読取位置２０の移動を位置検出センサ４５がオンする前に予め行っておくようにすれば、清掃部材４１の回転を一時停止させる必要がなくなるので、スムーズな清掃動作が可能となり、より好ましい。
【００９８】
また上記においては、スキャナ部２が画像を読み取る読取位置２０を原稿の読取位置２０ａから清掃ブラシ４３の先端画像を読み取る読取位置２０ｂに移動させることにより、スキャナ部２の画像読取手段を濃度レベル測定手段として使用する形態について説明したが、原稿の画像を読み取る画像読取手段とは別に、清掃ブラシ４３の先端画像を読み取って濃度レベルを測定する専用の濃度レベル測定手段を設けた構成としても良い。
【００９９】
（変形例）
以上、本発明に関する幾つかの実施形態について説明したが、本発明は上述した内容のものに限定されるものではない。例えば、上述した実施形態では、画像処理装置１が、コピー機能、ＦＡＸ機能、プリンタ機能、スキャナ機能などの複数の機能を備えた装置である場合を例示したが、必ずしもそれら複数の機能を備えている必要はない。特に上述した画像読取装置４は、コピー機能、ＦＡＸ機能、スキャナ機能のうちの少なくとも１つの機能を備えた装置に対して適用可能である。
【０１００】
また上述した各実施形態では、清掃ブラシ４３の回転位置を検出する位置検出手段として位置検出センサ４５を設けた構成例を示したが、位置検出手段は必ずしも位置検出センサ４５である必要はない。例えば、モータＭ１を起動してからの駆動時間をカウントすることや、モータＭ１を駆動するために送出したパルス数をカウントすることなどによって、清掃ブラシ４３の回転位置を検出する位置検出手段を構成しても良い。
【０１０１】
またその他にも、上述した各実施形態に対し、本発明の範囲内において種々の変形例が適用可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【０１０２】
【図１】画像読取機能を備えた画像処理装置の外観構成の一例を示す斜視図である。
【図２】画像読取装置の全体的な内部構成を示す概略図である。
【図３】第１の実施の形態においてガラス面清掃機構が設けられた部分の構成を示す拡大図である。
【図４】清掃ブラシによる清掃動作の流れを示す図である。
【図５】清掃ブラシによる清掃動作の流れを示す図である。
【図６】清掃ブラシによる清掃動作の流れを示す図である。
【図７】第１の実施の形態における画像読取装置を制御するための制御機構を示すブロック図である。
【図８】清掃ブラシによる清掃動作中におけるモータの駆動電流の変化特性を示す図である。
【図９】清掃ブラシの変形状態に応じて変化するモータの駆動電流を示す図である。
【図１０】清掃ブラシが変形している場合の第１の補正動作を示す図である。
【図１１】清掃ブラシが変形している場合の第２の補正動作を示す図である。
【図１２】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの前半の処理手順を示すフローチャートである。
【図１３】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの後半の処理手順を示すフローチャートである。
【図１４】第２の実施の形態においてガラス面清掃機構が設けられた部分の構成を示す拡大図である。
【図１５】第２の実施の形態における画像読取装置を制御するための制御機構を示すブロック図である。
【図１６】清掃ブラシと異物掻取部材とが接触したときの振動検出センサによる振動出力の変化特性の一例を示す図である。
【図１７】清掃ブラシの変形状態に応じて変化する異物掻取部材の振動出力を示す図である。
【図１８】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。
【図１９】第３の実施の形態における画像読取装置の全体的な内部構成を示す概略図である。
【図２０】第３の実施の形態においてガラス面清掃機構が設けられた部分の構成を示す拡大図である。
【図２１】第３の実施の形態における画像読取装置を制御するための制御機構を示すブロック図である。
【図２２】清掃ブラシの変形状態による濃度レベルの変化を示す図である。
【図２３】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。
【図２４】清掃ブラシ状態測定処理の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１０３】
１ 画像処理装置
２ スキャナ部
３ 自動原稿搬送装置（ＡＤＦ）
４ 画像読取装置
１１ ＡＤＦ制御部（制御手段）
２０ 読取位置
２０ａ 読取位置
２０ｂ 読取位置
２１ 読取ガラス
２５ 画像読取部（画像読取手段、濃度レベル測定手段）
２９ 読取ヘッド
４０ ガラス面清掃機構（ガラス面清掃手段）
４１ 清掃部材
４３ 清掃ブラシ
４５ 位置検出センサ（位置検出手段）
４８ 電流検出回路（電流検出手段）
５０ 異物掻取部材（異物掻取手段）
５１ 振動検出センサ（振動検出手段）
Ｍ１ モータ（駆動手段）
Ｍ２ モータ（移動手段）
Ｇ 異物
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置に関し、特に、原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、その原稿が読取ガラス面上の読取位置を通過する際に画像読取を行うようにした画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、いわゆるシートスルータイプの自動原稿搬送装置を備えた画像読取装置が公知である。この種の装置は、自動原稿搬送装置が原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、その原稿が読取ガラス面上の所定の読取位置を通過する際に、画像読取部が原稿の画像を読み取るように構成されている。
【０００３】
このような画像読取装置では、読取ガラスの表面に紙粉などの異物が付着していると、読み取った画像にその異物が筋状のノイズとなって現れる。そのため、従来から読取ガラスの表面にある異物の影響を除去するために、種々の方法が提案されている。そのなかには、例えば読取ガラス面の上にブラシなどを備えた清掃部材を配置し、その清掃部材を駆動してガラス表面を清掃することによって読取ガラスの表面から異物を除去する方法がある（例えば、特許文献１，２）。
【０００４】
【特許文献１】特開平６−１６４８６３号公報
【特許文献２】特開２０００−２７０１５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、読取ガラスの表面を清掃ブラシで清掃する場合、清掃ブラシの動作方向は、通常、読取ガラス面上を搬送される原稿の搬送方向と常に同じである。そのため、清掃動作を繰り返し行うことにより、清掃ブラシが一定方向に曲がって変形する。これが放置されると、その変形状態はさらに悪化していき、清掃ブラシが読取ガラスに対して良好に接触しなくなる。そのため、清掃不良となり、読み取った画像に筋状のノイズが出現する割合が高くなるという問題がある。
【０００６】
そこで本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされたものであり、清掃ブラシの変形状態を検知することにより、変形状態が悪化して清掃不良が生じることを未然に防止できる画像読取装置を提供することを目的としており、またさらには清掃ブラシの変形状態を補正して清掃ブラシの清掃性能を改善できる画像読取装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため、請求項１にかかる発明は、原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、当該原稿が前記読取ガラス面上の読取位置を通過する際に画像読取を行うようにした画像読取装置であって、原稿搬送路を挟んで前記読取ガラスに対向して配置され、所定の回転方向に動作することで前記読取ガラスと接触し、前記読取ガラスの表面を清掃する清掃ブラシと、前記清掃ブラシの清掃動作を制御する制御手段と、前記清掃ブラシの回転位置を検出する位置検出手段と、を備え、前記制御手段は、清掃動作の繰り返しによって生ずる前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【０００８】
また請求項２にかかる発明は、請求項１に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記清掃ブラシの変形に伴って変化する情報を取得し、その情報に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【０００９】
また請求項３にかかる発明は、請求項１又は２に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記清掃ブラシの清掃動作中に前記清掃ブラシの変形状態することを特徴としている。
【００１０】
また請求項４にかかる発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシを前記回転方向に駆動する駆動手段と、前記駆動手段が前記清掃ブラシを駆動する際の駆動電流を検出する電流検出手段と、をさらに備え、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記電流検出手段が検出する前記駆動手段の駆動電流に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【００１１】
また請求項５にかかる発明は、請求項４に記載の画像読取装置において、前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが接触する位置であることを特徴としている。
【００１２】
また請求項６にかかる発明は、請求項４に記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段をさらに備え、前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記異物掻取手段とが接触する位置であることを特徴としている。
【００１３】
また請求項７にかかる発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段と、前記異物掻取手段が前記清掃ブラシと接触して前記清掃ブラシから異物を掻き取る際の振動を検出する振動検出手段と、をさらに備え、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記清掃ブラシと接触する位置であることが検出されたことに応答して、前記振動検出手段が検出する前記異物掻取手段の振動幅に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【００１４】
また請求項８にかかる発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置において、前記清掃ブラシが変形していない状態で前記清掃ブラシを前記回転方向に回転させたとき、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが最初に接触する接触開始位置で画像読取を行い、読み取った画像の濃度レベルを検出する濃度レベル測定手段をさらに備え、前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記接触開始位置であることが検出されたことに応答して、前記濃度レベル測定手段が検出する濃度レベルに基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴としている。
【００１５】
また請求項９にかかる発明は、請求項８記載の画像読取装置において、前記読取位置に対応して設けられた読取ヘッドを有し、前記読取ヘッドを介して前記読取位置の画像を読み取るように構成された画像読取手段と、前記読取ヘッドを移動させる移動手段と、を備え、前記移動手段は、前記読取ヘッドを移動させることによって前記読取位置を前記接触開始位置に移動させ、前記画像読取手段を前記濃度レベル測定手段として使用可能とすることを特徴としている。
【００１６】
また請求項１０にかかる発明は、請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、前記清掃ブラシを前記回転方向とは逆方向に所定回数回転させることを特徴としている。
【００１７】
また請求項１１にかかる発明は、請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、その変形方向側を所定の部材で押さえ付けた状態として前記清掃部材を停止させることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１８】
本発明にかかる画像読取装置よれば、清掃ブラシによる清掃動作を繰り返し行うことによって清掃ブラシが一定方向に曲がって変形した場合、その清掃ブラシの変形状態を検知することができる。そのため、清掃ブラシが変形した状態のまま放置されることを防止でき、変形状態の悪化を未然に防止することが可能である。特に、清掃ブラシが変形している場合には、清掃ブラシを清掃方向とは逆方向に所定回数回転させたり、或いは、清掃ブラシの変形方向側を所定の部材で押さえ付けた状態として清掃部材を停止させたりすることにより、変形した清掃ブラシを補正することができるので、清掃ブラシの清掃性能を改善することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の好ましい実施形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。尚、以下に説明する幾つかの実施形態において互いに共通する部材については同一符号を付しており、それらについて繰り返しとなる説明は省略する。
【００２０】
（第１の実施の形態）
【００２１】
図１は、画像読取機能を備えた画像処理装置１の外観構成の一例を示す斜視図である。この画像処理装置１は、いわゆる複合機やＭＦＰなどと称される装置であり、コピー機能、ＦＡＸ機能、プリンタ機能、スキャナ機能など、複数の機能を備えている。画像処理装置１は、ＬＡＮなどのネットワークに接続可能であり、また電話回線などの通信網にも接続可能である。そして原稿から読み取った画像データをネットワーク経由で他のコンピュータに出力したり、或いはネットワーク経由で他のコンピュータから画像データを入力し、その画像データに基づいてプリント出力を行うことができるようになっている。また通信網を介してＦＡＸデータの送受信も行うことができる構成となっている。
【００２２】
この画像処理装置１は、装置本体１ａの上部にスキャナ部２と自動原稿搬送装置（いわゆるＡＤＦ）３から成る画像読取装置４を備えている。画像読取装置４は、自動原稿搬送装置３とスキャナ部２とを同期して動作させることにより、自動原稿搬送装置３にセットされた原稿から１枚ずつ画像を読み取って画像データを出力するように構成されている。より具体的には、自動原稿搬送装置３は、原稿を１枚ずつスキャナ部２に向けて搬送するように構成されており、スキャナ部２はその原稿が所定の読取位置を通過中に画像読み取り行って画像データを生成するように構成されている。
【００２３】
画像処理装置１の装置本体１ａの下部内部には給紙部６が設けられており、さらにその上部には画像形成部５が設けられている。給紙部６は画像形成媒体となる用紙を収容し、画像形成部５に対してその用紙を１枚ずつ供給する。画像形成部５は、入力する画像データに基づいて画像形成を行う画像形成手段であり、入力する画像データに基づいて給紙部６から供給される用紙に対して画像形成を行い、プリント出力を行うように構成されている。例えばコピー機能の場合には、画像形成部５が画像読取装置４から入力する画像データに基づいて画像形成を行うことにより、画像処理装置１は、読み取った原稿のコピー出力を行う。
【００２４】
画像処理装置１の装置本体１ａの正面側（前面側）には、ユーザが操作可能な操作パネル１０が設けられている。ユーザはこの操作パネル１０に表示される案内画面などを見ながらキー操作を行うことにより、画像処理装置１の複数の機能のうちから使用する機能を選択し、その選択した機能に関する各種の設定操作を行うと共に、画像処理装置１に対してジョブの実行を指示することができるようになっている。
【００２５】
図２は、画像読取装置４の全体的な内部構成を示す概略図である。自動原稿搬送装置３は、原稿９を積載する給紙トレイ３１を備えており、この給紙トレイ３１にセットされた原稿９を装置内部に設けられた搬送機構が１枚ずつ取り出して搬送するように構成されている。自動原稿搬送装置３は原稿を１枚ずつ搬送する搬送機構として、ピックアップローラ３２と、複数の搬送ローラ３３，３６とを備えている。ピックアップローラ３２は、給紙トレイ３１に積載された原稿９のうち最上面の原稿のみを取り出し、搬送ローラ３３に供給する。
【００２６】
搬送ローラ３３はピックアップローラ３２によって給紙される原稿を第１の搬送路３４に沿って搬送し、スキャナ部２の読取ガラス２１に対応して設けられた原稿読取部３５に搬送する。原稿読取部３５に搬送された原稿は、読取ガラス２１における所定の読取位置を通過する際にスキャナ部２によってその画像が読み取られる。そして原稿読取部３５を通過した原稿は搬送ローラ３６によって第２の搬送路３７を搬送され、排出口３８を介して原稿排出部３９に排出される。尚、自動原稿搬送装置３には、上述した搬送路３４、３７の他、両面原稿の場合に原稿を反転させるための搬送路が別途設けられるが、それについては図示を省略している。
【００２７】
スキャナ部２は、その上面に、原稿の画像を読み取るために設けられた透明の読取ガラス２１を備えている。そしてスキャナ部２の内部には、この読取ガラス２１を介して画像を読み取るための画像読取手段が設けられている。具体的に説明すると、スキャナ部２の内部には、所定の読取位置を通過する原稿を露光するための露光装置２２が設けられており、この露光装置２２によって露光された原稿からの反射光は、読取ガラス２１を介してスキャナ部２の内部に導かれ、複数のミラー２３及びレンズ２４を通ってＣＣＤなどの画像読取部２５に結像される。ここで露光装置２２と複数のミラー２３は、読取位置に対応して設けられる読取ヘッド２９に組み付けられてユニット化されている。そのため、言い換えれば、この読取ヘッド２９の設置位置が、読取ガラス２１の上面を通過する原稿の読取位置を規定している。画像読取部２５は、読取ガラス２１及び読取ヘッド２９を介して入射するＲ，Ｇ，Ｂの各色成分の光量に応じた濃度レベルを検出して画像信号を生成するように構成されており、その画像信号を画像処理部２６に出力する。そして画像処理部２６は、画像読取部２５から入力する画像信号をＡ／Ｄ変換すると共に、各種の画像処理を施して画像データを生成する。
【００２８】
そして本実施形態では、自動原稿搬送装置３の原稿読取部３５において、原稿搬送路を挟んで読取ガラス２１に対向するようにガラス面清掃機構４０が設けられている。このガラス面清掃機構４０は、読取ガラス２１の上面を原稿が搬送されていない状態で清掃動作を行い、読取ガラス２１の上面に付着する紙粉などの異物を除去するように構成されている。例えば、自動原稿搬送装置３において複数枚の原稿９の連続搬送が行われる場合、ガラス面清掃機構４０は、先行する原稿が画像読取部３５を通過してから、その次の原稿が画像読取部３５に搬送されてくるまでの間の原稿間隔で、清掃動作を行うように構成されている。
【００２９】
図３は、ガラス面清掃機構４０が設けられた部分の構成を示す拡大図である。自動原稿搬送装置３によって搬送される原稿は読取ガラス２１の上面を搬送方向Ｆに沿って搬送され、その原稿が読取位置２０の直上を通過する際、スキャナ部２で画像の読み取りが行われる。そしてガラス面清掃機構４０は、読取ガラス２１における読取位置２０に対応してその上方に設けられている。
【００３０】
ガラス面清掃機構４０は、モータＭ１によって動作する清掃部材４１を備えている。この清掃部材４１は、回転軸４２ａに対して正逆双方向に回転可能に支持された略円柱状のローラ部材４２を有しており、そのローラ部材４２の周方向の一部が略平坦なブラシ保持面となっており、このブラシ保持面に多数のブラシ毛が植設されることにより清掃ブラシ４３が構成されている。またローラ部材４２において清掃ブラシ４３が植設されていない部分の周面は、白色のローラ面となっている。また清掃ブラシ４３の長さは、清掃部材４１が回転したとき、読取ガラス２１の上面を清掃可能な長さである。尚、図例では清掃ブラシ４３をローラ部材４２に直接植設した構成例を示しているが、清掃ブラシ４３とローラ部材４２とを着脱可能にして、清掃ブラシ４３のみを交換可能としても良い。
【００３１】
このような清掃部材４１は、例えば図３に示すように清掃ブラシ４３を上に向けた状態を通常のホームポジション（待機位置）としており、読取ガラス２１の上面を原稿が通過中のときはこのホームポジションで待機する。そして読取ガラス２１の上面を清掃可能なタイミングで、清掃部材４１はモータＭ１によって駆動され、正転方向である回転方向Ｒ１に回転する。これにより、清掃ブラシ４３も回転方向Ｒ１に回転し、清掃動作を開始する。この清掃動作では、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１の上面に接触した状態となって回転方向Ｒ１に回転することにより、読取ガラスの２１の上面にある紙粉などの異物を掃き取り、読取位置２０から異物を除去する。ここで清掃部材４１の回転方向Ｒ１は、清掃ブラシ４３による清掃方向が原稿の搬送方向Ｆと同じ方向になるように設定されている。そのため、清掃部材４１は、読取ガラス２１の上面にある異物を搬送方向Ｆの下流側に向けて掃き出すようになっている。
【００３２】
そして読取ガラス２１の読取位置２０から除去される異物は、一部が読取位置２０の下流側に掃き出され、他の一部が清掃ブラシ４３に付着する。清掃ブラシ４３に付着した異物をそのままの状態にしておくと、次回の清掃時に、清掃ブラシ４３に付着していた異物が再び読取ガラス２１に付着する可能性がある。そのため、上記のような清掃動作によって清掃ブラシ４３に付着した異物は、清掃ブラシ４３から取り除いておく必要がある。そこで本実施形態では、清掃ブラシ４３に付着した異物を取り除くため、清掃部材４１の回転方向Ｒ１の下流側において、回転する清掃部材４１の清掃ブラシ４３と接触することが可能な位置に、異物掻取部材５０が設けられている。この異物掻取部材５０は例えば平板状又はブレード状の部材によって構成され、回転動作中の清掃ブラシ４３と接触することにより、読取ガラス２１の上面を清掃した清掃ブラシ４３から異物を掻き落とすためのものである。そのため、清掃部材４１が回転方向Ｒ１に回転すると、まず清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが接触して読取ガラス２１の清掃動作が行われ、その後、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが離れると、その次に清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触して清掃ブラシ４３に付着した異物が取り除かれ、清掃ブラシ４３を異物が付着していない綺麗な状態にしてホームポジションに戻すことができる。
【００３３】
また清掃部材４１の近傍には、ローラ部材４２の回転位置を検出する位置検出センサ４５が設けられる。この位置検出センサ４５は、例えばスキャナ部２による主走査方向の画像読取幅から外れた位置に設けられ、ローラ部材４２の周面に付されたマーキングを検知してオン／オフすることにより、ローラ部材４２が所定の回転位置に到達したことを検出することができる構成である。この位置検出センサ４５によれば、清掃ブラシ４３の回転位置も検出されることになる。本実施形態の場合、位置検出センサ４５が検出する回転位置は、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１と接触する位置、或いは、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触する位置のいずれかに設定される。尚、図例では位置検出センサ４５は清掃部材４１の上方に設置されている場合を示しているが、清掃部材４１の周囲近傍であればその設置位置は特に限定するものではない。
【００３４】
図４乃至図６は、清掃ブラシ４３による清掃動作の流れを示す図である。まず、図４（Ａ）に示すように読取ガラス２１の上面を先行する原稿９ａが通過しているとき、清掃部材４１はホームポジションで待機状態となっており、清掃ブラシ４３は原稿搬送路から退避している。また図４（Ａ）では読取ガラス２１の上面に紙粉などの異物Ｇが付着している場合を示している。そして先行する原稿９ａの後端が搬送路内の所定位置を通過すると、図４（Ｂ）に示すように清掃部材４１が回転駆動され、清掃ブラシ４３は回転方向Ｒ１への回転動作を開始する。
【００３５】
そして先行する原稿９ａの後端が読取ガラス２１の上面を下流側に搬送されていくと、図５（Ａ）に示すように清掃部材４１はその清掃ブラシ４３を読取ガラス２１の上面に接触させ、読取ガラス２１の清掃を開始する。そして清掃ブラシ４３は、先行する原稿９ａの後端を追いかけるように読取ガラス２１の上面を掃きながら、読取ガラス２１の読取位置２０の上面の異物Ｇを除去していく。このとき、除去される異物Ｇの一部が清掃ブラシ４３に付着する。そして清掃部材４１がさらに回転して清掃ブラシ４３が読取ガラス２１から離れると、次に図５（Ｂ）に示すように清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触する。異物掻取部材５０は、回転動作中の清掃ブラシ４３と接触することにより、清掃ブラシ４３に付着した異物Ｇを掻き取り、清掃ブラシ４３から取り除く。その後、図６に示すように清掃部材４１はホームポジションまで回転すると停止する。また異物掻取部材５０が掻き取った異物Ｇは、異物掻取部材５０の下方に自然落下し、原稿搬送路内の読取位置２０の下流側に堆積する。この異物Ｇは次の原稿９ｂが搬送されることに伴い、原稿９ｂに付着して自動原稿搬送装置３の外部に排出される。
【００３６】
上記のように清掃部材４１は回転方向Ｒ１に１回転すれば、読取ガラス２１の上面に付着した異物を清掃ブラシ４３が掃き取って読取位置２０から除去する清掃動作が１回行われると共に、その清掃動作中に清掃ブラシ４３に付着した異物も取り除くことができるようになっている。そして、このような清掃動作が画像読取装置４において繰り返し行われることにより、清掃ブラシ４３が一定方向に曲がって変形していくことになる。
【００３７】
次に、画像読取装置４の制御機構について説明する。図７は、画像処理装置１における主として画像読取装置４を制御するための制御機構を示すブロック図である。画像処理装置１にはメイン制御部１０が設けられており、このメイン制御部１０がスキャナ部２及び自動原稿搬送装置３を統括的に制御するようになっている。例えばユーザが操作パネル７に対して原稿の読み取り開始を指示した場合、メイン制御部１０は、操作パネル７から入力する読み取り開始指示に応答して、自動原稿搬送装置３のＡＤＦ制御部１１及びスキャナ部２のスキャナ制御部１２に対して原稿の読み取り動作を開始させるコマンドを出力する。
【００３８】
ＡＤＦ制御部１１とスキャナ制御部１２は互いに通信可能なように接続されており、メイン制御部１０から原稿の読み取り開始を指示するコマンドを入力すると、原稿の搬送タイミングや画像読取タイミングなどのタイミング情報及びその他の情報を互いにやりとりしながら各部を制御することで、自動原稿搬送装置３とスキャナ部２とが同期した動作を行うようになっている。
【００３９】
ＡＤＦ制御部１１は、ＣＰＵ１１ａとメモリ１１ｂとを備えた構成であり、ＣＰＵ１１ａが所定のプログラムに基づいた処理を実行することにより、自動原稿搬送装置３に設けられた各部を動作制御する制御手段として機能する。例えば、ＡＤＦ制御部１１は、上述したピックアップローラ３２、搬送ローラ３３及び搬送ローラ３６などから成る搬送機構を駆動するための原稿搬送駆動部１３を制御することにより、自動原稿搬送装置３における原稿の搬送動作がスキャナ部２の画像読取動作と同期するように制御する。またＡＤＦ制御部１１は、ガラス面清掃機構４０を制御し、上述した清掃ブラシ４３による清掃動作を制御する。
【００４０】
ガラス面清掃機構４０は、上述した清掃部材４１を駆動するための構成として、モータ駆動部４７とモータＭ１とを備えると共に、清掃部材４１の回転位置を検出する位置検出センサ４５を備えている。モータＭ１は例えばＤＣモータが使用されている。ＡＤＦ制御部１１がモータ駆動部４７に対してモータＭ１を駆動させるためのパルス信号を出力すると、モータ駆動部４７はそのパルス信号に基づいてモータＭ１を駆動させるべく、モータＭ１に駆動電流を流す。したがって、モータＭ１はモータ駆動部４７から駆動電流が供給されることによって起動される。モータ駆動部４７にはこの駆動電流を検出する電流検出回路４８が設けられており、電流検出回路４８が検出した電流値はＡＤＦ制御部１１に出力される。また位置検出センサ４５は、清掃部材４１の回転位置が所定位置であるときにオンし、その信号をＡＤＦ制御部１１に出力する。
【００４１】
またスキャナ制御部１２は、ＣＰＵ１２ａとメモリ１２ｂとを備えた構成であり、ＣＰＵ１２ａが所定のプログラムに基づいた処理を実行することにより、スキャナ部２に設けられた各部の動作を制御する。すなわち、スキャナ制御部１２は、自動原稿搬送装置３における原稿の搬送動作と同期して画像の読み取り動作を行うように、ＡＤＦ制御部１１とデータ通信を行いながら、露光装置２２、画像読取部２５及び画像処理部２６の各部を制御する。
【００４２】
上記構成において、ＡＤＦ制御部１１は、さらに、清掃動作を繰り返すことによって生じる清掃ブラシ４３の変形状態を検知するように構成されている。具体的に説明すると、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１と接触して清掃動作を行っているときの清掃ブラシ４３と読取ガラス２１との摩擦力は大きく、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて大きくなる。それに対し、清掃ブラシ４３が次第に変形していくと、清掃動作時の清掃ブラシ４３と読取ガラス２１との摩擦力は低下し、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて小さくなる。そしてモータＭ１にかかる負荷が変動すればそれに伴ってモータＭ１を駆動する際の駆動電流が変動する。つまり、モータＭ１にかかる負荷が大きければ、モータＭ１を駆動する際の駆動電流は大きくなるのに対し、モータＭ１にかかる負荷が小さければ、駆動電流は小さくなる。そのため、本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報としてモータＭ１の駆動電流を利用しており、ＡＤＦ制御部１１は電流検出回路４８から入力する電流値に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を検知する。
【００４３】
図８は、清掃ブラシ４３による清掃動作中におけるモータＭ１の駆動電流の変化特性を示す図である。時刻Ｔ０に清掃動作を開始すべくモータＭ１を起動し始めたとすると、その駆動電流は図中Ｌａで示すように変化し、起動直後においてモータＭ１には一時的に大きな起動電流が流れる。この起動電流が流れる起動領域Ｒ１は、時刻Ｔ０からＴ１まであり、時刻Ｔ１以降は駆動電流が安定する。この安定領域Ｒ２では、駆動電流はモータＭ１にかかる負荷に応じて変化するので、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが接触して摩擦力が作用すると、それに応じた電流となる。
【００４４】
図９は、清掃ブラシ４３の変形状態に応じて変化するモータＭ１の駆動電流を示す図である。図中、駆動電流Ｌａ１は、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態でモータＭ１を駆動し、清掃動作を行った場合の駆動電流を示している。この状態では清掃ブラシ４３と読取ガラス２１との摩擦力は大きく、モータＭ１にかかる負荷も大きくなるので、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１に接触しているときの駆動電流Ｌａ１は大きくなる。そして清掃動作を繰り返すことによって次第に清掃ブラシ４３が変形していくと、駆動電流は、Ｌａ１から、次第に、Ｌａ２、Ｌａ３、Ｌａ４という順に低下していくことになる。
【００４５】
そのため本実施形態では、図９に示すように駆動電流Ｌａが、安定領域Ｒ２であり、且つ、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが互いに接触しているタイミングＴｓで、位置検出センサ４５がオンするように構成されている。そしてＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓで電流検出回路４８が出力する電流値を読み取り、その電流値に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。
【００４６】
ＡＤＦ制御部１１のメモリ１１ｂには清掃ブラシ４３の変形段階を判別するための複数の閾値ＴＡ１，ＴＡ２，ＴＡ３（ただし、ＴＡ１＞ＴＡ２＞ＴＡ３）が予め格納されており、ＡＤＦ制御部１１は電流検出回路４８から取得した電流値をこれら閾値ＴＡ１，ＴＡ２，ＴＡ３と比較することで清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。例えば、図９に示すように、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓで取得した電流値がＶａ１であれば、その電流値Ｖａ１は閾値ＴＡ１よりも大きいため、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。また電流検出回路４８から取得した電流値がＶａ２であった場合、その電流値Ｖａ２は閾値ＴＡ１よりも小さく、閾値ＴＡ２よりも大きいため、清掃ブラシ４３は初期状態から若干変形した変形状態の第１段階であると判断する。また電流検出回路４８から取得した電流値がＶａ３であった場合、その電流値Ｖａ３は閾値ＴＡ２よりも小さく、閾値ＴＡ３よりも大きいため、清掃ブラシ４３は第１段階からさらに若干変形した変形状態の第２段階であると判断する。さらに電流検出回路４８から取得した電流値がＶａ４であった場合、その電流値Ｖａ４は閾値ＴＡ３よりも小さいため、清掃ブラシ４３は第２段階からさらに変形した変形状態の第３段階であると判断する。
【００４７】
尚、ここでは清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態を３段階で検出する例を示しているが、これは必ずしも３段階である必要はなく、１段階であっても良いし、２段階であっても良い。更には４段階以上としても良い。
【００４８】
またモータＭ１の駆動電流Ｌａが清掃ブラシ４３の変形状態に応じて変化する位置は、上述したように清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが接触する位置だけでなく、清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触する位置もある。つまり、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触して異物の掻取動作が行われているときの清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０との摩擦力は大きく、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて大きくなる。それに対し、清掃ブラシ４３が次第に変形していくと、異物掻取時の清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０との摩擦力は低下していき、モータＭ１にかかる負荷もそれに応じて小さくなる。そのため、位置検出センサ４５が検出する回転位置は、清掃ブラシ４３が読取ガラス２１と接触する位置としても良いが、これに限られず、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触する位置としても良い。
【００４９】
そして上記のようにして清掃ブラシ４３の変形状態を検知することにより、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが検知された場合、例えば、それを操作パネル７などでユーザに報知する構成とすれば、清掃ブラシ４３を新品と交換するなど適切な処理を行うことができ、清掃ブラシ４３が変形した状態のままで放置されることを防止することができる。それ故、変形状態がさらに悪化することによる読取ガラス２１の清掃不良を未然に防止することが可能である。
【００５０】
また本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形状態を検知した結果、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが判明した場合、ＡＤＦ制御部１１が、その変形状態の段階に応じてガラス面清掃機構４０を制御し、清掃ブラシ４３の変形を補正する補正動作を行うように構成されている。
【００５１】
図１０は、清掃ブラシ４３が変形している場合の第１の補正動作を示す図である。第１の補正動作は、清掃ブラシ４３を清掃動作時の回転方向Ｒ１とは逆の回転方向Ｒ２に所定回数回転させる動作である。ＡＤＦ制御部１１は、モータ駆動部４７に対してモータＭ１を清掃動作時とは逆方向に駆動させるためのパルス信号を出力すると、モータ駆動部４７がそのパルス信号に基づいてモータＭ１に清掃動作時とは逆方向の駆動電流を流す。これにより、モータＭ１は清掃動作時とは逆方向に駆動され、清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ２に回転させる。このような第１の補正動作により、清掃動作の繰り返しで一定方向に変形した清掃ブラシ４３を逆の方向に変形させるので、清掃ブラシ４３の変形状態を補正することができる。ここで回転方向Ｒ１とは逆の回転方向Ｒ２に回転させる回数は適宜設定可能であるが、本実施形態の場合、清掃ブラシ４３の変形状態が第１段階のときはＮ１回（ただし、Ｎ１≧１）の逆転駆動を行い、第２段階のときはＮ２回（ただし、Ｎ２＞Ｎ１）の逆転駆動を行うように構成される。つまり、清掃ブラシ４３の変形状態が悪化することに従って逆方向への回転回数が増加するように設定される。このような第１の補正動作は、清掃ブラシ４３による清掃動作が終了したタイミングで行うようにしても良いし、或いは全ての原稿搬送動作が終了したタイミングで行うようにしても良い。
【００５２】
図１１は、清掃ブラシ４３が変形している場合の第２の補正動作を示す図である。第２の補正動作は、清掃動作の繰り返しで一定方向に変形した清掃ブラシ４３に対し、ブラシの変形方向側から所定の押さえ部材を押さえ付けた状態とし、その状態を保持することで清掃ブラシ４３の変形状態を直すための癖付けを行う癖付け動作となっている。図例の場合、ブラシの変形方向側から押さえ付ける押さえ部材として、異物掻取部材５０を用いている。そのため、ＡＤＦ制御部１１は、例えば清掃動作中において回転方向Ｒ１に回転する清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０を通過した後、その清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ２に一定量逆回転させて戻すことにより、清掃ブラシ４３の変形したブラシ先端を異物掻取部材５０の上面に押さえ付けた状態とし、その状態を保持させる。このような第２の補正動作により、清掃動作の繰り返しで一定方向に変形した清掃ブラシ４３が直毛状のブラシに戻るように癖付けが行われるので、清掃ブラシ４３の変形状態を補正することができる。ここで、清掃ブラシ４３の変形したブラシ先端を異物掻取部材５０の上面に押さえ付けた癖付け状態での保持時間は、適宜設定可能であり、予め設定した所定時間保持するようにしても良いし、またこの癖付け状態を清掃部材４１のホームポジションに変更して清掃動作を行わない待機状態では常にこの癖付け動作が行われるように設定しても良い。このような第２の補正動作は、本実施形態の場合、清掃ブラシ４３の変形状態が第３段階のときに行われる。尚、図１１の例では、異物掻取部材５０を、清掃ブラシ４３の変形方向側からブラシを押さえる押さえ部材として用いる場合を示しているが、読取ガラス２１の上面を押さえ部材として利用しても良いし、また専用の押さえ部材を別途配置しても良い。
【００５３】
次に、画像読取装置４において清掃ブラシ４３の変形状態の検知及び補正動作を行うための処理シーケンスについて説明する。図１２及び図１３は、ＡＤＦ制御部１１による一連の処理手順を示すフローチャートであり、図１２はその前半の処理手順を示しており、図１３はその後半の処理手順を示している。この処理は、例えば自動原稿搬送装置３において原稿９の搬送動作が開始されると、ＡＤＦ制御部１１によって一定時間（例えば数ミリ秒）ごとに繰り返し実行される処理であり、清掃動作中においても繰り返し実行される処理である。図１２に示すように、ＡＤＦ制御部１１は、まず清掃部材４１が回転動作中であるか否かを判断する（ステップＳ１０）。ここで清掃部材４１が動作していない場合（ＮＯの場合）には、清掃動作中でないため、この処理を終了する。これに対し、清掃部材４１が動作中である場合（ＹＥＳの場合）には、ステップＳ１１に進む。
【００５４】
清掃部材４１が清掃動作中である場合、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたか否かを判断する（ステップＳ１１）。ここで位置検出センサ４５がオフであれば、清掃部材４１は未だ、清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達していないことになるため、ＮＯとなり、この処理を終了する。これに対し、位置検出センサ４５がオンであれば、清掃部材４１は清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達しているため、ＹＥＳとなり、ステップＳ１２に進む。
【００５５】
位置検出センサ４５がオンである場合、ＡＤＦ制御部１１は、モータＭ１を駆動している駆動電流の電流値Ｖａを電流検出回路４８から取得する（ステップＳ１２）。ＡＤＦ制御部１１はその取得した電流値Ｖａを閾値ＴＡ１と比較し、電流値Ｖａが閾値ＴＡ１よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１３）。ここで電流値Ｖａが閾値ＴＡ１以上であれば、ＮＯとなってステップＳ１４に進み、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。一方、電流値Ｖａが閾値ＴＡ１よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３は変形した状態と判断される。
【００５６】
そしてＡＤＦ制御部１１は、その変形状態の段階を特定すべく、次に電流値Ｖａが閾値ＴＡ２よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１５）。ここで電流値Ｖａが閾値ＴＡ２以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第１段階であると判断する（ステップＳ１６）。これに対し、電流値Ｖａが閾値ＴＡ２よりも小さい場合には、さらに続いて電流値Ｖａが閾値ＴＡ３よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１７）。ここで電流値Ｖａが閾値ＴＡ３以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第２段階であると判断する（ステップＳ１８）。また電流値Ｖａが閾値ＴＡ３よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３の変形状態は第３段階であると判断する（ステップＳ１９）。以上のようにして清掃ブラシ４３の変形状態が特定されると、次に図１３のフローチャートに進む。
【００５７】
そしてＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３の変形状態の検知結果に基づいて清掃ブラシ４３が変形しているか否かを判断する（ステップＳ２０）。ここで清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、その後の処理を行う必要がないので処理を終了する。これに対し、清掃ブラシ４３が変形している場合は、その変形段階に応じた補正動作が清掃動作の終了後に実行されるように補正動作の設定を行うべく、ステップＳ２１以降の処理に進む。
【００５８】
ＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３の変形状態が第１段階であるか否かを判断し（ステップＳ２１）、第１段階であれば、清掃動作の終了後に上述した第１の補正動作（図１０参照）を実行させるべく、清掃部材４１の逆転動作を設定する（ステップＳ２２）。ここでは、清掃部材４１を逆転方向に回転動作させる回数をＮ１回として設定する。そして設定が終了すると、この処理を終了する。
【００５９】
一方、清掃ブラシ４３の変形状態が第１段階でなかった場合、ＡＤＦ制御部１１は、次に清掃ブラシ４３の変形状態が第２段階であるか否かを判断し（ステップＳ２３）、第２段階であれば、清掃動作の終了後に上述した第１の補正動作（図１０参照）を実行させるべく、清掃部材４１の逆転動作を設定する（ステップＳ２４）。ここでは、清掃部材４１を逆転方向に回転動作させる回数を第１段階のときのよりも多いＮ２回として設定する。そして設定が終了すると、この処理を終了する。
【００６０】
また清掃ブラシ４３の変形状態が第２段階でもなかった場合（つまり、第３段階である場合）、ＡＤＦ制御部１１は、清掃動作の終了後に上述した第２の補正動作（図１１参照）を実行させるべく、清掃ブラシ４３の変形を直すための癖付け動作を設定する（ステップＳ２５）。このとき、清掃動作の終了後に癖付け状態を所定時間保持するように設定しても良いし、また清掃部材４１のホームポジションを癖付け状態としてポジションに変更しても良い。そして設定が終了すると、この処理を終了する。
【００６１】
このような処理により、ＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３による制動動作中に清掃ブラシ４３の変形状態を検知することができ、清掃ブラシ４３が変形状態であることを検知した場合、清掃動作終了後に変形状態の段階に応じて第１又は第２の補正動作を行うことを設定する。そのため、清掃動作の終了後には第１又は第２の補正動作が行われるので、清掃ブラシ４３はその変形状態を悪化させることがなく、寧ろブラシの形状が初期状態に戻るように補正されることになる。
【００６２】
以上のように本実施形態は、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、モータＭ１が清掃ブラシ４３を動作させる際の駆動電流を検出する構成であり、清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であることが検出されたときの駆動電流に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を特定している。そのため、清掃ブラシ４３の変形状態を正確に検知することができる構成となっている。また清掃ブラシ４３が変形している場合には、上述した第１又は第２の補正動作を行うことにより、清掃ブラシ４３の変形を補正することができるので、清掃性能を改善することが可能である。
【００６３】
（第２の実施の形態）
次に第２の実施の形態について説明する。本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０と接触し、異物掻取部材５０が清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取っているときの振動を検出するようにした形態について説明する。尚、本実施形態でも、画像処理装置１及び画像読取装置４の全体構成は、図１及び図２に示したものと同様である。
【００６４】
図１４は、本実施形態においてガラス面清掃機構４０が設けられた部分の構成を示す拡大図である。本実施形態では、清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取るための異物掻取部材５０の上面に振動検出センサ５１が取り付けられる。振動検出センサ５１は、少なくとも上下方向の振動を検出することが可能であり、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０に接触し、異物掻取部材５０が清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取っている状態で異物掻取部材５０に生じる上下方向の振動を検出するように構成されている。
【００６５】
図１５は、本実施形態における画像読取装置４を制御するための制御機構を示すブロック図である。この制御機構が、第１の実施の形態と異なる点は、モータＭ１の駆動電流を検出する電流検出回路は必要でなく、その代わりに、上述した振動検出センサ５１が検出して出力する信号がＡＤＦ制御部１１に入力するように構成されている点である。そしてＡＤＦ制御部１１は、振動検出センサ５１から入力する振動出力に基づいて、清掃ブラシ４３の変形状態を検知するように構成されている。
【００６６】
具体的に説明すると、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であれば、異物掻取部材５０による異物の掻取動作を行う際、清掃ブラシ４３の根元に近い部分が異物掻取部材５０と接触するので、その接触時の衝撃が大きくなり、清掃ブラシ４１が異物掻取部材５０に与える振動幅も大きくなる。それに対し、清掃ブラシ４３が次第に変形していくと、異物掻取部材５０との接触部分は清掃ブラシ４３の先端側に変化していくので、接触時の衝撃は小さくなり、清掃ブラシ４１が異物掻取部材５０に与える振動幅も次第に小さくなっていく。そのため、異物掻取部材５０の振動幅を検知することで、清掃ブラシ４３の変形状態を検知することが可能である。
【００６７】
図１６は、清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触したときの振動検出センサ５１による振動出力の変化特性の一例を示す図である。図１６に示す振動出力Ｌｂは、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０に接触すると、その衝撃で異物掻取部材５０が大きく振動することを示している。このとき、振動幅Ｈは最大となる。そしてその後、その振動は徐々に減衰し、やがて振動は停止する。ここで振動出力Ｌｂの振動幅Ｈの大きさは、清掃ブラシ４３の変化状態に応じた大きさとなる。
【００６８】
図１７は、清掃ブラシ４３の変形状態に応じて変化する異物掻取部材５０の振動出力を示す図である。図中、振動出力Ｌｂ１は、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態で清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触した場合の振動出力を示している。この状態では清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触するときの衝撃が大きく、その振動幅Ｈも大きくなる。そして清掃動作を繰り返すことによって次第に清掃ブラシ４３が変形していくと、振動検出センサ５１からの振動出力は、Ｌｂ１から、次第に、Ｌｂ２、Ｌｂ３、Ｌｂ４という順に小さくなっていく。
【００６９】
本実施形態では、図１７に示すように、清掃ブラシ４３と異物掻取部材５０とが接触するタイミングＴｓで、位置検出センサ４５がオンするように構成されており、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓで振動検出センサ５１が出力する振動出力を読み取り、その振動出力から最大振動幅Ｈを測定する。例えば、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓから一定期間Ｔの間、振動出力をサンプリングし、その期間Ｔ内で最大となる振動幅Ｈを検出する。そしてＡＤＦ制御部１１はその最大振動幅Ｈに基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。
【００７０】
ＡＤＦ制御部１１のメモリ１１ｂには清掃ブラシ４３の変形段階を判別するための複数の閾値Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３（ただし、Ｈ１＞Ｈ２＞Ｈ３）が予め格納されており、ＡＤＦ制御部１１は異物掻取部材５０の最大振動幅Ｈをこれら閾値Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３と比較することで清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。例えば、図１７に示すように、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓに応答してサンプリングを行い、検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ１に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ１よりも大きいため、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。また検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ２に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ１よりも小さく、閾値Ｈ２よりも大きいため、清掃ブラシ４３は初期状態から若干変形した変形状態の第１段階であると判断する。また検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ３に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ２よりも小さく、閾値Ｈ３よりも大きいため、清掃ブラシ４３は第１段階からさらに若干変形した第２段階であると判断する。さらに検出した最大振動幅Ｈが振動出力Ｌｂ４に対応するものであれば、その最大振動幅Ｈは閾値Ｈ３よりも小さいため、清掃ブラシ４３は第２段階からさらに変形した第３段階であると判断する。
【００７１】
尚、ここでも清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態を３段階で検出する例を示しているが、これは必ずしも３段階である必要はなく、１段階であっても良いし、２段階であっても良い。更には４段階以上としても良い。
【００７２】
そして本実施形態では、第１の実施の形態と同様、清掃ブラシ４３の変形状態を検知した結果、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが判明した場合、ＡＤＦ制御部１１が、その変形状態の段階に応じてガラス面清掃機構４０を制御し、清掃ブラシ４３の変形を補正する補正動作を行うように構成されている。尚、補正動作の詳細については第１の実施の形態で説明したものと同様である。
【００７３】
次に、本実施形態において清掃ブラシ４３の変形状態の検知及び補正動作を行うための処理シーケンスについて説明する。図１８は、ＡＤＦ制御部１１による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。尚、この処理手順に続く後半の処理手順は、第１の実施の形態で説明した図１３のフローチャートと同じである。
【００７４】
図１８に示す処理は、例えば自動原稿搬送装置３において原稿９の搬送動作が開始されると、ＡＤＦ制御部１１によって一定時間（例えば数ミリ秒）ごとに繰り返し実行される処理であり、清掃動作中においても繰り返し実行される処理である。図１８に示すように、ＡＤＦ制御部１１は、まず清掃部材４１が回転動作中であるか否かを判断する（ステップＳ３０）。ここで清掃部材４１が動作していない場合（ＮＯの場合）には、清掃動作中でないため、この処理を終了する。これに対し、清掃部材４１が動作中である場合（ＹＥＳの場合）には、ステップＳ３１に進む。
【００７５】
清掃部材４１が清掃動作中である場合、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたか否かを判断する（ステップＳ３１）。ここで位置検出センサ４５がオフであれば、清掃部材４１は未だ、清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達していないことになるため、ＮＯとなり、この処理を終了する。これに対し、位置検出センサ４５がオンであれば、清掃部材４１は清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達しているため、ＹＥＳとなり、ステップＳ３２に進む。
【００７６】
位置検出センサ４５がオンである場合、ＡＤＦ制御部１１は、振動検出センサ５１が出力する振動出力を一定期間サンプリングし、最大振動幅Ｈを測定する（ステップＳ３２）。そしてＡＤＦ制御部１１はその測定した最大振動幅Ｈを閾値Ｈ１と比較し、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ１よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ３３）。ここで最大振動幅Ｈが閾値Ｈ１以上であれば、ＮＯとなってステップＳ３４に進み、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。一方、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ１よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３は変形した状態と判断される。
【００７７】
そしてＡＤＦ制御部１１は、その変形状態の段階を特定すべく、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ２よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ３５）。ここで最大振動幅Ｈが閾値Ｈ２以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第１段階であると判断する（ステップＳ３６）。これに対し、最大振動幅Ｈが閾値Ｈ２よりも小さい場合には、さらに続いて最大振動幅Ｈが閾値Ｈ３よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ３７）。ここで最大振動幅Ｈが閾値Ｈ３以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第２段階であると判断する（ステップＳ３８）。また最大振動幅Ｈが閾値Ｈ３よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３の変形状態は第３段階であると判断する（ステップＳ３９）。以上のようにして清掃ブラシ４３の変形状態が特定されると、それ以降は図１３のフローチャートに進み、上述したように清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態の段階に応じた補正動作が設定され、処理が終了する。
【００７８】
以上のように本実施形態は、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、異物掻取部材５０が清掃ブラシ４３に付着した異物を掻き取る際の振動幅を検出する構成であり、清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であることが検出されたときの異物掻取部材５０の振動幅に基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を特定している。そのため、清掃ブラシ４３の変形状態を正確に検知することができる構成となっている。また清掃ブラシ４３が変形している場合には、上述した第１又は第２の補正動作を行うことにより、清掃ブラシ４３の変形を補正することができるので、清掃性能を改善することが可能である。
【００７９】
尚、自動原稿搬送装置３において原稿搬送が行われると、その原稿搬送動作に伴う振動が発生し、振動検出センサ５１がその振動を検出する。そのため、上述した本実施形態では、原稿搬送動作による振動を誤検知することを避けるために、位置検出センサ４５により清掃部材４１が所定位置に回転したことが検出されたことに応答して振動検出センサ５１の振動出力をサンプリングするように構成されている。しかし、自動原稿搬送装置３における原稿搬送動作に伴って生じる振動が、清掃ブラシ４３が異物掻取部材５０に接触することにより異物掻取部材５０に与える振動よりも小さい場合には、常時、振動検出センサ５１の振動出力をサンプリングするように構成しても良い。
【００８０】
（第３の実施の形態）
次に第３の実施の形態について説明する。本実施形態では、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、清掃ブラシ４３が変形していない状態で清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ１に回転させたとき、清掃ブラシ４３と読取ガラス２１とが最初に接触する接触開始位置で画像読取を行い、その読み取った画像の濃度レベルを検出するようにした形態について説明する。尚、本実施形態でも、画像処理装置１の全体構成は、図１に示したものと同様である。
【００８１】
図１９は、本実施形態における画像読取装置４の全体的な内部構成を示す概略図である。本実施形態では、スキャナ部２の内部にモータＭ２が設けられており、このモータＭ２は、露光装置２２と複数のミラー２３とを備えてユニット化された読取ヘッド２９を図中矢印Ｓ方向に移動させる。そのため、スキャナ部２による読取位置２０は、モータＭ２が読取ヘッド２９を移動させることに伴って図中矢印Ｓ方向に移動する。
【００８２】
図２０は、本実施形態においてガラス面清掃機構４０が設けられた部分の構成を示す拡大図である。図２０に示す読取位置２０ａは、スキャナ部２が原稿を読み取る際の読取位置であり、読取位置２０ｂは、清掃ブラシ４３の先端の画像を読み取ってその濃度レベルを測定するための読取位置である。読取位置２０ｂは、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態で清掃ブラシ４３を回転方向Ｒ１に回転させたとき、清掃ブラシ４３の先端が読取ガラス２１と最初に接触する接触開始位置とほぼ同じ位置である。モータＭ２は、読取ヘッド２９をＳ方向に移動させることにより、スキャナ部２の読取位置２０を、読取位置２０ａと２０ｂとの間で移動させることができる。
【００８３】
図２１は、本実施形態における画像読取装置４を制御するための制御機構を示すブロック図である。この制御機構では、スキャナ部２においてスキャナ制御部１２がモータＭ２を駆動するモータ駆動部２８を制御するように構成されている。スキャナ制御部１２は、ＡＤＦ制御部１１とデータ通信を行っており、ＡＤＦ制御部１１から濃度測定が指示されると、モータ駆動部２８にパルス信号を出力してモータＭ２を駆動させ、読取位置２０を、原稿の読取位置２０ａから清掃ブラシ４３の先端画像の読取位置２０ｂに移動させる。そしてその状態で、露光装置２２、画像読取部２５及び画像処理部２６を機能させて画像読取を行い、読み取った画像の濃度レベルをＡＤＦ制御部１１に出力する。その後、スキャナ制御部１２は、モータＭ２を再び駆動して読取位置２０を読取位置２０ｂから原稿の読取位置２０ａに移動させて原稿の画像を読取可能な状態に戻す。
【００８４】
そして本実施形態のＡＤＦ制御部１１は、スキャナ制御部１２から取得した濃度レベルに基づいて、清掃ブラシ４３の変形状態を検知するように構成されている。
【００８５】
図２２は、清掃ブラシ４３の変形状態による濃度レベルの変化を示す図である。まず図２２（Ａ）に示すように、スキャナ部２が読取位置２０ｂにおいて清掃ブラシ４３の先端画像を読み取る際、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態であればブラシ先端４３ａは読取位置２０ｂの上の読取ガラス２１にほぼ接触した状態となるので、読み取った画像の濃度レベルは高くなる。それに対し、清掃ブラシ４３が変形すると、ブラシ先端４３ｂは読取位置２０ｂの上の読取ガラス２１から離れた状態となるので、読み取った画像の濃度レベルは低くなる。つまり、図２２（Ａ）に示すように、読取位置２０ｂで清掃ブラシ４３の先端画像を読み取れば、その読み取った画像の濃度レベルＬｃは清掃ブラシ４３の変形状態に応じて図２２（Ｂ）に示すようなレベルとなる。図２２（Ｂ）において、濃度レベルＬｃ１は、清掃ブラシ４３が変形していない初期状態で清掃ブラシ４３の先端画像を読み取った場合の濃度レベルを示しており、最も高いレベルとなっている。そして清掃動作を繰り返すことによって次第に清掃ブラシ４３が変形していくと、濃度レベルＬｃは、Ｌｃ１から、次第に、Ｌｃ２、Ｌｃ３、Ｌｃ４という順に小さくなっていく。そのため、この濃度レベルを測定することで、清掃ブラシ４３の変形状態を検知することが可能である。
【００８６】
そして本実施形態では、清掃ブラシ４３が上述した接触開始位置まで回転したタイミングＴｓで、位置検出センサ４５がオンするように構成されており、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたタイミングＴｓでスキャナ制御部１２に濃度測定を指示する。このとき、スキャナ部２で直ちに読取位置２０ｂの画像読取を行うことができない場合は、ＡＤＦ制御部１１が清掃ブラシ４３の回転を一時停止させることが好ましい。この場合、ＡＤＦ制御部１１がスキャナ制御部１２から濃度レベルを取得すれば清掃ブラシ４３の回転駆動が再開される。
【００８７】
ＡＤＦ制御部１１は、スキャナ制御部１２に対して濃度測定を指示した後、スキャナ制御部１２が測定した濃度レベルＬｃを取得すると、その濃度レベルＬｃに基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。ＡＤＦ制御部１１のメモリ１１ｂには、図２２（Ｂ）に示すように、清掃ブラシ４３の変形段階を判別するための複数の閾値Ｔｃ１，Ｔｃ２，Ｔｃ３（ただし、Ｔｃ１＞Ｔｃ２＞Ｔｃ３）が予め格納されており、ＡＤＦ制御部１１は清掃ブラシ４３の先端画像の濃度レベルＬｃをこれら閾値Ｔｃ１，Ｔｃ２，Ｔｃ３と比較することで清掃ブラシ４３の変形状態を判別する。例えば、濃度レベルＬｃがＬｃ１であった場合、閾値Ｔｃ１よりも大きいため、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。また濃度レベルＬｃがＬｃ２であった場合、閾値Ｔｃ１よりも小さく、閾値Ｔｃ２よりも大きいため、清掃ブラシ４３は初期状態から若干変形した変形状態の第１段階であると判断する。また濃度レベルＬｃがＬｃ３であった場合、閾値Ｔｃ２よりも小さく、閾値Ｔｃ３よりも大きいため、清掃ブラシ４３は第１段階からさらに若干変形した第２段階であると判断する。さらに濃度レベルＬｃがＬｃ４であった場合、閾値Ｔｃ３よりも小さいため、清掃ブラシ４３は第２段階からさらに変形した第３段階であると判断する。
【００８８】
尚、ここでも清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態を３段階で検出する例を示しているが、これは必ずしも３段階である必要はなく、１段階であっても良いし、２段階であっても良い。更には４段階以上としても良い。
【００８９】
そして本実施形態でも、第１の実施の形態と同様、清掃ブラシ４３の変形状態を検知した結果、清掃ブラシ４３が初期状態から変形した状態となっていることが判明した場合、ＡＤＦ制御部１１が、その変形状態の段階に応じてガラス面清掃機構４０を制御し、清掃ブラシ４３の変形を補正する補正動作を行うように構成されている。尚、補正動作の詳細については第１の実施の形態で説明したものと同様である。
【００９０】
次に、本実施形態において清掃ブラシ４３の変形状態の検知及び補正動作を行うための処理シーケンスについて説明する。図２３及び図２４は、ＡＤＦ制御部１１による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。尚、この処理手順に続く後半の処理手順は、第１の実施の形態で説明した図１３のフローチャートと同じである。
【００９１】
図２３に示す処理は、例えば自動原稿搬送装置３において原稿９の搬送動作が開始されると、ＡＤＦ制御部１１によって一定時間（例えば数ミリ秒）ごとに繰り返し実行される処理であり、清掃動作中においても繰り返し実行される処理である。図２３に示すように、ＡＤＦ制御部１１は、まず清掃部材４１が回転動作中であるか否かを判断する（ステップＳ４０）。ここで清掃部材４１が動作していない場合（ＮＯの場合）には、清掃動作中でないため、この処理を終了する。これに対し、清掃部材４１が動作中である場合（ＹＥＳの場合）には、ステップＳ４１に進む。
【００９２】
清掃部材４１が清掃動作中である場合、ＡＤＦ制御部１１は、位置検出センサ４５がオンしたか否かを判断する（ステップＳ４１）。ここで位置検出センサ４５がオフであれば、清掃部材４１は未だ、清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達していないことになるため、ＮＯとなり、この処理を終了する。これに対し、位置検出センサ４５がオンであれば、清掃部材４１は清掃ブラシ４３の変形状態を確認することができる回転位置に到達しているため、ＹＥＳとなり、ステップＳ４２に進む。
【００９３】
ステップＳ４２では清掃ブラシ状態測定処理が行われる。この処理の詳細を図２４に示す。ＡＤＦ制御部１１は、清掃部材４１の回転動作を一時停止させ（ステップＳ４２１）、スキャナ制御部１２に対して濃度測定指示を送信する（ステップＳ４２２）。これにより、スキャナ部２では、読取位置２０を原稿の読取位置２０ａから清掃ブラシ４３の先端画像の読取位置２０ｂに移動させる処理が行われると共に、その読取位置２０ｂで清掃ブラシ４３の先端画像を読み取る処理が行われる。そして読み取った画像の濃度レベルＬｃが測定され、ＡＤＦ制御部１１に出力される。ＡＤＦ制御部１１は、清掃ブラシ４３の濃度レベルＬｃをスキャナ制御部１２から取得すると（ステップＳ４２３）、一時停止させておいた清掃部材４１の駆動を再開する（ステップＳ４２４）。以上で、ステップＳ４２の清掃ブラシ状態測定処理が終了し、図２３のフローチャートに戻る。
【００９４】
そしてＡＤＦ制御部１１はスキャナ制御部１２から取得した濃度レベルＬｃを閾値Ｔｃ１と比較し、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ１よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ４３）。ここで濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ１以上であれば、ＮＯとなってステップＳ４４に進み、清掃ブラシ４３は変形していない初期状態であると判断する。一方、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ１よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３は変形した状態と判断される。
【００９５】
そしてＡＤＦ制御部１１は、その変形状態の段階を特定すべく、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ２よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ４５）。ここで濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ２以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第１段階であると判断する（ステップＳ４６）。これに対し、濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ２よりも小さい場合には、さらに続いて濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ３よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ４７）。ここで濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ３以上であれば、清掃ブラシ４３の変形状態は第２段階であると判断する（ステップＳ４８）。また濃度レベルＬｃが閾値Ｔｃ３よりも小さい場合には、清掃ブラシ４３の変形状態は第３段階であると判断する（ステップＳ４９）。以上のようにして清掃ブラシ４３の変形状態が特定されると、それ以降は図１３のフローチャートに進み、上述したように清掃ブラシ４３が変形している場合、その変形状態の段階に応じた補正動作が設定され、処理が終了する。
【００９６】
以上のように本実施形態は、清掃ブラシ４３の変形に伴って変化する情報として、清掃ブラシ４３の先端画像の濃度レベルＬｃを検出する構成であり、清掃ブラシ４３の回転位置が所定位置であるときに画像読取を行い、その読み取った画像の濃度レベルＬｃに基づいて清掃ブラシ４３の変形状態を特定している。そのため、清掃ブラシ４３の変形状態を正確に検知することができる構成となっている。また清掃ブラシ４３が変形している場合には、上述した第１又は第２の補正動作を行うことにより、清掃ブラシ４３の変形を補正することができるので、清掃性能を改善することが可能である。
【００９７】
尚、上記においては、位置検出センサ４５がオンした後、清掃部材４１の回転を一時停止させる場合を例示したが、読取位置２０の移動を位置検出センサ４５がオンする前に予め行っておくようにすれば、清掃部材４１の回転を一時停止させる必要がなくなるので、スムーズな清掃動作が可能となり、より好ましい。
【００９８】
また上記においては、スキャナ部２が画像を読み取る読取位置２０を原稿の読取位置２０ａから清掃ブラシ４３の先端画像を読み取る読取位置２０ｂに移動させることにより、スキャナ部２の画像読取手段を濃度レベル測定手段として使用する形態について説明したが、原稿の画像を読み取る画像読取手段とは別に、清掃ブラシ４３の先端画像を読み取って濃度レベルを測定する専用の濃度レベル測定手段を設けた構成としても良い。
【００９９】
（変形例）
以上、本発明に関する幾つかの実施形態について説明したが、本発明は上述した内容のものに限定されるものではない。例えば、上述した実施形態では、画像処理装置１が、コピー機能、ＦＡＸ機能、プリンタ機能、スキャナ機能などの複数の機能を備えた装置である場合を例示したが、必ずしもそれら複数の機能を備えている必要はない。特に上述した画像読取装置４は、コピー機能、ＦＡＸ機能、スキャナ機能のうちの少なくとも１つの機能を備えた装置に対して適用可能である。
【０１００】
また上述した各実施形態では、清掃ブラシ４３の回転位置を検出する位置検出手段として位置検出センサ４５を設けた構成例を示したが、位置検出手段は必ずしも位置検出センサ４５である必要はない。例えば、モータＭ１を起動してからの駆動時間をカウントすることや、モータＭ１を駆動するために送出したパルス数をカウントすることなどによって、清掃ブラシ４３の回転位置を検出する位置検出手段を構成しても良い。
【０１０１】
またその他にも、上述した各実施形態に対し、本発明の範囲内において種々の変形例が適用可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【０１０２】
【図１】画像読取機能を備えた画像処理装置の外観構成の一例を示す斜視図である。
【図２】画像読取装置の全体的な内部構成を示す概略図である。
【図３】第１の実施の形態においてガラス面清掃機構が設けられた部分の構成を示す拡大図である。
【図４】清掃ブラシによる清掃動作の流れを示す図である。
【図５】清掃ブラシによる清掃動作の流れを示す図である。
【図６】清掃ブラシによる清掃動作の流れを示す図である。
【図７】第１の実施の形態における画像読取装置を制御するための制御機構を示すブロック図である。
【図８】清掃ブラシによる清掃動作中におけるモータの駆動電流の変化特性を示す図である。
【図９】清掃ブラシの変形状態に応じて変化するモータの駆動電流を示す図である。
【図１０】清掃ブラシが変形している場合の第１の補正動作を示す図である。
【図１１】清掃ブラシが変形している場合の第２の補正動作を示す図である。
【図１２】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの前半の処理手順を示すフローチャートである。
【図１３】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの後半の処理手順を示すフローチャートである。
【図１４】第２の実施の形態においてガラス面清掃機構が設けられた部分の構成を示す拡大図である。
【図１５】第２の実施の形態における画像読取装置を制御するための制御機構を示すブロック図である。
【図１６】清掃ブラシと異物掻取部材とが接触したときの振動検出センサによる振動出力の変化特性の一例を示す図である。
【図１７】清掃ブラシの変形状態に応じて変化する異物掻取部材の振動出力を示す図である。
【図１８】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。
【図１９】第３の実施の形態における画像読取装置の全体的な内部構成を示す概略図である。
【図２０】第３の実施の形態においてガラス面清掃機構が設けられた部分の構成を示す拡大図である。
【図２１】第３の実施の形態における画像読取装置を制御するための制御機構を示すブロック図である。
【図２２】清掃ブラシの変形状態による濃度レベルの変化を示す図である。
【図２３】ＡＤＦ制御部による一連の処理手順のうちの前半部分の処理手順を示すフローチャートである。
【図２４】清掃ブラシ状態測定処理の詳細な処理手順の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１０３】
１ 画像処理装置
２ スキャナ部
３ 自動原稿搬送装置（ＡＤＦ）
４ 画像読取装置
１１ ＡＤＦ制御部（制御手段）
２０ 読取位置
２０ａ 読取位置
２０ｂ 読取位置
２１ 読取ガラス
２５ 画像読取部（画像読取手段、濃度レベル測定手段）
２９ 読取ヘッド
４０ ガラス面清掃機構（ガラス面清掃手段）
４１ 清掃部材
４３ 清掃ブラシ
４５ 位置検出センサ（位置検出手段）
４８ 電流検出回路（電流検出手段）
５０ 異物掻取部材（異物掻取手段）
５１ 振動検出センサ（振動検出手段）
Ｍ１ モータ（駆動手段）
Ｍ２ モータ（移動手段）
Ｇ 異物
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、当該原稿が前記読取ガラス面上の読取位置を通過する際に画像読取を行うようにした画像読取装置であって、
原稿搬送路を挟んで前記読取ガラスに対向して配置され、所定の回転方向に動作することで前記読取ガラスと接触し、前記読取ガラスの表面を清掃する清掃ブラシと、
前記清掃ブラシの清掃動作を制御する制御手段と、
前記清掃ブラシの回転位置を検出する位置検出手段と、
を備え、
前記制御手段は、清掃動作の繰り返しによって生ずる前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記清掃ブラシの変形に伴って変化する情報を取得し、その情報に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記清掃ブラシの清掃動作中に前記清掃ブラシの変形状態することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記清掃ブラシを前記回転方向に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段が前記清掃ブラシを駆動する際の駆動電流を検出する電流検出手段と、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記電流検出手段が検出する前記駆動手段の駆動電流に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが接触する位置であることを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段をさらに備え、
前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記異物掻取手段とが接触する位置であることを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段と、
前記異物掻取手段が前記清掃ブラシと接触して前記清掃ブラシから異物を掻き取る際の振動を検出する振動検出手段と、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記清掃ブラシと接触する位置であることが検出されたことに応答して、前記振動検出手段が検出する前記異物掻取手段の振動幅に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記清掃ブラシが変形していない状態で前記清掃ブラシを前記回転方向に回転させたとき、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが最初に接触する接触開始位置で画像読取を行い、読み取った画像の濃度レベルを検出する濃度レベル測定手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記接触開始位置であることが検出されたことに応答して、前記濃度レベル測定手段が検出する濃度レベルに基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記読取位置に対応して設けられた読取ヘッドを有し、前記読取ヘッドを介して前記読取位置の画像を読み取るように構成された画像読取手段と、
前記読取ヘッドを移動させる移動手段と、
を備え、
前記移動手段は、前記読取ヘッドを移動させることによって前記読取位置を前記接触開始位置に移動させ、前記画像読取手段を前記濃度レベル測定手段として使用可能とすることを特徴とする請求項８記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、前記清掃ブラシを前記回転方向とは逆方向に所定回数回転させることを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項１１】
前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、その変形方向側を所定の部材で押さえ付けた状態として前記清掃部材を停止させることを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項１】
原稿を１枚ずつ読取ガラス面上に搬送し、当該原稿が前記読取ガラス面上の読取位置を通過する際に画像読取を行うようにした画像読取装置であって、
原稿搬送路を挟んで前記読取ガラスに対向して配置され、所定の回転方向に動作することで前記読取ガラスと接触し、前記読取ガラスの表面を清掃する清掃ブラシと、
前記清掃ブラシの清掃動作を制御する制御手段と、
前記清掃ブラシの回転位置を検出する位置検出手段と、
を備え、
前記制御手段は、清掃動作の繰り返しによって生ずる前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記清掃ブラシの変形に伴って変化する情報を取得し、その情報に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記清掃ブラシの清掃動作中に前記清掃ブラシの変形状態することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記清掃ブラシを前記回転方向に駆動する駆動手段と、
前記駆動手段が前記清掃ブラシを駆動する際の駆動電流を検出する電流検出手段と、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が所定位置であることが検出されたことに応答して、前記電流検出手段が検出する前記駆動手段の駆動電流に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが接触する位置であることを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段をさらに備え、
前記所定位置は、前記清掃ブラシと前記異物掻取手段とが接触する位置であることを特徴とする請求項４に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記清掃ブラシの前記回転方向の下流側に設けられ、清掃動作中に前記清掃ブラシに付着した異物を前記清掃ブラシから掻き取る異物掻取手段と、
前記異物掻取手段が前記清掃ブラシと接触して前記清掃ブラシから異物を掻き取る際の振動を検出する振動検出手段と、
をさらに備え、
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記清掃ブラシと接触する位置であることが検出されたことに応答して、前記振動検出手段が検出する前記異物掻取手段の振動幅に基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記清掃ブラシが変形していない状態で前記清掃ブラシを前記回転方向に回転させたとき、前記清掃ブラシと前記読取ガラスとが最初に接触する接触開始位置で画像読取を行い、読み取った画像の濃度レベルを検出する濃度レベル測定手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記位置検出手段によって前記清掃ブラシの回転位置が前記接触開始位置であることが検出されたことに応答して、前記濃度レベル測定手段が検出する濃度レベルに基づいて前記清掃ブラシの変形状態を検知することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記読取位置に対応して設けられた読取ヘッドを有し、前記読取ヘッドを介して前記読取位置の画像を読み取るように構成された画像読取手段と、
前記読取ヘッドを移動させる移動手段と、
を備え、
前記移動手段は、前記読取ヘッドを移動させることによって前記読取位置を前記接触開始位置に移動させ、前記画像読取手段を前記濃度レベル測定手段として使用可能とすることを特徴とする請求項８記載の画像読取装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、前記清掃ブラシを前記回転方向とは逆方向に所定回数回転させることを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置。
【請求項１１】
前記制御手段は、前記清掃ブラシが変形している場合、その変形方向側を所定の部材で押さえ付けた状態として前記清掃部材を停止させることを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の画像読取装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【公開番号】特開２０１０−４０９８（Ｐ２０１０−４０９８Ａ）
【公開日】平成２２年１月７日（２０１０．１．７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−１５８７３５（Ｐ２００８−１５８７３５）
【出願日】平成２０年６月１８日（２００８．６．１８）
【出願人】（３０３０００３７２）コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 (12,802)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年１月７日（２０１０．１．７）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年６月１８日（２００８．６．１８）
【出願人】（３０３０００３７２）コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 (12,802)
【Ｆターム（参考）】
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