【課題】簡単な手順によって短時間に被測定物体の概略の断層画像および局所の詳細な断層画像を選択的にとらえる。
【解決手段】光源２０が出射する光ＳＬを参照光ＲＬ_１と測定光ＭＬとに分離する光束分離部と、測定光ＭＬを被撮影物体ｓｐに導くとともに、被撮影物体ｓｐのＸＹ面内で測定光ＭＬの照射位置を変位させる光学スキャナ５０と、第１対物光学系６１Ｌと、第２対物光学系６１Ｈと、第１対物光学系６１Ｌおよび第２対物光学系６１Ｈのいずれかを選択する切替制御部と、時間に応じて選択された対物光学系を、測定光ＭＬを被撮影物体ｓｐの表面または内部に合焦させるために光学スキャナ５０と被測定物体ｓｐとの間に配設する対物光学系切替部６０と、戻り光ＢＬと参照光ＲＬ_２との合成光ＣＬを得る光束合成部と、合成光ＣＬに基づいて、被撮影物体ｓｐの断層画像を生成する検出信号取得部とを備えた。 （もっと読む）

【課題】透明円筒中を流れる液体中に存在する気泡を外側から観測する場合に、透明円筒のレンズ効果に係らず、気泡の位置を正確に観測できるようにする。
【解決手段】少なくとも観測側が曲面とされた透明な筒状体１０内の液体１２中に存在する気泡１４を外側から観測する際に用いる気泡の可視化装置であって、前記筒状体１０の少なくとも一部を収容する、少なくとも観測側が平面とされた透明な液槽２０と、該液槽２０内で筒状体１０を完全に浸漬する高さまで充満された液体２２と、を備える。 （もっと読む）

【課題】反射面を含む容器に保持された被観察物の測定に好適な観察装置を提供すること。
【解決手段】入射した光を参照光と測定光とに分岐する分岐手段９と、前記測定光を被観察物に第1の偏光状態で照射し、該被観察物を介した前記測定光を受光する観察光学系１１と、前記参照光と前記被観察物を介した前記測定光とを合成する合成手段９と、前記被観察物を介した前記測定光のうち前記第1の偏光状態と所定の対応関係にある第2の偏光状態の光を減光させる減光手段１４と、前記合成手段によって合成された前記参照光および前記測定光を検出する検出手段１８と、前記参照光が、前記被観察物を介した前記測定光のうち前記第2の偏光状態と異なる第3の偏光状態の光と干渉可能な偏光状態となるように、前記参照光および前記測定光の少なくとも一方の偏光状態を制御する偏光制御手段２、１３と、を備える。 （もっと読む）

【課題】被観察物に応じた好適な検出が可能な観察を実現する。
【解決手段】入射した光を第１の参照光と第１の測定光とに分岐する第１の分岐手段３と、被観察物に対して第１の測定光を斜入射照明する第１の照明光学系と、斜入射照明された被観察物からの透過光と第１の参照光とを合成する第１の合成手段４と、第１の参照光と被観察物からの透過光との第１の干渉光を検出する第１の検出手段１６とを備えた透過型観察装置と、入射した光を第２の参照光と第２の測定光とに分岐する第２の分岐手段４と、被観察物に第２の測定光を照明する第２の照明光学系と、第２の参照光と被観察物からの反射光とを合成する第２の合成手段４と、第２の参照光と被観察物からの反射光との第２の干渉光を検出する第２の検出手段１６とを備えた反射型観察装置とを備える。 （もっと読む）

【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。
【解決手段】眼底からの戻り光と参照ミラーからの戻り光を光干渉させて眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、断層像を取得し、取得した断層像を含む画像を表示装置の画面に表示させ、断層像が画像の上端、下端のいずれか一方にかかる場合に警告表示する。 （もっと読む）

【課題】光干渉断層計を用いた断層像撮像装置において、設定された計測範囲において断層像の深さ方向の撮影位置を容易且つ適切に設定可能にする。
【解決手段】 光干渉断層計により眼底の断層像を撮影する断層像撮像装置は、眼底における二次元の計測範囲の中央部及び対向する端部の位置の断層像を取得し、取得された断層像を表示装置の画面に隣り合わせで並べて表示させる。 （もっと読む）

【課題】 追尾機能を有する光断層像撮像装置において、断層像を取得するときに適切な走査の制御をすることができる。
【解決手段】 本発明の光断層像撮像装置の制御方法は、被検眼の眼底画像を撮像する眼底画像撮像部と、被検眼の断層画像を撮像する断層像撮像部とを有し、眼底画像において、予め取得した複数の特徴領域と一致する座標の値を計算する工程、複数の座標の値の間における空間変化を計算する工程、及び計算結果に基づき、断層画像を取得するための断層像撮像部による測定光の走査を制御する工程、を有することうを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の信号強度の減少を抑制でき、検出感度を維持しつつ、複数画素の時間波形を測定することが可能な画像形成装置及び方法を提供する。
【解決手段】物体の内部情報を可視化する装置は、物体１０８からのテラヘルツ波１０９を検出する検出部１０１と、検出部の出力よりテラヘルツ波の時間波形を構築する構築部１０２と、変調部１０３と、調整部１０５と、加算部１０６を備える。変調部は、水平方向の物体の画素に対応するテラヘルツ波に関し、検出部に至るまでの画素毎の伝搬距離を複数種の変調パターンで逐次空間変調し、複数のテラヘルツ波１１０、１１１を出射する。調整部は、変調パターンに対応する画素毎のテラヘルツ波の伝搬距離の変化量を換算した時間量に基づき、構築部からの複数のテラヘルツ波の時間波形の時間軸上の位置を調整し、新たな複数の時間波形を算出する。加算部は、画素毎に新たな時間波形を加算処理する。 （もっと読む）

【課題】一体型基準反射器を有する画像化カテーテルを提供すること。
【解決手段】一部には、本出願はレンズアセンブリに関する。レンズアセンブリは、マイクロレンズ（８６）と、マイクロレンズと光学的に連絡するビームディレクタ（９０）と、実質的に透明な薄膜（９４）とを含む。実質的に透明な薄膜は、光を双方向に伝送し、かつ制御された量の後方散乱を発生することが可能である。さらに、薄膜は、ビームディレクタの一部分を取り囲んでいる。レンズアセンブリは、ＯＣＴシステムのサンプルアームにおいて用いられ得る。薄膜からの後方散乱は、基準アームの経路長をサンプルアームの経路長に調節するために（すなわち、ｚオフセット検出のために）用いられ得る。 （もっと読む）

【課題】 眼底用ＯＣＴ装置に適した短い波長で高速に波長挿引可能な光源装置を提供する。
【解決手段】 光を増幅させる光増幅媒体と、光共振器と、を備えた発振波長を変化可能な光源装置であって、前記光共振器は、前記光増幅媒体の一方の側に位置する第一の反射部材と、前記光増幅媒体の他方の側に位置する第二及び第三の反射部材を有して構成され、該第二及び第三の反射部材は前記光増幅媒体で増幅された光の光束を該光束の径方向に空間的に分離した状態で前記光増幅媒体方向に反射するものであり、第一の反射部材と前記光増幅媒体と第二の反射部材とを含んで規定される第一の光路と、第一の反射部材と前記光増幅媒体と第三の反射部材とを含んで規定される第二の光路と、の光路長差を可変とする光路長差調整部材により前記光路長差を変化させて前記発振波長を変化させる光源装置。 （もっと読む）

【課題】複数の光ファイバを用いてレーザ光を導光して実施する光音響イメージングにおいて、複数の分岐光と複数の光ファイバとの位置合わせを容易にすることを可能とする。
【解決手段】光音響撮像装置において、光学系の上流側から入射した１本のレーザ光Ｌｏを所定の分岐パターンに従って複数の分岐光Ｌｄとして分岐せしめる分岐回折光学素子４０を有する光分岐部１２と、コア１３ａ／クラッド１３ｂ構造を有する複数の光ファイバ１３を包含するバンドルファイバ１４であって、このバンドルファイバ１４の一方の端面１４ｅにおける複数の光ファイバ１３の一方の端面１３ｅが分岐パターンに対応して配列したバンドルファイバ１４とを備え、このバンドルファイバ１４を、複数の分岐光Ｌｄのそれぞれを複数の光ファイバ１３のコア１３ａのそれぞれに入射せしめるように配置する。 （もっと読む）

【課題】複数の光ファイバを用いてレーザ光を導光して実施する光音響イメージングにおいて、複数の分岐光と複数の光ファイバとの位置合わせを容易にすることを可能とする。
【解決手段】光音響撮像装置において、異なる位置に入射した２本のレーザ光ＬｘおよびＬｙのうち一方および他方を分岐パターンに従ってそれぞれ第１の複数の分岐光Ｌｘｄおよび第２の複数の分岐光Ｌｙｄとして分岐せしめる１つの分岐ＤＯＥ４０を有する光分岐部１２と、一方の端面１３ｅが分岐パターンに対応して配列した第１の複数の光ファイバ１３ｘを包含する第１のバンドルファイバ１４ｘと、一方の端面１４ｅが分岐パターンに対応して配列した第２の複数の光ファイバ１３ｙを包含する第２のバンドルファイバ１４ｙとを備え、第１の複数の分岐光Ｌｘｄを第１の複数の光ファイバ１３ｘにより導光し、第２の複数の分岐光Ｌｙｄを第２の複数の光ファイバ１３ｙにより導光する。 （もっと読む）

【課題】 従来の装置では、検出器の回転軸上からのみ光が照射されていたため、被検体内で光照射強度のムラができてしまう可能性があった。
【解決手段】 本発明の音響波取得装置は、光を発生させる光源と、前記光が被検体に照射されることにより前記被検体内から発生する音響波を受信する複数の素子が配置された検出器と、を備える。そして、前記検出器を回転させるための回転手段と、前記光源からの光を前記被検体に照射する複数の光照射部と、を有し、前記複数の光照射部は、前記検出器の回転軸以外の位置に少なくとも設けられている。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、ＯＣＴの分野に関する、既知の機器及び方法と比較して、より高い測定速度及びより広い測定領域によって特徴付けられるデバイス及び方法を提供することである。
【解決手段】透明物体又は拡散物体の少なくとも第１の領域（ＭＢ１）からの幾何学量及び第１の領域（ＭＢ１）から離れた第２の領域（ＭＢ２）からの幾何学量を確定するデバイスは、物体アーム、基準アーム、検出器アーム、及び光を放出する光源（ＡＬＱ）を有するコヒーレンス断層撮影装置を備える。デバイスは、物体アーム及び／又は基準アームによって形成された、第１の光路長を有する第１の経路及び第２の光路長を有する第２の経路を有し、光源（ＡＬＱ）によって放出される光は、第１の経路及び第２の経路を通って伝播することができる。 （もっと読む）

【課題】 断層画像の画像欠陥部分や組織構造上画像取得の困難な部位を画像化できる。
【解決手段】 測定光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、所定部位で反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系と、干渉光学系における測定光の光路中に配置され、所定部位上で測定光を走査させる光スキャナと、光スキャナを制御し，所定部位上のある撮影領域に対して測定光を走査させ、検出器からの撮像信号を処理することにより撮影領域における断層画像を取得する制御手段と、撮影領域に対する測定光の入射角を変更する入射角変更手段と、を備え、撮影領域に関して入射角が異なる複数の断層画像を取得する画像取得手段と、画像取得手段によって取得された入射角が異なる複数の断層画像を，画像処理により合成し、合成断層画像を取得する画像処理手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、歯科用などの光断層画像取得装置に関するもので、正確な断層画像を取得することを目的とするものである。
【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、測定対象の断層画像情報を生成する断層画像用演算部２３と、この断層画像用演算部２３の演算結果を表示部１７へ出力する表示制御部４４と、を備え、断層画像用演算部２３の演算結果より、前記プローブの光入出部２と測定対象との間の距離が測定距離範囲外となったことを検出する測定距離範囲外検出部４３を設け、この測定距離範囲外検出部４３が検出した結果を、表示部１７に通知する通知手段を設けた。 （もっと読む）

【課題】 三次元断層像を取得したときに検者を好適に補助できる。
【解決手段】 測定光源から発せられた光を二次元的に走査する光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検者眼の三次元断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、被検眼の正面観察像を動画像として取得する観察光学系と、光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された三次元断層像を画像処理により解析することにより異常部位を特定する演算解析手段と、演算解析手段によって特定された異常部位に対応する断層像を三次元断層像から抽出し、抽出された断層像を，観察光学系によって取得される正面観察像の動画像と同時にモニタに表示する表示制御手段と、を備える （もっと読む）

【課題】病変部の可能性が高い領域を観察者が容易に把握することができ、作業負担を軽減することが可能となる診断支援装置を提供する。
【解決手段】ＯＣＴ装置１の演算処理装置９０は、生体内部の内壁部において、病変部の疑いのある複数の特徴領域を抽出し、各特徴領域に対して病変部の可能性の度合いに応じた点数を割り当てる。そして、各特徴領域に割り当てられた点数に基づいて、内壁部の各位置における危険度を設定し、前記立体構造データを可視化した画像上に内壁部の各位置を危険度毎に色分けして表示する。 （もっと読む）

【課題】 電磁波パルスを短パルス化することが可能な電磁波パルス出射装置及びトモグラフィ装置を提供する。
【解決手段】 検体に照射される２つの電磁波パルス部分が、互いに反転した極性の電界強度を持ち、且つ前記２つの電磁波パルス部分のパルスピーク間の時間差がパルス幅の時間以内の時間差になるように処理する装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】キャリア周波数の干渉により生じる深さ方向の像の不鮮明さや誤差を低減して、深さ方向の構造をより鮮明かつ高精度に観察・測定する。
【解決手段】周波数が異なる複数のレーザ光を発生する光源１１と、コム周波数間隔が可変で中心角周波数が異なる複数のコム光を順次生成するコム光生成装置１２からのコム光が順次入射され参照鏡からの戻り光と測定対象からの戻り光との干渉出力を、コム周波数間隔を掃引することにより複数回検出する光学干渉計１３と、複数のコム光の中心角周波数を設定し、コム周波数間隔を掃引し、所定の演算を行う演算制御部１４は、光学干渉計１３における参照鏡からの戻り光と測定対象からの戻り光との干渉出力を、コム周波数間隔を掃引することにより複数回検出し、各検出において得られた干渉成分の検出値から、測定対象の深さ方向の反射構率分布や散乱係数分布のみを取り出す演算を行うことで、測定対象の構造測定を行う。 （もっと読む）