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Fターム[2G001CA01]の内容

Fターム[2G001CA01]に分類される特許

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【課題】 同一形状の被測定物を次々交換して測定する際に、簡単な操作で所望の測定位置に視野調整することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】 ステージ14上に基準測定物を載置した状態で基準測定物の特徴点の指定を受け付ける特徴点指定受付部36と、特徴点に対応するステージ上の基準点座標を記憶する基準点座標記憶領域41と、ステージ上に被測定物を載置した状態で前記基準測定物の特徴点に対応する位置である被測定物の参照特徴点の指定を受け付ける参照点指定受付部37と、参照特徴点に対応するステージ上の参照点座標を記憶する参照点座標記憶領域42と、基準点座標と参照点座標との座標差に基づいて被測定物の変位量を検出する変位量算出部38と、算出された変位量を補正するための変位補正信号を駆動機構に送る補正信号発生部39とを備え、ステージ駆動機構に変位補正信号を送る。 (もっと読む)


【課題】 ポインティングデバイスを用いた簡単な操作で所望の測定位置に視野調整することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】被測定物を載置するステージと、X線測定光学系に対する位置が関係付けられ被測定物全体の外観画像を撮影する光学カメラと、ステージ上の被測定物とX線測定光学系との位置関係を調整する駆動部と、モニタ画面と、透視X線像の画像表示を行うX線画像表示制御部と、光学カメラで撮影された外観画像を表示する外観画像表示制御部と、入力操作に基づいて指定した測定位置をX線測定光学系の測定視野に移動させるための駆動部制御信号を発生するX線検査装置であって、外観画像上でポインタにより指定した測定位置を予め操作ボタンに登録し、登録後に操作ボタンを指定する入力によりその操作ボタンに登録された測定位置を外観画像上で指定する入力操作を代行する制御を行う操作ボタン登録制御部を備える。 (もっと読む)


【課題】 画質向上の問題と視野移動に対する追従性との相反する課題を解決し、使い勝手のよいX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線測定光学系13のX線検出器により撮影された映像信号に基づいて透視X線像のコマ画像データを1コマずつ繰り返し作成するコマ画像データ作成部31と、画像バッファメモリ24に精細画像データ作成用の画像データを蓄積し、蓄積した画像データと最新の透視X線像のコマ画像データとを用いて精細画像データを作成する精細画像データ作成部32と、画像データを表示する表示装置23と、被測定物とX線測定光学系との位置関係を調整して被測定物に対する測定視野を変動させる視野調整部14、33と、測定視野の変動の有無を判定する視野変動判定部34と、視野が変動している判定のときはコマ画像データを表示し、視野が一定である判定のときは精細画像データを表示する画像モード切替部35とを備える。 (もっと読む)


【課題】1つの窓部と窓部を挟んで両側に連設された2つのX線遮蔽部とを一組とするX線シャッタ板を往復動させることにより、X線源の照射口を開閉してX線の照射の有無や照射時間を簡便に制御することができ、可動部が小型、軽量で省スペース性に優れるX線撮影用シャッタ機構の提供。
【解決手段】(a)窓部と、窓部を挟んで両側に連設された二つのX線遮蔽部と、を有するX線シャッタ板と、(b)X線シャッタ板に連設されX線シャッタ板を往復動させX線源の照射口を開閉するシャッタ開閉機構と、を有し、照射口を開放する速度と照射口を閉塞する速度が等しい構成を備えている。 (もっと読む)


【課題】 マウスを用いて移動方向と移動速度を同時に制御することができるようにしたX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線源11とX線検出器12との間において被測定物を載置するステージ14と、ステージ上の被測定物とX線測定光学系13との位置関係を調整する駆動部15と、モニタ画面24aと、X線検出器12により撮影された映像信号に基づいて透視X線画像を作成するX線画像作成部31と、モニタ画面に透視X線画像の画像表示を行うX線画像表示制御部32と、モニタ画面の任意の位置にポインタを表示するとともにクリック操作によりポインタの位置を指定するマウス23と、モニタ画面24aに表示した透視X線画像24b上でマウスのクリック操作による位置指定が行われたときに、指定位置に応じて駆動部16に対する駆動信号を発生する駆動信号発生部33とを備える。 (もっと読む)


【課題】複数材料によって起こる一連の化学反応を時間分割分析し得る装置及び方法を提供する。
【解決手段】流路Lを構成する管状反応容器2に複数の測定用ポイントたる測定位置21、22、23、24、25を設定するとともに、この各測定位置21、22、23、24、25ごとに第1材料r1、第2材料r2、第3材料r3及び触媒Cによって起こる反応の進行段階が定常となるように、流速維持装置1によって流路L内の流速を維持しておき、この各測定位置21、22、23、24、25における反応状態を管状反応容器2の外側に配した測定装置3によって測定する。
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【課題】 ポインティングデバイスを用いた簡単な操作で所望の測定位置、測定角度に視野調整することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】 被測定物の外観画像を表示してポインティングデバイス23によるステージの並進移動の指示を促す外観画像表示領域24b、24cと、回転角およびX線光軸の傾動角の指定が可能な観察方位図を表示してポインティングデバイス23によるステージの回転移動とX線測定光学系の光軸の傾動との指示を促す観察方位図表示領域24dとの表示を行う操作画面表示制御部を備える。 (もっと読む)


【課題】
本発明の目的は、記憶容量が大きく、また記録が書き込まれた記録媒体を記録読み取り装置から分離することができる可換性のある記録読み取り装置を実現することである。
【解決手段】
X線源とX線検出器アレイの間に円盤状媒体を配置し、媒体を回転することによってX線投影像のスキャンをおこない、媒体のX線吸収率の3次元分布を測定する事により、データ読み取りをおこなう記録再生装置。 (もっと読む)


【課題】 検出X線の波長によってフローガスの切換えやフローガスの減圧などの手間や窓の破損がなく、安価で、長波長X線に対し高感度でS/N比のよいX線用ガスフロー型比例計数管などを提供する。
【解決手段】 X線検出用フローガスとしてアルゴンガス、ヘリウムガスおよびメタンガスを所定の体積割合で混合した混合ガスを流すように構成されたX線用ガスフロー型比例計数管10。 (もっと読む)


【課題】十分な発散角を持ち、積分反射能が高い単色化X線を一次X線方向と平行に取り出し可能なX線光学素子とそれを利用したX線分析装置を提供する。
【解決手段】X線源と、試料を保持する試料ステージと、試料ステージに保持された試料からのX線を検出するための検出器と、X線源からのX線を記試料ステージに保持された試料へ導くための光路とを備えたX線分析装置において、この光路の一部に、2枚のグラフィトモノクロメータ21、22、又は、多層膜ミラー21’、22’、を、対向させ、かつ、反射面が互いに平行になるように、所定の隙間を介して配置し、一方のX線反射面に対して所定の入射角で入射した一次X線を当該X線反射面上で反射し、その後、他方のX線反射面で反射し、もって、単色化されたX線を、入射した一次X線と平行に取り出すX線光学素子1000を配置する。 (もっと読む)


【課題】限られた空間を持つ装置内に載置された二次元検出器を用いて、投影像の輝度の減衰を抑えつつ、投影像の拡大率を向上させる。
【解決手段】X線源1と、二次元検出手段2と、X線源1のX線焦点と二次元検出手段2との間に配置され被検査体7を載置してX線焦点から二次元検出手段7の初期位置検出面に降ろした垂線に直交する回転軸を中心に設定された角度変位で回転する回転手段とを用い、各角度位相毎に撮像された投影像より被検査体7の内部構造データを再構成する方法において、X線焦点から二次元検出手段2の検出面に降ろした垂線の長さを一定に、かつ検出面の側端部が各々の位置で一部重なるよう、被検査体7の回転軸と平行でX線焦点を通る回転軸について二次元検出手段2を旋回させる。そして各撮像位置において各角度位相の投影像を撮像し、撮像された投影像から再構成計算を行い、被検査体の内部構造データを再構成する。 (もっと読む)


【課題】複数のX線センサ列によってX線ビームを検出するX線CT装置において必要最小限の断層データだけを解析する。
【解決手段】X線発生器52は、被検体80を透過するX線ビーム56を発生する。X線検出器60は、格子状に配列された複数のX線センサ60Aによって構成されている。複数のX線センサ60Aは、横方向に一列に並べられてX線センサ列を構成し、それらX線センサ列が縦方向にN列に配列されている。そして、解析部によって複数のX線センサ列から得られる複数の断層データの各々から被検体80の診断パラメータが算出され、段階的に算出される複数の診断パラメータが所定の収束条件を満たすまで診断パラメータが算出される。 (もっと読む)


【課題】 カーボンナノチューブ中の不純物を定量分析する方法を提供する。
【解決手段】 (a)熱重量分析によって、チューブ間積層黒鉛とカーボンナノチューブの総量及び巨大結晶体黒鉛と触媒表面積層黒鉛の総量を定量する工程、(b)透過型電子顕微鏡の格子像から、チューブ間積層黒鉛とカーボンナノチューブの量比を求め、これに補正係数をかけることによってそれらの実際の炭素数比を算出する工程、(c)X線回折によって巨大結晶体黒鉛と触媒表面積層黒鉛の含有量比を求める工程、(d)工程(a)〜(c)よりチューブ間積層黒鉛、巨大結晶体黒鉛及び触媒表面積層黒鉛の含有量を決定する工程、並びに(e)カーボンナノチューブ試料中の触媒量を定量分析する工程を含むことを特徴とする、方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】装置の運転途中でも搬送ベルトの蛇行検知および速度検出を行うことができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】物品Mを搬送する搬送ベルト5と、該搬送ベルト5によって搬送される物品MにX線を照射するX線源21と、物品Mを透過したX線Lを検出するラインセンサ22とを備えたX線検査装置に関する。搬送ベルト5におけるラインセンサ22にX線Lが受光され得る領域の一部分に搬送ベルト5の他の部分とはX線透過率が異なる異透過領域15を形成する。 (もっと読む)


【課題】使用チャンネル数が非常に多い場合でも、検査能率が高く、検査時間を短縮できるX線検査装置のデータ採取システムを提供する。
【解決手段】被検査物1にX線3を照射し透過したX線の強度から被検査物を検査するX線検査装置のデータ採取システム。被検査物に所定のX線を線状に照射する線状照射装置14と、被検査物を透過した線状X線の強度分布を検出する多チャンネルの線状検出器16と、線状検出器の検出信号をチャンネルの切り替えなしで同時にA/D変換し出力するX線センサ基板22と、X線センサ基板から受信した全チャンネルのセンサ値をフレームグラバー基板26へ転送するセンサ・タイミングIF基板24とを備える (もっと読む)


【課題】回転可能なベースの回りに配置されたサンプルを顕微処理する複数器具を含むクラスタ器具を提供すること。
【解決手段】ベースの上のサンプル・ホルダが、器具の作業領域間においてサンプルを回転させる。スライド可能真空封止が、真空を必要とする器具のサンプル室において真空を維持する。 (もっと読む)


【課題】 多数のキャピラリを平行に束ねた平行端から出射したX線は原理的に拡がるため、平行端端面と分光結晶との距離が離れていると、一部のX線が分光結晶に当たらずに無駄になる。
【解決手段】 本発明に係るマルチキャピラリX線レンズは、平行X線を出射するための端部において、最外周に位置する複数のキャピラリの中心線が臨界角θに相当する角度だけ中心軸Aに向くように屈曲され、それに応じて全体が絞られた形状を有する。これにより、原理的に外方に拡がろうとするX線はちょうど中心軸Aに平行に進行し、端面から出たX線の照射範囲は端面のサイズとほぼ同一になって、該端面からの離間距離にも依存しない。 (もっと読む)


【課題】 低温初段増幅器で発生する熱の影響による超電導放射線検出器やそれらを接続する超電導配線の温度上昇を抑え、超電導放射線検出器や低温初段増幅器に対して液体ヘリウムシールド層など外部からの輻射熱の影響を低減しつつ磁気ノイズの影響を減少させることなど、外部からの熱や磁場環境の影響によるノイズを低減して高精度の放射線検出測定が可能な超電導放射線検出装置とそれを用いた放射線分析装置を提供するものである。
【解決手段】 放射線を検出する超電導放射線検出器1と、超電導放射線検出器1で検出した信号を増幅する低温初段増幅器2とを、冷却ヘッド104に固定し、超電導放射線検出器1及び低温初段増幅器2の上方に熱シールド板6が配し、少なくとも低温初段増幅器2と熱シールド板6の間に熱シールド板6の温度による冷却効果により超電導状態となる材料からなる超電導シールド膜7を備えた。 (もっと読む)


【課題】基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるX線回折定量装置を提供する。
【解決手段】物質Sの重量をX線を用いて測定するX線回折定量装置において、物質Sを物質保持領域As内に保持するフィルタ33と、物質Sに照射するX線を発生するX線源Fと、物質Sで回折した回折X線を検出するX線検出器20と、フィルタ33におけるX線照射面の反対側に設けられ物質保持領域Asよりも小さい基底板31と、X線源Fから見てフィルタ33の背面側であって基底板31の外周側面の周りに設けられた非晶質部材30とを有するX線回折定量装置である。非晶質部材30からは強いピーク波形を持った回折線が出ないので、基底板31からの回折線に誤差変動が生じることがなくなる。 (もっと読む)


【解決手段】基板に重ねられた材料の層の積重ねにおける1つの層の元素組成の面密度を確立するための方法及びコンピュータプログラムソフトウェア製品である。入射する透過性放射線は、1又は複数の元素のそれぞれに関連した複数の線の特性蛍光X線放射を励起する。連続する元素の特性蛍光の強度比に関する方程式の自己一致した解によって、連続した層の面密度が決定される。 (もっと読む)


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