【課題】測定値と検査用閾値とを比較する検査機能で装置を動作させる際に、測定者による測定レンジの設定作業が不要でありながら、短時間で測定を行うことができる測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１は、複数の測定レンジの中の一つの測定レンジでＤＵＴ９０のパラメータを測定する測定部２と、測定に用いる一つの測定レンジを測定部２に設定するＣＰＵ３（レンジ制御部）と、測定部２の測定した測定値と予め設定された検査用閾値との比較を行うＣＰＵ３（検査部）とを備える測定装置１であって、レンジ制御部が、検査用閾値に基づいて、一つの測定レンジを決定する。 （もっと読む）

【課題】単位時間当たりの測定数を向上させた電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】
第１及び第２回転テーブル（１１，５１）と、第１及び第２回転駆動手段（１７，５７）と、第１及び第２プローブ（２０，６０）と、第１及び第２進退駆動手段（２３，６２）と、測定手段（８０）と、制御手段（８２）と、を有し、第１前進開始動作（Ｍ１３）より後であって第１前進完了動作（Ｍ１４）より前に第１回転停止動作（Ｍ１２）が行われ、第１後退開始動作（Ｍ１５）より後であって第１後退完了動作（Ｍ１６）より前に第１回転開始動作（Ｍ１１）が行われ、第２前進開始動作（Ｍ２３）より後であって第２前進完了動作（Ｍ２４）より前に、第２回転停止動作（Ｍ２２）が行われ、第２後退開始動作（Ｍ２５）より後であって第２後退完了動作（Ｍ２６）より前に第２回転開始動作（Ｍ２１）が行われる電子部品特性測定装置。 （もっと読む）

【課題】測定値に対する演算処理を行うことのできる測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１は、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部２に実行させる測定制御手段と、測定条件に従って測定部２が測定した測定値を使用して、タッチパネル１０に表示されている、演算式入力設定窓２３の入力操作領域２３ａを操作して、予め設定された演算式表示領域２３ｂに表示されている演算式で演算を行う演算手段とを備えるものである。 （もっと読む）

【課題】複数の測定レンジのうちの一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する測定装置において、測定条件の設定を簡便に行うことのできる測定装置を提供する。
【解決手段】測定装置は、複数の測定レンジの中の一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する測定部と、タッチパネル１０に表示させた測定レンジごとの測定条件を個別に入力設定するためのレンジリスト編集画面と、それぞれの測定レンジに対応させて測定条件を記憶するメモリと、測定に用いる一つの測定レンジを測定部に設定すると共に、一つの測定レンジに対応する測定条件をメモリから読み込んで、測定条件で測定部に測定させる測定制御部とを備えるものである。 （もっと読む）

【課題】等価回路のパラメータを正確に測定する。
【解決手段】試料のインピーダンスＺ，位相θの実測周波数特性を実測する処理２１と、Ｚの実測周波数特性での極大極小点を検出する処理２２と、極大点のみのときに試料の等価回路が第１，第２等価回路のいずれかであると特定する処理２４と、Ｚ，θの各実測周波数特性から第１，第２等価回路の各パラメータ値を算出する処理２５と、Ｚ，θの各実測周波数特性からリアクタンスの実測特定周波数特性を算出する処理２６と、第１，第２等価回路の各リアクタンスついての理論第１周波数特性および理論第２周波数特性を算出する処理２７と、理論第１周波数特性および理論第２周波数特性のうちの実測特定周波数特性に、より近似する周波数特性の等価回路を試料の等価回路として特定する処理２８と、特定した等価回路の各パラメータ値を試料の等価回路の各パラメータ値として決定する処理２９とを実行する。 （もっと読む）

【課題】より簡単に、より迅速に等価回路モードを選択する。
【解決手段】周波数特性測定制御部５２は、測定部を制御し、試料のインピーダンスおよび位相を測定させ、その測定値を取得する。判定部５３は、測定されたインピーダンスに極大値または極小値があるか否かを判定する。等価回路モード選択部５４は、極大値または極小値があるか否かの判定結果によって、試料の等価回路を示す等価回路モデルを用いて測定が行われる等価回路モードを選択する。本発明は測定装置に適用できる。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性に基づいて等価回路の各素子定数を推定する際に、素子定数の一部を任意の値に固定して、他の残りの素子定数を推定することができる等価回路解析装置及び等価回路解析方法を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置は、測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性を測定する測定部と、複数の電気素子を組み合わせた所定の等価回路の各素子定数を任意の値に設定する操作が可能な設定ボタン１３ｂと、素子定数Ｃを固定する操作が可能な固定ボタン１４ｂと、測定部の測定した測定対象物の周波数特性に基づいて、固定ボタン１４ｂによって固定された素子定数Ｃを変更せずに、他の素子定数Ｒ，Ｌの推定を行う推定部とを備えるものである。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の周波数特性から推定した等価回路の素子定数に誤差があったときに、この誤差を無くすためにいずれの素子定数をどのように変化させればよいかということを測定者が判断する必要が無く、簡便な操作で正確な素子定数を得ることができる等価回路解析装置を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置１は、タッチパネル１０と、ＤＵＴ９０の複素インピーダンスの周波数特性を測定して、タッチパネル１０にグラフで表示させる測定部２と、ＤＵＴ９０の周波数特性に基づいて等価回路の各素子定数を推定する推定部３と、等価回路の周波数特性を算出してそのグラフ及び各素子定数を表示させる理論特性演算部５と、タッチパネル１０に表示されている等価回路のグラフの部位に接触してから、その接触位置をタッチパネル上で移動させる移動操作に対応させて、等価回路の素子定数を変更する素子定数変更処理部６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】抵抗体の等価回路のパラメータを十分な精度で算出する。
【解決手段】抵抗体の並列共振周波数ｆｐを含む周波数帯域のＺ，θの各周波数特性を取得するＺθ周波数特性取得処理と、抵抗体のレジスタンスｒの周波数特性、並列共振周波数ｆｐおよび最大値ｒ_ｍａｘを検出するｒ周波数特性測定処理と、象限周波数ｆ１，ｆ２からＱを算出するＱ算出処理と、パラメータ値Ｃｖ（＝Ｑ／（２×π×ｆｐ×ｒ_ｍａｘ））を算出するＣ算出処理と、パラメータ値Ｌｖ（＝２×Ｑ^２／｛（２×π×ｆｐ）^２×Ｃｖ×（２×Ｑ^２−１）｝）を算出するＬ算出処理と、並列共振周波数ｆｐから十分に離れた低域側の周波数ｆ_Ｌ１でのＺおよびθに基づいて周波数ｆ_Ｌ１でのコンダクタンスＧ_ＬおよびサセプタンスＢ_Ｌを算出するＧＢ算出処理と、パラメータ値Ｒｖ（＝２×π×ｆ_Ｌ×Ｇ_Ｌ×Ｌｖ／（２×π×ｆ_Ｌ×Ｃｖ−Ｂ_Ｌ））を算出するＲ算出処理とを実行する。 （もっと読む）

【課題】電池を実際に使用している自動車や発電プラント、家庭用蓄電システムなどのオンサイトにおいて、電池の内部インピーダンス特性をリアルタイムで測定できる電池インピーダンス測定装置を実現すること。
【解決手段】複数個の電池セルが直列に接続され、実負荷を高周波域を含む負荷変動を生じる状態で駆動する電池モジュールをリアルタイムで測定監視する電池監視装置に用いられるインピーダンス測定装置であって、前記各セルの電圧波形データおよび電流波形データを離散フーリエ変換し、電圧波形データの離散フーリエ変換結果を電流波形データの離散フーリエ変換結果で除算することによりインピーダンスを演算するＤＦＴ演算部と、このＤＦＴ演算部で演算されたインピーダンスに基づき、予め指定された等価回路モデルにおいて定数フィッティングを行う回路定数推定演算部と、任意の周波数におけるインピーダンスを出力するインピーダンス推定演算部、とで構成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】同じ試料についての等価回路のパラメータを測定したときに他の測定装置と同じ値のパラメータ値を測定する。
【解決手段】処理部６は、試料８の各周波数でのインピーダンスＺ_ｂおよび位相θ_ｂを示す測定周波数特性データＤ_Ｆｂを取得する周波数特性データ取得処理と、取得した測定周波数特性データＤ_Ｆｂで示されるインピーダンスＺ_ｂにインピーダンス補正係数ｍを乗算して補正インピーダンスＺ_ｂ１に補正し、かつ測定周波数特性データＤ_Ｆｂで示される位相θ_ｂに位相補正値ｎを加算して補正位相θ_ｂ１に補正して補正周波数特性データＤ_Ｆｂ１を算出する周波数特性データ補正処理と、補正周波数特性データＤ_Ｆｂ１に基づいて試料８の等価回路の各パラメータのパラメータ値Ｄ_Ｌｂ１，Ｄ_Ｃｂ１，Ｄ_Ｒｂ１を算出し、パラメータ補正値ｋ_Ｌ，ｋ_Ｃ，ｋ_Ｒを乗算して補正するパラメータ補正処理とを実行する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の周波数特性から推定した等価回路の素子定数に誤差があったときに、素子定数をどのように変化させると測定対象物をよく近似できるかということを測定者に容易に知らせることができる等価回路解析装置を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置１は、タッチパネル１０に測定対象物の周波数特性のグラフ３１を表示させる測定部と、その周波数特性から等価回路の素子定数RCLを推定する推定部と、素子定数を変更させる増減ボタン１４〜１６と、推定部の推定した素子定数、及び増減ボタン１４〜１６で変更した素子定数で周波数特性を算出してグラフ３２を表示させる理論特性演算部と、等価回路の周波数特性の傾向を変更させたいときに何れの素子定数の大小を変化させたらよいかを示すガイド情報を記憶するガイド情報記憶部と、タッチパネル１０で選択されたグラフ３２の部位のガイド表示３５を表示させるガイド情報処理部を備える。 （もっと読む）

【課題】測定対象体を接続したときに、誤ったインピーダンスが表示される事態の発生を回避して、最初のインピーダンスの表示から正しいインピーダンスを表示させる。
【解決手段】測定対象体１４に流れる測定用電流Ｉ１および測定対象体１４の両端間電圧Ｖｍを予め規定された時間長の測定期間に亘って測定する測定処理を実行し、かつ測定用電流Ｉ１および両端間電圧Ｖｍを測定する都度、測定した測定用電流Ｉ１および両端間電圧Ｖｍに基づいて測定対象体１４の抵抗値Ｒ１を算出して表示部１１に表示させる算出処理を実行する処理部１０を備えると共に、測定対象体１４の接続・未接続を検出する接続検出部９を備え、処理部１０は、測定対象体１４の接続が接続検出部９によって検出されるまでは測定処理の実行を停止し、測定対象体１４の接続が接続検出部９によって検出されたときに、測定処理の実行を開始する。 （もっと読む）

【課題】測定対象回路の純抵抗成分およびリアクタンス成分の少なくとも一方を分離して測定する。
【解決手段】電流検出部６は、電流検出信号Ｖｂ１を第１信号Ｓ１を用いて同期検波して交流電流Ｉｏの実数成分の振幅に応じて振幅が変化する第１検出信号Ｖｄ１を出力すると共に、電流検出信号Ｖｂ１を第１信号Ｓ１と直交する第２信号Ｓ２を用いて同期検波して交流電流Ｉｏの虚数成分の振幅に応じて振幅が変化する第２検出信号Ｖｄ２を出力し、処理部７は、検出信号Ｖｄ１，Ｖｄ２に基づいて交流電流Ｉｏの電流値の絶対値を算出すると共に算出した絶対値と検査用交流信号の電圧値とに基づいてインピーダンスの絶対値｜Ｚ｜を算出し、各検出信号Ｖｄ１，Ｖｄ２に基づいて交流電流Ｉｏの実数成分および虚数成分の比の値Ａを算出し、算出したインピーダンスの絶対値｜Ｚ｜と比の値Ａとに基づいて純抵抗成分Ｒｒおよびリアクタンス成分Ｒｘを算出する。 （もっと読む）

【課題】電気回路の抵抗値を非接触で簡単に得ることができる抵抗用測定回路を提供する。

【解決手段】 被測定抵抗Ｒ_Lの値を求めるための電気特性を得る抵抗用測定回路は、被測定抵抗に並列接続され，所定の周波数ｆで並列共振する第１コイル及び第１コンデンサと、第１コイルと電磁結合される第２コイルと、第１コイルと第２コイルとが電磁結合されていない状態で第２コイルのみの周波数ｆでのインダクタンス成分L₂₀及び抵抗成分R₂₀とからなる電気特性を検出し，第２コイルが前記第１コイルと電磁結合した状態で前記周波数ｆでの第２コイルのインダクタンス成分L_2a及び抵抗成分R_2aとからなる電気特性を検出する検出回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】単一のコイルでインダクタンスの変化を効果的に検出し、小型でありながら高精度な変位センサを実現するためのインダクタンス変化検出回路と、これを用いる変位検出装置及び金属検出装置を提供する。
【解決手段】コイルとコンデンサを直列接続した共振回路に対し、所定の電圧と接地とを交互に接続する。また、フリーホイールダイオードを二つ設けて、電圧或は接地から切断した直後にコイルから生じる起電力を受け流し、コンデンサに電荷を蓄積させると共に回路を安定化させる。その後、コンデンサ或はコンデンサとコイルの直列接続よりなる負荷の両端電圧を取得して、コイルに非磁性体金属が近接しているときと近接していないときに生じるインダクタンスの変化を検出する。 （もっと読む）

【課題】単一のコイルでインダクタンスの変化を効果的に検出し、小型でありながら高精度な変位センサを実現するためのインダクタンス変化検出回路と、これを用いる変位検出装置及び金属検出装置を提供する。
【解決手段】コイルとコンデンサを直列接続した過渡応答回路に対し、所定の電圧と接地とを交互に接続する。また、フリーホイールダイオードを二つ設けて、電圧或は接地から切断した直後にコイルから生じる起電力を受け流し、コンデンサに電荷を蓄積させると共に回路を安定化させる。その後、コンデンサ或はコンデンサとコイルの直列接続よりなる負荷の両端電圧を取得して、コイルに非磁性体金属が近接しているときと近接していないときに生じるインダクタンスの変化を検出する。 （もっと読む）

【課題】従来の手法では実現できない精度の良い過渡的なインダクタンスの時刻歴の演算が可能な過渡的インダクタンス計測方法及び装置を提供する。
【解決手段】交流信号発生器１が正弦波をコイル３及び抵抗器４に印加しているときに、コイル３にインダクタンス急減の契機を与える。第１及び第２の電圧制御型ＢＰＦ６,７を通過した第１及び第２の電圧ｅ(ｔ),ｅ_R(ｔ)は、第１及び第２のクリップ回路８,９によって正弦波からパルス波に変換されて位相比較器１０に入力され、位相比較器１０は両電圧の位相差φ(ｔ)の時刻歴を電圧値の時刻歴として出力する。ＤＳＰ１１は、第１及び第２の電圧制御型ＢＰＦ６,７を通過した第１及び第２の電圧ｅ(ｔ),ｅ_R(ｔ)の時刻歴と、位相比較器１０の出力電圧の時刻歴とに基づいてコイル３のインダクタンスＬ(ｔ)の時刻歴を演算する。 （もっと読む）

【課題】高周波デバイスや高周波ＩＣのテスト精度向上が可能となるとともに、検査システムの複雑化を抑制可能な寄生成分測定装置及び寄生成分測定方法を提供する。
【解決手段】伝送路に既知のインダクタンス値を有する被測定インダクターを接続して形成される被測定回路のスミスチャートと、被測定インダクターと同じインダクタンス値を有する同値仮想インダクターと、同値仮想インダクターに接続され、且つ容量値を調整可能な可変仮想キャパシタンスを備える仮想等価回路のスミスチャートが合致するように、可変仮想キャパシタンスの容量値を調整し、被測定回路のスミスチャートと仮想等価回路のスミスチャートが合致した時の可変仮想キャパシタンスの容量値を伝送路の寄生キャパシタンスの容量値として算出して、伝送路の寄生キャパシタンスを測定する。 （もっと読む）