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Fターム[2G014AA15]の内容

短絡、断線、漏洩、誤接続の試験 (9,053) | 検査内容 (3,191) | 絶縁不良状態 (653)

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漏電 (435)
漏話 (3)

Fターム[2G014AA15]に分類される特許

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【課題】試験パターンが多層に積層されている基板において、内層の試験パターンの絶縁不良が生じた箇所を特定することができる基板評価方法を提供する。
【解決手段】多層に積層された基板であって、内層に試験パターン層を備え、試験パターン層が、櫛歯状の第1試験パターンと、第1試験パターンの間に沿って配置される、分岐のない第2試験パターンと、を備える基板を準備する準備工程と、第1試験パターンと第2試験パターンとの間に電圧を印加する電圧印加工程と、基板の絶縁性を評価する評価工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】微小な放電の発生を確実に検出でき、一対の配線パターン間の絶縁状態を正確に検出する。
【解決手段】反転入力端子が絶縁検査の対象となる一対の配線パターン3,4のうちの配線パターン4に接続されると共に非反転入力端子が基準電位Gに接続され、かつ出力端子と反転入力端子との間に帰還回路16bが接続された演算増幅器16aを有し、検査電圧V1の印加時に一対の配線パターン3,4間に流れる検査電流I1を配線パターン4を介して入力すると共に演算増幅器16aで電圧信号V4に変換して出力する電流検出部16を有する絶縁検査装置1であって、演算増幅器16aにおける反転入力端子の電圧V5が基準電圧Vrefを超えたときに、一対の配線パターン3,4間に放電が発生したことを示す放電検出信号S1を出力する放電検出部18を備えている。 (もっと読む)


【課題】放電の発生を検出する放電検出回路の動作確認を正確に行う。
【解決手段】端子65a,65bに対する検査用信号Veの供給によって端子65a,65bの間に生じる端子間電圧Vmが参照電圧Vr以上のときに第1信号S1を出力するコンパレータ61と、コンパレータ61から第1信号S1が出力されたときに予め決められた時間長tの第2信号S2を生成して出力するワンショット回路62と、端子65a,65bに接続されるインピーダンス回路63と、第2信号S2を入力して時間長tだけインピーダンス回路63と端子65a,65b入力用端子とを接続させるスイッチ回路64とを備えて、回路基板100に検査用信号Veを供給して行う検査において検査用信号Veの供給に伴う放電の発生を検出する放電検出部5の動作確認に用いられる擬似放電を端子65a,65bの間に発生させる。 (もっと読む)


【課題】絶縁検査の検査精度を向上させる。
【解決手段】回路基板の各導体パターンの1つを第1検査対象として設定すると共に第1検査対象の導体パターンを除く導体パターンの一部または全部を第2検査対象として設定し、第2検査対象の導体パターンを同電位としつつ第1検査対象の導体パターンとの間に検査用信号を供給させて各導体パターンの間の絶縁状態を第1検査条件で検査する第1絶縁検査を実行する検査部を備え、検査部は、各導体パターンの中に指定導体パターンが存在するときには、指定導体パターンを除く導体パターンを第1検査対象として設定して第1絶縁検査を実行し、1つの指定導体パターンを除く他の導体パターンを同電位としつつその指定導体パターンとの間に検査用信号を供給させて各導体パターンの間の絶縁状態を第1検査条件よりも高い検査基準の第2検査条件で検査する第2絶縁検査を実行する。 (もっと読む)


【課題】放電の発生を検出する放電検出部の動作確認を正確に行う。
【解決手段】回路基板100にプローブ200,200を介して検査用信号Veを供給したときに生じる物理量に基づいて回路基板100の抵抗値を測定する制御部8と、回路基板100に対する検査用信号Veの供給に伴う放電の発生を検出する放電検出部5と、制御部8による抵抗値の測定精度を確認する際に用いる負荷回路6と、負荷回路6とプローブ200,200とを接続させるスイッチ回路7とを備え、制御部8は、プローブ200,200に検査用信号Veが供給されている状態においてスイッチ回路7によって負荷回路6とプローブ200,200とが接続されたときに発生する擬似放電を用いて放電検出部5の動作確認の処理を行う。 (もっと読む)


【課題】従来の技術とは異なる視点で,トラッキング現象の発生をより正確に検知できるトラッキング電流検出装置を提供する。
【解決手段】商用電路1、1’に流れる負荷電流を検出する電流検出部3と,電流検出部により検出された電流波形をデジタル値に変換するA/D変換部5と,A/D変換部5から出力される所定の周期分のデジタル値を記憶する第一のレジスタ6と,第一のレジスタ6に記憶された前記所定の周期分のデジタル値から所定の演算により波形率を計算する演算部7と,該演算部7により得られた前記所定の周期分毎の演算結果を保持する第二のレジスタ8と,前記第二のレジスタ8に保持された演算結果を基に所定の条件と比較することによりトラッキング電流が発生しているかどうかを判定する判定部9と,を備えて構成される。 (もっと読む)


【課題】試験対象のチップに形成される電極パッドと検査プローブのバンプとの接触状態を確認した後に絶縁試験を実施し、絶縁試験結果に基づいたチップの良否判定を正確に実行することを目的とする。
【解決手段】検査プローブに、回路基板上に形成される電極パッドに接触させる少なくとも2つの接点が配置された端子部(101−1〜101−n,102−1〜102−n)と、この端子部の前記接点のそれぞれに接続される複数の信号線(103−1〜103−n)とを備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】一対の配線パターン間の絶縁状態を正確に検出する。
【解決手段】処理部28は、スパーク検出部17によってスパークの発生が検出されなかった一対の配線パターン3,3の絶縁状態を検査する絶縁検査処理の実行に先立ち、一方の配線パターン3に第1および第3プローブ11,13が接触させられている状態において接続切替部26を制御して第1および第3プローブ11,13を検査電圧生成部23に接続すると共に直流検査電圧Vexを両プローブ11,13間に印加し、他方の配線パターン3に第2および第4プローブ12,14が接触させられている状態において接続切替部26を制御して第2および第4プローブ12,14を検査電圧生成部23に接続すると共に直流検査電圧Vexを両プローブ12,14間に印加する電圧印加処理を実行して絶縁皮膜3aを除去した後に、絶縁検査処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】高電圧の印加によって発生した不良箇所についてダメージを進行させることなく、検出する。
【解決手段】処理部10は、電圧生成部7を制御して予め決められた高電圧を検査用電圧VeHとして検査対象の導体パターン3,4間に印加させたときの導体パターン3,4間の絶縁抵抗Rに基づいて導体パターン3,4間の絶縁状態を検査する高圧検査処理を実行し、高圧検査処理において絶縁状態が良好であると判別された導体パターン3,4間に対して電圧生成部7を制御して高電圧よりも低い低電圧の検査用電圧VeLを印加させたときの導体パターン3,4間の絶縁抵抗Rに基づいて絶縁状態を検査する低圧検査処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】一対の配線パターン間に発生するスパークを確実に検出する。
【解決手段】第1および第2プローブ11,12を介して配線パターン3,3間に印加する直流検査電圧Vexを生成する検査電圧発生部23と、直流検査電圧Vexの印加時に配線パターン3,3間に発生する電圧Vmを両プローブ11,12を介して測定する電圧測定部24と、直流検査電圧Vexの印加時に配線パターン3,3間に流れる電流Imを測定する電流測定部25と、直流検査電圧Vexの印加時に配線パターン3,3間でのスパークの発生の有無を検出するスパーク検出部17と、スパークの発生が検出されなかった配線パターン3,3についての絶縁状態を電圧Vm,電流Imに基づいて検査する絶縁検査処理を実行する処理部28とを備え、スパーク検出部17は、一方のプローブ12が固定されると共にプローブ駆動部16によって駆動される移動アーム16aに配設されている。 (もっと読む)


【課題】 電力供給における信頼度及び安全性の向上に寄与する。
【解決手段】 各相電圧判定部は、予め、絶縁抵抗と誘導電圧との間の既知の関係に基づいて、整定され、誘導電圧に対応する電圧に応じて、誘導電圧の有無を示す信号を出力する。各相電圧判定部は、例えば、設定された所定の電圧以下の場合には、誘導電圧無し(すなわち、絶縁性能不良)を示す信号を出力する。 (もっと読む)


【課題】絶縁検査の検査精度を向上する。
【解決手段】各導体パターンの一部を第1グループとして設定すると共に他の全ての導体パターンを第2グループとして設定し、第1グループの導体パターンを高電位および低電位のいずれか一方の電位で同電位とし第2グループの導体パターンを高電位および低電位の他方の電位で同電位としつつ検査用信号を供給させて各導体パターンの間の絶縁状態を検査する第1絶縁検査を、第1グループおよび第2グループとして設定する導体パターンの組み合わせを変更しつつ実行する検査部を備え、検査部は、第1絶縁検査の実行後において、第1グループの導体パターンを他方の電位で同電位とし第2グループの導体パターンをいずれか一方の電位で同電位としつつ検査用信号を供給させて各導体パターンの間の絶縁状態を検査する第2絶縁検査を、第1絶縁検査における組み合わせと同じ組み合わせについて実行する。 (もっと読む)


【課題】比較的簡易な構成でありながら、基板の配線に対してプローブピンを正確に接触させることができる配線検査治具を提供する。
【解決手段】第1ガイド孔711及び第2ガイド孔721の中心位置が異なる複数種類の第1ガイド部71及び第2ガイド部72を用いることによって、撮像カメラやアクチュエータ等を必要としない簡易な構成でありながら、治具本体15に対するプリント基板200の位置を細かく調整することができる。特に、縦や横への平行移動だけでなく、水平面内での回転も可能になるため、製造ばらつきに伴うプリント基板200のあらゆる種類の位置ずれに対して幅広く対応することができる。 (もっと読む)


【課題】絶縁検査の検査精度を向上させる。
【解決手段】M個の導体パターンの一部を第1グループとし、他の導体パターンの一部または全部を第2グループとして、第1グループの導体パターンと第2グループの導体パターンとの間の絶縁状態を検査する絶縁検査を(M−1)回実行する検査部を備え、検査部は、1回目の絶縁検査において、1つ目の導体パターンを第1グループとして設定すると共に他の全ての導体パターンを第2グループとして設定し、2回目からN回目の絶縁検査において、直前の絶縁検査で第2グループに属していた各導体パターンの1つを第1グループに加え、(N+1)回目の絶縁検査から(M−1)回目の絶縁検査において、直前の絶縁検査で最も早くから第1グループに属していた1つの導体パターンを第1、第2グループから除外すると共に直前の絶縁検査で第2グループに属していた各導体パターンの1つを第1グループに加える。 (もっと読む)


【課題】応答時間を向上させかつ警報誤りを最小限にした改良型のアークフラッシュ防止機構を提供すること。
【解決手段】光と音響波を同時に検出するためのセンサを提示する。このセンサは、1本または複数本の光ファイバと、該1本または複数本の光ファイバの少なくとも1本の一方の端部の近くに配置させた隔壁と、を含む。この隔壁は、アークフラッシュから音響波の入射があると振動すると共に1本または複数本の光ファイバのうちの該少なくとも1本の中に光ビームを反射させるように構成されている。1本または複数本の光ファイバの周りに、1本または複数本の光ファイバのうちの少なくとも1本の中にアークフラッシュから発せられた光を拡散させるための半透明領域を配置させている。 (もっと読む)


【課題】電流電圧変換部の応答速度を高めて絶縁検査の時間を短縮する。
【解決手段】検査電圧V1の印加時に導体パターン51間に流れる検査電流I1を電圧Viに変換する電流電圧変換部5と、検査電圧V1の電圧値および電圧Viの電圧値で示される検査電流I1の電流値に基づいて導体パターン51間の抵抗Rsを算出して導体パターン51間の絶縁検査を実行する処理部7とを有し、一方の導体パターン51とグランド電位との間に接続された可変コンデンサ3を備え、処理部7は、検査対象の導体パターン51、電流電圧変換部5を構成する演算増幅器5aの反転入力端子と出力端子との間に接続されたレンジ抵抗の抵抗値Rfおよび固定コンデンサ5fの容量値Cfに対応させて可変コンデンサ3の容量値Coを予め規定された値に設定し、この状態での検査電圧V1の電圧値および検査電流I1の電流値に基づいて抵抗Rsを算出する。 (もっと読む)


【課題】直列成分r+cが存在する場合であっても送電線とグランドとの間の抵抗成分Rを高精度に求めることが可能な絶縁監視装置及び絶縁抵抗の演算方法を提供する。
【解決手段】送電線11bとグランドとを接続する接地線11cに角周波数ω1の第1電圧監視信号を重畳し、この第1電圧監視信号により接地線11cに流れる電流の有効成分、無効成分を検出する。また、接地線11cに角周波数ω2の第2電圧監視信号を重畳し、この第2電圧監視信号により接地線11cに流れる電流の有効成分、無効成分を検出する。そして、各有効成分、無効成分に基づいて、送電線11a、11b間の絶縁抵抗Rを演算する。この手法を用いることにより、抵抗rの影響を受けることなく絶縁抵抗Rを求めることができる。 (もっと読む)


【課題】計測信頼性を向上できるハイブリッド車の漏電検査方法を提供する。
【解決手段】ハイブリッド車10の高圧電気系統20の絶縁不良を検出するハイブリッド車10の漏電検査方法であって、前記ハイブリッド車10は、HVバッテリ21より供給される電圧を昇圧してモータ22またはジェネレータ23に供給する昇圧制御手段と、前記高圧電気系統20に所定の交流電圧を加えて所定位置の漏電波高値R1を計測し、該漏電波高値R1に基づいて高圧電気系統20の絶縁不良を検出する絶縁不良検出器30と、を具備し、前記昇圧制御手段によってHVバッテリ21より供給される電圧を強制昇圧し、前記絶縁不良検出器30によって漏電波高値R1を計測し、前記漏電波高値R1が所定漏電波高値Rb以下であれば絶縁不良を検出したとして漏電検査を不合格とする。 (もっと読む)


【課題】微小放電電流でも感度よく測定できる電極間絶縁特性測定装置を提供すること。
【解決手段】電極間静電容量が大きな測定対象の絶縁検査を行う電極間絶縁特性測定装置であって、前記電極間に、可変高圧直流電源と直流電流計と高域阻止フィルタとパルス電流計が直列接続されるとともに、前記パルス電流計と測定対象の直列回路と並列に高耐圧キャパシタが接続されたことを特徴とするもの。 (もっと読む)


【課題】負荷回路の絶縁不良を正確に検出する。
【解決手段】検出部11により、電源供給線L1,L2と電気ヒータ(負荷回路)20との間に接続されて、電源供給線L1,L2と電気ヒータ20との間で接地GNDを介して流れる漏洩電流Idの大きさに応じた検出電圧Vd(検出値)を検出し、判定部12により、リレー接点21,22の開放時に得られた検出値に基づいて、接地GNDに対する電気ヒータ20の絶縁劣化の有無を判定する。 (もっと読む)


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