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Fターム[2F065JJ14]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 受光部 (23,546) | 1つの受光部の素子数 (9,727) | 0個 (99) | 拡散板;スクリーン (37)

Fターム[2F065JJ14]に分類される特許

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【課題】光軸方向に交差する方向に配列した複数の発光素子から光軸方向と配列方向とによって規定される仮想面に沿って光を出射した場合でも、発光素子の配列方向で光強度が急激に変化しない光源装置、光学式位置検出装置、および入力機能付き表示システムを提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置10に用いた光源部12(光源装置)では、複数の発光素子120を発光素子120の光軸に交差する方向に配列したため、光軸方向と配列方向とによって規定されるXY面(仮想面)に沿う広い範囲にわたって検出光L2を十分な強度をもって出射することができる。複数の発光素子120の光軸方向の出射側には、レンズフィルム190(シート状光学部材)が配置されており、かかるレンズフィルム190は、XY面内方向における発光素子120からの出射光L1の発散角を拡大させるパワーを備え、Z軸方向には光を拡散させるパワーを有していない。 (もっと読む)


【課題】コヒーレント光を用いて、被測定球体の球径を高精度で、且つ簡便な方法で短時間に測定できる球体の球径寸法測定方法及びその測定装置を提供する。
【解決手段】被測定球体1にコヒーレント光を照射することによって該被測定球体1の影中の部分に生じる干渉縞と輝点部で構成されるアラゴスポットの前記輝点部を用いて、前記アラゴスポットの輝点部の位置又は該被測定球体1の球径に応じて変位する前記アラゴスポットの輝点部の移動量から、該被測定球体1の球径を測定することを特徴とする。被測定球体1の球径は、幾何的手段、又は電気信号に変換されたアラゴスポットの輝点部の位置又はアラゴスポットの輝点部の移動量を用いてあらかじめ測定して得られたアラゴスポットの輝点部の移動量と球体1の球径との関係式から換算して求められる。 (もっと読む)


【課題】参照用光源から出射された参照光が検出光出射空間に漏れてしまうことを防止しつつ、光検出器での参照用光源の検出強度を適正なレベルに抑えることができる光学式位置検出装置、および位置検出機能付き機器を提供すること。
【解決手段】光学式位置検出装置10では、対象物体により反射した検出光L3の一部を光検出器30により受光した結果、および検出対象空間10Rを介さずに光検出器30に入射した参照光Lrの強度に基づいて対象物体Obの位置を検出する。光検出器30と、参照光Lrを出射する参照用光源12Rとは、受光ユニット35を構成しており、参照用光源12Rから出射された参照光Lrが検出対象空間10Rに漏れることを回避する。受光ユニット35では、参照用光源12Rから出射された参照光Lrを、強度を低下させた状態で光検出器30に入射させるため、光検出器30での参照光Lrの検出強度のレベルを低く抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】第1表面に対向する第2表面による反射像の影響を受けずに被評価物体の表面形状を精度よく評価することができるようにする。
【解決手段】評価装置は、評価対象である板ガラスなどの被評価物体3の表面3aに映し出されたストライプパターン1を、CCDカメラ2によって撮像するように構成されている。ストライプパターン1は、光源の発光面に設けられている。また、被評価物体3の裏面3bには、屈折率が被評価物体3の屈折率に近い反射抑制層20が、裏面3bに接するように配置されている。CCDカメラ2によって撮像された画像は、演算装置としてのコンピュータ4に取り込まれ、コンピュータ4によって画像解析が行われる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、スリットレーザ光等を、回転体状の測定対象に照射し、測定対象からの反射光を撮影した二次元画像に基づいて、回転体状かつ表面が高い反射率を有する測定対象の欠陥を高精度に検出する欠陥検査装置を実現することを目的とする。
【解決手段】本発明は、回転または直線移動する測定対象にスリット光を照射する光源と、前記測定対象からの反射光を受光してその二次元画像を出力する受光部と、前記二次元画像に基づいて、前記反射光がそのスリット幅に相当する領域以外の領域に現れるか否かによって、前記測定対象の欠陥を検出する欠陥検出手段と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】被検円錐面と球面測定用干渉計とのアライメント調整を高精度に行い、被検円錐面の径測定の精度を向上させることが可能な円錐面測定装置を得る。
【解決手段】平面測定用干渉計20、2軸傾き調整ステージ32、XYステージ34およびZステージ35により、被検円錐面91と球面測定用干渉計10とのアライメント調整を行うとともに、基準レンズ12のキャッツアイポイントが被検円錐面91上に位置する基準位置に、被検レンズ90を配置する。球面測定用干渉計10からの測定光の一部が被検円錐面91上の円弧状の領域に対し垂直に入射する被検円錐面測定位置に、被検レンズ90を移動させ、基準位置と被検円錐面測定位置との間の距離をレーザ測長機41の検出値により求め、その距離に基づき被検円錐面91の径の測定値を算出する。 (もっと読む)


【課題】比較的大きな被測定物に対しても高精度な測定が可能となるプロジェクター式測定装置を提供すること。
【解決手段】プロジェクター式測定装置1は、載置台10と、照明部16と、被測定物5を画像として所定倍率で光学的に取得する画像取得部21と、画像取得部21から出力される取得画像データに基づいて投写画像データとして出力して制御する画像制御部31と、光源から射出される光束を、投写画像データに基づいて光変調素子により変調し、投写用光学像に変換して出力する光学変換部51と、投写用光学像を所定倍率で投写する投写光学部52と、投写用光学像が投写されて投写画像を形成すると共に、所定倍率で作成された基本形状図シート6を載置するスクリーン40と、投写画像と基本形状図シート6との変位を変位データとして取得する変位取得部36と、変位データに基づいて変位量を算出する変位量算出部37と、を備える。 (もっと読む)


観察スクリーンに背後から投射するように構成された光学コンパレータは、検査されるテスト部品の光学画像を観察スクリーンに投射する光学プロジェクタと、画素化テンプレートパターンの光学画像を同観察スクリーンに投射するビデオプロジェクタとを結合する。このテンプレートパターンは、テスト部品の描画された設計仕様を含む。テスト部品の形状を設計された形状と視覚的に比較するために、テスト部品の画像と画素化テンプレートパターンの画像が、観察スクリーンに同時に投射される。
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【課題】 センサの高さ位置を簡単に調整できる高さ計測装置を提供する。
【解決手段】
センサ本体1は、光源10を備え、光源ウインド11を通ってプローブ光15を出力し、対象面55にて反射したプローブ光15を計測ウインド12と計測レンズ13を通してラインセンサ14で受光し、対象面55の高さを計測する。 光源ウインド11の下側に、ビームスプリッタ21が設けられており、プローブ光15を直交方向に分岐してガイド光25とし、該ガイド光25を反射ミラー22で反射させて、スクリーン20上に当てる。スクリーン20は、スリガラスなどの光透過性の拡散板であり、下側から当たったガイド光25のガイド光位置26を上面から視認し、センサ本体1の高さ位置を調整する。 (もっと読む)


可視光干渉パターンの様々な使用が提供される。適した干渉パターンは、絞りのパターンからの回折により形成されるパターンである。本明細書中で開示される典型的な使用は、並進及び/又は角度位置決定システムなどの空間計測学に関連する。更なる使用は、光自体の特性の解析(例えば、電磁放射線の波長の決定)を含む。更なる他の使用は、光が通過する物質の1つ以上の特性(例えば屈折率)の解析を含む。干渉パターンの一部がCCDチップなどの画素化された検出器で捕らえられ、捕らえられたパターンが計算されたパターンと比較される。最大値間の間隔の非常に正確な測定が可能であり、したがって、干渉パターン中における検出器の位置の非常に正確な測定を行なうことができる。
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【課題】シーン内の物体から取得される単一画像から視体積交差領域を生成し、3D形状を求める装置および方法を提供する。
【解決手段】物体101は、照明され、複数のシルエットが、マスクと同一平面状にあるとともに、当該マスクに密に近接している拡散スクリーン上に投じられる。このような拡散スクリーンから取得される単一画像は、シルエットに従って、複数のサブビューに分割される。次いで、二値画像の等値面に従って、物体の視体積交差領域が構築され、物体の3D形状103が近似されることとなる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、指示体以外から投射された光であるノイズ光の有無を検出することが可能な位置検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明による位置検出装置は、同期信号投射手段5、6によって投射された非可視光を表示スクリーン11の前面11a側から受光することにより、非有効期間を認識する間、表示スクリーン11の前面11a側に光を投射して指示することが可能な指示体2と、指示体2から投射された光と指示体2以外から投射された光とを表示スクリーン11の背面11b側から撮影して電気信号に変換する撮像手段3と、撮像手段3にて変換された指示体2以外から投射された光の電気信号を解析し、表示スクリーン11上における指示体2以外から投射された光の有無を検出する画像処理手段4Bとを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】所定の光学系の光路上に配設される被検反射曲面の形状が適格か否かを、簡易かつ短時間で判定することが可能な反射曲面形状検査方法を得る。
【解決手段】検査用投影光学系40内に非球面ミラー50を配設し、透過型液晶パネル30に検査用原画像を表示する。検査用スクリーン60上に検査用原画像の相似拡大像を投影し、撮像カメラ71によりその画像データを取得する。取得された画像データをフーリエ変換し、空間周波数領域におけるスペクトル関数のグラフを求める。このスペクトル関数のグラフにおいて、検査用原画像が有する所定の空間周波数に対応したピーク部を特定し、そのピーク部の高さおよび半値幅に基づき、非球面ミラー50の形状が適格か否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】 動的時において快適な枕を得るための判定方法及びその装置を提供する。
【解決手段】 対象者に最適な枕を提供するための最適枕判定方法であって、頭部の回転角を検出する第一の検出手段と、腰部の回転角を検出する第二の検出手段とを準備し、前記第一及び第二の検出手段によって、基本姿勢からの頭部及び腰部のそれぞれの回転角を求め、各々の前記回転角の経時変化を回転履歴として求め、前記頭部の回転履歴と前記腰部の回転履歴とから、同一時刻における前記腰部の回転と前記頭部の回転とのずれを求め、このずれを予め設定された基準値と比較して前記対象者に最適な枕か否かを判定する。 (もっと読む)


少なくとも部分的に正反射性の挙動を示し、露光領域内に位置する対象物(2)の構造細部の反射による観察のための装置であって、放射線の流れを放射する少なくとも2つの別個の領域(26、27)を有する放射面(6)を伴い、少なくとも1つの特性が1つの領域と隣の領域とで異なる少なくとも1つの放射線源と、露光領域に対して放射線源と一直線を成して放射線の経路に位置する光学投影系と、光学投影系の入口絞り(14)と放射面(6)とを光学的にリンクさせるようになっている光学露光系(18)と、露光領域内の対象物と光学的にリンクされるとともに、その受けられる放射線が対象物(2)における偏向に依存する投影面(10)とを含む装置。 (もっと読む)


【課題】ロボットの関節部に用いられてきた姿勢センサは測定できるパラメータが限られ、他の座標変換パラメータを無視するために関節部の数が増大すると末端部での誤差が許容できない値になるという問題があった。
【解決手段】関節部の一方の剛体に固定された互いに線形独立な3本以上の光線を発するレーザー光源群と、他の剛体に固定された上記の光線を受けるCCDなどのエリアセンサと、エリアセンサ上の受光点の座標から座標変換パラメータを計算する演算装置から構成される。これによりすべての座標変換パラメータをひとつのセンサにより精度良く測定することが出来る。エリアセンサの前に直交する2軸廻りに回転する可動式ハーフミラーを設け、ハーフミラーの回転角とハーフミラーによって反射された光線の基準値からのずれを測定することにより、精度の高いパラメータの測定が可能となる。 (もっと読む)


【課題】別途の撮影装置を用意することなく、測定と同時に光学画像を記録することができる光学式測定装置を提供する。
【解決手段】基準線を有するスクリーン11と、移動可能な載物台12と、載物台12の移動量を検出する検出手段121と、載物台12に載置された測定対象物の光学画像をスクリーン上に結像させる第1結像手段13および第2結像手段14と、光学画像を記録する記録手段171と、を備える光学式測定装置1であって、第1結像手段13は、光学画像を撮像する撮像手段と、撮像手段が撮像した光学画像をデジタル形式の画像データとして出力する出力手段と、出力手段が出力した画像データに基づいて光学画像をスクリーン11に投影する投影手段と、を備え、記録手段171は、出力手段が出力した画像データを記録する。 (もっと読む)


【課題】平行光による被測定物のシルエットを撮影し画像処理して形状寸法を測定する場合に、光の強弱の変化や揺らぎの影響を受けずに容易に画像処理でき、形状寸法を容易にかつ再現性よく測定できるようにする。
【解決手段】被測定物1を支持する設置部2を挟んで、被測定物2を含む測定範囲に平行光3を発する光源4と、平行光3による被測定物1のシルエット10を投影する半透明の投射幕5とを対向配置しておき、被測定物1のシルエット10を投射幕5に投影して、投射幕5の裏面に投影されたシルエット10を撮像手段としての受像カメラ6により撮影し、撮影したシルエット像を2値化してその輪郭形状を測定対象の画像として処理し、この処理画像に基づいて演算処理を行って必要部分の計測を行う。 (もっと読む)


サンプル1の表面2の様相を観察するための装置であり、この装置は、前記表面2を既定の方向から照光するための光源11及び前記表面2を観察するための手段を有する。前記表面2を観察するための手段は、前記表面2に対し異なる方向に置かれた多数の実質的な平面鏡8を有する。前記手段はさらに、前記平面鏡8を観察するための光学系6、14を有する。各平面鏡8は、前記サンプル1の前記表面2の画像を前記光学系6、14の画像受信部6へ反射する。
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【課題】 光の干渉を利用した位置計測を単純な構成で低コストで行うための光源モジュールおよびこれを用いた位置計測システムを提供する。
【解決手段】 位置計測システムは、レーザ光を放射する光源2および異なる光路を通過するレーザ光により同心円状の干渉模様を形成する光学レンズ系1−3を有する光源モジュール3と、干渉模様を検出する検出装置11と、検出装置からの検出信号に基いて光源および検出装置および干渉模様の位置の少なくとも一つの位置を求める演算装置12とを備える。光学レンズ系1−3は、一つの光源から放出された光を光軸上平面において仮想的に2つの光源から放出された光であるように対象物に投影し干渉模様を形成し得るレンズ面を備える。 (もっと読む)


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