【課題】浸透探傷試験装置及び方法において、装置の簡素化並びに高精度な試験を可能とする。
【解決手段】検査治具として、注水管台７４と注水配管７５との溶接部７６の検査面７７，７８を洗浄すると共に浸透液を塗布する洗浄・浸透液塗布治具１１３，１３１、検査面７７，７８に現像液を塗布する現像液塗布治具１４４，１７１、検査面７７，７８を観察する観察治具１８２を設け、これらを架台１０１から注水管台７４及び注水配管７５に挿入して検査面７７，７８の処理を行う。 （もっと読む）

【課題】現像剤を用いずに浸透探傷検査、特に染色浸透探傷検査を簡単に行うことのできる方法を提供する。
【解決手段】本発明は、部材表面に浸透液を塗布して前記部材表面の亀裂等の欠陥を検出する浸透探傷検査方法において、前記部材表面の検査対象範囲に浸透液を付着させる浸透液適用工程と、部材表面の余剰浸透液を除去する浸透液除去工程と、前記検査対称範囲を含む部材に振動を付与する加振工程と、前記加振工程によって付与された振動によって前記浸透液を前記部材表面に浮き出させる表出工程と、前記表出工程により前記部材表面に浮き出た浸透液による指示模様を観察する観察工程と、を備えてなる。 （もっと読む）

【課題】画像を取込む時の短い時間だけランプ電流を増大させて紫外線強度を上げ、探傷精度を向上させた紫外線探傷灯を提供する。
【解決手段】紫外線探傷灯８は、蛍光物質を散布した被検査体２の表層部に紫外線を照射し、カメラ９で表層部の探傷を行う蛍光探傷試験に用いるものであり、灯具１１に収納した放電管２２と、この放電管２２を点灯させるための安定器２４とを備え、整流器２６およびコンデンサ２７からなるパルス電力制御手段２５を備えるとともに、パルス電力制御手段２５が、定格より低い電力で駆動する放電管２２に、コンデンサ２７で蓄えたパルス電流を重ね合わせて、高強度の紫外線を瞬間的かつ断続的に発生させる。 （もっと読む）

【課題】基板表面の印刷物の位置の変化や濃淡などの影響を低減して、基板上の異物の有無を高精度に判定する異物検査方法を提供する。
【解決手段】撮像部と画像データ演算部とを備える基板検査装置を用いた基板上の異物検査方法であって、良品基板の参照画像データ上で印刷領域を抽出する工程Ｓ１と、印刷領域を所定量だけ膨張させて膨張領域を演算する工程Ｓ３と、検査基板の検査画像データ上で印刷物が占めると推定できかつ膨張領域に含まれる印刷推定領域を抽出する工程Ｓ４と、参照画像データの印刷領域ならびに検査画像データの印刷推定領域に中間色を上書き補正して補正後参照画像データならびに補正後検査画像データとする工程Ｓ５と、補正後参照画像データと補正後検査画像データとを相互に比較して輝度情報に一定以上の差がある輝度差異領域を特定する工程Ｓ６と、輝度差異領域に基づいて検査基板上の異物の有無を判定する工程Ｓ７と、を有する。 （もっと読む）

【課題】検査を短時間で行うことが可能であり装置や処理が煩雑にならず、欠陥を見逃すことがなく確実に検出することが可能である外観検査方法及び外観検査装置を提供する。
【解決手段】鋳造体からなる被検査体１の欠陥部に蛍光剤を浸透させマーキングを施した後、前記被検査体１をワーク回転装置２０に取り付けて連続回転させ、紫外線照射装置４１〜４６から紫外線を照射し、撮像装置３１〜３３で被検査体１を撮像し、前記欠陥部の発光を被検査体１の回転移動の軌跡として記録した蛍光発光画像の画像データを取得し、該画像データの画像処理を行い、欠陥部を検査する。 （もっと読む）

【課題】検査液中の分散剤および蛍光磁粉の濃度を簡単な方法で同時に測定でき、かつそれら濃度を瞬時かつ高精度に測定可能とした、測定精度および作業性を向上させた湿式蛍光磁粉探傷試験に用いる検査液の成分濃度の測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】被検査体の磁化した金属の表面に、少なくとも蛍光磁粉と、分散剤とを混合してなる検査液を接触させ、表面の傷部に蛍光磁粉を集合および付着させることによって、傷部を探傷する湿式蛍光磁粉探傷試験に用いる検査液の成分濃度の測定方法および測定装置では、検査液を透明な測定具３に導入し、光源４の光を、測定具３の一側方から検査液に照射して得られた透過光および励起して発光した可視光を用い、透過光を検出する紫外線検出器５の検出値に基づいて、分散剤の濃度を測定するとともに、励起して発光した可視光を検出する蛍光輝度検出器６の検出値に基づいて、蛍光磁粉の濃度を測定する。
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【課題】形鋼のウェブ検査面の表面に存在する可能性のある表面欠陥を正確に検出すること。
【解決手段】本発明に係る表面欠陥検査装置は、変調された線状のレーザ光を照射して形鋼によって反射された線状のレーザ光を撮像し、形鋼の光切断像を生成する遅延積分型撮像装置により生成された光切断像から得られる縞画像を利用し、形鋼の表面の凹凸状態を表す形状画像と形鋼の表面での粗度の相違を表す輝度画像とを生成する画像生成部と、輝度画像に基づいて形鋼のフランジ面のエッジ位置を検出するエッジ位置検出部と、検出されたエッジ位置と、形鋼の形状に関する情報と、形鋼撮像装置と形鋼との位置関係に関する情報とを利用し、形状画像のフランジ面に対応する部分を不感帯として算出するエッジ不感帯算出部と、形状画像のうち不感帯をのぞく部分を表面欠陥検出対象部分とし、当該表面欠陥検出対象部分に存在する表面欠陥を検出する欠陥検出処理部と、を有する。 （もっと読む）

【解決手段】 物品の表面に平行に所定間隔で形成されたライン２Ａを撮影して、該ライン２Ａの欠け２Ｂを検査する物品検査方法に関する。
カメラ５が撮影した検査画像Ｇからライン２Ａを示すライン領域Ａを抽出したら、上記ライン領域Ａの外郭となる輪郭線をその形状を保ったまま所定の方向に移動させて、隣接するライン領域Ａとの隙間がなくなるように該ライン領域Ａを拡張させる。
そして上記検査画像Ｇに、拡張させたライン領域Ａに該当しない空白領域Ｂが存在する場合、ライン２Ａに欠け２Ｂが存在すると判定する。
【効果】 物品の表面に平行に所定間隔で形成されたライン２Ａの欠け２Ｂを検査する場合に、モデルデータと撮影した検査画像Ｇとの位置合せを不要とすることができる。 （もっと読む）

【課題】目的物を蛍光剤で処理し、目的物に光を照射し、照射された目的物からの蛍光を画像記録部により記録して目的物中の割れを検出すること。
【解決手段】目的物（１１）を蛍光剤で処理し、目的物（１１）に光を照射し、照射された目的物からの蛍光を画像記録部（１３、５４）により記録することからなる、目的物中の割れを検出する方法であって、画像記録部（１３、５４）により得られた目的物（１１）の画像を、画像の色内容に関して自動的にデジタル化して目的物中の任意の割れを検出するために分析することを特徴とする方法。 （もっと読む）

【課題】様々な磁粉探傷画像の輝度変動に対応可能な２値化のしきい値の決定して、誤検出を少なくすると共に高い欠陥検出率を実現する。
【解決手段】搬送されている被検査材２の表面に生じた磁粉模様を撮像手段７により撮像し、撮像された画像から被検査材２の表面欠陥Ｋを検出する磁粉探傷装置１において、画像における輝度の平均Ｖａｖｅと輝度の標準偏差Ｖσの定数倍Ｗとの和を２値化のしきい値Ｔｈとし、このしきい値Ｔｈを用いて画像を２値化して表面欠陥Ｋを検出する。 （もっと読む）

【課題】自動浸透探傷装置による浸透探傷検査において、微細な亀裂欠陥を漏れなく確実に検出することが保証できる亀裂欠陥の検出方法を提供する。
【解決手段】ＣＣＤカメラ６の焦点を、指示模様１２ａに対する焦点距離から所定の距離だけずらして、あるいは、ワーク１１かＣＣＤカメラ６のいずれか一方を、指示模様１２ａに対するＣＣＤカメラ６の焦点方向に対して垂直でかつ互いに直角をなす二次元方向に振動させて、蛍光画像を撮影することにより、増幅された指示模様１２ｂ（１２ｃ）を蛍光画像として撮影するとともに、亀裂欠陥判定工程において、亀裂欠陥１２が有る旨の判定がなされた場合に、指示模様１２ａに対するＣＣＤカメラ６の解像度をより高めた状態で、より精細な蛍光画像を撮影する高精細蛍光画像撮影工程と、より精細な蛍光画像を画像処理して、亀裂欠陥１２のサイズを検出する高精細蛍光画像処理工程と、を備える亀裂欠陥の検出方法。 （もっと読む）

【課題】長尺でロール状の多孔質電極基材の連続移送時において、多種類の外観欠陥を高精度で且つ効率的に自動的に連続検査が可能な外観欠陥の自動検査方法とその検査結果及び欠陥位置を直ちに確定できる多孔質電極基材の巻体を提供する。
【解決手段】多孔質電極基材(1) の表面に検査光を照射し、その透過光、正反射光及び散乱光を撮像し、それらの撮像データを画像処理部(4) にて解析し、その欠陥の種類、存在位置を記録媒体に記録しつつ連続して巻き取る。巻き取られた巻体に、前記外観欠陥自動検査による検査結果を記録した記録媒体が添付される。 （もっと読む）

【課題】欠陥検査装置において、欠陥の生じた膜を特定することにより、欠陥発生の原因分析を迅速化し、生産性の低下を防止する。
【解決手段】複数種の膜が積層された被検査対象の基板Ｗを撮像し、撮像データＤを取得するステップと、取得した撮像データから欠陥の有無を検出するステップと、検出された欠陥の領域の色情報を、所定の表色系に準ずる値として抽出するステップと、データベースに記録された全ての膜種の教示データから、前記検出された欠陥の領域と同領域の色情報を、前記所定の表色系に準ずる値として膜種ごとに抽出するステップと、前記検出された欠陥の領域の色情報と、前記教示データから抽出された色情報との相違度を膜種ごとに算出するステップと、相違度が所定値より小さい場合に、その色情報を有する教示データにおいて成膜されていない膜と同種の膜に欠陥を有すると判定するステップとを実行する。 （もっと読む）

【課題】映像記録移動手段に対する指令、移動手段に対する指令及び移動に際し、無端状輸送管からなる無端状輸送管に設けられている装置に対する指令を、タッチパネルにより指示でき、各指令に対する結果をＰＣによりモニターでき、記録として蓄積できる、新規な映像記録による監視装置の提供。
【解決手段】移動手段固定手段、及び映像記録手段に固着された無端状輸送管にそって移動する映像記録による監視装置において、映像記録手段は映像記録手段に対する指令により映像を記録し、移動手段は移動手段に対する指令により動作し、移動に際しては無端状輸送管に設けられている装置に対する指令及び応答に応じて移動手段の運行を指示する映像記録による監視装置。 （もっと読む）

【課題】セラミックデバイス等の構造体の内部に設けられた閉空間と外部空間との連通の有無を、簡便な手法にて判定できる手法を提供する。
【解決手段】拡散透過能を有するとともに外部から視認不能な閉空間を内部に有する構造体の外面に、欠陥に対する含浸能を有するとともに構造体とは異なる色を呈する浸透性液体を付着させた後、外面に付着した余剰の浸透性液体を除去したうえで、構造体に照明光を照射した状態で構造体の透過像の観察を行う。該観察によって特定される、閉空間の形成領域に対応する部分である閉空間対応部分における呈色状態に基づいて、構造体における、外部空間と前記閉空間とを連通させる連通欠陥の有無を判定する。 （もっと読む）

【課題】一部の良品パターン情報のみで、検査基板のパターンずれの検出を可能とし、検査領域全面の予測位置情報も必要なく、必要最小限の情報量に抑えることが可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供すること。
【解決手段】被検査基板を撮像する手段と、撮像した基板画像を取り込む手段と、取り込んだ基板画像を検査画像として記憶する手段と、記憶された検査画像の一部を取り出し、パターンマッチング用の参照画像として設定し、検査条件を設定する手段と、設定された参照画像および設定条件を記憶する手段と、記憶された検査画像と参照画像とを用いてパターンマッチングを行う手段と、パターンマッチングの結果、検査画像と参照画像とのずれ量を算出する手段と、算出されたずれ量を示す情報を表示する手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】透光性を有する材料を含む板状体の内部に存在する欠陥を、高精度に検出することを可能にする。
【解決手段】板状体２の欠陥を検出する欠陥検出装置は、透光性を有する材料を含んだ板状体２の一の面３３に光を入射させる投光装置５と、板状体２で反射した光の反射光を用いて板状体２を撮像する撮像装置３と、を有している。そして、投光装置５から出射した光の光路上に光透過率が９２％以下の拡散体６が配置されている。 （もっと読む）

【課題】強力な紫外光を照射して鮮明な外乱光の影響を受けない撮影をする。
【解決手段】
紫外線発光ダイオード１４の光源１５は、被撮影箇所近傍に蛍光体２２を付着させた被写体１２の表面に、パルス状の紫外光を照射する。カメラ１６は、被写体１２の表面に対する紫外光照射開始後であって蛍光体２２の輝度が周囲よりも高くなったときから所定時間だけ、被写体１２の光像を受け入れて画像信号を取得する。同期制御回路２０は、このようにカメラを制御する露光制御信号を生成する。紫外線発光ダイオードの光源を用いてパルス状の紫外光を照射するので、強力な紫外光を照射できる。 （もっと読む）

撮像組立品で、前記撮像組立品中の異なるそれぞれの場所に搭載され、試料のそれぞれの画像を記録するように構成された複数のカメラを含むものを備える、検査用の装置。移動組立品は、位置に関する所定の許容誤差で制限される精度で前記撮像組立品に前記試料を走査させるために、前記撮像組立品と前記サンプルの少なくとも一つを動かすように構成されている。画像処理装置は、前記位置に関する許容誤差よりも細かい位置精度で前記試料中の欠陥の位置を特定するために、前記カメラによって記録された画像を受信し、処理するために、結合されている。 （もっと読む）

【課題】量産部品の完成検査は、従来、目視によることを基本とし、検査員の育成・配備や検査時間が多大であると同時に、判別に対する個人差や誤認或いは見落としが避けられないため、判別検査を自動的に処理する画像処理システムを提供する。
【解決手段】被検査部品の各面に対応してカメラを設置し、照明板、コントロ−ラ、パ−ソナルコンピュ−タ−及びこれらをコントロ−ルするコンソ−ル並びにコントロ−ルマウスによって画像処理システムを構成し、適合の見本とする部品の各撮像面について、カメラの角度、照明の色調及び照明の明るさをプログラミングしたモデル画像による計測値９をメモリ−する。同時に、これを基準にして曖昧さの領域について上限レベル及び下限レベルを設定する。以上にもとづいて、被検査部品の画像をモデル画像及びその計測値９と対比し、被検査部品の適合又は不適合を自動的に判別する。 （もっと読む）