【課題】単一のセンサユニットで導電パターンのオープン／ショートを検出可能な回路パターン検査装置およびその方法を提供する。
【解決手段】ガラス基板３上に列状に配設された導電パターン２の良否を非接触で検査する際、検査信号を供給する給電部１２と、その信号を検知するためのセンサ１３とを近接して配する。かかる構成とすることで、オープン状態のない正常な導電パターン上にセンサ１３がある場合と、オープン箇所のある導電パターン上にセンサ１３が位置したときとで、そのセンサ１３による検査電流の検出レベルに顕著な相違が生じるため、オープン状態の検出を確実に行える。 （もっと読む）

【課題】絶縁板の主面または内部に配線パターンを有する配線板において、主面または内部に実装された電子部品の接続検査を簡明化すること。
【解決手段】絶縁板と、絶縁板の主面上または内部に設けられた、第１の電子部品が有する第１の電源端子に接続がされるための第１のランドパターンと、絶縁板の主面上または内部に設けられた、第２の電子部品が有する第２の電源端子に接続がされるための第２のランドパターンと、第１のランドパターンに電気的に接続して設けられ、かつ、少なくとも一部が主面上に存在する第１の電源リード部と、第２のランドパターンに電気的に接続して設けられ、かつ、少なくとも一部が前記主面上に存在し、かつ、第１の電源リード部とは電気的に分離して存在する第２の電源リード部とを具備する。 （もっと読む）

【課題】検査対象体の絶縁状態を短時間で検査する。
【解決手段】配線パターン１１ａ，１１ｂに接続されるプローブ２ａ，２ｂ間に直流電圧Ｖ１を印加する電源部３と、直流電圧Ｖ１の印加状態においてプローブ２ａ，２ｂに流れる漏れ電流Ｉ_Ｌを測定する電流計４と、漏れ電流Ｉ_Ｌと閾値Ｉ_Ｌｔｈとに基づいて配線パターン１１ａ，１１ｂの絶縁状態を検査する処理部５とを備え、処理部５は、配線パターン１１ａ，１１ｂの未接続状態においてプローブ２ａ，２ｂ間に直流電圧Ｖ１が印加されたときに電流計４で測定される漏れ電流Ｉ_Ｌの定常値Ｉ_Ｌ０を記憶する定常値記憶処理と、配線パターン１１ａ，１１ｂの接続状態において直流電圧Ｖ１が印加されたときに電流計４で測定される漏れ電流Ｉ_Ｌの電流値から定常値Ｉ_Ｌ０を減算すると共に、減算で得られた電流値と閾値Ｉ_Ｌｔｈとに基づいて絶縁状態を検査する検査処理とを実行する。 （もっと読む）

【課題】スキャナ部の自己診断を効率的に行い得る検査装置を提供する。
【解決手段】スキャナ部１４と、スキャナ部１４における各スイッチ２１ａ〜２１ｄの良否診断を行う診断部とを備えて、スキャナ部１４を介して入出力される検査用信号Ｓ１に基づいて所定の電気的検査を実行可能に構成され、診断部は、診断対象としての２つのスイッチ（例えばスイッチ２１ｂ，２１ｃ）の各接点Ｐに交流信号Ｓ２を供給した状態における各接点間の静電容量を測定すると共に、スイッチ２１ｂ，２１ｃに指示信号が出力されたときの静電容量の測定値とスイッチ２１ｂ，２１ｃについて規定された静電容量の規定値Ｃｒ１，Ｃｒ２とに基づいてスイッチ２１ｂ，２１ｃの良否を判定する第１判定処理を実行する制御部１８を備えて構成されている。 （もっと読む）

【課題】検査対象基板についての測定値の推移を容易に把握可能に検査結果データを生成する。
【解決手段】検査対象パターンの抵抗値Ｒ（電気的パラメータ）を測定して測定データを生成する測定部と、検査用基準データを記憶する記憶部と、測定データおよび検査用基準データに基づいて検査対象パターンの良否を判定して検査結果データを生成する処理部とを備え、記憶部は、検査用基準データとして、正常判定範囲Ａ１を区分けした判定範囲Ａ１２Ｌ〜Ａ１２Ｕ（２以上の第１の判定範囲）、範囲Ａ１の上限値を超える不良判定範囲Ａ２（第１の不良判定範囲）、および囲Ａ１の下限値を下回る不良判定範囲Ａ３（第２の不良判定範囲）の各範囲データを記憶し、処理部は、測定データが各第１の判定範囲のいずれかに含まれて検査対象パターンを正常と判定したときに、検査結果データとして、いずれかの第１の判定範囲を特定可能なデータを生成する。 （もっと読む）

【課題】ループ形状に形成される配線の良不良を検査することができる基板検査装置及び基板検査方法の提供。
【解決手段】第一及び第二端子を有するとともにアンテナ機能を有するループ部が形成される配線を有する基板の検査装置であって、ループ部が形成された配線の第一端子と第二端子の間に、基準電流発生部２と電流検出手段５とが直列に接続される。ループ部を形成する一本の配線の所定部位に対して検査誘導電流を発生させる検査磁界供給部４と、検査磁界供給部４によるループ部で発生する検査誘導電流の電流方向に対して逆方向の基準誘導電流を、基準電流発生部２で発生させる基準磁界供給部３とを備え、検査磁界供給部４がループ部で検査誘導電流を発生させるとともに基準磁界供給部３が基準電流発生部２で基準誘導電流を発生させた場合に、電流検出手段５が検出する電流値を基に、該ループ部の良否の判定を行う判定手段８を有する。 （もっと読む）

【課題】検査精度を向上させる。
【解決手段】プローブユニット２を回路基板１１の一方の面側に配設してプローブユニット３を回路基板１１の他方の面側に配設し、配線パターン２１〜２３上に規定された接触ポイントＴＰ１〜ＴＰ３にプローブユニット２のプローブ２ａ〜２ｆのうちの対応する２本を接触させると共に配線パターン３１，３２上に規定された接触ポイントＴＰ１１，ＴＰ１２にプローブユニット３のプローブ３ａ〜３ｄのうちの対応する２本を接触させ、接触ポイントＴＰ１１，ＴＰ１２に接触されているプローブ３ａ，３ｃを短絡させ、プローブ２ｂ，３ｂを使用して内部導体Ａ１に測定電流Ｉ１を供給し、プローブ２ａ，２ｃを使用して測定した接触ポイントＴＰ１，ＴＰ１１間の電圧Ｖ１、および測定電流Ｉ１に基づいて内部導体Ａ１の抵抗を四端子法で測定して内部導体Ａ１の検査を行う。 （もっと読む）

【課題】 製造コストが安く、検査対象基板の電気的な導通状態を判定する判定部と検査プローブとの接続、切断の各作業を単純にすることができる基板検査装置を提供すること。
【解決手段】 フレキシブル基板５７、電気接触子４５、中継基板２１およびワイヤーケーブル１９を介して、判定部７ａに接続された複数の検査プローブ１７をプリント基板３の複数の電気的接点３ａに当接させてプリント基板３の電気的な導通の状態を判定部７ａで判定する。中継基板２１は、ワイヤーケーブル１９に対応するプローブ側端子３１と、電気接触子４５に対応する判定部側端子３３とを備える。複数の電気接触子４５のそれぞれの先端部と中継基板２１の各判定部側端子３３とを接離自在に当接させて複数の検査プローブ１７と判定部７ａとを電気的に接続する。 （もっと読む）

【課題】少ない試験片数で被試験体に関する多くのデータが得られ、耐屈折回数とそのバラツキを容易に把握できる試験用プリント配線基板を提供する。
【解決手段】可撓性絶縁基板１の表面に導電回路２を形成し、該導電回路２が２本以上の導電路を平行に配置し、かつ並列接続した回路からなる試験用プリント配線基板１０とする。試験回路の全抵抗又は端子間電圧の変化から回路の断線を検知して、耐屈折特性を評価する。 （もっと読む）

【課題】従来のはんだ付け状態検の査装置では、実装基板を撓ませるための装置が大掛かりでコスト高になっていた。また、実装基板が均一に撓むことがなく、実装基板の全域にわたって前記はんだ付け不良を検出することが困難であった。
【解決手段】電子部品２６がはんだ付け実装された実装基板２０と、前記実装基板２０を収納するケース１１とを備えた電子機器１０であって、前記実装基板２０は、その周囲を前記ケース１１により支持され、前記ケース１１内には、前記実装基板２０により仕切られた第一の空間１１Ａおよび第二の空間１１Ｂが形成され、前記ケース１１における実装基板２０の支持部は支持部材１２によりシールされ、前記第一の空間１１Ａおよび第二の空間１１Ｂは空気が封入された密封空間に構成される。 （もっと読む）

【課題】 ＣＯＧ型表示モジュールにおいて、駆動用ＩＣの実装検査とＦＰＣの実装検査
を同時に行って検査工数を削減する。
【解決手段】 駆動用ＩＣ１３は駆動用ＩＣ１３内部で互いに電気的に接続された第１、
第２ダミー端子１３ｃ１，１３ｃ２を備え、ガラス基板１１は駆動用ＩＣ１３の第１、第
２ダミー端子１３ｃ１，１３ｃ２が電気的に夫々接続される第１、第２固着用電極１１ｃ
１，１１ｃ２と、第１、第２固着用電極１１ｃ１，１１ｃ２と電気的に接続される第３、
第４固着用電極１１ｅ１，１１ｅ２とを備え、ＦＰＣ１４は第３、第４固着用電極１１ｅ
１，１１ｅ２と電気的に接続される第３、第４ダミー端子１４ｅ１，１４ｅ２と、第３、
第４ダミー端子１４ｅ１，１４ｅ２と電気的に接続される第１、第２検査用電極１４ｇ１
，１４ｇ２とを備える。 （もっと読む）

【課題】バンプ整形処理及び配線パターンの電気的特性に関する検査処置を一連の工程で迅速かつ効率よく行うことができるとともに、設備コストや設置面積等の面で効率が図れ、また作業者の手間を削減できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】ハンダバンプが付与された基板に対する処理を行う基板処理装置（１）であって、基板に付与されたハンダバンプを整形するバンプ整形部（１２）と、基板の搬送経路におけるバンプ整形部（１２）の上流側又は下流側に設けられ、ハンダバンプにプローブを導通させて、ハンダバンプを含む基板に設けられた配線パターンの電気的特性を検査する電気特性検査部（１１）と、基板を搬送経路に沿って搬送する基板搬送機構（１５）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】電源部と被測定部との間で電流値を測定する低コストな基板検査装置の提供
【解決手段】絶縁回路部ＩｎＣ−ｙは、オペアンプＡ２−ｙ、抵抗Ｒｓ−ｙ、ツェナーダイオードＤ１−ｙ、リミッターＬＭ−ｙ、抵抗Ｒ２−ｙ、ダイアックＤ２−ｙ、及びオペアンプＡ３−ｙを有している。オペアンプＡ２−ｙの非反転入力端子には、オペアンプＡ１の出力が接続される。オペアンプＡ２−ｙの出力は、抵抗Ｒｓ−ｙ、リミッターＬＭ−ｙを介して、基板接続部ＭａＲ−ｙの入力端子に入力される。オペアンプＡ２−ｙの出力は、オペアンプＡ３−ｙ等を介して、オペアンプＡ２−ｙの反転入力端子に入力される。これにより、電源部ＥＣ−と基板接続部ＭａＲ−ｙ間で、複数の被測定抵抗Ｒｘ−ｙに流れる電流値を同時に計測し、また、ある被測定部Ｒｘ−ｙの短絡時においても、他の被測定部Ｒｘ−ｙに流れる電流値を正確に計測できる。 （もっと読む）

【課題】電源部と被測定部との間で電流値を測定する基板検査装置であって、被測定部との接続状態を示すものの提供
【解決手段】ハイサイド型マイグレーションテスター１では、リード線Ｌ１及びリード線Ｌ２が接続されている場合、オペアンプＡ５の出力電圧は、電流端子Ｔｃ１の電圧と等しい。一方、リード線Ｌ１及びリード線Ｌ２が接続されていない場合、オペアンプＡ５の出力電圧は、電流端子Ｔｃ１の電圧に警告用電源Ｅｄ１の電圧を加えた電圧となる。このように、リード線Ｌ１及びリード線Ｌ２が接続されている場合とリード線Ｌ１若しくはリード線Ｌ２、又は両方が接続されていない場合とでは、オペアンプＡ５から出力される電圧が異なるので、この電圧に基づき、使用者に対して、リード線Ｌ１、リード線Ｌ２の接続状態に対する警告を発することができる。 （もっと読む）

【課題】より簡易に信頼性の高い導電パターンの状態検査を行う。
【解決手段】導電パターン検査装置１０は、検査対象パターン１４の一端に静電結合されたセンサ電極１８と、全導電パターン１４の他端と静電結合された給電電極１６を有する。そして、給電電極１６とセンサ電極１８とを介して対象パターンに交流信号を印加し、電源２０とセンサ電極１８の間に流れる電流値を検出する。検出された電流値に基づいて導電パターンの断線および短絡の有無を検出する。 （もっと読む）

【課題】基板上の回路パターンの配置の自由度が高く、且つ、シート状のフレキシブル基板などのような薄くて撓みやすい基板も搬送可能な搬送装置、および検査装置を提供すること。
【解決手段】本発明にかかる搬送装置は、プリント基板を搬送する搬送装置において、搬送対象のプリント基板をローラまたはベルトで上下から挟み、前記ローラまたはベルトの少なくとも何れか１つに、前記プリント基板を搬送する駆動力を付与するように構成された搬送機構を備えるとともに、プリント基板の幅に応じて搬送幅を調整し得る搬送幅調整機構を備えている。 （もっと読む）

【課題】回路基板に形成された配線パターンを正確に検査し得る検査装置を提供する。
【解決手段】回路基板５に形成されたバンプ１と外部接続端子２とを接続する配線パターン３を検査可能な検査装置１１であって、バンプ１を帯電させる帯電装置１２と、外部接続端子２に接続されると共にバンプ１に帯電している電荷を配線パターン３を経由して放電させる放電ギャップ１６と、放電によって配線パターン３に流れる放電電流Ｉ１を測定すると共に測定した放電電流Ｉ１に基づいて配線パターン３を検査する処理部１９とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 配線パターンの表面に傷をつけることなくその表面上に形成されている酸化膜の一部を除いてプローブと配線パターンとの接触抵抗を低減させることを目的とする。
【解決手段】 基板検査用プローブ移動手段の移動の経路の延長線上に検査用基板移動手段の移動の経路上の第１の接触位置が存在するように、基板検査用プローブ移動手段の移動の方向が、検査用基板移動手段の移動の経路と交差し、制御手段が、検査用基板移動手段及び基板検査用プローブ移動手段をそれぞれ第１及び第２の原位置から第１及び第２の接触位置まで移動して基板検査用プローブの端部と検査用基板の配線パターンの所定の検査点と接触させ、それからさらに、検査用基板移動手段及び基板検査用プローブ移動手段をそれぞれ第１の検査位置及び第２の検査位置まで移動する。 （もっと読む）

【課題】不純物があった場合でも、より精度良く微細な絶縁不良を発見できるようにした回路検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】測定した抵抗値が基準値より高い場合には、高い電圧２と極性が異なる高い電圧３を出力するように制御を行う。所定のタイミングで極性切換をおこなったのち、測定部１３はプローブ１１間に流れる電流を測定する。続いて測定した回路間の抵抗値を基準値と比較する。測定した抵抗値が基準値より低い場合には絶縁不良であると判定し、結果を記録部１５に記録する。測定した抵抗値が基準値より高い場合には、前記回路間を良品と判定して、当該回路間の絶縁検査を終了する。本発明では、微妙な絶縁不良も見逃すことなく、かつ当該絶縁不良箇所を焼損等の変質を生じさせることなく、的確に絶縁不良を発見することができる。 （もっと読む）

【課題】テスタ基板およびテスト装置を小型化・コンパクト化し、安価なプリント基板検査装置を得る。
【解決手段】被検査基板１の全検査ランドとそれに接続するテスト端子を持ち被検査基板１の上または下に位置させるテスタ回路基板２４と、被検査基板１とテスタ回路基板２４との間に介在し検査ランドとテスト端子間を導通状態にするとともに測定ポイントを変換する測定ポイント変換治具２２と、テスト端子によって全検査ランドのうち一箇所の検査ランドのみに電気信号を与え他の検査ランドでの電気信号の有無を検出するテスタ回路と、を備え、テスタ回路は、電気信号を与える被検査プリント基板の検査ランドを切り換えながら他の検査ランドでの電気信号の有無を検出する動作を全検査ランドに渡って繰り返し、全検査ランド間の導通状態を検出してプリント基板パターンの切断と短絡を検査する。 （もっと読む）