【課題】テスタ基板およびテスト装置を小型化・コンパクト化し、安価なプリント基板検査装置を得る。
【解決手段】被検査基板１の全検査ランドとそれに接続するテスト端子を持ち被検査基板１の上または下に位置させるテスタ回路基板２４と、被検査基板１とテスタ回路基板２４との間に介在し検査ランドとテスト端子間を導通状態にするとともに測定ポイントを変換する測定ポイント変換治具２２と、テスト端子によって全検査ランドのうち一箇所の検査ランドのみに電気信号を与え他の検査ランドでの電気信号の有無を検出するテスタ回路と、を備え、テスタ回路は、電気信号を与える被検査プリント基板の検査ランドを切り換えながら他の検査ランドでの電気信号の有無を検出する動作を全検査ランドに渡って繰り返し、全検査ランド間の導通状態を検出してプリント基板パターンの切断と短絡を検査する。 （もっと読む）

【課題】 プリント基板に複数列対向配置して形成された複数の配線パターンを、精度良く検査を行うことができる基板検査装置の提供。
【解決手段】 複数の単位基板が点対称となるように配列されるシート基板において、導通接触する接触子を複数備える検査治具を単位基板毎に導通接触させて、該シート基板を検査する基板検査装置であって、シート基板を保持するとともに所定の検査位置まで搬送する搬送手段と、検査のための電力を供給する供給手段と、電気的信号を検出する検出手段と、電力と電気的信号から電気的特性を算出し、該電気的特性を基に該配線パターンの良否を判定する判定手段と、検査対象の配線パターンとなるように選出するために、供給手段と検出手段を検査治具の接触子と導通接続させる選出手段と、検査治具を保持して移動させる移動手段を有し、移動手段は、検査治具と選出手段を一体的に回転移動させることができる。 （もっと読む）

【課題】仕様が異なるリレーについての誤実装を検査し得るリレー検査装置を提供する。
【解決手段】回路基板２００に実装されている検査対象のリレー１００のコイル部１０１に電圧Ｖｔを供給する電圧源２と、電圧Ｖｔがコイル部１０１に供給されているときにコイル部１０１に流れる電流Ｉｄを検出する電流検出部３と、検出された電流Ｉｄの電流値と予め規定された基準電流値Ｉｓ１，Ｉｓ２とを比較すると共に比較結果に基づいてリレー１００の実装を不良と判定するＣＰＵ９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 被検査基板上に形成される複数の配線パターンに予め設定される複数の被検査点を所定順序で選択することによって行われる配線パターン間の絶縁検査において、該被検査点の離間距離に応じて検査条件の電圧を変化させて検査を行う絶縁検査装置及び絶縁検査方法の提供。
【解決手段】
被検査点間の絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、選択された被検査点間の距離が距離情報として記憶される記憶手段と、検査対象の被検査点と他の被検査点の間に電位を与える電源手段と、電源手段が電位を与えた際の検査対象間の電気的特性を検出する検出手段と、この電気的特性から検査対象間の抵抗値を算出する算出手段と、算出手段の算出結果から検査対象間の絶縁の良否を判定する判定手段と、電源手段が与える電位の大きさを制御する制御手段を有し、制御手段は記憶手段に記憶される距離情報にしたがって、電位の大きさを調整することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】絶縁検査に要する時間を短縮できる基板検査方法及び基板検査装置を提供する。
【解決手段】出力部（１３）に電位差付与を開始させた後、電流検出部（１３）によって、出力部と配線パターン（２１）との間に流れる電流値が所定の基準電流値以下に降下したことが検出された場合に、電流検出部による検出電流値に基づいて、正極プローブ（１１）が導通された配線パターンと負極プローブ（１１）が導通された配線パターンとの間の絶縁性について判定するようになっている構成において、絶縁判定のために出力部と配線パターンとの間に流れる電流値を検出するタイミングを決定するための基準電流値として、複数の基準電流値が設定されており、その複数の基準電流値が、正極プローブが導通された配線パターンと負極プローブが導通された配線パターンとの間の電気容量が大きいほどより大きな値の基準電流値が用いられるように、切り替えられて用いられる。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は検査の精密度を高めて検査速度を高めるようにしたフラットパネルディスプレイの検査方法及び装置を提供することにある。
【解決手段】本発明に係るフラットパネルディスプレイの検査方法及び装置は、磁気センサーを利用して少なくとも一つの信号配線をスキャンして前記磁気センサーの抵抗変化を検出して前記信号配線の短絡を感知する。 （もっと読む）

【課題】隣接する配線パターン間が疑似的に短絡した疑似短絡部について焼損させることなく、検査を行うことができる基板検査装置を提供する。
【解決手段】被検査基板（１１）上の検査点（１２ａ,１２ｂ）間に電位差を生じさせ、検査点から検査用の信号を取り出すことにより検査点間の配線パターン（１３）の電気的特性を検査する基板検査装置であって、検査点に直接又は間接的に導通される複数のプローブ（２ａ,２ｂ）と、プローブを介して検査点間に電位差を発生させる出力部（３）と、電位差の付与時にプローブを介して検査点から信号を検出する検出部（４）と、を備え、出力部は、隣接する配線パターン間が疑似的に短絡した疑似短絡部が、導通し、かつその疑似短絡部を流れる電流により焼損しない程度の電位差を検査点間に発生させる。 （もっと読む）

本発明は、回路基板を試験するテスター用のモジュールに関する。かかるテスターは基本格子を備え、基本格子の複数の接点を試験すべき回路基板の複数の回路基板試験部位に接続するため、基本格子にアダプタ及び／又はトランスレータが設けられ得る。モジュールは支持プレート及び接触基板を有する。接触基板は、基本格子要素として記載される堅固な回路基板部分及び少なくとも一つのフレキシブル回路基板部分で形成される。基本格子要素には複数の接点が設けられ、各接点は基本格子の複数の接点の一部を形成している。基本格子要素は、支持プレートの端面に装着され、またフレキシブル回路基板部分は、接触基板の他の部分の少なくとも一部が支持プレートに平行であるようにして曲げられる。基本格子要素の各接点は、接触基板に延びかつ基本格子要素からフレキシブル回路基板部分内へ延びる導体路と電気的に接触している。
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【課題】回路基板に形成された配線パターンを正確、かつ安価に検査し得る検査装置を提供する。
【解決手段】回路基板１に形成された配線パターン４を検査する検査装置１１であって、配線パターン４に直流電圧Ｖ１を印加する電圧印加部１３と、複数の電荷蓄積部および電荷蓄積部に蓄積された電荷を出力する電荷転送部を備えて配線パターン４上に非接触の状態で対向配置されると共に近接する配線パターン４の直流電圧Ｖ１に応じた電荷を各電荷蓄積部に蓄積可能に構成されたＣＣＤ１４と、ＣＣＤ１４から出力された各電荷蓄積部の蓄積された電荷の量に基づいて配線パターン４を検査する処理部１８とを備えている。 （もっと読む）

【課題】基板に形成される複数の配線パターン間の絶縁検査を行うための絶縁検査装置及び絶縁検査方法の提供。
【解決手段】複数の配線パターンが形成される被検査基板ＣＢにおいて、該配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置１であって、基板の配線パターンの面積が、配線パターン毎に面積情報として記憶される記憶手段５１と、複数の配線パターンから検査順序に応じて検査対象となる配線パターンを選出する選出手段６と、検査対象の配線パターンと他の配線パターンの間における検査対象間に電圧を印加する電源手段２と、電源手段が電圧を与えた場合の検査対象間の電気的特性を検出する検出手段４と、電気的特性を基に、検査対象間の絶縁状態を判定するための抵抗値を算出する算出手段５３を有し、選出手段６は面積情報の最も大きい配線パターンを最先の検査対象として選出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】被検査基板上に形成される配線パターンの絶縁検査において、検査対象となる配線パターン間の離間距離に応じて検査条件の電圧を変化させて検査を行う絶縁検査装置及び絶縁検査方法の提供。
【解決手段】配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、複数の配線パターンにおける二つの配線パターン間の距離が距離情報として記憶される記憶手段５１と、検査対象の配線パターンと他の配線パターンの間に電位を与える電源手段２と、電源手段２が電位を与えた際の検査対象間の電気的特性を検出する検出手段４と、この電気的特性から検査対象間の抵抗値を算出する算出手段５３と、算出手段の算出結果から検査対象間の絶縁の良否を判定する判定手段５４と、電源手段が与える電位の大きさを制御する制御手段５２を有し、制御手段は記憶手段に記憶される距離情報にしたがって、電位の大きさを調整することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 固定部と可動部との間を接続する配線の数を少なくすることにより、配線が嵩張ることがなく可動部の移動距離や移動速度の自由度を高めたプリント基板の検査装置を提供すること。
【解決手段】 制御装置３２を有する固定部３０と、接触端子２１を有する可動部２０とを備えたプリント基板１１の電気検査を行う検査装置１０である。この検査装置１０の配線を、接触端子２１に接続された複数の配線２５と、可動部２０と固定部３０とを接続し接続切換装置２３に接続切換信号を送信する配線３０ａと、可動部２０と固定部３０とを接続し接続切換装置２３により接続を切り換えられた配線２５を固定部３０に接続する配線２５よりも少数の配線２０ａ，２０ｂとで構成した。また、固定部３０に設けられ接続切換装置２３に接続切換信号を送信する接続切換信号送信装置３６と、可動部２０に設けられ接続切換信号を受信する接続切換信号受信装置２７とを設けた。 （もっと読む）

【課題】電極を導電パターンに接触させることなくクロスショート位置を特定でき得るパターン検査装置を提供する。
【解決手段】センサ１２には、二つの給電電極１４，１６と、二つの検査電極１８，２０と、が略十字状に配されている。このセンサ１２は、クロスショートＣＳが生じているクロスパターン５４ａに沿って移動する。このとき、給電電極１４，１６は、クロスパターン５４ａに交流電圧を印加する。また、検査電極１８，２０は、対向するゲートライン５２と静電結合する。センサ１２の移動により検査電極１８がクロスショートＣＳが生じているゲートライン５２ａに対向する位置まで移動したとき、検査電極１８，２０に大きな交流電圧が誘起される。この誘起される電圧値の変化に基づいてクロスショートＣＳの位置を特定する。 （もっと読む）

【課題】 検査回路の構成が簡易であって検査手順も簡便にできる画素アレイ基板の検査装置を提供する。
【解決手段】 本発明は、画素とスイッチング素子とでなる、複数の画素部がマトリクス状に配列された画素アレイ基板を検査するものである。そして、データラインの電極に対し、入力端子がスイッチング素子を介することなく接続される積分回路を入力段に有する検査回路と、データラインの電極の反対側から、データラインに対して検出時用のデータを適宜供給する検査用データ導入部と、この検査用データ導入部からの検査用データの導入、及び、ゲートラインの指定を制御して、複数の画素を充電させると共に、充電された画素の電荷を、ゲートラインの行毎に放電させ、積分回路に入力させる検査手順制御手段とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 基板に設けられる配線パターンの短絡検査において、配線パターン間で発生するスパークを確実に検出して、不良な基板を発見することのできる基板検査装置及び基板検査方法の提供。
【解決手段】 回路基板の複数の配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、複数の配線パターン毎に対応する、該配線パターンに電流を供給する上流側及び下流側電流供給端子と、複数の配線パターン毎に対応する、電流が印加されることにより生じる電圧を検出するための上流側及び下流側電圧検出端子と、検査対象となる配線パターンに対応する上流側電流供給端子と上流側電圧検出端子との電圧を検出する電圧検出手段と、電圧検出手段により検出される電圧値により、検査対象の配線パターンと他の配線パターンのスパークを検出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】製造コストを抑制するとともに準備段階での所要時間を短縮した基板検査装置を提供する。
【解決手段】前列のプローブブロック９，10に対して後列の移動プローブブロック10を、位置決め機構20により相対的に位置決めする。所定の固定プローブブロック９を基準として他の全ての移動プローブブロック10を位置決めする場合などと比較して、位置決め機構20を簡略化でき、基板検査装置１の製造コストを抑制できる。移動プローブブロック10の移動距離を短くすることも可能となり、基板２に対応して各移動プローブブロック10を位置決めする準備段階での所要時間を短縮できる。 （もっと読む）

【課題】回路基板に形成された配線パターンを正確に検査し得る検査装置を提供する。
【解決手段】回路基板５に形成されたバンプ１と外部接続端子２とを接続する回路基板５に形成された配線パターン３を検査可能な検査装置１１であって、バンプ１を第１の電位Ｖｔに帯電させる帯電装置１２と、外部接続端子２の電位、およびバンプ１と外部接続端子２との間に流れる電流Ｉ１の少なくとも一方を測定する測定部１９と、測定部１９によって測定された少なくとも一方の値に基づいて配線パターン３を検査する処理部１９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】回路パターン検査装置における検査基板を載置するステージ載置面に形成した窪み部分による検査基板との非密着の面積又は容量結合の変化に伴う検出信号の急峻な変化に伴う回路パターンの断線又は短絡の誤判定を防止する。
【解決手段】回路パターン検査装置は、検査用センサ電極を回路パターンに非接触で電気的な容量結合を行い、検出信号により複数の回路パターンの良否判定を行う検査装置であり、回路パターンが形成された検査基板を載置するステージ載置面に形成された溝や穴が各回路パターンに対して同じ結合容量となるように配置する、又は溝や穴のエッジ部分を丸める処理又はテーパー処理を施すことにより、隣り合う回路パターンに対して受信する検出信号の急峻な変化を緩和して、良否判定に用いる検出信号から算出される閾値の変化を検出信号の変化に追従するように補正して誤判定を防止する。 （もっと読む）

【課題】 基板に設けられる配線パターンの短絡検査において、配線パターン間で発生するスパークを確実に検出して、不良な基板を発見することのできる基板検査装置及び基板検査方法の提供。
【解決手段】 回路基板の複数の配線パターンの絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、複数の配線パターン毎に対応する、該配線パターンに電流を供給する上流側及び下流側電流供給端子と、複数の配線パターン毎に対応する、電流が印加されることにより生じる電圧を検出するための上流側及び下流側電圧検出端子と、検査対象となる配線パターンに対応する上流側電流供給端子と上流側電圧検出端子との電圧を検出する電圧検出手段と、電圧検出手段により検出される電圧値により、検査対象の配線パターンと他の配線パターンのスパークを検出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】絶縁検査時間を短縮する。
【解決手段】（（Ｍ−１）＜ｌｏｇ_２Ｎ≦Ｍ（Ｍは整数））の条件を満たすＭ回の各電気的検査（この例では３回のうちの第２回目）において、所定の向きで隣接して一対の導体パターンに接続された信号線５ｂ，５ｃおよび信号線５ｆ，５ｇの一方（信号線５ｂ，５ｆ）を高電位および低電位のいずれか一方に接続すると共にこの一方の信号線に対して所定の向きとは逆向き側において隣接する信号線５ａ，５ｅを上記のいずれか一方の電位に接続し、かつ上記の信号線の他方（信号線５ｃ，５ｇ）をいずれか他方の電位に接続すると共にこの他方の信号線に対して所定の向き側において隣接する信号線５ｄ，５ｈを高電位および低電位のいずれか他方に接続し、高電位に接続した各導体パターンＰａ，Ｐｂ，Ｐｇ，Ｐｈと低電位に接続した各導体パターンＰｃ〜Ｐｆとの間の電気的パラメータを測定する。 （もっと読む）