説明

粉末発光体及び発光装置

【課題】 耐電子線性が高く、発光効率の高い粉末発光体、及び発光装置、表示装置を提供する。
【解決手段】 電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体であって、コアとなる窒化物半導体粒子表面に他の窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒が存在し、該発光層及び/又は発光粒の上に窒化物半導体層が積層され、これら窒化物半導体−発光層及び/又は発光粒−窒化物半導体層が量子井戸構造を形成している。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、電子線又は紫外線照射により発光する粉末発光体及び該粉末発光体を有する発光装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、紫外線照射により発光する発光装置は、蛍光ランプなどで代表されるように、真空封止されたガラス管の内壁に、種々の遷移金属酸化物蛍光体を塗布し、管内に水銀とアルゴンを封入して作製されていた。管内に設けられた電極に高電圧を印加して放電により水銀が発する254nmの紫外線が前記蛍光体を励起し、その結果蛍光体が発光していた。
【0003】
例えば、蛍光表示管やFED、電子線励起光源には低速電子線励起蛍光体が使用される。代表的な蛍光体として、ZnO:Zn、YS:Eu、ZnS:Cu、Al等が知られている。さらに、ZnやSiをドープしたGaN蛍光体が研究されている。
【0004】
しかしながら、硫化物蛍光体は電子線励起時に残留ガスとの反応により硫化物ガスの放出や蛍光体物質の分解飛散により発光効率低下を引き起こす。つまり励起源となる電子線による耐久性が低く、短寿命化を引き起こす。一方、耐電子線の高いGaN系発光体では発光効率が従来蛍光体に比べて著しく低く、蛍光表示管、FED、電子線励起光源への実用が困難であった。
【0005】
又、蛍光体を効率よく励起させるためには、真空状態で励起光(紫外線や電子線)を蛍光体に照射する必要がある。このため、蛍光体を用いた上記従来の発光装置では装置が比較的大掛かりで複雑になり、さらに使用中における真空度の低下による発光装置の劣化が避けられないという問題点があった。
【0006】
そこで、下記特許文献1には、任意の波長を有し、かつ色純度のよい発光体、および真空状態や高電圧を必要とせず簡単な構成で、実質的に劣化がない発光装置を提供することを目的として、紫外線照射により励起されて発光する発光体として従来用いられていた蛍光体の代わりに、半導体積層構造を有する発光体を用いるとともに、紫外線源として半導体レーザまたは発光ダイオード等を用いることが開示されている。
【0007】
他方、発光の高効率化のためにLEDの分野では量子井戸構造をとることが多い。例えば、バンドギャップの狭いInGaNからなる井戸層を、それよりもバンドギャップの大きなGaNからなるバリア層で両側から挟む構造とする。これらの構造を作成する手法としてはMOVPE(有機金属気相エピタキシャル成長法)やMBE(分子線エピタキシャル成長法)による薄膜形態での成長が主流であり、大面積を必要とするディスプレイや照明用途としては粉末形態が望ましいため一度形成した薄膜を破砕して粉末形状にしてから用いている。
【0008】
しかし、薄膜形態での成長法を用いる場合、薄膜を破砕する際に量子井戸構造を保てない粉末が発生することや、MOVPEやMBEによる成膜手法は高品質の結晶を作製ができるが、大面積を必要とするディスプレイや照明用蛍光体としてはコストが高くなるという問題があった。
【0009】
そこで、下記特許文献2には、原料物質を昇華温度以上の温度に加熱して生成した粉体柱状のGa1−xInN:A,B(但し0<x<1、A=Zn,Mg、B=Si,Ge)で表される蛍光体が開示されている。その製法は、原料物質をアルミボードに載せ、管状炉内でアンモニアを流しながら加熱し柱状結晶のGaN粉末を得るものである。
【0010】
しかしながら、これらのように固相法で粉末を作製する場合、結晶品質が良好な結晶が得られないため、発光効率が低いという問題点があった。
【0011】
【特許文献1】特開2003−55656号公報
【特許文献2】特開2001−49250号公報
【非特許文献1】応用物理、第73巻第3号、373−377(2004)
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0012】
従来の硫化物蛍光体やGaN系発光体が、蛍光表示管、FED、電子線励起光源への実用が困難であったことに鑑み、本発明は、耐電子線性が高く、発光効率の高い粉末発光体を提供する。又、任意の発光波長の発光も可能である粉末発光体を提供する。更に、電子線だけでなく、紫外線励起によっても発光する粉末発光体を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0013】
本発明者らは、窒化物半導体に量子井戸構造を持たせた粉末発光体により、上記課題が解決されることを見出し本発明に至った。
【0014】
即ち、第1に、本発明は、電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体の発明であって、コアとなる窒化物半導体粒子表面に他の窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒が存在し、該発光層及び/又は発光粒の上に窒化物半導体層が積層され、これら窒化物半導体−発光層及び/又は発光粒−窒化物半導体層が量子井戸構造を形成している。窒化物半導体が量子井戸構造を有することで、電子線又は紫外線などの励起光により高効率に発光する。コアとなる窒化物半導体粒子と外側の窒化物半導体層のバンドギャップを広く、これらに挟まれた発光層及び/又は発光粒となる窒化物半導体層のバンドギャップを小さくして量子井戸構造を構成する。
【0015】
なお、本発明でいう発光粒とは、窒化物半導体粒子表面に他の窒化物半導体が連続性を有さずに島状又は斑状に積層された場合を示すものであり、発光層と同様に井戸層を構成する薄膜構造である。
【0016】
ここで、窒化物半導体としては、下記式(1)で示されるIII−V族化合物半導体が好ましい。
【0017】
AlGaInAsSb (1)
(式中、a,b,c,d,w,x,y,zは、a+b+c+d=1であり、a,b,c,d≧0であり、w+x+y+z=1であり、w>0であり、x,y,z≧0である)
【0018】
各層を構成する窒化物半導体の具体例としては、コア粒子である窒化物半導体粒子としてGaN、該コア粒子の表面に存在する発光層及び/又は発光粒としてInGa1−xN、その上に積層される窒化物半導体層としてGaNが好ましく例示される。
【0019】
本発明の粉末発光体は、前記量子井戸構造が繰り返し形成され、多量子井戸的構造とすることで、更に発光効率を向上させることができる。量子井戸構造の繰り返しの数は特に制限されないが、15kVの電子源で励起した場合、約1.5μm程度進入できるので、その進入深さと粉末のサイズを合わせ込むことが望ましい。
【0020】
コア粒子である窒化物半導体粒子の直径は特に制限されないが、前記他の窒化物半導体からなる発光層の厚みは励起光を透過させ量子井戸効果を発現させるために3〜30nmが好ましく、同様に発光粒の粒径は3〜30nmであり、粉末粒子の大きさが5μm以下であることが好ましい。
【0021】
コアとなる窒化物半導体粒子は窒化物半導体の単一化合物でも良く、又窒化物半導体同士や他の化合物と窒化物半導体とからなる復層構造であってもよい。
【0022】
前記III−V族化合物半導体には不純物元素がドーピングされていても良い。不純物元素としては、II族元素、IV族元素およびVI族元素からなる群から選ばれる1種以上の元素が好ましい。
【0023】
第2に、本発明は、電子線又は紫外線を出射することができる出射部と、該電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体とからなる発光装置の発明であり、該粉末発光体が、コアとなる窒化物半導体粒子表面に他の窒化物半導体からなる発光層及び/又は粉末発光粒が存在し、該発光層及び/又は発光粒の上に窒化物半導体層が積層され、これら窒化物半導体−発光層及び/又は発光粒−窒化物半導体層が量子井戸構造を形成しているものである。出射部としては、半導体レーザまたは発光ダイオードであると装置がコンパクトになる。
【0024】
第3に、本発明は、電子線又は紫外線を出射することができる出射部と、該電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体とからなる表示装置の発明であり、該粉末発光体が、コアとなる窒化物半導体粒子表面に他の窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒が存在し、該発光層及び/又は発光粒の上に窒化物半導体層が積層され、これら窒化物半導体−発光層及び/又は発光粒−窒化物半導体層が量子井戸構造を形成しているものである。粉末発光体に溶媒を加えて粒子を分散又はペースト化し、ガラスなどの基板にスピンコートなどの方法で塗布すればよい。出射部としては、半導体レーザまたは発光ダイオードであると装置がコンパクトになる。
【発明の効果】
【0025】
本発明の粉末発光体は、コアとなるGaN等の窒化物半導体粒子表面にlnGaN等の発光層及び/又は発光粒を設け、さらに発光層及び/又は発光粒上にGaN等の窒化物半導体層を積層し、量子井戸構造を持つ粉末蛍光体である。
【0026】
粒子上に結晶を成長させるため、従来の基板上に蛍光体薄膜を形成し粉砕させる方法と比較して
・基板が不要
・エッチング等の基板から薄膜を分離する工程が不要
・薄膜を粉砕した場合、量子井戸構造を保てない粉末が発生するが、本発明では全ての粒子が量子井戸構造を持つ
等の効果を奏する。
【0027】
又、本発明の粉末発光体は、耐電子線性が高く、電子線の電圧を上げ電流を下げることができ、発光効率が高く省電力である。例えば、ZnS系蛍光体に対して耐電子線性が高く、ZnS蛍光体に対して3倍以上の高輝度に発光する。耐電子線性が高いことにより、耐久性に優れている。
【0028】
更に、本発明の粉末発光体は、電子線だけでなく、紫外線励起によっても発光する汎用性・実用性の高いものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【0029】
図1に、量子井戸構造を持つ粉末蛍光体の製造プロセスを模式的に示す。Step1で、コア粒子である窒化物半導体粒子を形成する。コア粒子の大きさは100nm以上とするのが好ましい。高品質な粒子を作製するために、二段階気相法でGaN等の粒子を作製してもよい。二段階気相法とは、上記非特許文献1に記載されているように、粉末合成過程を微小結晶核形成とその後の粒成長の2過程に分離し、気流中でそれぞれに適した化学反応を連続して進行させることでGaN粉末等を合成する手法である。Step2で、窒化物半導体粒子の表面に他の窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を形成する。Step3で、発光層及び/又は発光粒の上に窒化物半導体層が積層される。これら窒化物半導体−発光層及び/又は発光粒−窒化物半導体層が量子井戸構造を形成している。例えば、バンドギャップの狭いInGaNからなる井戸層(発光層、発光粒)を、それよりもバンドギャップの大きなGaNからなるバリア層で両側から挟む量子井戸構造をとる。
【0030】
図2に、Step2とStep3の工程の繰り返しによる多量子井戸的構造を持つ粉末発光体の断面構造を模式的に示す。
【0031】
図3に、電子線又は紫外線を励起源とし、該電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体からなる発光装置又は表示装置の概念図を示す。
【0032】
各層を構成する窒化物半導体としては、下記式(1)で示されるIII−V族化合物半導体が好ましい。
【0033】
AlGaInAsSb (1)
(式中、a,b,c,d,w,x,y,zは、a+b+c+d=1であり、a,b,c,d≧0であり、w+x+y+z=1であり、w>0であり、x,y,z≧0である)
【0034】
より、具体的には、下記式(2)で示されるIII−V族化合物半導体が好ましい。
AlGaInN (2)
(式中、b,c,dは、b+c+d=1であり、b,c,d>0である)
【0035】
更に、具体的には、下記式(3)、(4)で示されるIII−V族化合物半導体が好ましい。
GaN (3)
GaInN (4)
(式中、c,dは、c+d=1であり、c,d>0である)
【0036】
これら半導体の化学式(1)〜(3)において、a,b,c,d、b,c,dまたはc,dをそれぞれの範囲で任意に設定することにより各種発光層が得られる。例えば、InNでは約1770nmの基本波長の発光が得られる。同様に、GaNでは約365nmの基本波長の発光が得られる。発光波長は原理的には赤外まで可能であるが、青から緑付近が一般的である。
【0037】
前記発光層又は発光粒に、II族、IV族、VI族元素、希土類元素のうち一または複数の元素を不純物として導入することにより自由電子濃度及び抵抗率の制御が可能であり、抵抗率制御の一例として、Siドープすると、低抵抗化し、帯電の抑制になる。又、発光波長をブロード化することができ、高効率化になる。ブロード化の一例として、InN化合物にMgとSiを不純物としてドープすると、発光波長が約689nmから約740nmへと長波長化できる。
【0038】
量子井戸構造を電子のドブロイ波長程度の厚さとすることによりキャリアの再結合の割合を増やし発光効率を高めることができる。量子井戸構造は単一井戸構造であってもよいし、多重量子井戸構造であってもよい。高効率な発光体を得るためには、貫通欠陥が超格子の成長が妨げるため、欠陥を低減することが望ましい。
【0039】
本発明に係る発光体では、半導体レーザのように、その構造をp‐n接合としなくてよい。すなわち、p型、n型に関係なく量子井戸構造を形成させることができ、電気的な制御を必要としない。このため、窒化物半導体はp型が作りにくいという欠点を有するが、これに左右されず発光特性のよい窒化物半導体が利用できる。
【0040】
本発明に係る量子井戸構造を持つ半導体粉末は2段階気相成長法により作製することができる。2段階気相成長法とは、粒子を形成させる過程を種粒子生成と粒子成長の2過程に分離して、それぞれに適した条件下で連続して進行させる手法である。例えば、GaN(バリア層・コア)/InGaN(発光層)/GaN(バリア層)の構造からなる発光体の場合、金属Gaを蒸発させ、NHガスとの反応によりGaNコア粒子を作製する。続いて、コア粒子上にInGaN層、GaN層を順次堆積して、上記発光体を形成することができる。原料としては、例えば、Ga金属の他、In金属、ハロゲンガスとしてはHClなどを用いる。
【0041】
本発明に係る発光体に電子線又は紫外線を照射する装置は周知のものを利用できる。例えば、紫外線を照射する紫外線源として、半導体レーザまたは発光ダイオードを用いることが好ましい。紫外線源としてかかる半導体素子を用いることにより、小さい発光装置を作製することができる。
【0042】
前記紫外線を照射できる半導体レーザの具体的な一例として、サファイア基板上に形成した、AlGaN系化合物からなるp型クラッド/GaInNからなる活性層/AlGaN系化合物からなるn型クラッドを含む構造の半導体レーザが挙げられる。
【0043】
電子線又は紫外線源を用いて、本発明に係る粉末発光体に電子線又は紫外線を照射することにより、室温、空気中で発光する発光装置が得られる。装置の構成としては特に限定されず各種の形態が可能である。例えば、電子線源となる装置又は紫外線源となる半導体レーザもしくは発光ダイオードと、本発明に係る発光体とを別素子として形成し、本発明の発光体と結合することなどによって本発明に係る発光装置又は表示装置が得られる。
【0044】
また、本発明に係る発光装置又は表示装置の他の態様としては、上述した本発明に係る粉末発光体を並べ、この面に対して電子線源となる装置又は紫外線源となる半導体レーザもしくは発光ダイオードを上方に配置し、該電子線又は紫外線源をスキャンさせて発光体に照射するという面発光体装置が挙げられる。
【実施例】
【0045】
以下に、InGaN/GaN系蛍光体を例にして本発明の実施例を示す。
【0046】
(Step1)
Ga源として金属Ga、N源としてアンモニアを用いる。はじめに約1300℃で金属Gaを蒸発させる。発生した蒸気はアンモニアガスと反応させることでGaNコア粒子を作製した。コア粒子の大きさは100nm程度とする。
【0047】
(Step2)
GaNコア粒子の表面に発光層となるInGaN微粒子又はInGaN層をHVPEを用いて成長させる。金属Gaと金属InとHClガスとの反応により、InGa(1−x)Clを発生させる。このInGa(1−x)ClはGaN種結晶とともに輸送されアンモニアガスと混合し、発光層InGa(1−x)Nの成長を行う。尚、この発光層の厚さは3nm〜30nmとし、ドブロイ波長以下であることがより好ましい。InGaN層がこれ以上に厚い場合は2種類の半導体の多層膜としてバルク的な性質しか示さない。
【0048】
(Step3)
Step2にて形成した粒子上に再度GaNを形成するため、金属GaとHClガスとの反応によりGaClを発生させる。このGaClはStep2にて得られた粒子とともに輸送されアンモニアガスと混合し、バリア層を形成する。ミクロ的に見てInGaN層をGaN層で挟み込んだ量子井戸構造を形成した。装置や反応ガスはStep2と同じである。GaN層は十分なバリア層とするために50nm以上の厚さとした。ここで、発光層のバンドギャップはコア粒子、Step3にて形成する層よりも小さいバシドギャップでなければならない。Step2とStep3を繰り返すことで多量子井戸構造を形成してもよい。
【産業上の利用可能性】
【0049】
本発明の粉末発光体は、量子井戸的な振る舞いをする粉末蛍光体であり、耐電子線性が高く、電子線の電圧を上げ電流を下げることができ、発光効率が高く省電力である。又、本発明の発光体は、耐電子線性が高く、耐久性に優れている。更に、本発明の発光体は、電子線だけでなく、紫外線励起によっても発光する汎用性・実用性の高いものである。
【0050】
これらの利点を生かして、大面積を必要とするディスプレー及び照明用蛍光体等の各種発光装置、表示装置への適用が可能となった。
【図面の簡単な説明】
【0051】
【図1】量子井戸構造を持つ粉末蛍光体の製造プロセスを模式的に示す。
【図2】多量子井戸的構造を持つ粉末発光体の断面構造を模式的に示す。
【図3】電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体からなる発光装置又は表示装置の概念図を示す。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体であって、コアとなる窒化物半導体粒子表面に他の窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒が存在し、該発光層及び/又は発光粒の上に窒化物半導体層が積層され、これら窒化物半導体−発光層及び/又は発光粒−窒化物半導体層が量子井戸構造を形成していることを特徴とする粉末発光体。
【請求項2】
前記窒化物半導体が、下記式(1)で示されるIII−V族化合物半導体からなることを特徴とする請求項1に記載の粉末発光体。
AlGaInAsSb (1)
(式中、a,b,c,d,w,x,y,zは、a+b+c+d=1であり、a,b,c,d≧0であり、w+x+y+z=1であり、w>0であり、x,y,z≧0である)
【請求項3】
前記窒化物半導体粒子がGaNであり、前記発光層及び/又は発光粒がInGa1−xNであり、前記窒化物半導体層がGaNであることを特徴とする請求項2に記載の粉末発光体。
【請求項4】
前記量子井戸構造が繰り返し形成され、多量子井戸的構造であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の粉末発光体。
【請求項5】
前記他の窒化物半導体からなる発光層の厚みもしくは発光粒の粒径が3〜30nmであり、粉末粒子の大きさが5μm以下であることを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の粉末発光体。
【請求項6】
前記コアとなる窒化物半導体粒子が復層構造であることを特徴とする請求項2乃至5のいずれかに記載の粉末発光体。
【請求項7】
前記III−V族化合物半導体に不純物元素がドーピングされていることを特徴とする請求項2乃至6のいずれかに記載の粉末発光体。
【請求項8】
前記不純物元素が、II族元素、IV族元素およびVI族元素からなる群から選ばれる1種以上の元素であることを特徴とする請求項7に記載の粉末発光体。
【請求項9】
電子線又は紫外線を出射することができる出射部と、該電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体とからなる発光装置であって、前記粉末発光体が、請求項1乃至8のいずれかに記載の粉末発光体であることを特徴とする発光装置。
【請求項10】
前記出射部が半導体レーザまたは発光ダイオードであることを特徴とする請求項9に記載の発光装置。
【請求項11】
電子線又は紫外線を出射することができる出射部と、該電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体からなる発光層及び/又は発光粒を含む粉末発光体とからなる表示装置であって、前記粉末発光体が、請求項1乃至8のいずれかに記載の粉末発光体であることを特徴とする表示装置。
【請求項12】
前記出射部が半導体レーザまたは発光ダイオードであることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【公開番号】特開2006−117735(P2006−117735A)
【公開日】平成18年5月11日(2006.5.11)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2004−304819(P2004−304819)
【出願日】平成16年10月19日(2004.10.19)
【出願人】(000003207)トヨタ自動車株式会社 (59,920)
【Fターム(参考)】