【課題】
幅広い周波数範囲での掃引が可能な光スペクトル計測装置を提供する。
【解決手段】
コム光密度低減器１２は、周波数コム光要素を、それぞれ２つごとに選択した２つの低密度周波数コム光Ｃ₁，Ｃ₂に配分し、Ｃ₁，Ｃ₂の１つを順次選択して出射し、掃引用変調器１３は、Ｃ₁，Ｃ₂を入射し掃引を行い、ビート生成器１４は、掃引用変調器１３から出射された低密度周波数コム光Ｃ₁，Ｃ₂に特定周波数の参照光を加えてビートを生成し、受光器１４はビート生成器１３の出射光を検出する。 （もっと読む）

【課題】読み取り対象物の分光特性を全幅で計測する際に、高速なデータ読み出しができ、複数の波長帯における観測位置の位置合わせが不要な分光特性取得装置、分光特性取得方法、画像評価装置、及び画像形成装置を提供することを課題とする。
【解決手段】読み取り対象物へ光を照射する光照射手段と、前記光照射手段から前記読み取り対象物に照射された前記光の拡散反射光の少なくとも一部を分光する分光手段と、前記分光手段により分光された前記拡散反射光を取得する受光手段と、を含んで構成され、前記受光手段は、分光センサが一方向に複数個配列された分光センサアレイを構成し、前記分光センサは、一方向に配列された互いに分光特性の異なる光を受光する所定数の画素を有することを要件とする。 （もっと読む）

【課題】小型で持ち運びやすく、設置場所に制限されず、かつ低電圧で動作できる装置が実現可能となる、フォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法を提案する。
【解決手段】任意の光の波長スペクトルを検出する方法であって、光電変換素子であるフォトダイオードを用いて、前記フォトダイオードから得られる光電流値（もしくは光電流に起因した電圧値）を用いて、前記フォトダイオードに、予め波長と光電流値が判明している比較用の光を入射させたときの光電流値を検出し、前記フォトダイオードに前記任意の光を入射させたときの光電流値と数式２に基づいて、前記任意の光の波長スペクトルを検出する。 （もっと読む）

【課題】太陽などの光を利用して発電する光電池の開発研究や使用時において、簡便に光電池の分光感度スペクトルとともに、同時に光電池の電流電圧特性を測定する評価装置を提案する。
【解決手段】一つの白色光源３の周囲に２つの集光ミラー１，２を配置し、集光された光の一方は分光器４に導入され単色光に変換されたのち出射され、もう一方の光は擬似太陽光スペクトルフィルタ５を通じて出射され、これら二つの光は二分岐ファイバ８，９を通じて重畳されて被測定光電池１０１を照射することができる光電池の分光感度測定装置および電流−電圧特性測定装置、で分光感度測定および電流電圧特性測定を測定する。 （もっと読む）

【課題】測定された電磁放射強度からのスペクトルベクトルを決定する方法およびシステムを提供する。
【解決手段】本発明の実施形態は、標本から反射され、標本を介して送信され、または、標本から放射される電磁放射のスペクトルベクトルを決定することを対象にする。一般的に、スペクトルベクトルは、測定された強度ｎの数よりも大きい次元ｋを有する。しかしながら、多くの場合において、適切に識別されモデル化される場合に、システムの物理学的および化学的制約は、スペクトルベクトルが比較的小さい数のｎの測定された強度から特徴付けられることを余暇する限り、未知数、一般的にスペクトルベクトルのｋ成分を減らす。 （もっと読む）

【課題】ノイズの出方が波長によって異なる場合であってもノイズが適切に除去される分光データ処理装置を提供する。
【解決手段】分光データVからのノイズの除去にあたっては、一の光の強弱に関する値V(i)に着目し、閾値THL,THUによって決まる範囲THL〜THUから、差値V(i)-T(i)が外れるか否かを判定する。続いて、外れると判定した場合は、光の強弱に関する値V(i)にノイズが重畳しているとみなして、光の強弱に関する値V(i)を基準値T(i)により近い値V'(i)に置換する。この処理を光の強弱に関する値V(1),V(2),…,V(m)の全部に対して行うことにより、ノイズを除去した分光データV'が得られる。閾値THL,THUは、波長区分W(1),W(2),…,W(n)ごとに独立している。 （もっと読む）

【課題】測定対象光源（被試験光）の入射角度が変化しても高精度に被試験光の色度、照度などを高精度に測定することが可能な測光装置を提供する。
【解決手段】拡散光学系としての積分球２を備え、測定対象光源１００の特性を測定する測光装置１において、積分球２は、測定対象光源１００からの光が入射する入射部開口２２と、積分球２の内壁面２１で拡散された拡散光が光検出部３へと出射する検出部開口２３とを有し、光検出部３は、検出部開口２３に近接して、積分球２からの拡散光を分光する入射角依存性を有した分光手段３１と、分光手段３１に隣接して、分光手段３１により分光された光が入射する光電変換素子列３２とを備え、入射部開口２２には、拡散透過板４を設置する。 （もっと読む）

【課題】より高い波長分解能が得られる分散素子及び分散素子を備える光学機器を提供すること。
【解決手段】 光が出射する出射部と、前記出射部の光出射側に配置された光学系と、該光学系の光出射側に配置された分散素子と、前記分散素子の光出射側に配置された光偏向部材と、前記光偏向部材からの光が入射する入射部を備え、光偏向部材は複数の偏向素子で構成され、該複数の偏向素子は、互いに独立して制御可能であり、前記分散素子はイマージョンプリズムである。 （もっと読む）

【課題】全ポートの波長情報を瞬時に特定してモニタすることができ、構造が簡単で小型の波長モニタ装置を提供する。
【解決手段】波長モニタ装置１０は、共通ポート(COM port)および入出力ポート（１^stport〜９^thport）と、各ポートからの入射光をコリメート光にするコリメータ１１〜２０と、回折格子２１と、回折格子２１で分光された光を集光する集光レンズ２２と、使用帯域の波長（λ１〜λ４５）の光を透過する波長選択特性を有するフィルタ２４と、フィルタ２４をそれぞれ透過した光を受ける二次元ＣＣＤアレイ２５と、を備える。二次元ＣＣＤアレイ２５の出力信号に基づき、各ポートからどのような波長の光が入射されたかを、複数の画素の列番号と行番号からなるアドレスにより瞬時に特定してモニタすることができる。 （もっと読む）

【課題】特定波長の先鋭性の高いテラヘルツ波発生手段を実現し、分解能に優れた分光装置を提供する。
【解決手段】本発明は、１ＧＨｚ以上の或る特定の波長領域の電磁波（テラヘルツ波）を可変的に発振可能な光源装置１と、該光源装置１から発振された電磁波に対して共鳴条件に合った特定波長の電磁波を反射光として選択的に反射させるチューナブル波長選択フィルタ３０１とを具備した分光装置であって、前記チューナブル波長選択フィルタ３０１は、光束が入射する側に一定周期の複数の溝構造を有しており、電磁波の入射角を光源装置１からの発振波長と連動させて可変可能な駆動手段３に、チューナブル波長選択フィルタ３０１が保持されている構成とした。 （もっと読む）

【課題】分光放射測定の不確かさが非常に小さく、高速測定可能で、掃引波長誤差も小さく、高精度の絶対分光放射計を提供する。
【解決手段】測定系を校正する国際標準の標準電球からなる光源３と被測定光源２とを切り替え可能に設けた光源１と、光源１の光を導入するための入射光学系４〜１０と、該入射光学系からの光を取り込み、複数個の波長域毎に最適化された、各々の波長域毎に分岐された光ファイバ１１〜１５と、分岐された光ファイバ１１〜１５毎に並列配置した各分光器１６〜２０と、各分光器に対応して設けられた各検知器２１〜２５と、を有することを特徴とする絶対分光放射計である。 （もっと読む）

【課題】 任意の単色波長を用いたin-situの分光分析計測を行う場合、従来の分光画像計測装置では、装置の巨大化や精密な光路調整の必要性などの問題があった。 さらに、分光学的な熱画像解析において、視野内の反射の影響で実際には存在しない仮想の高温領域が表示されてしまい正しい解析ができない、という欠点があった。
【解決手段】 多色カラーセンサーの全波長域における分光感度特性の違いとカラーセンサー３の色数と同数の任意の波長でピークを持つマルチバンドパスフィルター２を集光レンズ１と組み合わせ（図２）、色変換行列によって各単色成分の入射強度を算出し、分光分析を行う。 さらに、色温度によるカラースケールと輝度または放射率によるグレースケールの表示を合成して熱画像を構築する事によって、反射成分による仮想の高温域を除去する。 （もっと読む）

本発明は、１）第１周波数コムと、２）干渉を生成するべく、第１周波数コムと相互作用するべく構成された第２周波数コムと、３）２つのコムの周波数成分中の周波数成分のサブセットの間においてうなり信号を隔離する手段であって、この周波数成分のサブセットは、好ましくは、第１周波数コムの単一ライン及び第２周波数コムの単一ラインであるが、これは、必須ではない、手段と、４）このうなり信号を監視し、且つ、この信号を第１及び第２周波数コムの周波数成分全体の間のうなり干渉信号を記録する取得ユニット装置用のトリガとして又はクロックとして使用する手段と、を有する干渉計に関する。
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【課題】関数近似によるピーク波長算出に先だってピーク検出演算対象を適切に限定することにより高速かつ高精度にピークを検出する。
【解決手段】複数のＦＢＧ１９の反射光のサンプリングデータ(23)からピーク波長λP を求めるデジタル演算部２０が、外部制御装置８から設定しうる下限波長λL と上限波長λU と下側強度ＩL と上側強度ＩU とを含むパラメータ群を複数保持していて(24）、波長区間パラメータ値λL,λU に基づいて波長区間を選定し(S12）、下限波長λL 未満を除外し(S13）、最大値から上側強度ＩU 以内に絞り込み(S14,S15）、こうしてピーク検出演算対象を限定してから、関数近似にてピーク波長λP を算出する(S16)。 （もっと読む）

【課題】微小キャビティを用いたリングダウン分光の測定精度の向上
【解決手段】多数回反射により光が１周するキャビティを用いたキャビティリングダウン分光方法において、全ての偶数回のみの反射経路が通過する位置である、入射点に対する対角位置において、光と結合し、光を吸収する吸収部材を設けた。これにより、キャビティの光の巡回モードを奇数回の反射回数に制限することができる。これにより、理想的な減衰特性を有するリングダウンパルスを得ることができる。 （もっと読む）

【課題】蛍光増白試料の全分光放射率係数を求めるにあたって、蛍光基準試料や煩雑な校正作業を必要とすることなく、さらに前記蛍光増白試料の二分光蛍光放射率係数の選択についてユーザに負担をかけることなく、高い精度で蛍光試料の光学特性を求める。
【解決手段】代表的な蛍光増白紙であるコート紙と通常紙との二分光蛍光放射率係数を二分光データメモリ８３に予め記憶しておき、ＣＰＵ８０が、共に励起域にあって分光分布の異なる２つの照明光（紫光）３３，（紫外光）４３で被測定試料１を照明して励起効率を測定し、その相対比に基づいて、ＣＰＵ８０が前記記憶されている二分光蛍光放射率係数から、被測定試料１のものに相対的に近似する二分光蛍光放射率係数を係数メモリ８４から自動選択し、選択された二分光蛍光放射率係数に基づいて、蛍光増白試料の評価用照明光による全分光放射率係数を算出する。 （もっと読む）

画像装置３００と、画像装置３００を含む照明制御システム４００と、少なくとも１つの光源２４０によって照明されるサイト２２０の基準画像照明と位置合わせする方法とが、提供される。画像装置３００及び／又は照明制御システム４００は、画像装置３００及び光源２４０を制御するための少なくとも１つプロセッサ４１０を含んでいる。この画像装置３００は、選択可能なリフレクタを含むリフレクタのアレイ３２０と、ピクセルを含む画像を形成するために画像光線３３０を受け取り、反射された光線３５５としての反射のためのリフレクタのアレイ３２０に画像光線３３０を供給するレンズと、反射された光線３５５を受け取り、解像された画像を形成するために前記画像の各ピクセルの特性を検出する検出器３１０とを有する。このプロセッサ４１０は、更に、順次、検出器３１０に向かって反射された光線３５５を反射するためのリフレクタのアレイ３２０の各リフレクタ３５０を選択する。
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【課題】ｓ偏光成分の電場の増強が可能な近接場プローブ、それを用いた近接場ラマン分光システムのカンチレバー、ならびに近接場ラマン分光システムを提供する。
【解決手段】本発明に係る近接場プローブ１０は、先端部分１０ａがヘラ状に加工されて、プローブの長軸に対して垂直な平面を有し、その平面の形状が短辺ａと長辺ｂとからなる長方形状である。そして、使用時には、短辺ａに平行な偏光方向の光が入射される。近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。近接場ラマン分光システム４０は、カンチレバー１５と、当該カンチレバー１５の近接場プローブ１０における短辺ａに平行な偏光方向の光を入射させる光学系とを備えている。 （もっと読む）

【課題】測定したスペクトルをライブラリに記憶された計算スペクトルと比較し、リソグラフィプロセスの少なくとも１つのプロセスパラメータを割り出す方法の提供。
【解決手段】第一系列の較正スペクトルが少なくとも１つの基準パターンから計算され、各スペクトルは基準パターンの生成に使用される装置のパラメータを考慮せずに個々の基準パターンの少なくとも１つの構造パラメータの異なる既知の値を使用して計算され、各スペクトルが中央ライブラリに記憶される。ターゲットスペクトルについて記憶されたスペクトルの少なくとも１つに対応する第二系列の較正スペクトルがターゲットスペクトルを測定する装置のパラメータを使用して計算される。測定ターゲットスペクトルは放射ビームをターゲットパターンに誘導することによって生成される。測定ターゲットスペクトルと第二系列の較正スペクトルを比較し、ターゲットパターンの構造パラメータの値を導出する。 （もっと読む）

ラマン分光装置において、励起光は線焦点（３８）として試料（２６）上に焦点合わせされる。線焦点内の各ポイントのスペクトルは、画素の２次元状アレイを有するＣＣＤディテクタ（３４）上の行４６内に分散する。線焦点は、試料に対し、Ｙ方向内の長手方向に移動する。同時かつ同期的に、電荷はＣＣＤ内を平行なＹ’方向にシフトし、試料内の所定ポイントからのデータは継続して蓄積される。高速かつ低解像度の走査を通じたＸ方向の平均化を提供する目的で、境界線６０間で、線焦点はジグザグ状に試料を掃引する。
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