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Fターム[2G065BA34]の内容

Fターム[2G065BA34]に分類される特許

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【課題】入射光の入射位置及び入射方向を同時に検出することができるようにした光検出装置を提供する。
【解決手段】第一の平面内にマトリックス状に配置した複数個の光検出素子から成る第一の光センサアレイ11と、第一の平面の光入射側と反対側にて所定間隔dで平行に隔置した第二の平面内にマトリックス状に配置した複数個の光検出素子から成る第二のセンサアレイ12と、スポット状の入射光による第一及び第二の光センサアレイ11、12からの検出信号に基づいて、当該入射光の第一及び第二の光センサアレイ11、12上における入射位置P1,P2を演算すると共に、演算した入射位置間の偏位量ΔPから当該入射光の入射角度θを演算して、当該入射光の入射位置及び入射方向を決定する信号処理部14と、を含むように、光検出装置10を構成する。 (もっと読む)


【課題】測定する波長帯域を広く設定できる熱型光検出器を提供する。
【解決手段】シリコン基板10と、シリコン基板10上に形成され凹部30を有するスペーサー部材20と、スペーサー部材20の凹部30に向き合いスペーサー部材20に支持される支持部材40と、支持部材40上に形成され熱を検出する焦電型の赤外線検出素子60と、を含み、凹部30は、底面にスペーサー部材20の厚み方向に対して交差する方向に形成された第1平面31と、底面と支持部材40との間に、スペーサー部材20の厚み方向に対して交差する方向に形成された第2平面32と、を備え、第1平面31および第2平面32に光を反射する反射膜36が形成されている。 (もっと読む)


【課題】ICチップの発熱がデバイスチップに与える影響を低減することが可能な真空封止デバイスを提供する。
【解決手段】真空封止デバイスは、デバイスチップ100Aと、デバイスチップ100Aと協働するICチップ200Aと、デバイスチップ100AとICチップ200Aとが互いの厚み方向に離間して収納されたパッケージ300とを備える。パッケージ300は、パッケージ本体301の一面側に2段の凹部301a,301bが設けられ、ICチップ200Aが、下段の凹部301aの内底面に第2接合部312を介して接合され、デバイスチップ100Aが、上段の凹部301bの内底面における下段の凹部301aの周部の全周に亘って第3接合部313を介して気密的に接合されている。真空封止デバイスは、パッケージ本体301とデバイスチップ100Aと第3接合部313とパッケージ蓋302とで囲まれた第1気密空間321が真空雰囲気となっている。 (もっと読む)


【課題】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法の提供。
【解決手段】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法は、熱影像モジュール規格設計、エピタキシャルと光学物性検証10を含み、エピタキシャルパラメーターの校正を行う。単乙型感知部品製造工程と変温光電量測定検証20を行い、エピタキシャルは感知部品の低温変温と変圧測定校正を完成する。焦平面アレー製造工程とその光電均一度の検証30を行い、暗電流均一度テストを行う。焦平面アレーと信号読み出し集積回路の接着と研磨製造工程検証40を行い、感知モジュールと信号読み出し集積回路間にインジウム接着を行い光電信号を転換し、熱影像品質統合テスト検証50を行い、最適駆動と制御出力パラメーター分析と測定を調整し、熱影像アレーモジュール雛形を行い、焦平面感知アレーと接合し、影像感知アレーモジュール雛形を完成60する。 (もっと読む)


【課題】外乱光の多い環境下でも無色・透明の水素火炎の可視化ができる装置であって、小型であり且つコスト性に優れた水素火炎可視化装置およびその方法の提供。
【解決手段】少なくとも930〜950nmの範囲で設定された波長を含む近赤外画像を撮像する近赤外線画像撮像手段20と、熱画像を撮像する熱画像撮像手段40と、可視画像を撮像する可視画像撮像手段30と、演算装置53、表示装置51および記憶装置52を有する処理部2を備え、処理部が、前記各撮像手段で撮像した監視対象領域の各画像を記憶装置に記憶する手段と、近赤外画像撮像および熱画像に同時に同位置に近赤外波長および熱線波長が検出された領域を火炎領域と判定し、火炎領域を着色した可視画像を表示装置に表示させる手段を備えることを特徴とする水素火炎可視化装置及びその方法。 (もっと読む)


【課題】接着剤を用いて基板に接着されても中空構造の空間に接着膜が形成され難い構造の赤外線検出素子を提供する。
【解決手段】第1表面2aと第1表面2aの反対側の第1裏面2bとを有し、第1裏面2bに第1凹部4を有し第1表面2aの第1凹部4と対向する場所に赤外線を検出する赤外線検出部3を有する第1基板2と、第2表面8aと第2表面8aの反対側の第2裏面8bとを有し、第1凹部4と向かい合う場所の第2裏面8bに第2凹部9を有する第2基板8と、第1裏面2bと第2裏面8bとを接着する接着膜7と、を有し、第2表面8aに接着剤を付着させて用いられ、第2凹部9が第2裏面8bと交差する第2外周部9bは第1凹部4が第1裏面2bと交差する第1外周部4bを囲んでいる。 (もっと読む)


【課題】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法の提供。
【解決手段】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法は熱影像モジュール規格設計、エピタキシャルと光学物性検証10を含み、エピタキシャルパラメーターの校正を行う。単乙型感知部品製造工程と変温光電量測定検証20を行い、エピタキシャルは感知部品の低温変温と変圧測定校正を完成する。焦平面アレー製造工程とその光電均一度の検証30を行い、暗電流均一度テストを行う。焦平面アレーと信号読み出し集積回路の接着と研磨製造工程検証40を行い、感知モジュールと信号読み出し集積回路間にインジウム接着を行い光電信号を転換し、熱影像品質統合テスト検証50を行い、最適駆動と制御出力パラメーター分析と測定を調整し、熱影像アレーモジュール雛形を行い、焦平面感知アレーと接合し、影像感知アレーモジュール雛形を完成60する。 (もっと読む)


【課題】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法の提供。
【解決手段】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法は熱影像モジュール規格設計、エピタキシャルと光学物性検証10を含み、エピタキシャルパラメーターの校正を行う。単乙型感知部品製造工程と変温光電量測定検証20を行い、エピタキシャルは感知部品の低温変温と変圧測定校正を完成する。焦平面アレー製造工程とその光電均一度の検証30を行い、暗電流均一度テストを行う。焦平面アレーと信号読み出し集積回路の接着と研磨製造工程検証40を行い、感知モジュールと信号読み出し集積回路間にインジウム接着を行い光電信号を転換し、熱影像品質統合テスト検証50を行い、最適駆動と制御出力パラメーター分析と測定を調整し、熱影像アレーモジュール雛形を行い、焦平面感知アレーと接合し、影像感知アレーモジュール雛形を完成60する。 (もっと読む)


【課題】より広範囲かつ高速に対象を検出することが可能な対象検出装置および対象検出方法を提供する。
【解決手段】対象検出装置101は、検出対象の物性に応じて予め選択された複数の波長帯について、2次元画像を撮像するための撮像部11と、2次元画像の各画素における物質を検出するための検出部12とを備える。 (もっと読む)


【課題】人物の表面温度と背景物体の表面温度との温度差が少ない状態でも、人物を判別する。
【解決手段】遠赤外線撮像素子を有する撮像装置において、人物の表面温度が第一の所定温度以上かつ第二の所定温度以下の場合、第一の所定温度を温度画像信号の下限値とし、第二の所定温度を温度画像信号の上限値となるように温度画像信号を出力画像信号に変換し、人物の表面温度が第一の所定温度以下の場合、人物の表面温度を温度画像信号の下限値とし、第二の所定温度を温度画像信号の上限値となるように温度画像信号を出力画像信号に変換し、人物の表面温度が第二の所定温度以上の場合、第一の所定温度を温度画像信号の下限値とし、人物の表面温度を温度画像信号の上限値となるように温度画像信号を出力画像信号に変換する。 (もっと読む)


【課題】ICチップの発熱に起因した赤外線センサチップの面内でのS/N比のばらつきを抑制することが可能な赤外線センサを提供する。
【解決手段】赤外線センサは、赤外線センサチップ100と、ICチップ200と、パッケージ300とを備える。パッケージ300は、赤外線センサチップ100が一面側に実装されICチップ200が他面側に実装されるベース基板部301と、ベース基板部301の上記一面側でベース基板部301から突設され赤外線センサチップ100を囲む第1壁部302と、ベース基板部301の上記他面側でベース基板部301から突設されICチップ200を囲む第2壁部303とを備える。赤外線センサは、赤外線センサチップ100とICチップ200とが、ベース基板部301を介して対向している。 (もっと読む)


【課題】ICチップの発熱に起因した赤外線センサチップの面内でのS/N比のばらつきを抑制することが可能な赤外線センサを提供する。
【解決手段】赤外線センサは、赤外線センサチップ100と、ICチップ200と、パッケージ300とを備える。パッケージ300は、赤外線センサチップ100が一面側に実装されICチップ200が他面側に実装されるベース基板部301と、ベース基板部301の上記一面側でベース基板部301から突設され赤外線センサチップ100を囲む第1壁部302と、ベース基板部301の上記他面側でベース基板部301から突設されICチップ200を囲む第2壁部303とを備える。赤外線センサは、赤外線センサチップ100とICチップ200とが、ベース基板部301を介して対向している。 (もっと読む)


【課題】ウェハ1枚当たりの赤外線センサの取れ数の減少を抑えつつ、ウェハごとに2種類の熱電要素のゼーベック係数を管理することが可能な赤外線センサの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1の基礎となるウェハ200の一表面側へのn形ポリシリコン層34(第1の熱電要素)の形成と同時に第1シート抵抗モニタ部234を形成し、且つ、ウェハ200の上記一表面側へのp形ポリシリコン層35(第2の熱電要素)の形成と同時に第2シート抵抗モニタ部235を形成するようにし、第1シート抵抗モニタ部234のシート抵抗および第2シート抵抗モニタ部235のシート抵抗それぞれを測定し、予めデータベース化されているシート抵抗とゼーベック係数との関係に基づいて、第1シート抵抗モニタ部234および第2シート抵抗モニタ部235のゼーベック係数がそれぞれの管理規格範囲内にある良品か管理規格範囲外にある不良品かを判定する。 (もっと読む)


【課題】サーモパイルにおけるn形ポリシリコン層およびp形ポリシリコン層それぞれについて、簡単な製造プロセスでゼーベック係数の低下を抑制しつつシート抵抗を低減することが可能な赤外線センサの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板1と、この半導体基板1の一表面側に配置されたサーモパイル30aとを備え、サーモパイル30aの熱電対の2種類の熱電要素が、n形ポリシリコン層34とp形ポリシリコン層35とである赤外線センサ100の製造方法であって、n形ポリシリコン層34およびp形ポリシリコン層35の形成にあたっては、n形ポリシリコン層34およびp形ポリシリコン層35の基礎となるノンドープのポリシリコン層130をCVD法により形成した後、アニール処理を行う。 (もっと読む)


【課題】製造歩留まりの向上を図ることが可能な赤外線センサチップの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体ウェハを用意し、この半導体ウェハから複数個の赤外線センサチップを製造する赤外線センサチップの製造方法であって、半導体ウェハの用意にあたっては、1個の単結晶半導体インゴット300を元に形成された複数枚の単結晶半導体ウェハ301の中から検査用として抜き取った単結晶半導体ウェハ301bの形状および結晶性それぞれについて、予め規定した検査項目の検査を行い、検査規格を満足した検査用の単結晶半導体ウェハ301bの形成元の単結晶半導体インゴット300から形成した他の単結晶半導体ウェハ301aを半導体ウェハとして用意する。 (もっと読む)


【課題】パラサイト赤外線に対する統合化されたシールドを有する赤外線撮像デバイス及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本デバイスは、赤外線検出器(40)を有する支持体(62)と、検出器に面する少なくとも1つの光学デバイス(28)と、パラサイト赤外線に対するシールドとを備える。シールドは、互いに離間し、支持体から光学デバイスまで延び、ベントを有し、支持体と光学デバイスの間を横方向に貫通するパラサイト赤外線を顕著に減衰させる材料で作成された、少なくとも2つの連続するビード(c1,c2)を備える。これらベントを有する2つのビードは、バッフルを形成する。デバイスは、フリップチップ技術を用いて製造される。 (もっと読む)


【課題】感度の調整ができる検出装置、センサーデバイス及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】検出装置は、焦電素子10と、焦電素子10に接続され、焦電素子10の出力電圧の電圧感度を調整する感度調整回路30と、焦電素子10に接続される検出回路20とを含む。感度調整回路30は、感度調整用の可変容量回路40を含み、可変容量回路40に並列に接続される可変抵抗回路50をさらに含む。可変容量回路40の容量値が小さな値に設定された場合に、可変抵抗回路50の抵抗値は大きな値に設定され、可変容量回路40の容量値が大きな値に設定された場合に、可変抵抗回路50の抵抗値は小さな値に設定される。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェハの端部に欠けが発生するのを抑制することが可能で、且つ、製造歩留まりの向上を図ることが可能な半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体ウェハ121の表面側に薄膜部123を形成する薄膜部形成工程と、薄膜部123上にレジスト膜124を形成するフォトリソグラフィ工程と、レジスト膜124をエッチングマスクとして薄膜部123をエッチングすることで半導体ウェハ121の表面の一部121dを露出させる第1エッチング工程と、半導体ウェハ121の表面の一部121dから半導体ウェハ121をエッチングする第2エッチング工程とを備え、フォトリソグラフィ工程では、薄膜部123のうち半導体ウェハ121の端部131に形成されている部位123dにレジスト膜124を形成しないようにし、第1エッチング工程では、薄膜部123の上記部位123aをエッチング装置に設けた遮蔽物126によって保護する。 (もっと読む)


【課題】基板と貫通電極との間で形成される浮遊容量が小さい基板を提供する。
【解決手段】第1面2aと第1面2aと対向する第2面2bとを貫通して開口するビアホール2cを有する基板2と、基板2の第1面2aに設置され熱酸化膜を含む第1絶縁膜3と、ビアホール2c内の面とに設置され熱酸化膜を含む第3絶縁膜5と、ビアホール2c内で第3絶縁膜5に囲まれた導電体7と、を有し、第1面2aにおける第1絶縁膜3の厚みに比べてビアホール2c内の面における第3絶縁膜5の厚みが厚くなっている。 (もっと読む)


【課題】 近赤外の長波長領域まで受光でき、かつ画素ピッチを密にしても受光感度を確保できる、受光素子アレイ等を提供する。
【解決手段】 この受光素子アレイ10は、近赤外波長領域に対応するバンドギャップエネルギを有する受光部Pが、複数、配列され、受光部は、選択拡散によって形成されたp型領域6の先端部にpn接合15を有し、受光部Pを区分けするように、n型領域7が該受光部の間に位置することを特徴とする。 (もっと読む)


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