【課題】 プリント基板に複数列対向配置して形成された複数の配線パターンを、精度良く検査を行うことができる基板検査装置の提供。
【解決手段】 複数の単位基板が点対称となるように配列されるシート基板において、導通接触する接触子を複数備える検査治具を単位基板毎に導通接触させて、該シート基板を検査する基板検査装置であって、シート基板を保持するとともに所定の検査位置まで搬送する搬送手段と、検査のための電力を供給する供給手段と、電気的信号を検出する検出手段と、電力と電気的信号から電気的特性を算出し、該電気的特性を基に該配線パターンの良否を判定する判定手段と、検査対象の配線パターンとなるように選出するために、供給手段と検出手段を検査治具の接触子と導通接続させる選出手段と、検査治具を保持して移動させる移動手段を有し、移動手段は、検査治具と選出手段を一体的に回転移動させることができる。 （もっと読む）

【課題】潜在部でのピンホールも顕在化させてピンホール試験の信頼性を高める。
【解決手段】導線引張装置１において導線６の一端６ａを固定部３に固定し、そのままドラム４ａ，４ｂ間に複数回巻回して回転部材１０の上端に固定する。次に、操作レバー１１によって回転部材１０を左回転方向へ９０°回転させて、導線６を長さ方向へ引張して所定割合だけ伸張させる。この伸張により、絶縁被覆の傷や被膜の薄い部分等の潜在部でピンホールが発生する。その後、導線引張装置１から導線６を取り外し、加熱処理した後、フェノールフタレイン溶液を食塩水に滴下した試験液中に浸し、導線６を−極、試験液を＋極にして直流電圧を加えて絶縁被膜の外部に漏れる電流を検出する。 （もっと読む）

【課題】 被検査基板上に形成される複数の配線パターンに予め設定される複数の被検査点を所定順序で選択することによって行われる配線パターン間の絶縁検査において、該被検査点の離間距離に応じて検査条件の電圧を変化させて検査を行う絶縁検査装置及び絶縁検査方法の提供。
【解決手段】
被検査点間の絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、選択された被検査点間の距離が距離情報として記憶される記憶手段と、検査対象の被検査点と他の被検査点の間に電位を与える電源手段と、電源手段が電位を与えた際の検査対象間の電気的特性を検出する検出手段と、この電気的特性から検査対象間の抵抗値を算出する算出手段と、算出手段の算出結果から検査対象間の絶縁の良否を判定する判定手段と、電源手段が与える電位の大きさを制御する制御手段を有し、制御手段は記憶手段に記憶される距離情報にしたがって、電位の大きさを調整することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】絶縁検査に要する時間を短縮できる基板検査方法及び基板検査装置を提供する。
【解決手段】出力部（１３）に電位差付与を開始させた後、電流検出部（１３）によって、出力部と配線パターン（２１）との間に流れる電流値が所定の基準電流値以下に降下したことが検出された場合に、電流検出部による検出電流値に基づいて、正極プローブ（１１）が導通された配線パターンと負極プローブ（１１）が導通された配線パターンとの間の絶縁性について判定するようになっている構成において、絶縁判定のために出力部と配線パターンとの間に流れる電流値を検出するタイミングを決定するための基準電流値として、複数の基準電流値が設定されており、その複数の基準電流値が、正極プローブが導通された配線パターンと負極プローブが導通された配線パターンとの間の電気容量が大きいほどより大きな値の基準電流値が用いられるように、切り替えられて用いられる。 （もっと読む）

【課題】隣接する配線パターン間が疑似的に短絡した疑似短絡部について焼損させることなく、検査を行うことができる基板検査装置を提供する。
【解決手段】被検査基板（１１）上の検査点（１２ａ,１２ｂ）間に電位差を生じさせ、検査点から検査用の信号を取り出すことにより検査点間の配線パターン（１３）の電気的特性を検査する基板検査装置であって、検査点に直接又は間接的に導通される複数のプローブ（２ａ,２ｂ）と、プローブを介して検査点間に電位差を発生させる出力部（３）と、電位差の付与時にプローブを介して検査点から信号を検出する検出部（４）と、を備え、出力部は、隣接する配線パターン間が疑似的に短絡した疑似短絡部が、導通し、かつその疑似短絡部を流れる電流により焼損しない程度の電位差を検査点間に発生させる。 （もっと読む）

【課題】基板に形成される複数の配線パターン間の絶縁検査を行うための絶縁検査装置及び絶縁検査方法の提供。
【解決手段】複数の配線パターンが形成される被検査基板ＣＢにおいて、該配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置１であって、基板の配線パターンの面積が、配線パターン毎に面積情報として記憶される記憶手段５１と、複数の配線パターンから検査順序に応じて検査対象となる配線パターンを選出する選出手段６と、検査対象の配線パターンと他の配線パターンの間における検査対象間に電圧を印加する電源手段２と、電源手段が電圧を与えた場合の検査対象間の電気的特性を検出する検出手段４と、電気的特性を基に、検査対象間の絶縁状態を判定するための抵抗値を算出する算出手段５３を有し、選出手段６は面積情報の最も大きい配線パターンを最先の検査対象として選出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 高速かつ高精度にアクティブマトリクス基板を検査する方法等を提供する。
【解決手段】上述した課題は、選択的に動作可能な複数の画素をマトリクス状に配置したアクティブマトリクス基板の検査方法であって、所定の検査画素に電子線を照射するステップと、前記電子線により前記検査画素に供給された電荷量を測定するステップと、前記電荷量に基づいて前記検査画素の欠陥の有無を判定するステップと、を有することを特徴とするアクティブマトリクス基板の検査方法等により解決することができる。 （もっと読む）

【課題】極めて簡単な手順でコイル傷の３次元位置を特定でき、装置構成も簡単なコイル傷の位置特定方法、装置を提供する。
【解決手段】液槽２内の導電性液体１中に浸漬された状態で置かれた被検査コイル９の巻線９ａの一端９ｂと、各々位置を違えて導電性液体１中に浸漬、固定された３つの計測用電極３〜５との間に、各別に電圧を印加し、この際、被検査コイル９及び各計測用電極３〜５間に流れる漏れ電流ｉ１〜ｉ３を計測する。漏れ電流の値と、コイル傷１１及び計測用電極３〜５間距離との対応情報は予め保持しておく。この対応情報によれば、上記漏れ電流ｉ１〜ｉ３の実測値から、コイル傷１１及び計測用電極３〜５間距離が求まり、また、３つの計測用電極３〜５の３次元位置は既知であるので、コイル傷１１の３次元位置は所定の計算式を用いて計算により求められる。つまり、構成簡単な装置で、手順も簡単に、コイル傷１１の３次元位置を特定（計算）できる。 （もっと読む）

【課題】 基板に設けられる配線パターンの短絡検査において、配線パターン間で発生するスパークを確実に検出して、不良な基板を発見することのできる基板検査装置及び基板検査方法の提供。
【解決手段】 回路基板の複数の配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、複数の配線パターン毎に対応する、該配線パターンに電流を供給する上流側及び下流側電流供給端子と、複数の配線パターン毎に対応する、電流が印加されることにより生じる電圧を検出するための上流側及び下流側電圧検出端子と、検査対象となる配線パターンに対応する上流側電流供給端子と上流側電圧検出端子との電圧を検出する電圧検出手段と、電圧検出手段により検出される電圧値により、検査対象の配線パターンと他の配線パターンのスパークを検出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 基板に設けられる配線パターンの短絡検査において、配線パターン間で発生するスパークを確実に検出して、不良な基板を発見することのできる基板検査装置及び基板検査方法の提供。
【解決手段】 回路基板の複数の配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、複数の配線パターン毎に対応する、該配線パターンに電流を供給する上流側及び下流側電流供給端子と、複数の配線パターン毎に対応する、電流が印加されることにより生じる電圧を検出するための上流側及び下流側電圧検出端子と、検査対象となる配線パターンに対応する上流側電流供給端子と上流側電圧検出端子との電圧を検出する電圧検出手段と、電圧検出手段により検出される電圧値により、検査対象の配線パターンと他の配線パターンのスパークを検出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】絶縁検査時間を短縮する。
【解決手段】（（Ｍ−１）＜ｌｏｇ_２Ｎ≦Ｍ（Ｍは整数））の条件を満たすＭ回の各電気的検査（この例では３回のうちの第２回目）において、所定の向きで隣接して一対の導体パターンに接続された信号線５ｂ，５ｃおよび信号線５ｆ，５ｇの一方（信号線５ｂ，５ｆ）を高電位および低電位のいずれか一方に接続すると共にこの一方の信号線に対して所定の向きとは逆向き側において隣接する信号線５ａ，５ｅを上記のいずれか一方の電位に接続し、かつ上記の信号線の他方（信号線５ｃ，５ｇ）をいずれか他方の電位に接続すると共にこの他方の信号線に対して所定の向き側において隣接する信号線５ｄ，５ｈを高電位および低電位のいずれか他方に接続し、高電位に接続した各導体パターンＰａ，Ｐｂ，Ｐｇ，Ｐｈと低電位に接続した各導体パターンＰｃ〜Ｐｆとの間の電気的パラメータを測定する。 （もっと読む）

【課題】被検査基板の電極に対するプローブの接触不良を防止して正確に導通・絶縁検査を行うことができる検査用治具を提供する。
【解決手段】プローブ１３の先端部にフランジ状に拡径したプローブヘッド１５を形成するとともに、プローブヘッド１５を異方性導電部材で覆った。プローブヘッド１５は、絶縁性の保持板１１の表面１１ａに突起状に設けられるとともに、保持板１１の表面１１ａに貼り付けられた異方性導電部材シート１６内に埋設されている。プローブ１３と電極３１の相対位置が多少ずれても、異方性導電部材シート１６のプローブヘッド１５と電極３１との間に挟まれた部分が圧縮され、この圧縮された部分の導電率が増加してプローブ１３と電極３１とが電気的に接続されるので、被検査基板３０の電極３１に対するプローブ１３の接触不良による誤検出を防止できる。 （もっと読む）

【課題】電線路の絶縁検出装置及び絶縁検出方法を提供する。
【解決手段】本発明は電線路の３相各相の電圧成分を検出する電圧検出手段と、電線路と対地間に流れる零相漏れ電流を検出する零相変流器と、前記零相変流器で検出された漏れ電流成分を電圧成分に変換して、所定周波数以下の周波数成分又は商用周波数帯域の成分を抽出する漏れ電流検出手段と、前記電圧検出手段の３相各相の出力値と前記漏れ電流検出手段の出力値の位相差を検出する位相比較手段と、前記漏れ電流検出手段の出力値をデジタル成分に変換するアナログ／デジタル変換部と、各種データを読み取って出力する演算制御部及び入出力手段とで構成される。本発明によれば、負荷を含む電線路と対地間の絶縁状態と直接関係する有効分の漏れ電流値、又は絶縁状態とは直接関係しないが、常に存在する静電容量による無効分の漏れ電流値を計算して電線路の絶縁状態を検出し、遠隔制御することができる。 （もっと読む）

【課題】超電導体コイルのインピーダンスを測定して絶縁不良の検出を定量的に行う絶縁不良検出方法および装置を提供する。
【解決手段】超電導材が絶縁材で被覆された帯状の超電導線がダブルパンケーキコイルの形状で巻線された超電導体コイルにおける絶縁不良の検出を、１００Ｈｚ以上１５０Ｈｚ以下の高周波で且つ１Ａ以上１０Ａ以下の交流の低電流を定電流電源から通電して、インピーダンス演算手段でインピーダンスを測定し、測定したインピーダンスが設定値以下であると、前記ダブルパンケーキコイルの２層のコイル部を連続する内周ターンの渡り部において絶縁不良が発生していること絶縁不良検出手段で検出している。 （もっと読む）

【課題】検査効率を向上し得る検査装置を提供する。
【解決手段】直流信号Ｓ１の印加によって回路基板１００における導体パターン１０１，１０１間を流れる電流Ｉを検出する電流検出部３と、直流信号Ｓ１の印加開始時から所定の待機時間を経過したときに電流検出部３によって検出された電流Ｉの電流値に基づいて導体パターン１０１，１０１間についての絶縁良否を検査する制御部６とを備え、制御部６は、導体パターン１０１，１０１間の容量値の大きさに応じて待機時間の長さを設定する。 （もっと読む）

実施例はアーク障害検出回路を有する。このアーク障害検出回路は、ゼロ交差分析サブシステムを有し、該ゼロ交差分析サブシステムは、カウンタを有し、このカウンタは第１の波形に対して、第２の波形が所定のゼロ交差を行う連続する第１のペア間で発生する降下の第１の数を計数するように構成されている。第２の波形は電気回路から得られる。
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【課題】接地の有無にかかわらず、負荷機器と所定の導体との間における絶縁破壊の発生を検出することのできる絶縁破壊検出装置及びそれを備えた安全装置を提供する。
【解決手段】互いに絶縁された負荷機器１４と導体１５との間における絶縁破壊の発生を検出する絶縁破壊検出装置２０であって、負荷機器１４と導体１５との間に所定の低電圧を印加する検出スイッチ２３と、検出スイッチ２３により所定の低電圧を印加した後、負荷機器１４と導体１５との間の抵抗値が所定値よりも小さいときに、絶縁破壊発生の信号を出力する比較器２５とを備えた。 （もっと読む）

【課題】測定対象ケーブルの長さ及び長手方向における劣化程度の不均一性の影響を受けにくい電力ケーブルの絶縁劣化診断方法を提供すること。
【解決手段】絶縁劣化診断装置１００では、測定対象ケーブル２０に対して交流電圧を課電する際に、交流電圧Ｖａｃを短時間で昇降圧し、かつステップ状にピーク値を上昇させながら繰り返し課電し、各交流課電で検出される残留電荷Ｑのうち残留電荷Ｑが最大となる交流電圧Ｖを劣化判定値として用いるようにした。このため、電力ケーブル線路全体に亘って劣化状態が均一であれば、長さの要素を考慮しない劣化判定が可能となり、また、電力ケーブルの長手方向で劣化状態にバラツキが存在する場合でも、均一劣化状態のケーブルと大差ない劣化判定が可能となり、より判りやすい劣化診断を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】 テストプラグの絶縁試験を容易且つ迅速に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供する。
【解決手段】 テストプラグを挿入するプラグ挿入口８１を有するとともに、前記テストターミナルと同様の電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｗ，１１１Ｂ，１１１Ｎと負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｗ，１２１Ｂ，１２１Ｎとを有する挿入部Ａと、隣接する異なる相間における前記電源側導体同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記電源側導体と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側導体及び前記負荷側導体にそれぞれ接続されている一対の測定端子９１，９２とを有する。 （もっと読む）

【課題】非破壊でコイルのワニス含浸状態を判定することができるワニス含浸状態判定方法及び装置、並びに電機子の製造方法を提供する。
【解決手段】ワニス含浸前のコイルにインパルス信号を印加したときの応答波形である含浸前インパルス波形Ｐｂと、ワニス含浸後のコイルにインパルス信号を印加したときの応答波形である含浸後インパルス波形Ｐａとを比較し、含浸前インパルス波形Ｐｂに対する含浸後インパルス波形Ｐａの位相遅れ量Ｄｎ（ｎは自然数）に基づいてコイルのワニス含浸状態を判定する。 （もっと読む）