【課題】低電圧で動作する分極率の高い強誘電体メモリを提供する。
【解決手段】基板の上に形成された下部電極と、前記下部電極上に形成された強誘電体膜と、前記強誘電体膜上に形成された上部電極と、を有し、前記強誘電体膜は、第１の強誘電体膜と第２の強誘電体膜とを有しており、前記第１の強誘電体膜は、チタン酸ジルコン酸鉛を含む材料により形成されており、前記第２の強誘電体膜は、チタン酸ジルコン酸鉛を含む材料にＲｕがドープされているものにより形成されており、前記第２の強誘電体膜において、前記Ｒｕは前記第２の強誘電体膜におけるＰｂ、Ｚｒ、Ｔｉのいずれかと置換しているものであることを特徴とする記憶装置により上記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】チップの反りを抑制する半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】集積回路が表面に設けられたチップの側面に側面接着部材を形成する側面接着部材の形成工程と、前記チップの裏面に配置された裏面接着部材を介して前記チップをチップ搭載基板に押圧しながら前記側面接着部材を前記チップ搭載基板に押圧して前記側面接着部材を前記チップ搭載基板に接着する第１の接着工程と、前記第１の接着工程の後に前記裏面接着部材を加熱して前記チップ搭載基板に前記チップを接着する第２の接着工程とを有すること。 （もっと読む）

【課題】高電圧が不要で安定した状態を得ること。
【解決手段】半導体装置１０に形成されたヒューズ素子１１は、概略的に、拡散領域２２と、拡散領域２２と一部重なるように拡散領域２２より上方に形成された導電体２５を含む。半導体装置１０の半導体基板２１には、拡散領域２２が形成されている。半導体基板２１には素子分離領域２３が形成されている。拡散領域２２を含む半導体基板２１上には絶縁膜２４が形成されている。絶縁膜２４上には、導電体２５が形成されている。導電体２５上には、カバー膜２６が形成されている。カバー膜２６は、導電体２５の上面及び側面を覆うように形成されている。カバー膜２６は、絶縁膜２４より高い引っ張り応力を持つ。 （もっと読む）

【課題】プロセッサが有している機能を利用して、実際の使用に適した形で実行可能な命令数を増加したプロセッサの実現。
【解決手段】命令を実行する演算部23,33と、演算部で実行する命令をデコードし、オペコードを出力する命令デコード部32と、割り込み信号を受け付ける割り込みレジスタ36と、を有し、命令デコード部は、命令に対応させてオペコードを記憶した命令コードマップを有し、入力された命令に応じてオペコードを出力し、命令コードマップは、命令の一部である追加命令に対して出力するオペコードのセットを切替オペコードとして複数セット記憶しており、割り込み信号に応じて切替オペコードのセットを切り替えるプロセッサ。 （もっと読む）

【課題】位相余裕を確保することができる電源の制御回路を提供する。
【解決手段】制御回路３は、出力電圧Ｖｏの交流成分を利得調整する利得調整回路１０と、利得調整回路１０の出力信号Ｓａを出力電圧Ｖｏの分圧電圧Ｖｎに付加して帰還電圧ＶＦＢを生成する付加回路３０と、基準電圧ＶＲ０を所定の割合で変化させて参照電圧ＶＲ１を生成する参照電圧生成回路５０とを有する。また、制御回路３は、帰還電圧ＶＦＢと参照電圧ＶＲ１との比較結果に応じたタイミングで、メイン側のトランジスタＴ１をオンさせるための信号Ｓ１を出力する比較器４０を有する。 （もっと読む）

【課題】低消費電力モードから通常動作モードへの復帰時におけるビット線の充電時間を適切に設定することで、復帰動作で消費される電力を低減する。
【解決手段】半導体記憶装置１０は、複数のビット線２ａ，２ｂ…のそれぞれを充電する充電回路４と、帰還経路５ａの配線にダミービット線３が用いられているリングオシレータ５と、リングオシレータ５の発振回数が、複数のビット線２ａ，２ｂ…の数に基づいて設定された所定の回数に達すると、検出信号を出力するカウンタ６と、低消費電力モードから通常動作モードへの復帰を指示する復帰信号に応じて、充電回路４による複数のビット線２ａ，２ｂ…の充電を開始させるとともにリングオシレータ５の発振を開始させ、カウンタ６から出力された検出信号に応じて、充電回路４による複数のビット線２ａ，２ｂ…の充電を終了させる制御回路７と、を有する。 （もっと読む）

【課題】スキャンチェーンから出力される複数の被試験回路の試験結果情報に基づいて、不良の被試験回路を効率的に特定する半導体回路及びテスト方法を提供する。
【解決手段】複数の被試験回路と、試験回路に対応して設けられた複数の第１のラッチ回路と、第２のラッチ回路と、パターンアドレスに対応して入力信号が規定されたテストパターンのパターンアドレス順に入力される入力信号に基づいて、被試験回路に試験動作を実行させ、動作結果に基づく良否判定値を第１のラッチ回路にそれぞれ出力する複数の内部試験回路と、複数の良否判定値のうち不良判定を示す値がある場合に当該不良判定を示す良否判定値を第２のラッチ回路に出力する総合判定回路と、複数の第１のラッチ回路と第２のラッチ回路とを、第２のラッチ回路に保持された値が最初に出力されるように接続しスキャンチェーンを構成する接続経路とを有し、スキャンチェーンは、入力信号がスキャン出力モードを示す時に、第１、２のラッチ回路に保持された良否判定値を順番に出力値として出力する。 （もっと読む）

【課題】２つの出力信号間のタイミングのずれを低減すること。
【解決手段】入力信号ＩＮ，ＸＩＮはトランジスタＭ１，Ｍ２のゲートに供給される。トランジスタＭ１のドレインはトランジスタＭ３のドレインとトランジスタＭ４のゲートに接続され、トランジスタＭ２のドレインはトランジスタＭ３のゲートとトランジスタＭ４のドレインに接続される。また、トランジスタＭ１，Ｍ２のドレインは差動対のトランジスタＭ１１，Ｍ１２のゲートに接続される。トランジスタＭ３，Ｍ４のソースには、ゲートにバイアス電圧ＶＢが供給されるトランジスタＭ５が接続される。トランジスタＭ１１，Ｍ１２のソースには、ゲートにバイアス電圧ＶＢが供給されるトランジスタＭ１３が接続される。 （もっと読む）

【課題】出力信号を高速に変化させかつオーバーシュートやアンダーシュートを抑制できるようにする。
【解決手段】入力信号を反転して出力する主ドライバ１１に加えて、補助ドライバ１２を設け、入力信号の電圧変化に応じて出力信号が第１の電圧レベルから第２の電圧レベルへ変化するときに、変化開始から主ドライバの出力信号がある電圧レベルを超えるまでの期間では信号変化を補助するように制御部１５により補助ドライバの動作を制御し、主ドライバの出力信号がある電圧レベルを超えてから第２の電圧レベルになるまでの期間に信号変化を抑制するように制御部により補助ドライバの動作を制御するようにして、出力信号における信号変化の高速性を向上させ、かつオーバーシュートやアンダーシュートを抑制できるようにする。 （もっと読む）

【課題】ＥＵＶリソグラフィ時のＥＵＶ露光マスクの表面での炭素系薄膜及び酸化物の生成を抑制することができる極紫外露光マスク用防塵装置及び露光方法を提供する。
【解決手段】防塵装置５１には、極紫外露光マスク６１に対する防塵部材５２と、極紫外露光マスク６１と防塵部材５２との間の空間に、防塵部材５２側が極紫外露光マスク６１側よりも高電位となる電場を生じさせる電場生成手段５８と、が設けられている。 （もっと読む）