【課題】コストの上昇及び大型化を招くことなく広い波長範囲を波長分解能を低下させることなく均一な波長分解能で測定することができる光信号測定装置及び方法を提供する。
【解決手段】光信号測定装置１０は、複数波長の光信号を含む被測定光を波長毎に異なる角度で射出する回折格子１３、回折格子１３から射出される被測定光を集光する集光レンズ１４、及びフォトダイオードアレイモジュール１５を備え、複数波長の光信号を波長毎に同時に測定する。フォトダイオードアレイモジュール１５は、集光される被測定光がほぼ同一の径となるように、その受光面が集光レンズ１４で集光される被測定光の進行方向に沿う方向（Ｙ方向）に交差する方向（Ｘ方向）に対して所定の角度をなすよう配置されている。 （もっと読む）

【課題】透過帯域の波長に対する透過帯域幅の変化を抑制する。
【解決手段】間隔をあけて対向する複数のコート層２ａ，２ｂを備え、該コート層２ａ，２ｂ間の光路長を調整することにより該コート層２ａ，２ｂを通過する光の透過帯域を変化させる可変分光素子１であって、透過帯域を変化させる分光波長帯域内において、任意の２つの透過帯域間の中心波長の変化の割合よりも、これら透過帯域間の透過帯域幅の変化の割合が小さくなるように前記コート層２ａ，２ｂが構成されている可変分光素子１を提供する。 （もっと読む）

【課題】熟練者でなくとも複合物に含まれている化合物を同定できるスペクトル分析装置を提供する。
【解決手段】スペクトルに関する質問に回答することで、化合物を同定するスペクトル分析装置であり、質問順序データベース２０６は、今回の質問番号と回答と、今回以前の質問番号と回答と、次の質問番号とを対応付けて記憶する。結果情報データベース２０５は、分析結果の化合物の情報と、結果に至るまでの質問番号と回答とを記憶する。質問決定処理部２０８は、回答データベース２０７と質問順序データベース２０６とを参照して、次の質問を決める。その質問を、質問表示処理部２１３が表示させる。回答受付処理部２１４は、表示された質問に対する回答の入力を受付け、質問番号とともに回答データベース２０７に格納する。結果表示処理部２１５は、回答データベース２０７の記憶内容に対応する分析結果を、結果情報データベース２０５から取得して出力する。 （もっと読む）

【課題】光信号の光パワーを正確に求めることができるＷＤＭ信号モニタを実現することにある。
【解決手段】波長分割多重された光信号の測定を行なうＷＤＭ信号モニタに改良を加えたものである。本装置は、光信号それぞれのスペクトルを測定する分光器と、光信号の種類ごとの分光器の応答特性および各応答特性に対する波長分解能を格納する応答特性記憶手段と、分光器によって測定されたスペクトルと応答特性記憶手段の応答特性に基づいて、光信号それぞれの種類を判定する信号判定手段と、この信号判定手段の判定結果に基づいて、応答特性記憶手段の波長分解能で各光信号の光パワーを演算するパワー演算手段とを設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】複数の検出サブアレイを有する分光測定装置におけるスペクトルデータ分析のための新規な方法および新規な手段を提供する。
【解決手段】第1のオフセットデータを使用して第1のオフセット関数を獲得し、
第2のオフセットデータを使用して第2のオフセット関数を獲得し、
前記第1のオフセット関数と前記第2のオフセット関数との差を使用して、前記第1の時間に対して選択された時間で、スペクトルシフトをサブアレイ位置に対して獲得し、
前記選択された時間は、前記第1の時間と前記第2の時間との間にあり、
前記スペクトルシフトは、前記第1のオフセット関数と前記第2のオフセット関数を補間することによって得られる。 （もっと読む）

【課題】発光ダイオードの発光光に含まれる発光強度リップルや発光ダイオードの光強度分布の全体的な非平坦性の影響を除外して観測波長を高精度に校正する。
【解決手段】特定波長の光を吸収するガス吸収セルに発光ダイオードから出射された所定波長帯域の基準光を通過させ、当該通過後の透過光の観測スペクトラムを求める工程と、観測スペクトラムに移動平均処理を施して移動平均化観測スペクトラムを求める工程と、移動平均化観測スペクトラムと観測スペクトラムとの比をとることにより補正観測スペクトラムを求める工程と、補正観測スペクトラムにおけるガス吸収セルの吸収波長と既知の特定波長との差異に基づいて観測波長を校正する工程とを有する。 （もっと読む）

分光測光分析のための装置が、分析される試料を受けるように配置されている試料受け表面と、この試料受け表面に対して移動可能な試料接触表面とを有する。これら２つの表面は、試料が試料受け表面上に与えられることが可能な、前記２つの表面が十分に離れている第１の位置、また、試料接触表面が試料に接触し、試料を押圧する第２の位置にもたらされることができる。この装置は、試料厚さ制御装置をさらに有する。この試料厚さ制御装置は、試料接触表面の第２の位置において、試料受け表面と試料接触表面との間の距離を制御するように配置されている。この結果、これら表面間の試料の厚さは、この試料を通る異なる光路長でのこの試料の複数の測定を得るために、移動されることができる。
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【課題】少ないフォトダイオードで、光信号の測定を行なうことができるＷＤＭ信号モニタを実現することにある。
【解決手段】波長分割多重された光信号の測定を行なうＷＤＭ信号モニタに改良を加えたものである。本装置は、フォトダイオードが所定の方向に複数個配置され、光信号を所定の方向に波長分散して、各光信号あたり２素子のフォトダイオードで受光する分光器と、分光器からの出力される２素子を組とした測定データから、光信号の波長または光パワーの少なくとも一方を演算する演算部とを設けたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】 センサーアレイの分光感度の校正をより簡単な近似関数と少ない波長基準とを用いて容易（迅速）にかつ高精度に行う。
【解決手段】 センサーアレイ１０における各画素の分光感度の中心波長又は中心波長及び半値幅と、予め与えられた該中心波長又は中心波長及び半値幅の基準値との差異を画素番号ｍの関数（一次関数）として表し、関数を定義する１つ以上の係数を、所定の波長基準を測定して得られたセンサーアレイ１０の画素出力に基づいて決定し、該決定された係数を用いて関数から得られる差異と基準値とから、各画素の分光感度の中心波長又は中心波長及び半値幅を推定する。 （もっと読む）

【課題】本開示は概略的に、多重波長作像分光器に対する方法および装置に関する。より詳細には、一実施例において本開示は、光子を貫通通過させる光学フィルタに関する。
【解決手段】前記フィルタは、第１フィルタ・ステージおよび第２フィルタ・ステージを含む。前記第１フィルタ・ステージは、第１リターダ要素と第１液晶セルとを含み得る。前記第１要素は、入力面および出力面を含み得る。前記第１要素の各面のひとつは、当該フィルタを貫通通過する光子の軌跡に対して実質的に直交しては配向されない。

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【課題】 従来の大型の分光器は，高性能であるが、装置が大きくなり高価であり，また小型分光器は価格も比較的安く簡単に使用できるが、検出器として用いられているリニアアレイディテクタが微弱光の検出には不向きで、光量が必要となる。またフィルターとＰＭＴとから構成されるものでは、所望の数の蛍光波長毎にフィルターとＰＭＴが必要となり，蛍光波長同士が近接している場合には，フィルターでは波長分離ができない場合もある。
【解決手段】 そこで本発明では、光検出器３に連なる光ファイバー２の端部５を，色収差レンズ１に対向させて，その光軸６に沿って移動可能に設置すると共に，その移動位置を制御可能な移動制御機構７を設け，光ファイバーの端部のコアの中心側に遮光部を設けた分光ユニットを提案する。光ファイバーは高ＮＡのマルチモードファイバーとするのが好ましい。 （もっと読む）

【課題】 蛍光基準試料やこの煩雑な校正作業なしに蛍光試料の光学特性を精度良く求める。
【解決手段】 試料に近似の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と分光分布が異なる照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とＩ１、Ｉ２による試料放射光のＳｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、Ｉｓによる試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を次の手順で求める。１：Ｆ（μ，λ）又はＢ（μ，λ）とＩｓ（λ）とからＦｓ（λ）又はＢｓ（λ）を算出。２：Ｉ１、Ｉ２をＷ（λ）で線形結合した合成照明光のＩｃ（λ）によるＦｃ（λ）又はＢｃ（λ）がＩｓによるＦｓ（λ）又はＢｓ（λ）と等しくなるようＷ（λ）を波長毎に算出。３：Ｗ（λ）とＳｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とからＩｃによるＳｘｃ（λ）を算出。４：Ｉｃ（λ）とＳｘｃ（λ）とからＩｓによるＢｘｓ（λ）を算出。 （もっと読む）

【課題】 蛍光基準試料やこの煩雑な校正作業なしに蛍光の影響を除去した全分光放射輝度率を精度よく求める。
【解決手段】 試料に近似の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と分光分布が異なる照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、Ｉ１、Ｉ２で個別に照明された試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、蛍光の影響を除去した反射分光放射輝度率Ｒｘ（λ）を次の手順で求める。１：Ｆ（μ，λ）とＩ１（λ）、Ｉ２（λ）とから理論的な蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）、Ｆ２（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）を算出。２：Ｂｘ１（λ）及びＢｘ２（λ）をＲｘ（λ）とＦ１（λ）・Ｋ（λ）及びＦ２（λ）・Ｋ（λ）との和とする次の連立方程式からＲｘ（λ）を算出。Ｂｘ１（λ）＝Ｒｘ（λ）＋Ｆ１（λ）・Ｋ（λ）、Ｂｘ２（λ）＝Ｒｘ（λ）＋Ｆ２（λ）・Ｋ（λ） （もっと読む）

【課題】
試料セルを用いずに微量な試料の吸光度測定を行なうことのできる分光光度計を提供する。
【解決手段】
測定光を発生させる光源２と、試料４を試料を液滴状で保持する試料保持板６と、試料４からの透過光を検出する検出部８と、試料保持板６に保持されている試料４を撮像するための撮像部１０と、撮像部１０で得た試料画像から測定光の光路長を算出し、その光路長と検出部８で得た検出データに基づいて吸光度を算出する演算処理部１２と、演算処理部１２で得られた演算処理結果を表示するための表示部１４とが設けられている。
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【課題】温度センサを用いて周囲温度を直接に検出することなく、測定した分光波形の温度補償を行うことのできる分光測定装置を提案すること。
【解決手段】分光測定装置１の温度補償回路３では、メモリ１１に既知の温度における分光波形が基準波形Ａとして記憶されており、この基準波形Ａと、測定時に得られる分光波形Ｂとを、最小二乗法を用いて、合わせ込みを行って、その波長軸方向への波形シフト量ｄＨを求め、測定対象物から得られる測定分光波形に対して、波形シフト量ｄＨだけ、当該波形シフト量とは反対方向に波形シフトさせる補正処理を行って、当該測定分光波形から温度変化に起因する誤差を除去する。 （もっと読む）

【課題】 チャネルド分光偏光計測法が有する様々な特徴を継承しつつ、移相子のリタデーションが温度変化その他の要因により変動することによって生じる分光偏光状態を示すパラメータの計測誤差を効果的に低減すること。
【解決手段】 チャネルドスペクトルＰ（σ）中に含まれる各振動成分から方程式を解くことにより、基準位相関数φ_１（σ）、φ_２（σ）が求められることに着目し、分光ストークスパラメータＳ_０（σ），Ｓ_１（σ），Ｓ_２（σ），Ｓ_３（σ）の測定と同時に、基準位相関数φ_１（σ）とφ_２（σ）を較正するようにした。 （もっと読む）

【課題】顕微鏡装置において、画像評価するための記録チャネルのうち、どのチャネルでデータ取得ができるかを読み取れる方法を提供する。
【解決手段】少なくとも１つのチャネルについて上限値及び／又は下限値が設定できて、これらの限界値に達した場合には検出チャネルの作動態様に変化が現われ、また好ましいことに、検出チャネルが遮断され、又はその増幅が変更され、又は照明パラメータ変更のために光源への再連結がなされる、又は検出チャネルの信号が追加加工に於いては顧慮されないままであるという、複数検出チャネルにおける照明試料の光学的検出方法。 （もっと読む）

【課題】 メーカサイドの工場やサービス拠点等でしか事実上行えなかった分光輝度計の波長及び感度の校正を、ユーザサイドでも行うことができるようにする。
【解決手段】 校正用基準光源１は、積分球１１、制御処理部１２、モニターセンサ１４、複数の単波長基準光を発生する半導体レーザを備えるレーザユニット２等を備えて構成されている。制御処理部１２は、前記複数の半導体レーザを順次点灯させ、積分球１１によって多重反射された上で出力開口１１ａから放射される単波長基準光の強度を、モニターセンサ１４によってモニターさせる動作を制御する。前記出力開口１１ａに、校正対象とされる分光輝度計４の受光部が配向され、制御用ＰＣ５により、校正用基準光源１及び分光輝度計４の動作が制御される。 （もっと読む）

【課題】 小型化、低コスト化を図り、測定時間を短縮する。
【解決手段】 二次元光源Ｌの光束Ｌａを取り込み、光像（第１像２ａ及び第２像６ａ）を形成する光学系（対物光学系２やリレーレンズ６）と、光束Ｌａの透過部位に応じて透過波長が異なる分光透過特性を有するＷＢＰＦ１２（透過波長変化型フィルタ）と、光像を形成する光路中にＷＢＰＦ１２を走査可能に保持する走査ＷＢＰＦ１０と、ＷＢＰＦ１２の各走査ステップ位置においてＷＢＰＦ１２を透過した光束Ｌａにより形成される第２像６ａを撮像し、各走査ステップ位置毎に各画素の分光感度が異なる複数の画像を取得する撮像素子７とを備える。 （もっと読む）

【課題】測定者がバックグラウンドスペクトルと試料スペクトルの測定を別々に行う必要のない分光測定装置を提供することにある。
【解決手段】試料設置箇所に光を導光する光出射手段と試料から出射された光を検出する光検出手段とを備え、試料に光を照射し試料からの出射光を検出することで試料スペクトルを測定する分光測定装置において、試料設置箇所近傍に配置され試料の設置の有無に関する情報を検知する検知手段と検知手段からの信号に基き、試料設置箇所に試料が設置されているか否かを判断する判断手段２４と、判断手段によって試料が測定位置に設置されていないと判断されたとき、あらかじめ設定された測定条件に従い光出射手段及び光検出手段を制御し試料未設置の状態で測定を行うことでバックグラウンドデータを自動的に取得する制御手段と取得したバックグラウンドデータを記憶する記憶手段とを備えたことを特徴とする分光測定装置。 （もっと読む）