本発明は、好ましくはダミー部品である部品５が半田接続部７により実装されたプリント回路板３で構成されている回路２を試験する装置１に関し、該装置は、回路２をスケジュールに従った熱機械的ストレスおよび／または振動ストレスにさらすための筐体８と、電気抵抗１１，１２のブリッジ１０を有するハードウェア部９と、１つまたは複数の半田接続部の劣化を表す検出基準を設定するための、また、試験結果を表示するための手段１６〜２３を有するソフトウェア部１３と、試験対象の半田接続部からなるチェーンの電気抵抗１２の各測定値をソフトウェア部が利用できるデータに変換する入出力インタフェース１４と、半田接続部の劣化の検出基準を修正するための調整手段２４〜２９と、を備える。 （もっと読む）

【課題】後の製造工程で発生する可能性がある進行性の欠陥を見出す方法の提供。
【解決手段】基板９、配線パターン（第１の配線パターン）１０、層間絶縁膜１１および配線パターン（第２の配線パターン）１２によって構成される回路基板に対して、バイアス電源８に接続したグリッド部５を通過したプラズマ生成部２で発生させたプラズマを照射して、前記回路基板に電気的ストレス及び熱ストレスを掛けることにより、進行性を有する欠陥を顕在化させるスクリーニング装置１及びそれによるスクリーニング方法である。 （もっと読む）

【課題】専用で製作する部分を減少させ、製造コストの低減化、保管スペースの省略化を図り、且つ、製作部品の削減及び製作工数の減少を可能にする。
【解決手段】検査治具２４にはスキャナー２５に接続した中継用接触針４２が設けられ、中継用接触針４２と検査用接触針２９との間には、両者を電気的に接続するための接続専用基盤４１が配設され、接続専用基盤４１の表面における検査用接触針２９の検査位置と対応する箇所に検査専用ランド５０が形成され、且つ、接続専用基盤４１の裏面における中継用接触針４２の固定位置と対応する箇所に中継汎用ランド５１が形成され、接続専用基盤４１の裏面側の中継汎用ランド５１及び中継用接触針４２を含む構成部分を汎用化できるように構成する。 （もっと読む）

【課題】導電パターン間の短絡を検出する際に、同一の周波数の検査信号を用いることのできる回路パターン検査装置を提供する。
【解決手段】隣接する２つの導電パターン２ａ、２ｂに同じ周波数で同じ波形を有し、位相が反転した２つの検査信号Ｓ１、Ｓ２をそれぞれに印加し、導電パターン２ａ、２ｂ上方を非接触でセンサ部４を移動させて検査信号を検出部５においてそれぞれに検出する。センサ部４が短絡した箇所に接近するに従い、印加された検査信号が互いに打ち消されて、その検出値が急峻に減少することにより、短絡発生位置１００を見出す。 （もっと読む）

【課題】検査時間を一層短縮する。
【解決手段】導体パターンＰ１〜Ｐ４０をＮ個（この例ではＮ＝４）の検査グループＧ１〜Ｇ４にグループ分けすると共に、Ｎ組の検査用プローブを使用して各検査グループＧ毎の第１の導体パターンＰおよび第２の導体パターンＰの間の絶縁状態を、第１の導体パターンＰ同士を同電位（Ｈ電位）にすると共に第２の導体パターンＰ同士を同電位（Ｌ電位）にした状態で各検査グループＧに対して同時に検査する第１の検査処理を各導体パターンＰに対する一対の検査用プローブの接触態様を変更して複数回（この例では第１〜４５回の計４５回）に亘って実行すると共に、異なる検査グループＧにグループ分けした各導体パターンＰのうちの近接する一対の導体パターンＰのうちの一方をＨ電位にすると共に他方をＬ電位にした状態で一対の導体パターンＰの間の絶縁状態を検査する第２の検査処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】検査時間を一層短縮する。
【解決手段】各導体パターンＰ１〜Ｐ４０を検査グループＧ１〜Ｇ４にグループ分けして、各検査グループＧ毎の第１の導体パターンＰおよび第２の導体パターンＰの間の絶縁状態を、第１の導体パターンＰ同士を互いに同電位（Ｈ電位）にすると共に第２の導体パターンＰ同士を互いに同電位（Ｌ電位）にした状態で各検査グループＧに対して同時に検査する第１の検査処理を電圧供給部の高電位出力部および低電位出力部と各検査用プローブとの接続態様を変更して複数回（この例では第１〜９回の計９回）に亘って実行すると共に、各検査グループＧ内の各導体パターンＰを共通的にＨ電位およびＬ電位のいずれかの電位にした状態で各検査グループＧの相互間の絶縁状態を検査する第２の検査処理（この例では第１０，１１回の計２回の検査処理）を実行して、各導体パターンＰの間の絶縁状態を検査する。 （もっと読む）

【課題】多面付け基板の絶縁検査に要する時間を一層短縮する。
【解決手段】Ｎ個（この例では、４個）の回路基板１１０ａ〜１１０ｄが面付けされた多面付け基板１００を検査対象として検査するときに、回路基板１１０ａ〜１１０ｄ毎の第１の導体パターンＰおよび第２の導体パターンＰの間の絶縁状態を、Ｎ組（この例では、４組）の検査用プローブを使用して第１の導体パターンＰ同士を互いに同電位（Ｈ電位）にすると共に第２の導体パターンＰ同士を互いに同電位（Ｌ電位）にした状態で各回路基板１１０ａ〜１１０ｄに対して同時に検査する第１の検査処理を各導体パターンＰに対する一対の検査用プローブの接触態様を変更して複数回（この例では、第１〜４５回の計４５回）に亘って実行する。 （もっと読む）

【課題】検査対象基板の絶縁検査に要する時間を短縮する。
【解決手段】（（Ｍ−１）＜ｌｏｇ_２Ｎ≦Ｍ）の条件を満たすＭ回の各検査処理時に電圧供給部の高電位出力部に接続する各検査用プローブ（第１の導体パターンに接触させる検査用プローブ）および電圧供給部の低電位出力部に接続する各検査用プローブ（第２の導体パターンに接触させる検査用プローブ）の間の静電容量が小さい切替え状態の検査処理から順にＭ回の検査処理を実行すると共に（ステップ２４）、各検査処理時において、静電容量の大きさに応じて長く各検査処理毎に規定した待機時間を検査用電圧の供給開始後に待機した後に電気的パラメータを測定し、かつ、各第１の導体パターンおよび各第２の導体パターンの間の絶縁状態が不良と判定したときに（ステップ２５）検査中の検査対象基板に対する検査を終了する。 （もっと読む）

【課題】皺を生じさせることなく吸着対象体を確実に吸着し得る吸着装置を提供する。
【解決手段】上面２１に複数の吸気孔２２が形成されて上面２１に回路基板１００を載置可能に構成された箱状の載置台１１と、載置台１１の内部空間の空気を吸引する吸引機構１２と、吸引機構１２を制御して内部空間の空気を吸引させることによって上面２１に載置された回路基板１００を上面２１に吸着させる吸着処理を実行する制御部とを備え、載置台１１は、内部空間を区画して形成された複数の区画領域（３１ａ〜３１ｄ）が上面２１に沿って並設されて構成され、吸引機構１２は、各区画領域内の空気を各区画領域毎に個別に吸引可能に構成され、制御部は、吸着処理時において、吸引機構１２を制御して、吸引状態の区画領域の数を徐々に増加させて上面２１に吸着させる回路基板１００の吸着面積を徐々に増加させる。 （もっと読む）

【課題】検査用コネクタと被検査コネクタとを容易に嵌合させる。
【解決手段】検査用コネクタ１７が設けられた検査板１６に対して保持板１１を介して接近又は離間するように移動可能に構成された可動部材２２を有し、検査板１６には第１磁性体２０が設けられ、可動部材２２には第１磁性体２０と吸引し合う第２磁性体２３が設けられ、可動部材２２を検査板１６に接近させた場合に、検査用コネクタ１７が被検査コネクタ５に嵌合する適正位置に配置されているときには第１磁性体２０及び第２磁性体２３の吸引力により可動部材２２を検査板１６に接近させた位置に保持すると共に検査用コネクタ１７を被検査コネクタ５に電気的に接続し、検査用コネクタ１７が適正位置に配置されていないときには可動部材２２を可動部材２２の自重により検査板１６から離間させるように構成されている。 （もっと読む）

【課題】 小サイズの多数の被検査電極を有する被検査回路基板でも所要の電気的接続が達成され、被検査電極の突出高さにバラツキがあっても、異方導電性エラストマーシートに長い使用寿命が得られ、全ての被検査電極に対して安定した電気的接続が達成される電気抵抗測定用シート、コネクター装置および回路基板の電気抵抗測定装置の提供。
【解決手段】 本発明の電気抵抗測定用シートは、絶縁性シートの表面に被検査電極に対応して配置された、２つの電流供給用電極および２つの電圧測定用電極よりなる接続用電極組と、絶縁性シートの裏面に配置された、電流供給用電極および電圧測定用電極の一方に電気的に接続された中継電極とを有し、厚み方向に透視したときに、中継電極が、電流供給用電極および電圧測定用電極に重ならない位置に配置されている。 （もっと読む）

【課題】適切なプロービング位置を確実に特定して位置データを生成する。
【解決手段】基板本体１０１のランド１１２に電子部品１０２の接続端子（１２２ａ〜１１２ｈ）が接続されている回路基板１００の検査時において検査用プローブをプロービングさせるプロービング位置を特定して位置データを生成するデータ生成部と、接続端子の先端部１２３の位置を特定可能な電子部品データ、電子部品の実装時に用いられる実装データ、および配線パターンの形成時に用いられる配線パターンデータを記憶する記憶部とを備え、データ生成部は、実装状態における先端部１２３の位置を電子部品データおよび実装データに基づいて特定すると共に、その位置にランド１１２が存在するか否かを配線パターンデータに基づいて判別して、その位置にランド１１２が存在すると判別したときにランド１１２の位置をプロービング位置として特定する。 （もっと読む）

【課題】多面付け基板に含まれる回路基板についての基準データの作成に要する時間を短縮する。
【解決手段】各プローブ３ａ〜３ｄを独立して移動させる移動機構４と、同種の回路基板が複数面付けされた多面付け基板１１の各回路基板に対して、移動機構４を制御して回路基板に形成された複数の導体パターンについての検査処理を並行して実行する処理部６とを備え、処理部６は、４個のプローブ３ａ〜３ｄを用いて４個の回路基板に対して、対電極間静電容量を測定する測定処理および対電極間静電容量を測定した各導体パターンの良否を判別する良否判別処理を並行して実行すると共に、良否判別処理において導体パターンのすべてが良であると判別された回路基板が存在しているときにこの回路基板で測定された対電極間静電容量に基づいて検査処理のための基準データＤｒを作成して設定する。 （もっと読む）

【課題】 安定した導通接触状態となる電極部を備える基板検査治具の提供。
【解決手段】 基板検査治具１は、一方の端部が検査点に圧接される導電性を有する複数の棒状部材２と、他方の端部と導通接続するために該他方の端部と対向して配置された電極部４１を備える、基板検査装置に電気的に接続される電極体４と、棒状部材２の一方の端部を所定検査点に案内する案内孔３１１と、該棒状部材の他方の端部を所定電極部４１に案内する接続孔３５１を有する保持体３を有してなり、電極部４１は、棒状部材２の他方の端部と導通接続するために、該他方の端部の表面と接触するとともに該棒状部材の長軸方向に伸縮するコイルばね４１０と、コイルばね４１０と導通接続するとともに基板検査装置と電気的に接続される導線部４４を有し、コイルばね４１０は、棒状部材２の他方の端部に導通接触する粗巻部４１１と、該粗巻部と連続するとともに導線部４４と電気的に接続される蜜巻部４１２から形成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】検査効率および検査精度を向上する。
【解決手段】第１領域Ａ１に搬送された基板保持部（１１ａ，１１ｂ）に保持されている回路基板１００の標識の位置を検出する第１検出処理を実行する検出部と、検出された標識の位置から特定される位置ずれ量に基づいて接触位置を補正する補正処理を実行して第２領域Ａ２に搬送された基板保持部に保持されている回路基板１００に検査装置プローブ４２を接触させて検査する検査処理を第１検出処理と並行して実行する検査部とを備え、検査部は、第２領域Ａ２に搬送された基板保持部に保持されている回路基板１００における標識の位置を検出する第２検出処理を実行すると共に、補正処理において、第１検出処理で検出された標識の位置から特定される位置ずれ量と第２検出処理で検出された標識の位置から特定される位置ずれ量とに基づいて接触位置を補正する。 （もっと読む）

【課題】プローブの種類を自動で判別して、適合するプローブで確実に検査する。
【解決手段】複数種類のプローブ２１ａが交換可能に装着される検査ヘッド４，５と、検査ヘッド４，５を移動させる移動機構と、移動機構を制御して検査ヘッド４，５を移動させることにより、検査ヘッド４，５にプローブ６，７として装着されたプローブ２１ａの針先３３を基板に予め規定された検査ポイントに接触させる処理部とを備えた回路基板検査装置であって、プローブ６，７は、検査ヘッド４，５に装着された状態において針先３３の位置が種類毎に異なるように予め規定された領域Ａ〜Ｄ内に位置するように構成され、処理部は、検査ヘッド４，５にプローブ６，７として装着されているプローブ２１ａの針先３３が位置している領域を検出すると共に、検出した領域に基づいて、プローブ２１ａの種類を判別する。 （もっと読む）

【課題】 多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。
【解決手段】 積層された複数の配線層と、前記各配線層に配置された欠陥識別用パターンと、前記各欠陥識別用パターンに対して設けられた入力部及び出力部と、前記各入力部に接続された入出力用信号線評価パターンとを含む。 （もっと読む）

【課題】安価な装置で効率よく回路断線の検査を行う。
【解決手段】回路断線検査装置１は、複数の列状の回路１５からなる回路パターン９に形成されている被検査体３を載置して固定する被検査体固定台５と、この被検査体固定台５を載置して固定するために広い面積を有する基準電位金属部材７と、被検査体固定台５に載置する被検査体３の回路パターン９の長さ方向で一定距離の間隔の両側の複数の回路１５の直上に配置し、かつ複数の回路１５を同時に測定可能な大きさを有する第１，第２検査電極１１、１３と、第１，第２検査電極１１、１３と被検査体３の回路パターン９の両側の複数の回路１５を同時に接触又は非接触的に近接すべく第１，第２検査電極１１、１３を押圧、離反可能に設けた第１，第２可動部材１７，１９と、第１，第２検査電極１１、１３の間の交流電圧及び被検査体３に流れる交流電流を測定する測定装置２３と、で構成されている。 （もっと読む）

【課題】オフセット取得用の基準基板を用いることなく、基板検査中であっても簡便迅速に、しかもプローブを破損させることなく、プローブのＺ軸方向のオフセットを取得することができる基板検査装置およびそのＺ軸オフセット取得方法を提供する。
【解決手段】基板固定装置１は、基板５０にプローブ３ａ,３ｂを接触させて電気的検査を行う基板検査装置１であって、プローブ３ａ,３ｂを着脱可能に固定すると共に移動させるＺ軸ユニット２ａ,２ｂと、Ｚ軸方向の位置が既知な導電部５と、プローブ３ａ(３ｂ)および導電部５の電気的導通を検出する測定部１０と、Ｚ軸方向に沿ってプローブ３ａ(３ｂ)を導電５に近づけさせて、プローブ３ａ(３ｂ)および導電部５の導通が検出されたときのプローブ移動量に基づいてプローブ３ａ(３ｂ)先端のＺ軸方向のオフセットを取得する制御部１１と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】小型の電子部品に対して、絶縁耐圧試験を正確かつ簡易に実行することができる回路検査装置を提供する。
【解決手段】複数の回路１０ａ〜１０ｊの一端に検査信号を供給するための供給電極１２ａ〜１２ｊを保持する供給電極保持部材１２と、容量結合型電極１４を介して複数の回路１０ａ〜１０ｊの他端から検査信号を検出する接触検査用電流計１３と、複数の回路１０ａ〜１０ｊ間の漏れ電流を検出する漏れ電流検査用電流計１６と、複数の回路１０ａ〜１０ｊから１つの回路を選択し、選択された回路１０ａの一端を供給電極１２ａを介して電源１１に接続するとともに、他の回路１０ｂ〜１０ｊの一端を漏れ電流検査用電流計１６に接続する接続切替スイッチ１７と、を備える。 （もっと読む）