【課題】パルス面を傾斜させたポンプ光パルスを非線形光学結晶に入射させてテラヘルツ波を発生させる場合にテラヘルツ波の強度分布の不均一化を抑制することができるテラヘルツ波発生装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波発生部２５Ａは、４個の結晶１１１〜１１４が組み合わされて構成されている。ポンプ光パルスＰの主光線に平行であってパルス面Ｓ_４に垂直な断面において、出射面２５ｂからのテラヘルツ波Ｔの出射方向に平行な二辺を有する平行四辺形であってポンプ光パルスＰが通過する特定領域に、テラヘルツ波を発生させる第１結晶１１１が設けられ、この特定領域以外の他の領域に、テラヘルツ波を発生しない第２結晶１１２〜１１４が設けられている。 （もっと読む）

【課題】断面における強度分布が不均一なポンプ光パルスを非線形光学結晶に入射させてテラヘルツ波を発生させる場合にテラヘルツ波の強度分布を均一化することができるテラヘルツ波発生装置を提供する。
【解決手段】テラヘルツ波発生部２１Ｂは、ポンプ光パルスＰの伝播によりテラヘルツ波Ｔを発生させる第１結晶１２１と、テラヘルツ波を発生させない第２結晶１２２とを含む。第１結晶１２１と第２結晶１２２とは互いに接着されている。第１結晶１２１は、光軸から径方向に向かって階段状に厚くなっている。第２結晶１２２は、光軸から径方向に向かって階段状に薄くなっている。テラヘルツ波発生部２１Ｂの全体は厚みが一様である。 （もっと読む）

【課題】 簡単な構成で測定対象の吸収係数と散乱係数を同時に計測することが可能な計測方法及び計測装置を提供すること。
【解決手段】 光源１０と、試料３０を透過した光をアパーチャ２２を介して受光する受光部４２とを含む。受光部４２は、アパーチャ２２の径を第１の径ｄ１としたときに受光した透過直進光の強度Ｉ_ｏを検出し、また、アパーチャ２２の径を第２の径ｄ２としたときに受光した透過直進光と前方散乱光を合わせた光の強度Ｉ_ｏ＋Ｉ_ｓを検出する。試料３０に入射する光の強度Ｉ_ｉと透過直進光の強度Ｉ_ｏと透過直進光と前方散乱光を合わせた光の強度Ｉ_ｏ＋Ｉ_ｓとに基づいて、試料３０の吸収係数及び散乱係数を算出する演算処理を行う。 （もっと読む）

【課題】より高分解能で、かつ、正確に、原子の内部構造の観測ができるようにする。
【解決手段】標的としての物質Ｍにパルスレーザを照射することにより発生する光電子が電子検出器３３で検出され、演算装置２７に供給される。また、発生した光電子の運動量の大きさｐと直線偏光方位角θが演算装置２７に供給される。演算装置２７は、光電子が発生する直前（再散乱直前）の光電子の運動量（ｐ_ｒ，θ_ｒ）を動径方向成分と円周方向成分で離散化した離散化運動量（ｐ_ｉ，θ_ｊ）のうちの所定の離散化運動量の円周方向成分θ_０で規格化した弾性散乱断面積の比Ｅ_ｉｊと、所定の離散化運動量の円周方向成分θ_０で規格化した理論値の弾性散乱断面積の比Ｔ_ｉｊの誤差が最小となるパラメータΞを探索して検出する。本発明は、例えば、原子を観測する超高精度・実時間顕微鏡に適用できる。 （もっと読む）

【課題】従来技術とは異なる手法によってテラヘルツ時間領域分光法を行い、テラヘルツ波の時間波形に関する情報を取得するための装置の提供。
【解決手段】テラヘルツ波が発生部11で発生してから、このテラヘルツ波の波形情報として検出部12で検出されるまでの時間を変えるための遅延部14を有する。遅延部14は、発生部11により発生したテラヘルツ波の伝播距離を変えるように構成される。発生部11により発生したテラヘルツ波ごとに、検出部12で検出されたテラヘルツ波の波形情報と伝播距離とを関連付ける。電磁波発生位置で発生する電磁波のパルスを発生させるタイミングを決めるパルス周波数と、電磁波検出位置に伝播してきた電磁波を取り込むタイミングを決めるサンプリング周波数との比がn:1（nは1以上の自然数）になっている。 （もっと読む）

【課題】光学的作用部に入力されるポンプ光パルスのパルス面傾斜角度およびビーム径それぞれを適切な値に容易に設定することができる電磁波発生装置を提供する。
【解決手段】光源１０から出力されたポンプ光パルスは、ビーム径変更光学系２０によりビーム径を変更され、パルス面傾斜部３０によりパルス面を傾斜され、ビーム径調整光学系４０によりビーム径を調整されて、光学的作用部５０に入力される。光学的作用部５０ではポンプ光パルスが入力されることで電磁波が発生する。 （もっと読む）

【課題】光学的作用部に入力されるプローブ光パルスのパルス面傾斜角度およびビーム径それぞれを適切な値に容易に設定することができる電磁波検出装置を提供する。
【解決手段】光源１１から出力されたプローブ光パルスは、ビーム径変更光学系３３によりビーム径を変更され、パルス面傾斜部３４によりパルス面を傾斜され、ビーム径調整光学系３５によりビーム径を調整されて、光学的作用部４２に入力される。光学的作用部４２には、ビーム径調整光学系３５から出力されたプローブ光パルスが入力されるとともに、検出対象である電磁波が入力される。電磁波の伝搬に伴って光学的作用部４２の光学特性が変化し、その光学特性の変化の影響を受けたプローブ光パルスが光学的作用部４２から出力される。光学的作用部４２から出力されたプローブ光パルスは光検出器４４により検出される。 （もっと読む）

【課題】湯気による誤報を防止する。
【解決手段】外部から煙Ｓを流入させるとともに、外部からの光を遮断し、暗箱５を形成するラビリンス壁３と、前記暗箱５の内部に光を照射する発光部７と、前記外部から流入した煙Ｓによる散乱光を受光する受光部８と、前記発光部７と前記受光部８の光軸Ｌ１、Ｌ２が所定の角度をもって交差する検煙部１０と、前記検煙部１０の出力信号に基づいて火災を判断する火災判別部と、を備えた光電式煙感知器１において、前記暗箱５内は、前記検煙部１０と該検煙部１０の下方の煙流入部１１とに分離され、前記ラビリンス壁３の前記検煙部１０を形成する部分は、煙流入規制手段により閉鎖され、前記煙流入部を形成する部分は、開放されている。 （もっと読む）

【課題】湯気による火災判別部の誤作動を防止する。
【解決手段】外部から煙を流入させるとともに、外部からの光を遮断し、暗箱５を形成するラビリンス壁３を備えるとともに、帯状をなし、前記ラビリンス壁３に被せる時は、筒状をなして前記ラビリンス壁３の外周を覆う、多数の細孔１５ｐを有する煙感知器１の防虫網１５において、前記暗箱５の検煙部１０を避けた高さに、前記細孔１５ｐを設け、細孔は帯状の幅方向の両端部に対称に設ける。 （もっと読む）

【課題】発生するテラヘルツ波を比較的高いスピードで変調することが可能な電気光学結晶を含むテラヘルツ波発生素子などを提供する。
【解決手段】テラヘルツ波発生素子の一例は、光を伝播させる電気光学結晶４を含む導波路と、導波路を伝播する光から発生するテラヘルツ波を空間に取り出す光結合部材７と、少なくとも２つの電極６a、６bを備える。電極６a、６bは、導波路に電界を印加することにより、電気光学結晶４の１次電気光学効果により導波路を伝播する光の伝播状態に変化を与える機能を有する。導波路の電気光学結晶４の結晶軸は、２次非線形過程により発生するテラヘルツ波と導波路を伝播する光との位相整合が取れる様に設定される。 （もっと読む）

【課題】検煙空間を筐体外に設けながらも、監視範囲を広くして、確実に火災を検知することができる煙感知器を得る。
【解決手段】本発明に係る煙感知器は、筐体外の検煙空間に向けて照射し、照射光が散乱体によって散乱された散乱光を受光して、火災の有無を判断する煙感知器において、発光素子７と、第１受光素子９と、第２受光素子１１と、発光素子７から照射される光及び、第１受光素子９によって受光される光を偏光する偏光フィルタ１３とを備え、発光素子７と第１受光素子９、第２受光素子１１の光軸の成す角度が３０度以下になるように配置すると共に、火災の有無を判断する火災判断部１５は、偏光フィルタ１３を透過して入射される第１受光素子９の受光信号と、偏光フィルタ１３を透過しないで入射される第２受光素子１１の受光信号とを入力し、第１受光素子９の受光信号と第２受光素子１１の受光信号の出力比に基づいて火災の有無を判断する。 （もっと読む）

【課題】試料上の同一の観察位置に対して、テラヘルツ波観察と可視光観察とを同時、または、短時間のうちに行うことができる観察装置を提供する。
【解決手段】観察装置１は、電気光学結晶６と、試料Ａに向けてテラヘルツ波Ｌ_２を照射し、試料Ａを透過するテラヘルツ波Ｌ_２を電気光学結晶６に結像させるテラヘルツ波照射光学系４と、電気光学結晶６に向けて近赤外光Ｌ_１を照射する近赤外光照射光学系５と、電気光学結晶６を透過することによって状態変化した近赤外光Ｌ_１を検出する近赤外光検出系７と、励起光Ｌ_３の照射により試料Ａで発生した蛍光を検出する蛍光検出光学系９とを備える。テラヘルツ波Ｌ_２の照射領域と近赤外光Ｌ_１照射領域は、少なくとも一部が電気光学結晶６内で重なり、蛍光検出光学系９は、試料Ａ上のテラヘルツ波Ｌ_２が照射された領域と少なくとも一部が重なった領域から出射した蛍光を検出するように構成される。 （もっと読む）

【課題】励起光の反射抑制と光伝導層の高抵抗化を実現した光伝導素子を提供することである。
【解決手段】光伝導素子１００は、化合物半導体結晶からなる光伝導層１０２と、光伝導層の上に配置された２つ以上の電極１０３を少なくとも備える。光伝導層１０２は、光による光励起キャリアが発生するキャリア発生部１０４と、キャリア発生部１０４の表面に電気的に接続され幅とピッチがλ未満（λ：前記光の波長）の複数の突起構造１０６を含み構成される表面部１０１を有する。 （もっと読む）

【課題】一つの光検出器でフーリエ変換により断層像を構築するＯＣＴ装置を提供すること。
【解決手段】ＯＣＴ装置を構成する干渉計の後段に、前記第１の結合光パルス（干渉光パルス）に対して第２の結合光パルス（干渉光パルス）を所定の遅延時間遅らせた後、前記第１の結合光パルスと前記第２の結合光パルスを合流して、前記第１の結合光パルスと前記第２の結合光パルスを交互に出射する光パルス時分割多重化ユニットを設けること。 （もっと読む）

【課題】モードロックレーザを用い高速で波長を掃引しても高コヒーレンス性を保つ光源を用いて光断層画像表示システムの分解能、および深達度を向上させること。
【解決手段】波長走査型レーザ光源１０に一対の回折格子３２，３３を対向して配置し、これを分散素子として用いる。この分散素子に半導体光増幅器３５を接続し、モードロック信号発生部３８よりクロック信号を与えて光信号を増幅する。このクロック信号のクロック周波数を変化させることによってクロック周波数に応じて発振波長を走査することで、高速で波長を可変でき、この光源を用いることで光断層画像表示システムの分解能、および深達度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】大型化及び作業性を低下させることなく、高い画像品質を維持することができる画像形成装置を提供する。
【解決手段】 反射型光学センサは、１１個の発光部及び１１個の受光部などを備えている。プリンタ制御装置は、第１の基準受光量Ｄｓ１、第２の基準受光量Ｄｓ２、及びそれぞれ０以上で１以下の係数αとβを用いて、矩形パターン毎に、該矩形パターンで反射された光を受光した受光部の受光量をα×Ｄｓ１＋β×Ｄｓ２で表し、該矩形パターンで反射された光を受光した受光部の受光量の実測値と、第１の基準受光量Ｄｓ１と、第２の基準受光量Ｄｓ２とから係数αと係数βを同時に算出する（ステップＳ４１９）。 （もっと読む）

【課題】コンクリート構造物の内部状態を効率良く非破壊検査する検査線発生装置を提供する。
【解決手段】フェムト秒レーザパルスを発生するフェムト秒レーザ発生装置１ａと、該フェムト秒レーザ発生装置１ａから入射したフェムト秒レーザパルスを第１の方向あるいは第２の方向に択一的に出射する可動ミラー１ｂと、該可動ミラー１ｂによって第１の方向に出射したフェムト秒レーザパルスをテラヘルツ光に変換し、検査線として外部に出射する光伝導アンテナ１ｊと、上記可動ミラー１ｂによって第２の方向に出射したフェムト秒レーザパルスに基づいて所定元素のイオン線を発生するイオン線発生器１ｎと、該電子線発生器１ｎから入射したイオン線に基づいて中性子線を発生し、検査線として外部に出射する中性子線発生器１ｓとを具備する検査線発生装置により、効率的な非破壊検査が可能となる。 （もっと読む）

【課題】高抵抗な光伝導素子を提供することである。
【解決手段】光伝導素子は、励起光（４）の照射により光励起キャリアを発生する半導体材料からなる光伝導層（２）と、光伝導層（２）に配置された複数の電極（３）を有する。光伝導層（２）の材料は、光伝導層に生ずる空乏層（６）の厚さが励起光（４）の波長における光伝導層（２）の光学吸収長より小さい材料である。光伝導層（２）の膜厚は、光伝導層の複数の電極（３）の間の少なくとも一部分において空乏層（６）が膜厚方向全体に達する様に調整されている。 （もっと読む）

【課題】基板表面に形成した薄膜の物性を非破壊かつ高精度で測定することができる物性測定装置、物性測定方法、薄膜基板製造システム及びプログラムを提供する。
【解決手段】基板Ｋ表面に形成された薄膜Ｈの物性を測定する物性測定装置において、テラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生源と、基板Ｋ表面に薄膜Ｈが形成された成膜領域Ｆ及び該基板Ｋ表面に薄膜Ｈが形成されていない非成膜領域Ｎに、テラヘルツ波発生源からのテラヘルツ波が照射されるように、基板Ｋ及び薄膜Ｈを移動する移動手段と、成膜領域Ｆ及び非成膜領域Ｎからの透過波又は反射波の電場強度を複数回検出する検出手段と、検出手段が複数回検出した透過波又は反射波の電場強度を積算する積算手段と、積算手段が積算した透過波又は反射波の電場強度の時間変化を測定する測定手段とを備える。 （もっと読む）