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【課題】測定セルと、分析装置のサーモスタット調温された要素との間の熱連結性をチェックするための方法を提供する。
【解決手段】(a)測定セルを該分析装置内に挿入し、それによりサーモスタット調温された要素との機械的接触を確立する工程、(b)分析装置により供給される検量用流体、濯ぎ用流体などの流体で測定チャンネルを満たすか、あるいは外部から供給されるサンプル流体、品質管理流体などの流体で測定チャンネルを満たす工程、(c)測定チャンネルと、外部流体又は内部流体との間に温度平衡が得られるまで待機する工程、(d)前記サーモスタット調温された要素により急速な温度変化を適用する工程、(e)急速な温度変化が適用された後の少なくとも1つのセンサー素子の経時信号曲線を測定する工程、(f)上記工程(e)の測定で得られた経時信号曲線を分析することにより熱連結性の質を判定する。 (もっと読む)


【課題】シリコーンゴム成形物中の低分子シロキサン濃度をリアルタイムで評価できる乾燥機システム及び評価方法の提供。
【解決手段】シリコーンゴム硬化物のポストキュアを行う乾燥機と、該乾燥機由来の排出ガスが導入され、該排出ガス中の低分子シロキサン濃度をリアルタイムに測定する測定装置と、を備える乾燥機システム;(a)該乾燥機によりシリコーンゴム硬化物のポストキュアを行い、該測定装置により該乾燥機由来の排出ガス中の低分子シロキサン濃度をリアルタイムに測定する工程、及び(b)予め作成した所定の検量線を用いて、工程(a)で測定した低分子シロキサン濃度から工程(a)でポストキュアを行ったシリコーンゴム硬化物中の低分子シロキサン濃度を決定する工程、を含んでなるシリコーンゴム硬化物中の低分子シロキサン濃度をリアルタイムで評価する方法。 (もっと読む)


【課題】熱処理時に処理対象基板にダメージを与えることを防止することができる熱処理装置を提供する。
【解決手段】光学測定系を用いて反射率が既知の標準ウェハー、パターン形成がなされていない無地ウェハーおよび実際に処理対象となる半導体ウェハーの反射強度を測定する。それぞれの反射強度にはスペクトル分解処理がなされる。そして、標準ウェハーの反射強度と無地ウェハーの反射強度とから無地ウェハーが吸収した光エネルギー値が算出され、標準ウェハーの反射強度と処理対象ウェハーの反射強度とから処理対象ウェハーが吸収した光エネルギー値が算出される。これらに基づいて無地ウェハーに対する処理対象ウェハーの光エネルギー吸収比率が算出され、その値と無地ウェハーに照射する光の適正エネルギー値とから処理対象ウェハーに照射すべき適正エネルギー値が算出される。 (もっと読む)


蒸発光散乱検出器などのデバイスに使用されることに適した、構成部品が開示される。蒸発光散乱検出器などのデバイスに使用されることに適した、構成部品の使用方法および製造方法も開示される。 (もっと読む)


【課題】試料中の水銀を捕集する流路における水銀の残留をなくする水銀分析装置およびその方法を提供し、水銀を高感度かつ高精度で分析することを目的とする。
【解決手段】本発明の水銀分析装置は、試料ガスS中の水銀を捕集する水銀捕集管4に試料ガスSを流す試料ガス導入流路2と、水銀が捕集された水銀捕集管4を加熱して水銀を気化させる加熱気化装置5と、気化された水銀を測定する水銀測定器6と、試料ガス導入流路2の水銀捕集管4の上流側の流路接続部3で接続され、気化された水銀を水銀測定器6に運ぶためのキャリアガスGを流すキャリアガス供給流路7とを備え、流路接続部3は、外管75の中空部に内管25が貫通した二重管であり、試料ガスSまたはキャリアガスGのいずれか一方のガスが内管25の中空部251を流れ、他方のガスが内管25の外壁252と外管75の内壁752の間の管状空間753を流れる二重の流路を有する。 (もっと読む)


【課題】 赤外線の水による吸収を利用して含有水分を測定する焼結原料の水分測定において、原料配合が変更になっても速やかに吸光度と含有水分量との関係を修正し、常に正確に含有水分量の測定を行うことのできる水分測定方法及び水分測定装置を提供する。
【解決手段】 焼結原料から採取した試料について乾燥質量法によって水分含有量Wを測定し、乾燥質量法評価の実施前と実施後のそれぞれで当該試料について赤外線水分計で吸光度を測定してそれぞれk1、k2とし、k1、k2、Wに基づいて、吸光度kと水分含有量評価値wとの関係を示す一次式の係数を定める。このようにして定めた一次式を用い、焼結原料について赤外線水分計で測定した吸光度に基づいて水分含有量評価値wを算出する。1試料による測定のみで、検量線を補正することができるので、迅速かつ正確に赤外線水分計の検量線を修正することができる。 (もっと読む)


【課題】赤外線の水による吸収を利用して含有水分を測定する焼結原料の水分測定において、常に正確に含有水分量の測定を行うことのできる焼結原料の含有水分量測定装置を提供する。
【解決手段】ベルトコンベア6上を輸送される焼結原料7に赤外線を照射する第1赤外線水分計11と、試料採取装置13と、絶乾式水分計14と、第2赤外線水分計12と、演算装置15を有し、ベルトコンベア6上を輸送される焼結原料7から試料皿22の中に試料を採取し、第2赤外線水分計12は絶乾式水分計評価前の試料26について吸光度kを測定し、絶乾式水分計14は試料の含有水分量Wを評価し、演算装置15は含有水分量W及び測定した吸光度kに基づいて、吸光度kと水分含有量評価値との関係を一次式の関係として定め、第1赤外線水分計11で測定した吸光度に当該一次式を適用して焼結原料の水分含有量wを評価することを特徴とする焼結原料の含有水分量測定装置。 (もっと読む)


【課題】X−Yステージに対してその上と下の温風の流れをコントロールすることにより、マイクロプレートウエルの温度制御を精密に行うことができる画像取得装置を提供すること。
【解決手段】マイクロプレートウエル3を載置するためのX−Yステージ1を備えた画像取得装置において、試料環境維持のために該X−Yステージ1と対物レンズ7はハウジング11により囲われているとともに、該ハウジング11には加熱空気の吹出口12と排気口13が設けられ、該吹出口12から前記ハウジング11内に入る加熱空気が、前記X−Yステージ1の上を流れる上層流と下を流れる下層流に分かれて該排気口13へ流れるように整流板23が設けられている。 (もっと読む)


【課題】 冷却機構なしで暗電流を減らし、受光感度を波長1.8μm以上に拡大したInP系フォトダイオードを用いて、食品の品質を高感度で検査することができる食品品質検査装置等を提供する。
【解決手段】 受光層3がIII−V族半導体の多重量子井戸構造を有し、pn接合15は、不純物元素を受光層内に選択拡散して形成したものであり、受光層における不純物濃度が、5×1016/cm以下であり、食品品質検査装置は、波長3μm以下の水の吸収帯に含まれる、少なくとも1つの波長の光を受光して、検査をすることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】内周面での赤外線の乱反射を防いで、濃度測定の精度の悪化を防止できる気体セル、気体サンプル室、及び、濃度測定装置を提供する。
【解決手段】筒状に形成されており、一端部6bに配置された光源7から放射される赤外線を、内部を通じて他端部6cに配置された赤外線センサに導く気体セル6であって、内周面6dに黒体処理が施されている。 (もっと読む)


【課題】細胞等の被観察物(位相物体)全体の情報を得ることができる観察装置を提供する。
【解決手段】観察装置1が、被観察物5を支持するステージ10と、ステージ10に支持された被観察物5に対し、明部と暗部とが交互に繰り返し配置された照明光を照射する照明ユニット20と、照明光が照射される被観察物5からの散乱光を撮像面33上に導いて、被観察物5の像を結像させる結像光学系31と、結像光学系31により撮像面33上に結像された被観察物5の像を撮像する撮像素子32とを備え、ステージ10を照明光の明部と暗部の繰り返し方向に相対移動させるステージ駆動部11が設けられ、ステージ駆動部11による相対移動を行いながら撮像素子32が被観察物5の像を複数回撮像するようになっている。 (もっと読む)


【課題】本発明は、相転移する試料は厚さ1μm程度、大きさ1mm角程度でも十分であり、さらには複数個の試料を同時に測定することもできる、相転移温度等の相転移条件の測定方法ならびにそのための測定装置を提供する。
【解決手段】相転移する試料の電磁気的変化を放射率、反射率および透過率の少なくとも一つとして相転移が生じ得る条件下で測定し、該相転移する試料の放射率、反射率もしくは透過率の変化により、該相転移する試料の相転移条件を測定することを特徴とする相転移する試料の相転移条件の測定方法。 (もっと読む)


【課題】測定対象気体の濃度の変化に対する応答性の悪化を防ぐことができるとともに、測定対象気体の濃度を正確に測定できる気体サンプル室及び濃度測定装置を提供する。
【解決手段】筒状に形成された本体部6と、本体部6の一端部6bに配置され且つ赤外線を放射する光源7と、本体部6の他端部6cに配置され且つ光源7からの赤外線を検出する赤外線センサと、を備え、光源7からの赤外線を本体部6の内部を通じて前記赤外線センサに導く気体サンプル室2において、本体部6の一端部6bに配設され且つ本体部6の熱を雰囲気に放出する放熱部材9と、本体部6の他端部6cに配設され且つ雰囲気の熱を前記赤外線センサに伝える調温部材10と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】試料容器にシール性で問題を生じる窓を設けることなく、メニスカスの消滅と光散乱現象を定量的に正確に判断でき、光の外乱がない状態において臨界点を測定する。
【解決手段】試料容器1内の第1端面13に光ファイバーからなる発光器3を設け、試料容器1内の第1端面13と対向する第2端面14に、高さの異なる位置に図中第1受光器5と第2受光器7と第3受光器9を互いに間隔を有して配置する。そのうちの第2受光器7は容器室内の高さ方向中間位置に配置する。試料容器1内の試料の温度及び圧力を任意に変化させ、各受光器の位置にメニスカスが存在するときに受光器は発光器の光を検出せず、また臨界点の時試料が散乱状態となって発光器の光を検出しないことを利用し、また、臨界点の密度より小さいときメニスカスが下方に移動し、大きいときに上方に移動し、臨界点密度のとき容器の中間位置において移動しないことを利用して臨界点を検出する。 (もっと読む)


【課題】粉粒体を空隙部が存在しない状態で収納部に収納し得る品質計測用の粉粒体収納容器を提供する。
【解決手段】上方が開口されかつ底壁53b及び側周壁53cを備える収納部53を有する容器本体51と、収納部53における開口53aを開閉自在でかつ閉じ姿勢にて容器本体51に固定装着自在な蓋体52とが設けられ、容器本体51が、収納部53に測定対象としての粉粒体を収納しかつ蓋体52を閉じ姿勢にて固定装着した状態において、品質計測装置における装填箇所に着脱されるように構成された品質計測用の粉粒体収納容器であって、収納部53の側周壁53cにおける周方向の少なくとも一部が、後退弾性変位自在な後退変位壁部53Fに構成されている。 (もっと読む)


【課題】安価で、測定が簡便なすす濃度測定装置を提供する。
【解決手段】試料ガスGに測定光Iを入射させる光源2と、試料ガスGで生じた第1の角度θ1における散乱光の強度を検出する第1散乱光受光器3θ1と、試料ガスGで生じた第2の角度θ2における散乱光の強度を検出する第2散乱光受光器3θ2と、第2散乱光強度に対する第1散乱光強度の比からすす寸法を求める寸法比例式に第1散乱光受光器3θ1と第2散乱光受光器3θ2が検出した第1散乱光強度及び第2散乱光強度を代入して試料ガスG中のすす寸法を演算すると共に、第1散乱光強度又は第2散乱光強度からすす濃度を求める濃度比例式に当該受光器が検出した当該散乱光強度を代入して試料ガスGのすす濃度を演算する演算器4とを備える。 (もっと読む)


【課題】細胞観察における細胞の活性度を判断可能な手段を提供する。
【解決手段】撮像装置により所定時間ごとに観察細胞が撮影された第1,第2画像を順次取得し、これらの画像に含まれる観察細胞の画像平面上の回転角度姿勢を揃えたうえで、第1画像と第2画像の細胞内部のテクスチャ特徴量の相関値または差分を順次算出する。そして、算出された相関値または差分の時系列変化を導出し、その変化状態に基づいて観察細胞の活性度を判別する。 (もっと読む)


【課題】安価で、測定が簡便なすす濃度測定装置を提供する。
【解決手段】試料ガスGに測定光Iを入射させる光源2と、試料ガスGで生じた散乱光の強度を検出する受光器3と、散乱光強度からすす濃度を求める濃度比例式に受光器3が検出した散乱光強度を代入して試料ガスGのすす濃度を演算する演算器4とを備える。 (もっと読む)


【課題】測定対象である液体または溶融材料の量が少なくても、容易に平らな測定面で光学測定ができ、また蒸散や他の物質との反応を起さずに液体または溶融材料の物性を測定できる光学測定装置および測定方法を提供する。
【解決手段】光学測定装置は被測定材料を収容し、かつ、少なくとも底面が平坦面で透明となった底面透明容器6と、容器6の底面に投光し、かつ、その底面6aからの反射光11を検出、測定する光学装置とを有しており、液体または溶融材料13を収容した透明容器6の底面6aに光源1から入射光10を照射し、その反射光11のうち液体または溶融材料13からの反射光成分を検出、測定する。 (もっと読む)


【課題】被検査体における内部析出物、空洞欠陥、表面の異物ないしスクラッチ、表層のクラックの欠陥を精度よく検出し、欠陥の種類を特定して欠陥を分類できるようにする。
【解決手段】光源装置4からの光をポラライザー5を介して偏光を与えて被検査体Wに対し斜め方向に入射させ、その散乱光SBを暗視野に配置された偏光分離素子9を有するCCD撮像装置7で撮像し、得られたP偏光成分画像とS偏光成分画像とについて成分光強度を得て、それらの比としての偏光方向を求める。被検査体に応力を印加していない状態と、応力を印加した状態の光散乱体の撮像により得られた画像から成分光強度、偏光方向を求め、所定の閾値と対比することにより欠陥の検出、分類がなされる。 (もっと読む)


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