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Fターム[2G059FF02]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 分析法(形態) (5,527) | 空間分布の測定;走査又は撮像するもの (2,397) | 3次元分布、立体的分布を測定するもの (741)

Fターム[2G059FF02]に分類される特許

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【課題】例えばOCT撮影処理のための光量低下を最低限にとどめ、眼底像の劣化を防ぐ。
【解決手段】CPUは、第1の撮像手段により所定の領域で撮像された被検眼の眼底像から特徴点を抽出し(S401)、特徴点を含む、所定の領域より小さい領域を設定する(S403)。そしてCPUは、設定した領域で第1の撮像手段によって被検眼の眼底像を撮像させ、撮像された被検眼の眼底像に基づいて特徴点の位置のずれを検出する(S405)。そしてCPUは、検出した特徴点の位置のずれに基づいて、第2の撮像手段による被検眼の眼底像の撮像位置を補正する(S409)。 (もっと読む)


【課題】計測光の配列に対する走査方向の幅を小さくし、高SN比な断層像を得る。
【解決手段】本発明に係る撮像装置は、被検査物における前記複数の計測光の配列を検出する検出手段の検出結果に基づいて、複数の計測光を走査する走査手段の走査方向に対する上記配列を調整する。 (もっと読む)


【目的】干渉信号が必ず得られるようにする。
【構成】4つの干渉信号生成装置21〜24には測定光L1が測定対象Sbに照射され,反射した反射光が分岐された反射光L21〜L24と,参照光L3が分岐され,参照ミラー43,53,63,73において反射された反射光L41〜L44と,が入射する。干渉信号生成装置21〜24に入射する参照光の4つの伝搬ルートの光学的距離は異なるが,干渉信号生成装置21〜24に入射する測定光の反射光L21〜L24の光学的距離とほぼ同じである。したがって,干渉信号生成装置21〜24のうちのいずれかから必ず干渉信号が得られる。 (もっと読む)


【課題】高感度かつ測定時間が短い光断層画像測定装置および光断層画像測定システムを提供することを課題とする。
【解決手段】光源2から入射された光を、参照光と、信号光と、に分割するする光分割手段11と、測定対象物3から反射された反射信号光を複数の反射信号光に分割する光分割手段34と、参照光を、反射信号光の分割数と同じ数の参照光に分割する光分割手段21と、分割された参照光および反射信号光のそれぞれを合波することによって、分割された参照光および反射信号光に対応する干渉光を生成する光合波手段41と、波長スペクトルをそれぞれの干渉光から取得し、取得したそれぞれの波長スペクトルをフーリエ変換する解析手段53と、を有し、分割された参照光または反射信号光におけるそれぞれの光路の長さが、異なるよう固定されている光路長変化部101を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 手間無く、詳細な診断を行うことができる。
【解決手段】 測定光源から発せられた光を被検眼眼底上で二次元的に走査させるための光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検眼眼底の三次元断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された三次元断層像に基づいて眼底上の走査位置に関して互いに近接する複数の断層像を抽出し、抽出された複数の断層像をモニタ上に並べて表示する表示制御手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】画像化可能な深度範囲の拡大を低コストで実現可能な光画像形成方法を提供する。
【解決手段】光画像形成装置400は、FD−OCTを用いて対象物の断層像を形成する装置であり、スキャンステップと、検出ステップと、画像形成ステップとを実行する。スキャンステップでは、信号光と参照光との間の位相差をあらかじめ設定された2つの位相差に交互に変更しながら対象物を信号光でスキャンする。検出ステップでは、対象物を経由した信号光と参照光との干渉光を検出する。画像形成ステップは、スキャンに伴い検出ステップで逐次に得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて対象物の断層像を形成する。 (もっと読む)


【課題】 手間無く、詳細な診断を行うことができる。
【解決手段】 測定光源から発せられた光を被検眼眼底上で走査させるための光スキャナと、測定光源から発せられた測定光の眼底での反射光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検眼眼底の断層像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、光コヒーレンストモグラフィーデバイスによって取得された複数の断層像を処理して断層像の解析結果を取得する解析処理手段と、解析処理手段によって取得された解析結果に関する所定の基準の下に複数の断層像を並び換え、並び換えられた複数の断層像をモニタ上に並べて表示する表示制御手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】被計測部位内部の位置による空間分解能や雑音特性の差を抑制し、より均一に近い画像を作成することができる生体計測装置および画像作成方法を提供する。
【解決手段】生体計測装置10は、被計測部位Bに光を照射する光照射部と、被計測部位からの拡散光を検出する光検出部と、被計測部位の内部に関する再構成画像を作成する演算部14とを備える。演算部14は、再構成画像の各画素毎に設定される、0より大きく且つ1以下であるJ個の係数wj(Jは再構成画像の画素数)を算出し、次の反復式
【数1】


(但し、kは1からNまでの整数であり、Nは反復演算の回数である。xj(k)は第j番目の画素のk回目の反復演算時における画素値であり、dj(k)は第j番目の画素のk回目の反復演算時における更新量である。)を用いた逐次近似演算を行うことにより再構成画像を作成する。 (もっと読む)


【課題】PS−OCTにおいて計測されたデータを非線形に補正し、PS−OCTの定量解析能力を高め、病変部位の病期を含めた正確な定量診断を可能とし、コンピュータ診断のための有用な手段として利用を可能とする。
【解決手段】PS−OCT1におけるリターデーションが誤差を含みノイズとなり、その分布が正規分布でもなく、真の値の周りに対象に分布していない場合であっても、モンテカルロシミュレーションでノイズの特性を解析することによって得られた分布変換関数を用いて計測データを変換することにより、系統的な誤差を除去し、ノイズに埋もれた真の値を推測し、PS−OCT1の画像をより鮮明に補正する。 (もっと読む)


【課題】 光コヒーレンス断層撮影システムを提供する。
【解決手段】 光線を放射する光源、検出装置、光遅延装置、焦点調節装置、及び前記光線を第1参照光線と第1サンプル光線とに分けるビームスプリッターを含み、前記第1参照光線は、前記光遅延装置に入射され、前記第1サンプル光線は、前記焦点調節装置に入射され、サンプルに焦点が合わせられ、且つ前記光遅延装置から反射された第2参照光線及び前記サンプルから反射された第2サンプル光線は、前記ビームスプリッターを通過して前記検出装置に入射され、第一次元に沿った前記第2参照光線の異なる部分は、異なる光路長を有する光断層撮影システム。 (もっと読む)


【課題】 光干渉断層診断装置において、キャリブレーション作業後にフラッシュ液の選定に誤りがあったことに気づいた場合であっても、既存データと新たに選択したフラッシュ液の屈折率とから、計算によって自動的に再キャリブレーションあるいは再画像構築を行うことで、作業時間を短くし患者へかかる負担を少なくする。
【解決手段】 フラッシュ液の選択を行い(S101)、その選択されたフラッシュ液の屈折率を用いたキャリブレーションを行う(S102)。この後、選択したフラッシュ液に誤りがあって、正しいフラッシュ液を再選択の指示があった場合(S103)、従前に選択されたフラッシュ液の屈折率に対する再選択されたフラッシュ液の屈折率に基づくオフセット値を算出し、当該オフセット値に従い参照光の光路長を自動調整する(S104)。 (もっと読む)


【課題】プローブを入れ替えたり交換しても、再度校正を行わずに最適条件で計測を行うことができる光計測装置を提供する。
【解決手段】光源プローブ1から計測対象10に光を照射し、透過した光を受光プローブ2で検出して強度変化を計測することにより、計測対象の内部情報を測定する光計測装置において、プローブフォルダ3を有し、光源プローブと受光プローブは、個別に取り外しができるように、プローブフォルダに装着し、光源プローブおよび受光プローブには、それぞれ光源プローブ内に配置されている光源素子および受光プローブ内に配置されている受光素子の校正用データ並びに各プローブに固有に割り当てられている番号を保持できる不揮発性メモリを有し、プローブフォルダのどの位置にプローブが装着されているかを判別し、各プローブの個別の校正データを元に各プローブの光源素子の駆動電流の調整または受光素子の感度補正を行うように構成した。 (もっと読む)


【課題】広い波長帯域の測定光を用いて縦分解能に優れた断層画像の提供を行う。
【解決手段】光干渉断層装置において、光源から出射された光を参照光と測定光に分割する手段と、分散特性が異なる第一の分散補償手段と第二の分散補償手段と、前記測定光を被測定検体に照射することによる戻り光と、前記第一の分散補償手段及び前記第二の分散補償手段とを透過した前記参照光とを干渉させて干渉光を得る手段と、前記干渉光に基づき、前記被測定検体の断層像を取得する手段と、を有することとする。 (もっと読む)


【課題】光学顕微鏡法を用いて解剖学的構造またはサンプルと関連付けられた情報を取得するための装置、構成および方法を提供する。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプルに与えるように方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を提供することができる。放射の波長は時間とともに変化することができ、波長は約1150nmより短い。干渉は、第5の放射と関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、第2の放射と関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間に検出することができる。サンプルの少なくとも一部分に相当する少なくとも1つの画像を、干渉と関連付けられたデータを用いて生成することができる。さらに、時間とともに変化する波長を有する電磁放射を与えるように構成された少なくとも1つの光源構成部を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】光学顕微鏡法を用いて解剖学的構造またはサンプルと関連付けられた情報を取得するための装置、構成および方法を提供する。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプルに与えるように方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を提供することができる。放射の波長は時間とともに変化することができ、波長は約1150nmより短い。干渉は、第5の放射と関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、第2の放射と関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間に検出することができる。サンプルの少なくとも一部分に相当する少なくとも1つの画像を、干渉と関連付けられたデータを用いて生成することができる。さらに、時間とともに変化する波長を有する電磁放射を与えるように構成された少なくとも1つの光源構成部を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】 簡単な構成で断層画像をスムーズに取得できる。
【解決手段】 光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を互いに独立した第1のビームと第2のビームに分けて、各ビームを被検物上の異なる位置に照射しながら走査する走査光学系と、前記測定光の光路中に配置され、前記第1のビームと第2のビームとの間に光路長差を生じさせる光遅延路と、被検物からの前記第1ビームの反射光と,被検物からの前記第2ビームの反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力される干渉信号を処理して、前記第1ビームによって形成される第1断層画像と前記第2ビームによって形成される第2断層画像とを取得する演算処理部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】胆道・膵管等の平坦な表面を有する生体内の内壁部において、病変部の疑いのある「内壁部の表面(最表面)において乳頭状隆起が発生している領域」及び、「内壁部の表面(最表面)においてランダムに細胞(上皮細胞)が増殖している領域」が存在する場合に、その領域を自動で検出して診断支援を行う診断支援装置、診断支援方法、病変部検出装置、及び病変部検出方法を提供する。
【解決手段】OCT装置1の演算処理装置90は、立体構造データにより胆道・膵管の内壁部の表面の位置が検出され、その表面形状から面粗さの評価値が算出される。そして、評価値が高い(面粗さが粗い領域が「内壁部の表面(最表面)において乳頭状隆起が発生している領域」等として病変部として検出される。面粗さの評価値は、内壁部表面に複数の測定点を設定し、各測定点における内壁部表面の傾き量の絶対値を所定領域ごとに加算した値とする。 (もっと読む)


【課題】被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能な干渉光計測装置を提供する。
【解決手段】干渉光計測装置は、光源ユニットと、干渉光学系と、走査部と、撮影光学系と、特定部と、制御部とを有する。干渉光学系は、光源ユニットからの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼による信号光の反射光と参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被検眼に対する信号光の照射位置を走査する。撮影光学系は、干渉光学系における信号光の光路と同軸で被検眼の前眼部を撮影する。特定部は、撮影光学系による撮影画像に基づいて、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、特定された強反射位置に対して信号光を照射させるときに、光源ユニットを制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。 (もっと読む)


【課題】波長掃引におけるデータの取り込みタイミングを当該波長掃引において生成されたトリガ信号により決定し、安定したデータの取り込みを可能にする。
【解決手段】測定光と参照光との干渉光に基づいて断層像を形成する光干渉断層像形成装置は、サンプリングタイミングで干渉光の光強度を電気的なデジタル信号に変換する変換器と、光源の1回の波長掃引における、予め設定した所定波長の光を検出することでトリガ信号を生成する光検出器とを、サンプリングタイミングごとに変換器から出力されるデジタル信号を所定の遅延時間だけ遅延させて出力する遅延部とを有する。信号処理部は、遅延部から出力されるデジタル信号のうちの、光検出器でトリガ信号が生成された時点から所定期間のデジタル信号を用いて1ライン分のラインデータを生成する。 (もっと読む)


【課題】測定期間中に周辺温度の変動があった場合にも対象物の正確な光断層画像を容易に取得することができる光断層画像取得装置を製造する方法を提供する。
【解決手段】光断層画像取得装置1は、OCTに拠って対象物2の光断層画像を取得するものであって、光源部11、干渉部12、参照光学系13、反射体14、照射光学系15、レンズ16、検出部17および解析部18を備える。本発明の光断層画像取得装置製造方法は、このような光断層画像取得装置1を製造する際に、一本の光ファイバから各々所定長の第1光ファイバおよび第2光ファイバを切り出し、参照光学系13において光を導く光導波路として第1光ファイバを用いるとともに、照射光学系15において光を導く光導波路として第2光ファイバを用いる。 (もっと読む)


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