【課題】プリズムを交換することなく広い範囲の屈折率測定又は表面プラズモン測定を行うことのできる、屈折率測定装置、表面プラズモンセンサ、及び屈折率測定方法を提供する。
【解決手段】長手方向直交断面において円弧部と直線形状部を有するロッド状光学素子と、ロッド状光学素子の直線形状部にライン状に集光する光を射出する光源部と、ロッド状光学素子からの反射光の強度分布を撮像する撮像素子と、を備え、ロッド状光学素子は長手方向に屈折率分布を有する。 （もっと読む）

光学系の後瞳がセグメント化され、該セグメントが波面変調デバイスによって個々に制御され、光学系内の励起または放射ビームの個々のビームレットの方向および位相を制御して、サンプルおよびシステムによって誘導される収差に対する適応光学系補正を提供する顕微鏡検査技術。 （もっと読む）

【課題】安価なテラヘルツ分光システムを提供する。
【解決手段】測定に使用するテラヘルツ信号を複数の単一周波数に限定して被測定物１００に照射し、各周波数における透過波あるいは反射波の強度比を算出して候補物質の強度比と比較し、強度比の誤差が所定の範囲内となる候補物質を特定する。これにより、安価かつ簡素な構成で被測定物１００に含まれる候補物質を特定することができる。 （もっと読む）

【課題】構成が簡単であり、光検出器の感度の温度変化に起因する測定誤差を低減させることが可能な濃度測定装置を提供する。
【解決手段】濃度測定装置は、固有吸収波長λ１及び非吸収波長λ２の光を含む第１出射光３Ａ１及び第２出射光３Ａ２を試料４に照射する光源３と、試料４を透過した第１出射光３Ｃ１及び第２出射光３Ｃ２がそれぞれ入射する第１光検出器１３及び第２光検出器１５と、試料４と第２光検出器１５との間に設けられた第２光アッテネータ７と、第２光アッテネータ制御部２１とを備える。第１及び第２光検出器１３、１５の光電変換部４５は、同一の光電変換原理に基づくと共に同一の材料からなり、第２光アッテネータ制御部２１は、第２光検出器１５に入射する第２出射光３Ｅ２の強度を、第１光検出器１３に入射する第１出射光３Ｅ１の強度に近づけるように第２光アッテネータ７の光透過率を制御する。 （もっと読む）

【課題】ＯＣＴによる被検査物の断層像を撮像するに際し、特に、被検査物が眼底である場合等において、一度に網膜から脈絡膜にいたる眼底の広い範囲を撮像することが可能となる光干渉断層撮像装置等を提供する。
【解決手段】光干渉断層撮像装置であって、中心波長の異なる第１の測定光と第２の測定光と、第１の測定光の焦点位置を調整するための第１の調整手段と、第２の測定光の焦点位置を調整するための第２の調整手段と、
第１の測定光によって生じる第１の戻り光と第１の参照光によって生成される干渉光を検出するための第１の検出手段と、第２の測定光によって生じる反射または散乱した第２の戻り光と第２の参照光とによって生成される干渉光を検出するための第２の検出手段とを有し、
第１と第２の調整手段によって第１の測定光と第２の測定光の焦点位置とが、深さ方向で異なるように調整可能に構成する。 （もっと読む）

本明細書では、第１屈折率を有する光ファイバコアと、第２屈折率を有する界面媒質とを含み、第１屈折率と第２屈折率とは、参照界面及びターゲットから反射した光放射線を受信するように構成した受信用電子機器がショットノイズ限界から５ｄＢ内の総ノイズ範囲で動作するようにした、光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ）と一緒に使用するためのカテーテルを説明している。これらのＯＣＴカテーテルは、界面媒質に埋め込んだ反射被覆を有するシリコンダイミラーを含んでもよい。光ファイバは、カテーテルの遠位端にちょうど固定可能であり、カテーテル体の近位端に取り付けられ、ハンドルに対してカテーテル体と光ファイバの両方を回転可能に構成したハンドル内で管理してもよい。
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【課題】入射する光のｓ波成分とｐ波成分とでオフセット及びアンバランスが生じない偏光面検波センサーを提供する。
【解決手段】本発明の偏光面検波センサーは、シリコン基板３０１に形成された２つのフォトダイオードと、フローティングディフュージョンＣｆｄと、シリコン基板３０１上方に形成された偏光層とを有する複数の単位画素を備え、偏光層は、２つのフォトダイオードの一方が形成されている領域の上方に形成され、入射光の第１の偏光成分を透過する第１の偏光子Ｐｓ１と、２つのフォトダイオードの他方が形成されている領域の上方に形成され、第１の偏光成分に直交する第２の偏光成分を透過する第２の偏光子とを有し、複数の単位画素それぞれは、さらに、第１の偏光子Ｐｓ１及び第２の偏光子からフローティングディフュージョンＣｆｄに入射する斜め光を遮光する遮光部３１０を備える。 （もっと読む）

【課題】従来技術の課題を解決し、部品点数が少なく、製造容易な雨滴検出システムを提供する。
【解決手段】透明基板（１０）と、この透明基板に検出用光線を照射するための発光素子（２２）と、透明基板によって反射された検出用光線（３０）を検出するための検出器（２３）とを備える。透明基板（１０）は、透明基板の裏面（１１−１）から入射した検出用光線が透明基板の主表面（１３−１）で全反射するようにその進行方向を調整するための第１の回折格子（１１ａ）と、全反射された検出用光線を透明基板の裏面から外に出射させるための第２の回折格子（１１ｂ）とを、透明基板の主表面と裏面との間の位置に備える。 （もっと読む）

【課題】試料の屈折率の絶対値を容易に且つ高精度で求める。
【解決手段】導波モード共鳴フィルタ５０の格子層４を覆う媒体層を試料Ｓとし、導波層３の端面に単色光を照射して、検出器１４によりその出射光を検出し、データ処理部で出射スペクトルを作成する。出射スペクトルには高い出射率を示す共鳴ピークが現れるが、その共鳴ピークの角度や波長は試料Ｓの屈折率の実部に依存し、共鳴ピークの強度は試料Ｓの屈折率の虚部に依存する。従って、検出した共鳴ピークの波長や角度、及び強度から試料の屈折率を求めることができる。 （もっと読む）

【課題】空間分解能、照明深さおよび光強度を向上可能な光出射プローブ等を提供する。
【解決手段】光照射を利用した生体情報検出に用いられる光出射プローブは、ビーム中心軸に垂直な光断面においてビーム中心軸を囲むまたは挟む部分に明部を持つ光ビームを生成する光ビーム生成手段を含み、光ビームを生体外部から生体内に向けて照射したときに、生体内に進入した光ビームの干渉光をビーム中心軸付近に形成させて、当該干渉光を生体からの情報の取得に用いる。 （もっと読む）

対象となる物体が、該対象となる物体内を通過する光を受け取るように配置された顕微鏡対物レンズ１０の視野内で照明される。顕微鏡対物レンズ１０を透過する光は、屈折力可変素子３３に入射する。屈折力可変素子３３は、顕微鏡対物レンズ１０に対して駆動され、対象となる物体における複数の焦点面を通してスキャンする。屈折力可変素子３３から伝達される光は、検知素子又はアレイ３０によって検知される。
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【課題】膜厚測定対象が非平面でもテラヘルツエコーパルスのパルス幅の増大がなく、膜厚測定分解能が低下しない膜厚測定装置を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波パルスＬtを発生するテラヘルツ波発生手段１と、テラヘルツ波パルスＬtを膜厚測定対象に入射させる入射光学系５と、膜厚測定対象から反射されてくるテラヘルツエコーパルスＬteを受光する受光光学系６と、テラヘルツエコーパルスＬteのパルス幅を短パルス化する短パルス化手段１５と、テラヘルツエコーパルスＬteの電場振幅時間分解波形を検出する検出手段７と、を有する膜厚測定ユニット１７を備えることを特徴とする非接触膜厚測定装置。 （もっと読む）

【課題】反射面との角度の変化による出力電圧の変動を小さくできる反射型フォトセンサ、及び、該フォトセンサを有する画像形成装置を低コストで提供する。
【解決手段】反射型フォトセンサ７０のケース７４に設けられた収容孔７５及び収容孔７６のそれぞれには、ＬＥＤ７１及びフォトトランジスタ７２が収容されている。フォトトランジスタ７２は、ＬＥＤ７１の照射光Ｌが表面２９ａで正反射された反射光Ｒを受光する。収容孔７６の表面２９ａ側に位置する開口部７６ａには、反射光規制開口部７６１ａが設けられている。この反射光規制開口部７５１ａには凹レンズ９６が設けられている。凹レンズ９６は、フォトトランジスタ７２に到達した反射光Ｒの光路径Ｗが受光部としての頭部８４の外径Ｄと同じ又は略同じになるように、反射光規制開口部７６１ａを通過する反射光Ｒを発散させる形状のレンズで構成されている。 （もっと読む）

【課題】複数のビームを用いたＯＣＴ装置での、解像度、感度などのばらつきを抑制し、光学特性を等しくするための部品点数を減らしてコストダウンを図ることが可能となる光断層画像撮像装置を提供する。
【解決手段】複数の光からなる測定光を被検査物の異なる位置に照射する照射光学系を介して該被検査物に導くと共に、複数の光からなる参照光を参照ミラーに導き、前記測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光とによる干渉光を分光処理部で処理し、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、前記複数の光からなる、測定光、参照光、または干渉光のうちの、少なくともいずれか一つにおける光学特性を調整する光学特性調整手段を備え、前記光学特性調整手段は、前記複数の光からなる測定光における、前記照射光学系の光軸からの距離が略同距離にあるもの同士によるグループ毎に共有される構成とする。 （もっと読む）

アダプタは、励起の結果として生じる放出が検出され量子化されることが可能である２次元電気泳動ゲルなどの生化学試料の平坦なアレイで蛍光分子又は蛍光標識を励起させる紫外線トランスイルミネータへの付属品として構成される。アダプタは、トランスイルミネータに覆い被さるように構成され、紫外線光によって励起されると可視スペクトルの光を放出する蛍光染料と、蛍光染料によって生成された可視光の波長帯域の一部を選択する調整物質との両方を含む。アダプタは、検出器に到達する放出を試料から生じるものに制限しつつ、トランスイルミネータからの紫外線光を可視光に変換する。このアダプタを使用することによって、トランスイルミネータは、可視光で励起することができる染料によって標識された試料と共に使用するようにされており、試料およびユーザを紫外線光にさらすこと防止する。
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【課題】テラヘルツ光が水蒸気によるスペクトル吸収の影響を受けない測定精度の高いセンサーユニット、テラヘルツ分光測定装置およびテラヘルツ分光測定方法を提供する。
【解決手段】テラヘルツ光を発光するＬＴ−ＧａＡｓ基板１１２を有した発光素子部１１と、前記テラへルツ光を受光して検出信号を検出するＬＴ−ＧａＡｓ基板１２２を有した受光素子部１２と、前記発光素子部１１と前記受光素子部１２とが互いに接合され、前記発光素子部１１と前記受光素子部１２との間に試料Ｓが流入される流路１３が形成されたことを特徴としたセンサーユニット１０。 （もっと読む）

【課題】物体が拡散媒質内に配置されているときに物体の位置および／または形状を遠隔測定する比較的簡単なセンサを提供する。
【解決手段】センサと物体との間の距離に対して短いコヒーレンス長を有する光源１１０と、送られたビームを入射ビーム１２６と基準ビーム１２３とに分割するビームスプリッタ１１２と、基準ビーム１２３と、入射ビーム１２６により照射された物体１２０から反射されたビーム１２７との干渉受光時にホログラムを生成し、基準ビーム１２３の作用による異方性回折によりクリスタルガラスから送り返される回折ビーム１２４でホログラムを再生する光屈折クリスタルガラス１１４と、回折ビーム１２４の受光時に情報を生成する検出装置１１６とを含み、それによって、検出装置１１６は、クリスタルガラスから回折ビーム１２４だけを受け取る。 （もっと読む）

【課題】サンプル中の対象領域の位置を検証するのに好適な装置および方法を提供すること。
【解決手段】画像生成システムは、光学システムと、上記光学システムに対して移動可能なステージとを含む。コンピュータサーバが、上記画像生成システムおよびレビューステーションと通信する。上記画像生成システムは、上記サンプル上の基準マークの空間的位置を配置し、上記マークの公称位置に対する上記マークの空間オフセット値を判定することができる。上記画像生成システムおよび上記レビューステーションそれぞれの座標系を標準化することが可能である。上記方法は、上記サンプル上に基準マークを配置する工程と、上記サンプル内の対象領域を識別する工程とを含む。上記方法は、上記マークに対する上記対象領域の位置を判定する工程をさらに含む。 （もっと読む）

【課題】表面プラズモンポラリトンベースデバイスと誘電体ベースデバイスとの高度混合集積を実現し、多種類の制御可能な光電気集積デバイスを実現すること。
【解決手段】本発明は、誘電体基板層と、前記誘電体基板層上に位置する誘電体導波路層と、前記誘電体導波路層上に位置する結合整合層と、前記結合整合層上に形成された、ショートレンジ表面プラズモンポラリトンを伝導するためのショートレンジ表面プラズモン導波路部とを含むことを特徴とする、ショートレンジ表面プラズモンポラリトンと一般誘電体導波路との混合結合構造である。また、本発明は、下から上に向けて、それぞれ、誘電体基板層と、誘電体導波路層と、結合整合層と、ロングレンジ表面プラズモン導波路部とを含むことを特徴とする、ロングレンジ表面プラズモンポラリトンと誘電体導波路との結合構造である。 （もっと読む）

【課題】複雑な表面構造を有する対象物の表面トポグラフィおよび／または他の特性を、走査干渉分光法を用いて測定する。
【解決手段】試験対象物の第１の表面箇所に対する走査干渉分光信号から導出可能な情報と試験対象物の複数のモデルに対応する情報とを比較することを含む方法であって、複数のモデルは、試験対象物に対する一連の特性によってパラメータ化される方法。複数のモデルに対応する情報は、試験対象物の各モデルに対応する走査干渉分光信号の変換分（例えば、フーリエ変換分）の少なくとも１つの振幅成分についての情報を含んでもよい。第２の側面では、モデルは固定された表面高さに対応するとともに、固定された表面高さとは異なる一連の特性によってパラメータ化されている。第３の側面では、比較は、走査干渉分光信号の系統的な影響を明確にすることを含む。 （もっと読む）