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Fターム[2G040DA05]の内容

熱的手段による材料の調査、分析 (9,035) | 測温手段 (1,163) | 種類 (727) | 放射温度計;点としてみるもの (85)

Fターム[2G040DA05]に分類される特許

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【課題】粉粒体の種類、状態、及び配合割合の変動にも柔軟に対応でき、短い測定時間で、高精度に試料の水分率を測定できる技術を提供する。
【解決手段】試料8を乾燥させるために加熱する試料加熱部4と、一定の乾燥温度に制御する加熱用コントロ−ラ2と、試料8を秤量して連続的又は断続的に質量値mを出力する試料秤量部5と、連続的又は断続的に出力された一連且つ所定の期間の有限個の質量値mに基づいて、試料が含んでいた水分量又は水分率を算出する秤量データ処理部9とを具備し、秤量データ処理部9は、一連且つ所定の期間の有限個の質量値mを用いて、試料8が完全に乾燥するまでの質量値mの減少の時間推移、又は質量値mの時間変化量Δmの時間推移を所定の予測演算で予測して、測定前に試料が含んでいた水分量又は水分率を推定して算出する。 (もっと読む)


【課題】検査対象物の表面状態によらず、表面温度データに含まれている欠陥検知信号とノイズ信号の区別を明確することでき、確実に欠陥(亀裂等)を検出することができる検査方法を提供する。
【解決手段】例えば、レーザーで検査対象物の表面を加熱せずに、赤外線検出装置(検出素子)で検査対象物の表面温度を計測して、加熱前の第1の表面温度データを得る第1の走査(前進走査)と、レーザーで検査対象物の表面を加熱しながら、この検査対象物の表面温度を赤外線検出装置(検出素子)で計測して、加熱後の第2の表面温度データD2を得る第2の走査(後進走査B)とを行い、第2の表面温度データD2から、第1の表面温度データD1を減算することにより、第3の表面温度データD3を得る。 (もっと読む)


本発明は、サンプル中の被分析物(10)の検出方法であって、焦電または圧電素子および電極を有する、エネルギー変化を電気信号へ変換することが可能な変換器(3)と、その変換器上に固定化された、被分析物またはその被分析物の誘導体と結合することが可能な結合部位を有する第1の試薬(9)とを準備する工程、第1の試薬−被分析物複合体(13)を形成するために、その変換器にサンプルを曝露しそれによって被分析物またはその被分析物の誘導体を第1の試薬と結合させる工程、電磁放射線を吸収して無放射性崩壊によりエネルギーを発生することが可能な標識(12)を有する、第1の試薬−被分析物複合体と選択的に結合することが可能な結合部位を有する第2の試薬を導入する工程、そのサンプルに電磁放射線を照射する工程、発生したエネルギーを電気信号へ変換する工程、およびその電気信号を検出する工程を含む方法に関する。本発明はまた、その方法を実施するためのキットも提供する。
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【課題】レンズ機能付光ファイバを用いて装置の低価格を図り、各種の試料に適用することができ、特に試料厚さの変化に対して充分に対応することが出来るようにする。
【解決手段】所定強度の加熱用レーザ光を照射し、レンズ機能付きの光ファイバを備えた照射手段と、加熱用レーザ光の試料の面上の照射軸を一定にしてスポットサイズを任意に調整可能として、前記光ファイバを試料から上下動させ、試料の面を加熱する単位面積当りの加熱量を制御するようにした光ファイバ位置調整手段と、加熱量が制御されたレーザ光の照射によって放射された赤外線を検知する赤外線検出器とを備える。 (もっと読む)


【課題】より正確に微小な異物の有無を検出することができる端面検査方法および端面検査装置を提供する。
【解決手段】端面検査装置1は、光ファイバ90の端面91を検査する装置であって、プローブ光用光源11、プローブ光用光源12、放射光検出センサ13、観察用光源21、観察用撮像部22、解析部30、レンズ41〜44、および、光フィルタ51,52を備える。プローブ光用光源11またはプローブ光用光源12から出力されたプローブ光は、端面91を通過して光ファイバ90に対して入射または出射するように端面91に照射される。この端面91へのプローブ光の照射に伴って発生する放射光の強度または分布が放射光検出センサ13により検出される。これにより端面91の温度変化が検出され、その温度変化検出結果に基づいて端面91が解析部30により検査される。 (もっと読む)


【課題】400℃を超える温度範囲における黒鉛をはじめとする炭素材料やセラミックなどの熱膨張率を、簡易にかつ精度良く測定するとともに、電気伝導率も同時に測定する。
【解決手段】400℃を超える温度範囲における熱膨張率を測定する方法であって、測定部1aが円柱形状を有する試料1を準備する工程と、試料1に直流電流を通電して測定部の温度が400℃を超える温度範囲になるように加熱し、測定部の温度を上昇させる工程と、温度上昇の際の測定部1aの径方向の端縁1bの移動量を測定して熱膨張率を求める工程とを備えることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の電極を形成していない非電極面に電圧を印加する場合であっても、非電極面へ照射される赤外線、又は非電極面から放射される赤外線を用いて、半導体装置の欠陥部位を容易に判別できる半導体装置の検査方法、及び半導体装置の検査装置を提供すること。
【解決手段】赤外線を用いて半導体装置10の欠陥部位を判別する半導体装置の検査方法において、半導体装置10の電極を形成していない非電極面10aに透明電極21bを当接する工程と、透明電極21bを介して半導体装置10の非電極面10aに電圧を印加すると共に、透明電極21bを介して半導体装置10の非電極面10aに赤外線のスポット光31を照射する工程と、赤外線のスポット光31で半導体装置10の非電極面10aを走査して、半導体装置10の電流変化ΔIを測定し、半導体装置10の欠陥部位を判別する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】基材に塗装を施す場合、この基材の表面に凹凸が形成されている場合であっても塗装不良の有無を正確に検知することができる塗装不良検査方法を提供する。
【解決手段】塗装前の基材1における塗料2が塗布されるべき面の温度を測定する。塗装後の基材1における塗料2が塗布された面の温度を測定する。この各測定結果に基づいて基材1表面の塗装前後の温度差を導出する。この導出された基材1表面の温度差に基づいて塗装不良の有無を判定する。これにより、基材1に塗料2を塗布した後、塗料2中の溶剤が揮発する際に奪われる気化熱に起因する基材1表面の温度低下に基づいて基材1の塗装不良の有無を検出することができる。 (もっと読む)


【課題】熱物性評価の測定において,試料のうら面が光を透過させない状態であっても,その試料の微小な測定部位(おもて面)について,加熱光の照射による温度変化を高精度で測定することができること。
【解決手段】所定周期で断続するパルス光からなる基幹光B0を加熱光B1と検出光B2とに分岐させ,加熱光B1を第1の周波数F1で強度変調し,検出光B2を第1の周波数F1とは異なる第2の周波数F2で強度変調し,光路長調節機構8により加熱光B1と検出光B2との間で測定部位20aにおけるパルス光到達の時間差Δtpを生じさせ,測定部位20aに反射させた検出光B2’を光検出器14により受光してその受光強度を検出し,その検出信号における周波数(F1+F2)又は|F1−F2|の周波数成分を検波器15により検出する。 (もっと読む)


【課題】多層型パワーモジュールなどの多層型電子部品モジュールについて、各接合部の熱伝導性の良否を適切に判断することができる多層型電子部品モジュールの接合部検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の接合部検査方法は、第2部材の第1タイミング温度T21から初期温度T20を差し引いた温度差ΔT2に基づいて、第1接合部の熱伝導性の良否を判定する第1判定段階(ステップS9〜SB)と、電子部品の第2タイミング温度TD2から初期温度TD0を差し引いた温度差ΔTDと温度差ΔT2との差分値ΔTE、または、第2タイミング電気特性値VD2に対応する電子部品の温度から初期電気特性値VD0に対応する電子部品の温度を差し引いた温度差ΔTVと温度差ΔT2との差分値ΔTFに基づいて、第2接合部の熱伝導性の良否を判定する第2判定段階(ステップSC〜SE)とを備える。 (もっと読む)


【課題】膜厚を考慮した解析モデルを組み込んだ表面加熱・表面測温型の薄膜熱拡散率測定装置を構築する。
【解決手段】基板1をレーザパルス光などの加熱パルス光3を用いることにより、基板1上に成膜された薄膜2の表面を瞬間的に加熱すると表面温度が瞬間的に上昇する。その後、熱は、薄膜2の内部へ拡散し基板1内へと浸透し、薄膜2の表面温度は減衰する。測温パルス光4(P2)は、加熱パルス光3(P3)と同じ領域に照射される(4a)。その反射光(4b)の光強度は、薄膜2の表面温度に依存してわずかに変化する。この反射光の強度を検知器5により検知し、薄膜2表面の温度変化を検出する。検知器5は、反射光の強度を測定する光強度センサ5aと、光強度センサ5aからの信号に基づいて実際の温度とその変化を求め、記録する情報処理装置5bとを備えている。情報処理装置は、膜厚を考慮した解析モデルから、薄膜の熱拡散率を算出する演算部が組み込まれている。 (もっと読む)


【課題】、種々の微小金属接合部の良否を検査できる微小金属接合部の検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】微小金属同士を接合するための微小金属接合部の検査方法であって、前記微小金属同士の接合部に加熱エネルギーを照射すること、前記加熱エネルギーによる接合部の加熱点から放射される赤外線を受光して前記加熱エネルギーの照射前後における前記加熱点の温度変化量を計測すること、前記加熱点の加熱量と前記温度変化量との関係から前記加熱点の接合面積係数を算出すること、前記算出された接合面積係数を前記と同じ方法で求めた基準モデル品の接合面積係数と比較すること、前記比較によって得た接合面積係数の差の大小によって前記接合部の良否を判定すること、から成る。 (もっと読む)


【課題】加熱用パルス光を用いて、薄膜の熱物性値を測定することができる薄膜熱物性測定装置を提供する。
【解決手段】薄膜熱物性測定装置において、薄膜を加熱する加熱用パルスレーザと、前記加熱用パルス光を導く光ファイバと、前記加熱用パルス光の発光時刻を計測する手段と、該薄膜の温度変化を検出する連続光の測温用レーザと、前記測温用レーザ光の反射光を検出する手段と、前記測温用レーザ光の反射光の強度を測定する手段と、加熱用パルス光の発光時刻からの経過時間の関数として反射光の強度を記録する手段と、記録された該測温用レーザの反射光の強度の時間変化に基づいて熱物性値を算出する手段を備え、また、前記記録手段が、記録開始するまでの最短時間がtsで、光速をcとすると、前記加熱用パルス光の計測手段までの距離L1に対して、前記入射端から前記薄膜を照射する出射端までの距離L2は、c×t/n以上長いことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】薄膜状試料が小さく、電圧測定を行う端子の距離が小さい場合に、十分な温度勾配を付与して、薄膜状試料のゼーベック特性を安定かつ正確に測定することのできる薄膜状試料の測定方法を提供する。
【解決手段】表面に複数の電極を露出させた基板上に、少なくとも一対の前記電極に接するように薄膜状試料を配置し、前記一対の電極の一方の電極側を加熱し、当該加熱により他方の電極側に伝導する熱を熱伝導媒体により吸収しながら、前記一対の電極の電極間を通電することで、前記薄膜状試料の特性を測定することを特徴とする薄膜状試料の測定方法である。 (もっと読む)


【課題】
出荷前検査において車両用灯具に内蔵する灯具ユニットの組み立て不良を容易に検出し、出荷後の車両用灯具の不良品発生率を低減させ、品質向上を実現する車両用灯具の検査装置及び検査方法の提供。
【解決手段】
LEDチップ14aの点灯時にLED基板14に発生した熱をLED基板14を支持する金属製支持部材5の放熱フィン6から放熱する灯具ユニット4を備えた車両用前照灯1の検査装置18と検査方法において、点灯手段25でLEDチップ14aを点灯し、点灯時に温度測定手段19で測定したLED基板14の温度に基づき、LED基板14と金属製支持部材5との接続状態、即ち熱伝導性の適否を判定手段23によって判定することにした。 (もっと読む)


【課題】赤外線検出器の温度校正方法、及び熱電対を用いずに、温度校正された赤外線検出器を用いて比熱容量を測定する方法を提供すること。
【解決手段】標準試料の一面にレーザパルス光を照射し、所定の時間、他面の温度変化を熱電対で測定すると同時に、赤外線検出器で試料の温度変化に対応した出力変化を測定し、この温度変化及び出力変化の指数関数的減衰領域を決定し、この領域内の所定の時点での赤外線検出器での測定出力に対応する熱電対での測定温度から、赤外線検出器での測定出力の温度換算係数を求める。標準試料に対するレーザパルス光の入射エネルギーを求めた後に、測定試料の一面にレーザパルス光を照射し、所定の時間、他面の温度変化を温度校正された赤外線検出器で測定し、温度変化からレーザパルス光照射時の測定試料の最高温度上昇値を求め、入射エネルギー、測定試料の重量から測定試料の比熱容量を求める。 (もっと読む)


【課題】熱伝導性の高い試料であっても、すなわち1次元伝熱が成立する条件から逸脱する領域であっても熱伝導率を精確に測定することのできるようにする。
【解決手段】加熱用レーザビーム強度の変化に対する前記測温用レーザビームによる反射光の熱反射強度変化である位相遅れと熱伝導率との関係および位相遅れと熱浸透率との関係が、物性値が既知の校正用基準試料およびこの校正用基準試料よりも高い熱伝導率を有する既知の基準試料からなる比較試料について加熱変調周波数または/および熱拡散率に依存した測定条件で測定して取得された測定データから位相遅れに対する熱伝導率および位相遅れに対する熱浸透率についての設定がされ、位相遅れに対する熱伝導率および熱浸透率が一義的に定められる領域の校正モデルとして格納されるデータベースを備える。 (もっと読む)


【課題】レーザフラッシュ法による熱拡散率測定を実施する際における、測定試料へのレーザ光照射量調節機構及びこの機構を備えた熱定数測定装置の提供。
【解決手段】測定試料の表面にレーザパルス光を照射するためのレーザパルス光発生装置と測定試料の収納用真空室との間のレーザパルス光の光路上に透過率の異なる複数の光学フィルターを備えた光学フィルター手段を設け、この光学フィルター手段を回転、又は縦若しくは横にスライドさせ、所定の光学フィルターをレーザパルス光の光路上に配置できるようにする駆動手段を設ける。この測定試料へのレーザ光照射量調節機構を備えた熱定数測定装置。 (もっと読む)


【課題】毛管チャンネルを提供する。
【解決手段】幅を規定する向き合った壁の第1の対及び深さを規定する向き合った壁の第2の対を含み、チャンネルは、前記幅の前記深さに対する比として定義されるアスペクト比が10〜100であり、向き合った壁の第2の対の少なくとも一方の内面を粗くしてある。毛管チャンネルは、好ましくは、センサに組み込まれる。
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【課題】高温下での、上記ヒータの減肉、スパークの発生をおさえ、更に、シアンの発生をも阻止でき、更に、効率のよい温度上昇を得る。
【解決手段】炉材で囲われるとともに、ヒータを配設した本体空間を、均熱筒で、試料空間とその外部の加熱空間とに遮断し、試料ガス供給手段が、試料空間に試料雰囲気を供給する構成とし、さらに、ヒータガス供給手段が、加熱空間にヒータ雰囲気を供給するヒータガス供給手段とする。ヒータ雰囲気としてヒータを侵さない不活性ガス、例えばヘリウムガス、を用いる。この場合、炉周壁からの熱放散が大きくなるのを防止する目的で、炉の周壁が大気圧時の1/10程度の熱伝導率が達成可能な真空断熱層で覆われる。これによって、より効率的な温度上昇が得られる。 (もっと読む)


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