【課題】微小な放電の発生を確実に検出でき、一対の配線パターン間の絶縁状態を正確に検出する。
【解決手段】反転入力端子が絶縁検査の対象となる一対の配線パターン３，４のうちの配線パターン４に接続されると共に非反転入力端子が基準電位Ｇに接続され、かつ出力端子と反転入力端子との間に帰還回路１６ｂが接続された演算増幅器１６ａを有し、検査電圧Ｖ１の印加時に一対の配線パターン３，４間に流れる検査電流Ｉ１を配線パターン４を介して入力すると共に演算増幅器１６ａで電圧信号Ｖ４に変換して出力する電流検出部１６を有する絶縁検査装置１であって、演算増幅器１６ａにおける反転入力端子の電圧Ｖ５が基準電圧Ｖｒｅｆを超えたときに、一対の配線パターン３，４間に放電が発生したことを示す放電検出信号Ｓ１を出力する放電検出部１８を備えている。 （もっと読む）

【課題】電子回路にかかる負荷を低減して電子部品の端子浮きを検査する検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】
信号端子に保護ダイオードを内部に有する電子部品を搭載したプリント基板１０３にプローブ１０５を接触させ、保護ダイオードに順方向となる電圧を印加して電気的特性値を取得し、取得した電気的特性値を用いて端子浮き検査をする。振動機構９は、プリント基板１０３に対して電子部品を引き離す方向或いは押し上げる方向に交互に振動させる。この振動に同期して、振動が電子部品を引き離す方向であるときに複数回プローブ１０５を介してパルス信号を印加し、プローブ１０５を流れる電気的特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】位置決めの再現性を高い状態に維持しつつ、２つの部材間の位置を簡易に調整する。
【解決手段】Ｙ軸方向に沿って配列された一対の第１孔１１で構成される複数の第１基準孔７ａ〜７ｄが第１配列でベース部２の各取付け位置Ｇに形成され、一対の第２孔２４で構成され各第１基準孔７ａ〜７ｄに一対一で対応する複数の第１位置決め孔２３ａ〜２３ｄが、第１位置決め孔２３ａを第１基準孔７ａに一致させた状態において、他の第１位置決め孔２３ｂ〜２３ｄが対応する第１基準孔７ｂ〜７ｄに対してＸ軸方向に第１単位長ずつ異なる距離だけ離間する第２配列で各第１連結部材５の第１板体２１に形成され、第１位置決め孔２３ａ〜２３ｄのうちから選択した１つの第１位置決め孔と対応する１つの第１基準孔とを一致させて一対の第１連結部材５をベース部２に取り付けた状態で、２つの部材としてのベース部２およびピンボードを連結する。 （もっと読む）

【課題】被検査基板に温度ストレスをかけつつ検査時間を短縮することができる基板検査装置を提供する。
【解決手段】被検査基板８を冷却する冷却プレート２２１を備えた冷却保持部２２と、被検査基板８を加熱する加熱プレート２４１を備えた加熱保持部２４と、冷却プレート２２１及び加熱プレート２４１の前記載置部位への被検査基板８の搬送を予め設定した順番で行う搬送部３２と、冷却保持部２２により冷却された被検査基板８及び加熱保持部２４により加熱された被検査基板８を検査する移動式プローブ３７，３８とを備え、制御部は、動式プローブ３７，３８によって、冷却プレート２２１及び加熱プレート２４１のうちいずれか一方のプレートにおける基板の検査を行わせている間に、搬送部３２によって、他方のプレートにおける基板の搬送を行わせる。 （もっと読む）

【課題】放電の発生を検出する放電検出回路の動作確認を正確に行う。
【解決手段】端子６５ａ，６５ｂに対する検査用信号Ｖｅの供給によって端子６５ａ，６５ｂの間に生じる端子間電圧Ｖｍが参照電圧Ｖｒ以上のときに第１信号Ｓ１を出力するコンパレータ６１と、コンパレータ６１から第１信号Ｓ１が出力されたときに予め決められた時間長ｔの第２信号Ｓ２を生成して出力するワンショット回路６２と、端子６５ａ，６５ｂに接続されるインピーダンス回路６３と、第２信号Ｓ２を入力して時間長ｔだけインピーダンス回路６３と端子６５ａ，６５ｂ入力用端子とを接続させるスイッチ回路６４とを備えて、回路基板１００に検査用信号Ｖｅを供給して行う検査において検査用信号Ｖｅの供給に伴う放電の発生を検出する放電検出部５の動作確認に用いられる擬似放電を端子６５ａ，６５ｂの間に発生させる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、基板の電気的な特性を検査する装置及びその方法を提供する。
【解決手段】本発明による基板検査装置１００は、基板の前面に対向する上部検査板１１２と、基板の背面に対向する下部検査板１２２と、基板と上部及び下部検査板１１２、１２２との間に配置され、基板と上部検査板１１２及び下部検査板１２２のうちの少なくともいずれか一つとを電気的に接続するインターフェース部１３０を含む。 （もっと読む）

【課題】基板配線検査装置の動作不良をより確実に検出できる方法を提供する。
【解決手段】所定パターンの配線が形成される良ピース領域と、この所定パターンに所定の欠陥を設けた欠陥パターンの配線が形成される不良ピース領域とが、動作チェック用基板にそれぞれ形成されている。そして、動作チェック用基板の検査を基板配線検査装置において行う場合、良ピース領域の配線については、所定パターンの配線を正常な配線と見なして行う検査（第１検査）が実施され、不良ピース領域の配線についても、所定パターンの配線を正常な配線と見なして行う検査（第２検査）が実施される。 （もっと読む）

【課題】放電の発生を検出する放電検出部の動作確認を正確に行う。
【解決手段】回路基板１００にプローブ２００，２００を介して検査用信号Ｖｅを供給したときに生じる物理量に基づいて回路基板１００の抵抗値を測定する制御部８と、回路基板１００に対する検査用信号Ｖｅの供給に伴う放電の発生を検出する放電検出部５と、制御部８による抵抗値の測定精度を確認する際に用いる負荷回路６と、負荷回路６とプローブ２００，２００とを接続させるスイッチ回路７とを備え、制御部８は、プローブ２００，２００に検査用信号Ｖｅが供給されている状態においてスイッチ回路７によって負荷回路６とプローブ２００，２００とが接続されたときに発生する擬似放電を用いて放電検出部５の動作確認の処理を行う。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、配線の微細化や高密度化、あるいは検査回数の増加により、検査用プローブや検査対象からの発熱量が増加する場合でも、検査用プローブの位置ずれを抑制して、検査対象の損傷を回避し、生産性を向上することができるサスペンション用フレキシャー基板の検査装置、検査方法、およびサスペンション用フレキシャー基板の製造方法を提供することを目的とするものである。
【解決手段】 検査冶具の周囲の温度を計測し、計測した温度が所定の上限温度を超える場合には、所定の下限温度以下になるまで前記検査冶具の周囲に冷気を与えることで、検査冶具の周囲の温度を所望の温度範囲に制御した状態にし、その状態で導通検査することにより、上記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】オフセット量を正確かつ容易に取得する。
【解決手段】第１の位置情報に基づいて特定される位置Ｏｂ上にビーム照射部が位置するように移動させた後に、照射部をＸ方向（矢印Ａ１，Ａ２の向き）に移動させながらレーザービームを照射させたときのレーザービームの反射光量の変化、およびＹ方向（矢印Ｂ１，Ｂ２の向き）に移動させながら照射させたときの反射光量の変化に基づいてマーク２１の位置Ｍｘ１，Ｍｘ２，Ｍｙ１，Ｍｙ２を取得すると共に、位置Ｍｘ１，Ｍｘ２，Ｍｙ１，Ｍｙ２と、第２の位置情報とに基づいて基板保持機構によって保持されているオフセット量取得用基板におけるマーク２１の位置Ｍｂを特定し、位置Ｍｂ，ＯｂのＸ方向に沿った位置ずれ量Ｘｂ、およびＹ方向に沿った位置ずれ量Ｙｂを、照射部のＸ方向に沿った移動量、およびＹ方向に沿った移動量をそれぞれ補正するためのオフセット量として特定する。 （もっと読む）

【課題】高電圧の印加によって発生した不良箇所についてダメージを進行させることなく、検出する。
【解決手段】処理部１０は、電圧生成部７を制御して予め決められた高電圧を検査用電圧ＶｅＨとして検査対象の導体パターン３，４間に印加させたときの導体パターン３，４間の絶縁抵抗Ｒに基づいて導体パターン３，４間の絶縁状態を検査する高圧検査処理を実行し、高圧検査処理において絶縁状態が良好であると判別された導体パターン３，４間に対して電圧生成部７を制御して高電圧よりも低い低電圧の検査用電圧ＶｅＬを印加させたときの導体パターン３，４間の絶縁抵抗Ｒに基づいて絶縁状態を検査する低圧検査処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】絶縁検査の検査精度を向上する。
【解決手段】各導体パターンの一部を第１グループとして設定すると共に他の全ての導体パターンを第２グループとして設定し、第１グループの導体パターンを高電位および低電位のいずれか一方の電位で同電位とし第２グループの導体パターンを高電位および低電位の他方の電位で同電位としつつ検査用信号を供給させて各導体パターンの間の絶縁状態を検査する第１絶縁検査を、第１グループおよび第２グループとして設定する導体パターンの組み合わせを変更しつつ実行する検査部を備え、検査部は、第１絶縁検査の実行後において、第１グループの導体パターンを他方の電位で同電位とし第２グループの導体パターンをいずれか一方の電位で同電位としつつ検査用信号を供給させて各導体パターンの間の絶縁状態を検査する第２絶縁検査を、第１絶縁検査における組み合わせと同じ組み合わせについて実行する。 （もっと読む）

【課題】手順データ作成用プログラムのインストール作業や更新作業、および基板検査装置による検査前の準備作業や検査手順データの更新作業にかかる負担を軽減する。
【解決手段】検査手順データＤ２に従って検査対象基板を検査する基板検査装置２と、手順データ作成用プログラムＤ１およびデータＤ２を記憶するＨＤＤ２２を備えると共に通信ネットワークＮに接続された管理装置３とを備え、管理装置３は、ネットワークＮを介して接続されたクライアント端末ＰｃによるプログラムＤ１の実行環境を提供するアプリケーションサーバとして機能すると共に、プログラムＤ１の実行によって作成されたデータＤ２を検査装置２および端末Ｐｃによる読み出しが可能にＨＤＤ２２に記憶させて保持するファイルサーバとして機能するように構成され、検査装置２は、ネットワークＮを介して管理装置３から読み出したデータＤ２に従って検査対象基板を検査する。 （もっと読む）

【課題】絶縁検査の検査精度を向上させる。
【解決手段】Ｍ個の導体パターンの一部を第１グループとし、他の導体パターンの一部または全部を第２グループとして、第１グループの導体パターンと第２グループの導体パターンとの間の絶縁状態を検査する絶縁検査を（Ｍ−１）回実行する検査部を備え、検査部は、１回目の絶縁検査において、１つ目の導体パターンを第１グループとして設定すると共に他の全ての導体パターンを第２グループとして設定し、２回目からＮ回目の絶縁検査において、直前の絶縁検査で第２グループに属していた各導体パターンの１つを第１グループに加え、（Ｎ＋１）回目の絶縁検査から（Ｍ−１）回目の絶縁検査において、直前の絶縁検査で最も早くから第１グループに属していた１つの導体パターンを第１、第２グループから除外すると共に直前の絶縁検査で第２グループに属していた各導体パターンの１つを第１グループに加える。 （もっと読む）

【課題】配線基板の電気検査を低コストかつ短時間で実施することが可能な電気検査用冶具を提供するとともに、この電気検査用冶具を用いることにより、低コストかつ短時間で配線パターンの電気検査を伴う配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】複数の第１の配線を有する電気検査用治具本体と、複数の第２の配線及びこれら複数の第２の配線それぞれと電気的に接続されてなる複数のプローブを有する電気検査用治具ヘッドと、前記電気検査用冶具及び前記電気検査用冶具ヘッド間に挟まれ、前記複数の第1の配線における少なくとも一部の配線それぞれと前記複数の第２の配線それぞれとを電気的に接続する複数の第３の配線を有する電気検査用治具接続体とを備えるように電気検査用治具を構成し、この電気検査用冶具を用いて配線基板のパターン検査を実施して配線基板を製造する。 （もっと読む）

【課題】電流電圧変換部の応答速度を高めて絶縁検査の時間を短縮する。
【解決手段】検査電圧Ｖ１の印加時に導体パターン５１間に流れる検査電流Ｉ１を電圧Ｖｉに変換する電流電圧変換部５と、検査電圧Ｖ１の電圧値および電圧Ｖｉの電圧値で示される検査電流Ｉ１の電流値に基づいて導体パターン５１間の抵抗Ｒｓを算出して導体パターン５１間の絶縁検査を実行する処理部７とを有し、一方の導体パターン５１とグランド電位との間に接続された可変コンデンサ３を備え、処理部７は、検査対象の導体パターン５１、電流電圧変換部５を構成する演算増幅器５ａの反転入力端子と出力端子との間に接続されたレンジ抵抗の抵抗値Ｒｆおよび固定コンデンサ５ｆの容量値Ｃｆに対応させて可変コンデンサ３の容量値Ｃｏを予め規定された値に設定し、この状態での検査電圧Ｖ１の電圧値および検査電流Ｉ１の電流値に基づいて抵抗Ｒｓを算出する。 （もっと読む）

【課題】 x軸方向及びｙ軸方向にマトリクス状に配置される配線を有するタッチパネルを、非接触検査方式にて検査を実施することで、検査時間を短縮して効率良く検査を実施することが可能となる検査装置の提供。
【解決手段】 ｘ軸表示配線及びｘ軸タブ配線からなるｘ軸配線とｙ軸表示配線及びｙ軸タブ配線からなるy軸配線とを有する検査物の検査装置であって、検査物を載置する導電性の載置台と、検査対象となるｘ軸表示配線の一端に非接触で配置される一端検出部と、他端に非接触で配置される他端検出部と、中央に非接触で配置される中央検出部と、ｘ軸タブ配線の接続端に非接触で配置される第二検出部と、一端検出部と中央検出部の一端検出信号、他端検出部と該中央検出部の他端検出信号並びに、第二検出部のタブ検出信号とを基に、x軸配線の導通状態を判定する判定手段を有していることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】検査精度を低下させることなく、検査対象基板を短時間で容易に検査する。
【解決手段】検査用プローブ３２ａ，３２ｂを別個独立して移動させてプロービング位置にプロービングさせて検査対象基板１０を検査するフライングプローブ式検査装置３と、プローブユニット５２を検査対象基板１０に向けて移動させて各検査用プローブを検査対象基板１０にプロービングさせて検査対象基板１０を検査する治具型プローブ式検査装置５と、基板保持部６３が設けられたインデックステーブル６２を回転させることで検査対象基板１０を搬送する回転式基板搬送装置６と、搬送装置６、検査装置３，５を制御する制御装置とを備え、搬送装置６が、検査装置３によって検査対象基板１０が検査される第１検査位置、および検査装置５によって検査対象基板１０が検査される第２検査位置に検査対象基板１０を搬送可能に構成されている。 （もっと読む）

【課題】 安価で簡便な装置で多数の測定対象に対する検査を短時間で行うことができる検査装置、及び電子装置の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明にかかる検査装置は、プローブ２２を介して電子装置の接続部にパルスを印加し、パルスの反射波を測定することで接続部の電気的接続を検査する検査装置であって、パルスを発生させるパルス発生装置４１と、パルス発生装置４１で発生されたパルスを伝送する伝送路３、２３と、伝送路３、２３から伝送されるパルスを分配し分配された複数のパルスを複数の接続端部２４ａよりプローブ２２に伝送する分配器２４と、分配器２４で分配された複数のパルスを電子装置の接続部に印加したときの電子装置からの反射波を測定する測定装置４、５とを備えている。 （もっと読む）

【課題】受動素子が内蔵された印刷回路基板の検査方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る受動素子が内蔵された印刷回路基板の検査方法は、抵抗、インダクタ、キャパシタのうちの２つ以上を含むフィルタが内蔵された印刷回路基板に交流電源を印加する工程と、印加された交流電源に対するフィルタの特性を測定する工程と、測定されたフィルタの特性と設計値を比較して印刷回路基板に異常があるか否かを判断する工程と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）